JPH0285361A - 多元組成物薄膜の形成方法 - Google Patents

多元組成物薄膜の形成方法

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JPH0285361A
JPH0285361A JP23270388A JP23270388A JPH0285361A JP H0285361 A JPH0285361 A JP H0285361A JP 23270388 A JP23270388 A JP 23270388A JP 23270388 A JP23270388 A JP 23270388A JP H0285361 A JPH0285361 A JP H0285361A
Authority
JP
Japan
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concentration
target
sputtering
component
targets
Prior art date
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Pending
Application number
JP23270388A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunori Naito
一紀 内藤
Yusaku Sakai
雄作 酒井
Shinichiro Matsuo
松尾 伸一郎
Motonobu Mihara
基伸 三原
Takehiko Numata
健彦 沼田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔(既  要〕 本発明は、多元組成物薄膜、特に金属と絶縁物質とから
成る化合物または混合物の薄膜の形成方法に関し、 複合ターゲットの使用可能期間を大幅に延長できる、ス
パッタ法による多元組成物薄膜の形成方法を提供するこ
とを目的とし、 多元組成物の薄膜をスパッタ法で形成する方法において
、スパッタレートの大きい上記組成物の成分を上記組成
物中での所定濃度よりも高い濃度で組み込んだ少なくと
も1つの複合高濃度ターゲ7)と上記成分を上記所定濃
度よりも低い濃度で組み込んだ少なくとも1つの複合低
濃度ターゲットとを含む少なくとも2つのターゲットを
用いて多元スパッタを行い、この多元スパッタにおいて
上記高濃度ターゲットおよび上記低濃度ターゲットのス
パッタパワー比を調整することによって堆積膜の上記成
分濃度を上記所定濃度に維持するように構成する。
〔産業上の利用分野] 本発明は、多元組成物薄膜、特に金属と絶縁物質とから
成る化合物または混合物の薄膜の形成方法に関する。
(従来の技術〕 化合物および/または混合物から成る多元組成物の薄膜
をスパッタ法で形成することが広く行われている。その
場合、−船釣には複合ターゲットを用いて反応スパッタ
を行うか、または2元スパッタ等の多元スパッタを行う
このような方法で形成される多元組成物薄膜として、光
磁気ディスク用保護膜のTb  5iOzやサーマルヘ
ッド材料のTa  SiO□のような、金属と絶縁物質
とから成る薄膜が最近開発されている。このような金属
−絶縁物質系薄膜は、複合ターゲットや化合物粉末焼結
ターゲットを用いたスパッタ法で形成されており、ター
ゲットの作製が比較的容易なことから、特に複合ターゲ
ットが用いられることが多い。
しかし、複合ターゲットの一方の構成部材である金属成
分は、他方の構成部材である絶縁物質に(らべてスパッ
タレートが著しく大きいためにより早期に消耗し、薄膜
量産中に短期間で堆積膜中の金属成分濃度が低下する経
時変化が避けられない。その結果、堆積膜の所定組成を
維持するためにターゲット交換のための生産中断が頻繁
に必要である等、生産性の向上およびターゲットコスト
の低減にとって大きな障害となっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は、上記の問題点を解消するために、複合ターゲ
ットの使用可能期間を大幅に延長できる、スパッタ法に
よる多元組成物薄膜の形成方法を提供することを目的と
する。
〔課題を解決するための手段) 上記の目的は、本発明によれば、多元組成物の薄膜をス
パッタ法で形成する方法において、スパッタレートの大
きい上記組成物の成分を上記組成物中での所定濃度より
も高い濃度で組み込んだ少なくとも1つの複合高濃度タ
ーゲットと上記成分を上記所定濃度よりも低い濃度で組
み込んだ少なくとも1つの複合低濃度ターゲットとを含
む少なくとも2つのターゲットを用いて多元スパッタを
行い、この多元スパッタにおいて上記高濃度ターゲット
および上記低濃度ターゲットのスパッタパワー比°を調
整することによって堆積膜の上記成分濃度を上記所定濃
度に維持することを特徴とする多元組成物薄膜の形成方
法によって達成される。
〔作 用〕
本発明の方法は、製膜期間中に、高濃度ターゲットおよ
び低濃度ターゲットのスパッタパワー比を調整すること
によって、複合ターゲットの使用可能期間すなわちター
ゲット交換インタバルを実質的に少なくとも高潮ターゲ
ットの使用可能期間にまで延長することができる。
以下に、添付図面を参照し、実施例によって本発明を更
に詳細に説明する。
〔実施例] 複合ターゲットとして、φ6インチ5iOzターゲット
にTbチップ埋め込んだものを用いた。Tbの濃度はT
bチップの数で制御し、目標濃度45%(at%、以下
同様)を挟んで高濃度(60%)と低濃度(30%)の
ものを各々1つ(合計2つ)用意した。膜のTbの濃度
はこの2つのターゲットを用い、2元スパッタでそれぞ
れの投入パワーで制御した。第1図に2つのターゲット
を別々にスパッタした場合のスパッタ積算時間に対する
堆積膜のTb濃度の変化を実線(C1:高濃度ターゲッ
ト、C2:低濃度ターゲット)で示す。また、比較例と
して、ターゲット−つで製膜した場合の目標Tb1度(
45±2%、図中Rの範囲)近傍でのTb濃度の変化(
スパッタパワー1.5kW)も破線Pで示した。ターゲ
ット−って製膜した場合、目標濃度範囲内に収まるスパ
ッタ積算時間は約50時間であった(図中■)。
2元スパッタにおいて、目標Tb濃度へのパワー制御は
次のように行った。
2元スパッタでのTb濃度は次の式で表せる。
C1,C2は高濃度ターゲット1と低濃度ターゲット2
で製膜した場合の堆積膜のTb濃度を表し、Sl、S2
はそれぞれのスパッタレートである。
実際には、目標Tb濃度は45%であり、初期の高濃度
のTb1度は60%、低濃度のTb1度は30%である
から上式から Sl/52=1 となるようにそれぞれのスパッタパワーを決めた(P 
1=P2=1.5kW、) 、次に40時間後にそれぞ
れの濃度を測定し、次式によりスパッタパワーを決めた
S 1/52=17/12 スパッタパワーは、P1=1.7K14  P2=1.
2kWとした。
以下同様にして濃度コントロールを行った。
この方法によれば、スパッタ積算時間にして200時間
(図中■)まではTb目標濃度範囲を維持することがで
きる。したがって、従来のターゲット−つを用いた場合
に比較してスパッタ積算時間は4倍になる。
本実施例においては、高濃度ターゲットおよび低濃度タ
ーゲットを各々1つ用いて2元スパッタを行ったが、い
ずれか1方または各々に濃度の異なる複数の複合ターゲ
ットを用いて製膜速度を高めることもできる。
〔発明の効果] 本発明の方法は、複合ターゲットの実質的な使用可能期
間を大幅に延長することができるので、生産性の向上お
よびターゲットコストの低減に多大な寄与をなす。
【図面の簡単な説明】
第1図は、スパッタ積算時間に対する堆積膜のTbfi
度の変化を示すグラフである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、多元組成物の薄膜をスパッタ法で形成する方法にお
    いて、スパッタレートの大きい上記組成物の成分を上記
    組成物中での所定濃度よりも高い濃度で組み込んだ少な
    くとも1つの複合高濃度ターゲットと上記成分を上記所
    定濃度よりも低い濃度で組み込んだ少なくとも1つの複
    合低濃度ターゲットとを含む少なくとも2つのターゲッ
    トを用いて多元スパッタを行い、この多元スパッタにお
    いて上記高濃度ターゲットおよび上記低濃度ターゲット
    のスパッタパワー比を調整することによって堆積膜の上
    記成分濃度を上記所定濃度に維持することを特徴とする
    多元組成物薄膜の形成方法。
JP23270388A 1988-09-19 1988-09-19 多元組成物薄膜の形成方法 Pending JPH0285361A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008185597A (ja) * 2008-04-28 2008-08-14 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
US9505005B2 (en) 2012-07-31 2016-11-29 Sysmex Corporation Tube sorter, sample processing system, and sample transporting method

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008185597A (ja) * 2008-04-28 2008-08-14 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
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