JPH0283549A - 静電潜像担持体 - Google Patents
静電潜像担持体Info
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- JPH0283549A JPH0283549A JP23581488A JP23581488A JPH0283549A JP H0283549 A JPH0283549 A JP H0283549A JP 23581488 A JP23581488 A JP 23581488A JP 23581488 A JP23581488 A JP 23581488A JP H0283549 A JPH0283549 A JP H0283549A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08221—Silicon-based comprising one or two silicon based layers
Landscapes
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、電子写真装置等において静電潜像を記録する
ための静電層fl担持体に関し、より詳しくは両極性動
作が可能な静電潜像担持体に関する。
ための静電層fl担持体に関し、より詳しくは両極性動
作が可能な静電潜像担持体に関する。
(ロ)従来の技術
両極性動作が可能な感光体として、アモルファスシリコ
ン(以下、a−3iという)感光体が発表されている(
例えば、昭和56年の電気学会全国大会等)。この感光
体は導電性表面を有する支持体上にa −3iを主成分
とする光導電層を形成したものである。
ン(以下、a−3iという)感光体が発表されている(
例えば、昭和56年の電気学会全国大会等)。この感光
体は導電性表面を有する支持体上にa −3iを主成分
とする光導電層を形成したものである。
(ハ)発明が解決しようとする課題
ところで、上述の如き単層構造のa−5i悪感光は、感
光体としての基本性能が劣るという致命的な問題があり
、商品化に至っていない。一方、多層構造の感光体は、
商品化されているが、これは−極性動作のものである。
光体としての基本性能が劣るという致命的な問題があり
、商品化に至っていない。一方、多層構造の感光体は、
商品化されているが、これは−極性動作のものである。
両極性動作を行う感光体は、ホール、エレクトロンの両
方のキャリアの走行ができる必要があるが、これらの各
走行がいずれも良好となるものは、従来存在していなか
った。
方のキャリアの走行ができる必要があるが、これらの各
走行がいずれも良好となるものは、従来存在していなか
った。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明の静電潜像担持体は、導電性表面を有する支持体
上に、非晶質シリコンを主成分とし、少なくとも0.1
aLomic%≦N/Si≦10atomicZの窒素
、1atomicZ≦0/Si≦50atomicZの
酸素及び2X10−”atomicZ≦B/Si≦4X
10−”atomicχのボロンを含有する阻止層と、
非晶質シリコンを主成分とし、少なくとも1×10−’
atomicZ≦B/Si≦1×10−’atomic
χのボロンを含有する光導電層とを順に積層形成したこ
とを特長とする。
上に、非晶質シリコンを主成分とし、少なくとも0.1
aLomic%≦N/Si≦10atomicZの窒素
、1atomicZ≦0/Si≦50atomicZの
酸素及び2X10−”atomicZ≦B/Si≦4X
10−”atomicχのボロンを含有する阻止層と、
非晶質シリコンを主成分とし、少なくとも1×10−’
atomicZ≦B/Si≦1×10−’atomic
χのボロンを含有する光導電層とを順に積層形成したこ
とを特長とする。
更に、本発明の静電潜像担持体は、上記阻止層及び光導
電層との間に、これら各層の伝導体及び価電子体をそれ
ぞれ滑らかに接合する中間層を配したことを特徴とする
。
電層との間に、これら各層の伝導体及び価電子体をそれ
ぞれ滑らかに接合する中間層を配したことを特徴とする
。
(ホ)作用
本発明によれば、ホール、エレクトロンのそれぞれに対
して、光導電層は最適な走行性能を有し、また阻止層は
十分な注入阻止効果を有する。
して、光導電層は最適な走行性能を有し、また阻止層は
十分な注入阻止効果を有する。
(へ)実施例
第1図は、本発明に係る静電潜像担持体の基本構造のエ
ネルギーバンド図である。
ネルギーバンド図である。
アルミニウム等の金属材料、またはガラス等の絶縁材料
に導電性材料をコーティングした導電性表面を有する支
持体(1)の導電性表面には、a−5iを・主成分とす
る阻止層(2)、中間層(3)、光導電層(4)及び表
面保護層(5)が順に積層形成されている。
に導電性材料をコーティングした導電性表面を有する支
持体(1)の導電性表面には、a−5iを・主成分とす
る阻止層(2)、中間層(3)、光導電層(4)及び表
面保護層(5)が順に積層形成されている。
ところで、従来の単一極性動、作のドラム(主に、正帯
電ドラム)では、走行キャリアは主にホールだけである
が、両極性帯電ドラムでは、ホール、エレクトロンの両
方のキャリアを走行させる必要がある。
電ドラム)では、走行キャリアは主にホールだけである
が、両極性帯電ドラムでは、ホール、エレクトロンの両
方のキャリアを走行させる必要がある。
本発明では、まず光導電層(4)中の不純物、特にボロ
ン(B)の量をコントロールすることにより、光導電層
(4)のホール、エレクトロンの走行性能(ημτ)を
実用可能なレベルに向上させた。
ン(B)の量をコントロールすることにより、光導電層
(4)のホール、エレクトロンの走行性能(ημτ)を
実用可能なレベルに向上させた。
第2図は光導電層(4)の各々のホール、エレクトロン
の走行性能(ημτ)のB、H,濃度依存性を測定した
特性図であり、図中O印はホールの走行性能(ημτ)
、を、また・印はエレクトロンの走行性能(ημτ)、
を示している。
の走行性能(ημτ)のB、H,濃度依存性を測定した
特性図であり、図中O印はホールの走行性能(ημτ)
、を、また・印はエレクトロンの走行性能(ημτ)、
を示している。
二二で、感光体として機能するのに必要な走行性能(η
μτ)は、約5×10−”cm”/vである。従って、
第2図からして、B、H,濃度が0.2ppm 〜0.
4ppmの時には、ホール、エレクトロンともに、上記
条件を満たすことになる。この時の光導電層(4)のB
/Siは、SIMS分析の結果、1.0XIO−’at
omicχ〜1×10−’atomicχである。
μτ)は、約5×10−”cm”/vである。従って、
第2図からして、B、H,濃度が0.2ppm 〜0.
4ppmの時には、ホール、エレクトロンともに、上記
条件を満たすことになる。この時の光導電層(4)のB
/Siは、SIMS分析の結果、1.0XIO−’at
omicχ〜1×10−’atomicχである。
次に、阻止層(2)にあっては、ホール、エレクトロン
の両方について支持体(1)から光導電層(4)への注
入を阻止できなければならない。このために、本発明で
は、阻止層(2)のB、酸素(0)及び窒素(N)の濃
度を最適化し、阻止層(2)のバンドギャップをワイド
化している。ただし、阻止層(2)のワイド化を行いす
ぎると、光導電層(4)で発生した光キャリアが、光導
電層(4)と阻止層(2)との界面に蓄積され、次の帯
電時に帯電電位を減少させるという前露光効果を引き起
こしてしまう。従って、本発明でのB、0およびNの濃
度の決定は、上記前露光効果を最小限に抑制するように
行われた。なお、前露光効果は、1回目の電位■、と、
1回目と2回目の電位の差V、との比である前露光効果
評価係数ΔV = V t/V 、によって行った。
の両方について支持体(1)から光導電層(4)への注
入を阻止できなければならない。このために、本発明で
は、阻止層(2)のB、酸素(0)及び窒素(N)の濃
度を最適化し、阻止層(2)のバンドギャップをワイド
化している。ただし、阻止層(2)のワイド化を行いす
ぎると、光導電層(4)で発生した光キャリアが、光導
電層(4)と阻止層(2)との界面に蓄積され、次の帯
電時に帯電電位を減少させるという前露光効果を引き起
こしてしまう。従って、本発明でのB、0およびNの濃
度の決定は、上記前露光効果を最小限に抑制するように
行われた。なお、前露光効果は、1回目の電位■、と、
1回目と2回目の電位の差V、との比である前露光効果
評価係数ΔV = V t/V 、によって行った。
第3図は、光導電層(4)のB、H,の濃度を0.3p
pmとした場合の阻止層(2)における前露光効果のB
、H,濃度依存性を測定した特性図であり、図中O印は
ホールのΔVを、また・印はエレクトロンのΔVを示し
ている。
pmとした場合の阻止層(2)における前露光効果のB
、H,濃度依存性を測定した特性図であり、図中O印は
ホールのΔVを、また・印はエレクトロンのΔVを示し
ている。
ここで、実用に耐え得るためのΔVはホール及びエレク
トロンともΔV≦0.2とする必要がある。従って、こ
れを満たすB、H,濃度は、第3図から明らかなように
1100pp〜200ppmであり、この時の阻止層(
2)におけるB/Siは、2X10−”atomicχ
〜4X10−”atomicχである。
トロンともΔV≦0.2とする必要がある。従って、こ
れを満たすB、H,濃度は、第3図から明らかなように
1100pp〜200ppmであり、この時の阻止層(
2)におけるB/Siは、2X10−”atomicχ
〜4X10−”atomicχである。
第4図は、光導電層(4)のB、H,の濃度を0.3p
pm、阻止層(2)のB、H,の濃度を1100ppと
した場合の阻止層(2)における前露光効果のN、0濃
度依存性を測定した特性図であり、図中O印はホールの
ΔVを、また・はエレクトロンのΔVを示している。
pm、阻止層(2)のB、H,の濃度を1100ppと
した場合の阻止層(2)における前露光効果のN、0濃
度依存性を測定した特性図であり、図中O印はホールの
ΔVを、また・はエレクトロンのΔVを示している。
同図から見て、N、O濃度が5χ〜90χの時、ΔV≦
0,2の条件を満たしており、この時の阻止層(2)に
おけるN / S iは0.1atomicZ 〜10
atomicχであり、またO/Siはlatomic
χ〜50atomicZである。
0,2の条件を満たしており、この時の阻止層(2)に
おけるN / S iは0.1atomicZ 〜10
atomicχであり、またO/Siはlatomic
χ〜50atomicZである。
なお、阻止層(2)としての膜厚は、ホール、エレクト
ロンを十分阻止するために、IOA〜5pmであるのが
好ましい。
ロンを十分阻止するために、IOA〜5pmであるのが
好ましい。
このように、光導電層(4)及び阻止層(2)に、おけ
る不純物の濃度を最適化することによって、前露光効果
を抑制することができるが、本実施例では、さらに抑制
効果を向上させるために、光導電層(4)と阻止層(2
)との間に、これら各層の伝導帯及び価電子帯を滑らか
に接合するための中間層(3)を配している。この構造
により、光導電層(4)と阻止層(2)との界面でのキ
ャリアの蓄積を抑制し、前露光効果をさらに抑制してい
る。
る不純物の濃度を最適化することによって、前露光効果
を抑制することができるが、本実施例では、さらに抑制
効果を向上させるために、光導電層(4)と阻止層(2
)との間に、これら各層の伝導帯及び価電子帯を滑らか
に接合するための中間層(3)を配している。この構造
により、光導電層(4)と阻止層(2)との界面でのキ
ャリアの蓄積を抑制し、前露光効果をさらに抑制してい
る。
第5図は、本発明の静電潜像担持体を製造するための製
造装置の模式図であり、以下、この模式図を用いて本発
明の静電潜像担持体の製造方法を説明する。
造装置の模式図であり、以下、この模式図を用いて本発
明の静電潜像担持体の製造方法を説明する。
原料ガスが導入される密封容器(6)内に中空円筒状の
放電電極(7)を配したプラズマCVD装置を利用し、
このCVD装置の放電電極(7)内部に外周表面が洗浄
化された導電性の支持体(1)を同・し・的に回転自在
に内挿する。このような状態において、まず密封容器(
6)内をロータリポンプ(8)及びメカニカルブースタ
ポンプ(9)の稼働により、1×10−’気圧程度まで
減圧排気する。そして支持体(1)を回転させながら、
これの内部に挿入されているヒータ(図示せず)によっ
て、270℃まで昇温過熱すると共に、密封容器(6)
内にS r Haガス、H,ガスをベースとするB、H
,ガス並びにN。
放電電極(7)を配したプラズマCVD装置を利用し、
このCVD装置の放電電極(7)内部に外周表面が洗浄
化された導電性の支持体(1)を同・し・的に回転自在
に内挿する。このような状態において、まず密封容器(
6)内をロータリポンプ(8)及びメカニカルブースタ
ポンプ(9)の稼働により、1×10−’気圧程度まで
減圧排気する。そして支持体(1)を回転させながら、
これの内部に挿入されているヒータ(図示せず)によっ
て、270℃まで昇温過熱すると共に、密封容器(6)
内にS r Haガス、H,ガスをベースとするB、H
,ガス並びにN。
Oガス、更に希釈用ガスとしてのH,ガスを流量設定器
(10)を介して導入し、内部を1.0Torrに保持
する。この状態にて周波数が13.56MHzの高周波
電力を、高周波電源(11)から放電電極(7)に対し
投入する。この場合、放電電極(7)を高周波電位とし
、また支持体(1)をアース電位とすると共に高周波電
力を200Wとする。これにより、支持体(1)の表面
に阻止層(2)を形、成する。
(10)を介して導入し、内部を1.0Torrに保持
する。この状態にて周波数が13.56MHzの高周波
電力を、高周波電源(11)から放電電極(7)に対し
投入する。この場合、放電電極(7)を高周波電位とし
、また支持体(1)をアース電位とすると共に高周波電
力を200Wとする。これにより、支持体(1)の表面
に阻止層(2)を形、成する。
続いて、S r Haガス、B、H,ガス及びNtOガ
スの流量を、光導電層(4)の形成に要する量まで漸減
させながら中間層(3)を形成し、その後、光導電層(
4)を形成する。更に、SiH4ガス及びNH,ガスを
用いて、a−5iNからなる表面保護層(5)を形成す
るなお、NH,濃度は6ozである。
スの流量を、光導電層(4)の形成に要する量まで漸減
させながら中間層(3)を形成し、その後、光導電層(
4)を形成する。更に、SiH4ガス及びNH,ガスを
用いて、a−5iNからなる表面保護層(5)を形成す
るなお、NH,濃度は6ozである。
このようにして形成された静電潜像担持体を市販の複写
機に搭載し、複写画像を調べたところ、正帯電時及び負
帯電時においても、従来の一極性の静電潜像担持体と同
様の複写画像を得ることができた。
機に搭載し、複写画像を調べたところ、正帯電時及び負
帯電時においても、従来の一極性の静電潜像担持体と同
様の複写画像を得ることができた。
(ト)発明の効果
本発明によれば、ホール、エレクトロンの各走行性能が
良好となり、実用可能な両極性動作が可能となる。従っ
て、従来の単一極性動作の静電潜像担持体と同等の性能
及び信頼性を有する両極性の静電潜像担持体を得ること
ができる。
良好となり、実用可能な両極性動作が可能となる。従っ
て、従来の単一極性動作の静電潜像担持体と同等の性能
及び信頼性を有する両極性の静電潜像担持体を得ること
ができる。
第1図は本発明の一実施例である静電潜像担持体のエネ
ルギーバンドを示す模式図、第2図は光導電層における
走行性能(ημτ)のB ! Ha濃度依存性を示す特
性図、第3図は阻止層における前露光効果のB、H,濃
度依存性を示す特性図、第4図は阻止層における前露光
効果のN、O濃度依存性を示す特性図、第5図は製造装
置を示す模式図である。 (1)・・・支持体、(2)・・・阻止層、(4)・・
・光導電層。
ルギーバンドを示す模式図、第2図は光導電層における
走行性能(ημτ)のB ! Ha濃度依存性を示す特
性図、第3図は阻止層における前露光効果のB、H,濃
度依存性を示す特性図、第4図は阻止層における前露光
効果のN、O濃度依存性を示す特性図、第5図は製造装
置を示す模式図である。 (1)・・・支持体、(2)・・・阻止層、(4)・・
・光導電層。
Claims (2)
- (1)導電性表面を有する支持体上に、非晶質シリコン
を主成分とし、少なくとも0.1atomic%≦N/
Si≦10atomic%の窒素、1atomic%≦
O/Si≦50atomic%の酸素及び2×10^−
^3atomic%≦B/Si≦4×10^−^2at
omic%のボロンを含有する阻止層と、非晶質シリコ
ンを主成分とし、少なくとも1×10^−^5atom
ic%≦B/Si≦1×10^−^4atomic%の
ボロンを含有する光導電層とを順に積層形成したことを
特長とする静電潜像担持体。 - (2)上記阻止層及び光導電層との間に、これら各層の
伝導体及び価電子体をそれぞれ滑らかに接合する中間層
を配したことを特徴とする第1項記載の静電潜像担持体
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23581488A JPH0283549A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 静電潜像担持体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23581488A JPH0283549A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 静電潜像担持体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0283549A true JPH0283549A (ja) | 1990-03-23 |
Family
ID=16991652
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23581488A Pending JPH0283549A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 静電潜像担持体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0283549A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009096552A1 (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-06 | Kyocera Corporation | 電子写真感光体、これを備えた画像形成装置および電子写真感光体の製造方法 |
-
1988
- 1988-09-20 JP JP23581488A patent/JPH0283549A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009096552A1 (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-06 | Kyocera Corporation | 電子写真感光体、これを備えた画像形成装置および電子写真感光体の製造方法 |
JP5436227B2 (ja) * | 2008-01-31 | 2014-03-05 | 京セラ株式会社 | 電子写真感光体、これを備えた画像形成装置および電子写真感光体の製造方法 |
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