JPH0281063A - 電子写真装置 - Google Patents

電子写真装置

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JPH0281063A
JPH0281063A JP63232567A JP23256788A JPH0281063A JP H0281063 A JPH0281063 A JP H0281063A JP 63232567 A JP63232567 A JP 63232567A JP 23256788 A JP23256788 A JP 23256788A JP H0281063 A JPH0281063 A JP H0281063A
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JP
Japan
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potential
photoreceptor
surface potential
photosensitive body
dark
Prior art date
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Pending
Application number
JP63232567A
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English (en)
Inventor
Yuji Hasegawa
裕二 長谷川
Takashi Hasegawa
隆史 長谷川
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPH0281063A publication Critical patent/JPH0281063A/ja
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  • Electrostatic Charge, Transfer And Separation In Electrography (AREA)
  • Color Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子写真装置に関し、特に感光体の表面電位と
現像DCバイアスの電位との制御を行なうことで1画像
の安定性、耐久性を向−トさせた電子写真装置に関する
(従来の技術) 従来、感光体を有する電子写真装置にあっては、感光体
の表面電位を測定する手段を設けないものと、該手段を
1つ設けたものがあり、後者は感光体の表面電位測定手
段を1つ有することにより、感光体の表面電位が変化し
た場合、帯電、露光或いは現像DCバイアスを変化させ
一定の画像が得られるように電位制御を行なっている。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、斯かる従来例では感光体の表面電位を測
定している位置において、正確な電位制御を可能にして
いるが、感光体表面電位の測定位置と現像位置とを一致
させることは困難である。
そのため表面電位測定位置と現像位置との間で感光体の
暗減衰による表面電位のずれが生じる。この暗減衰量は
感光体の使用状況(環境、温度、湿度、耐久枚数等)に
よって変化する。特に、感光体が有機光導電体の装置で
は耐久によりコロナ生載物である03.NOx 、HN
O3等で劣化され。
電荷保持能力が低下し、著しく暗減衰量を増加させる。
また、有機光導電体は抵抗値の温度及び湿度依存性が無
機光導電体に比べて太きく、使用環境により暗減衰量は
大きく変化する。さらに、760nm以上の波長の光に
感度を有する感光体は一般に赤外メモリーが大きいため
暗減衰の変動が非常に大きい。
以上のような感光体の特性のため、感光体の表面電位は
、測定位置で正確に電位制御が行なわれていても、現像
位置においては感光体の暗減衰量が変化するため、適正
な画質を維持するのが困難である。特に、感光体の暗部
電位を現像する反転現像系において、感光体の明部電位
と現像DCバイアスとの電位差は反転カブリ、現像キャ
リア引き等の弊害で大きくできず、電位差150Vとい
う少ない電位差の場合、初期は良好な画質であっても、
耐久、環境変動等により暗減衰の増加と共に、地力ブリ
、黒ポチという画質の劣化が発生するという問題点があ
った。
さらに、現像器を2個以上有する電子写真装置を用いる
場合、第1現像位置と第2現像位置では暗減衰量及び耐
久等による暗減衰の変化量が異なるために、第1現像剤
による画像と第2現像剤による画像の濃度が異なったり
、耐久等により第1現像剤による画像と第2現像剤によ
る画像濃度の/曳うンスがくずれるという問題点があっ
た。
これに対して、特開昭61−2096号公報に開示され
たものでは現像器を2つ備えた装置に対して第1現像位
置と第2現像位置の暗減衰の補正を行なっているものの
、環境、温・湿度の変化。
耐久等による暗減衰の変動まで補正することができなか
った。また、予め感光体の暗減衰量を測定し、その暗減
衰電位を見込んだ電子写真プロセスの設定を行なう手段
も採られてきたが、アモルファスシリコン等のような暗
減衰が大きく、製造ロフト間の暗減衰の差の大きなもの
は、上記プロセス設定を一様に行なった場合、かぶり等
の画像欠陥を生じてしまうものが多数存在することが確
認されている。
そこで、本発明は従来例の上記した問題点を解決するた
めになされたもので、その目的とするところは、適正且
つ欠陥のない画像を安定して得ることのできる電子写真
装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 、上記の目的を達成するために、本発明にあっては1周
回運動する感光体表面を帯電する帯電装置と、前記感光
体の表面電位を測定するセンサーとを有する電子写真装
置において、前記表面電位測定後に帯電を停止し、前記
感光体の周回後再び電位測定を行なった感光体表面部位
の電位を測定し、現像位置における感光体表面電位を制
御手段にて適正値になるように電位制御したことにより
構成されている。
(作 用) 上記の構成を有する本発明においては、感光体の表面電
位を測定するセンサーを用いて感光体周回前後で同じ感
光体表面部位の電位を測定することで暗減衰量を知るこ
とができる。また、電位測定位置、現像位置及び感光体
周回速度との関係から通常プロセス時の現像位置におけ
る感光体表面電位を正確に算出することができる。そし
て、その表面電位を基準にして電位制御を行なうことで
、適正な欠陥のない画像を安定して得ることができる。
(実施例) 以下に本発明を図示の実施例に基づいて説明する。第1
図は本発明を適用した電子写真装置を示し、同図におい
て、lは感光体、2は感光体1の表面電位を検知する表
面電位センサー、3は一次帯電器、4は前露光ランプ、
5はクリーナー6は画像露光、7は転写帯電器、8は現
像器である。ここで、電位センサー2は一次帯電器3と
現像器8との間に配設されている。
本実施例においては、一連の複写プロセス(帯電、画像
露光、現像、転写、クリーニング、除電)を行なう前に
暗減衰量を測定する。先ず、次帯電器3により矢印方向
に回転する感光体lの表面を一様に帯電する0次いで、
その帯電域が電位センサー2を通過した時その表面電位
を測定する。今、仮に感光体l上における測定部位をA
とする。この時点で一次帯電塁による帯電を停止し、再
び測定部位Aが電位センサー2に到達した時点でその表
面電位を測定する。即ち、感光体表面のある部位の電位
を感光体1が1周する時間をおいて2度測定することに
より暗減衰量がわかる。
ここで、電位センサー2と現像器8との相対位置及び感
光体周回速度(プロセススピード)により感光体1のあ
る1点が電位センサー2から現像位置まで移動する時間
は予め知られているので、測定した暗減衰量と暗減衰カ
ーブ(時間と暗減衰量との関係をグラフ化した場合、一
般に2次曲線を描く)より現像位置における感光体表面
電位を算出することが可能である。従って、これを基準
に感光体1の表面電位が適正になるよう電位制御を行な
えば、耐久、環境変動があっても良質な画像を維持する
ことができる。
電位制御の手段としては、上記のように測定電位から算
出した現像位置における表面電位を基準に一次帯電器3
の電流値又はグリッドバイアス値を変更し、感光体表面
の電位を適正値に補正する手段と、現像バイアスを変更
することにより適正なコントラスト電位を得る手段があ
る。
また、使用する電子写真感光体としては、特に限定する
ものではないが、Ss−Te 、As2Se3゜a−5
i(アモルファスシリコン)、opc(有機光導電体)
等が挙げられる0本発明はSe −Te 。
A s2 S e3等の暗減衰の大きな感光体に有効で
あり、a−5i(アモルファスシリコン)のように暗減
衰が温度、湿度、製品ロフト間において大きく変化する
感光体には特に有効である。また、OPCのように耐久
によって暗減衰が変化する感光体において一段と効果を
発揮する。
次に、本発明の第1実施例の制御について具体的に説明
する0本実施例ではプロセススピード160 arm/
sec 、感光体1は外径80mmのOPCドラム、画
像露光にはレーザー光を使用した。また、電位センサー
2と現像器8との角度は感光体1を基準として45°を
なしている。第2図は本実施例における電位制御ブロッ
ク図であり、同図において、10は制御装置、11は現
像スリーブ9にバイアスをかける高圧発生装置である。
制御装置10は電位センサー2で測定した電位をとり込
み、現像位置における表面電位を算出し、高圧発生装置
11を制御する。
第3図は本実施例において時間と帯電した感光体の表面
電位を各々X、Y軸にとった暗減衰を示すグラフで、最
初に測定した時点を時間−〇としている。′今、最初に
測定した表面電位が400v(第3図における点A)、
感光体1が1回転した後(1,57sec後)の電位が
200vだったとする。
第3図に示すカーブは一般的にy=Aee−a×で表わ
されるので、上記2回の測定値よりaを算出しテy =
 4 Q Q * e−0,441−xとなる。
また、電位センサー2から現像位置まで感光体1が移動
する時間は0.393secであることから、この時の
現像位置における感光体表面電位は約336Vと算出さ
れる。そして、この値を基準に現像バイアス値を調整し
、適正なコントラスト電位が得られるように電位制御を
行なう、尚、上記のプロセスは制御装置10により制御
される。
以上のような暗減衰カーブを求めるプロセスは、通常の
複写プロセスが行なわれる前に毎回行なうことが望まし
いが、環境が短時間に変化しなければ本体メインスイッ
チが投入された時だけ、或いは規定枚数複写終了毎(例
えばtooo枚毎)に行なっても実用上問題はない。
第4図は本発明をフルカラー電子写真装置に適用した第
2実施例を示しており、同図において、感光体(感光ド
ラム)lの周囲にはドラム1を一様に帯電する一次帯電
器3、電位センサー2、マゼンタ現像器8a、  シア
ン現像器8b、イエロー現像器8C、ブラック現像器8
d、転写ドラム12、クリーナー5.前露光ランプ4が
各々配設されており、転写ドラム12の外周には図示さ
れない誘電体シートが貼着されており、内側には転写帯
電器7が配置されている。
次に、本実施例の画像形成プロセスについて説明する。
先ず、−成帯電器3により感光ドラム1上に一様に帯電
を付与し、画像露光6により静電潜像を形成する。そし
て、原稿は図示しないリーダ一部でCODセンサーで読
み取られ、カラー原稿をB(ブルー)、G(グリーン)
、R(レッド)の色分解信号に分ける。これら3色分解
の信号は複写プロセスの進行に伴い、順次図示しない半
導体レーザードライバーに伝達され、色分解イメージを
感光ドラムl上に形成する。ここで、先ずG(グリーン
)の色分解信号が読み取られGの色分解潜像が形成され
る0次に、マゼンタ現像器8aにより感光ドラム1上に
現像像を形成する。
一方、転写材は図示しない給紙系により給紙され、転写
ドラム12に巻装される0巻装が開始されると、転写帯
電器7の放電を開始させ現像像を転写材上に転写する。
上記プロセスを公知のフルカラープロセスに従い、その
後3回、即ち、C(シアン)、Y(イエロー)、I3+
(ブラック)について行ない転写材上に4色のトナー像
を形成させる。ここで、Bk(ブラック)の色分解信号
が本実施例ではB。
G、Hの信号が全て出力された部分についてのみ3色中
の最小の信号の略届倍の信号レベルを出力させた。そし
て、Bk (ブラック)のトナー像の転写が終了したな
ら、転写材を転写ドラム12より剥離し、図示しない定
着装置へ搬送し、熱定着する。
第5図は第4図のフルカラー電子写真装置の動作に必要
な高圧電源を模式的に示しており、−次高圧は一〇〇高
圧で、−570(鉢A)の定電流出力、−成帯電器3に
は表面電位を一様に保持すべくグリッドワイヤーが張ら
れており、本実施例においては略−500(V)が印加
されている。
この条件で感光ドラム1に帯電を行なうと、略−550
(V)に−様帯電する。現像スリーブにはAC電源14
に−DC電源15を重畳させた高圧が印加されており、
複写プロセスの進行と同期させ、接続部13にて所望の
現像器に接続させる。ここで、現像バイアスのDC成分
Vdcは第6図に示すように非画像部電位(暗部電位V
d)と画像部電位(明部電位7文)の間で1VdVdc
l = 100(V)になるように設定する。このVd
−Vdclはカブリとり電位(Va)といい、現像剤の
種類や現像器構成などにより変化させる必要がある。
次に、第7図のタイミングチャートに従って前記第1実
施例と同様に感光ドラム1の1周後の暗減衰量を測定す
る0本実施例において、感光ドラム1は160mmで1
周速が320 amlsecで回転している。測定結果
において、第1回の電位センサー2での読み値は−55
0(V)であ勺、この測定点が1回転周動じてきたとき
の第2回の読み値は−370(V)であった、ここで、
一般式y = A @ e−a’xにA=−550を代
入し、y=−550e−a−Xとなり、これニX = 
3.14.7=−370を代入し、a = 0.121
3が求まる。即ち、上式はy = A 116−0. 
+26°×となる。
また、各現像器ユニットは電位センサー2より35°の
角度で配置されているので、感光ドラムlの周速とから
各現像器位置での表面電位を求めると2第1表に示すよ
うになり、そこから設定された現像バイアスも同様に表
中の値になる。
第  1  表。
上記暗減衰の状態と現像バイアスの設定の状態は第8図
のグラフに示す、この条件で複写を行なったところ各色
ともカブリ等のない良好な画像を得ることができた。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば感光体の表面電位
を測定するセンサーを用いて感光体周回前後における同
ρ感光体表面部位の電位を測定して暗減衰量を知ること
により、現像位置における表面電位を算出することがで
き、これを基準に電位制御を行なうことで、耐久、環境
変動があっても安定した高品位な画像を維持することが
できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る電子写真装置の第1実施例を示す
概略構成図、第2図は同実施例における電位制御ブロッ
ク図、第3図は同実施例における感光体の暗減衰を示す
グラフ図、第4図は本発明の第2実施例を示すフルカラ
ー電子写真装置の概略構成図、第5図は第4図の装置の
動作に必要な高圧電源を模式的に示す概略図、第6図は
同実施例における現像バイアスの電位を示す説明図、第
7図は同実施例においてドラム表面電位を測定する場合
のタイミングチャート、第8図は同実施例において予測
した表面電位とそれに対する各現像器に与える現像バイ
アスのグラフ図である。 符号の説明 1・・・感光体     2・・・電位センサー3・・
・−成帯電器   8・・・現像器筒 ! 図 第2図 0・・・制御装置 (制御手段) 第3図 第6図 レゾ1轍し V 第8図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)周回運動する感光体表面を帯電する帯電装置と、
    前記感光体の表面電位を測定するセンサーとを有する電
    子写真装置において、 前記表面電位測定後に帯電を停止し、前記感光体の周回
    後再び電位測定を行なった感光体表面部位の電位を測定
    し、現像位置における感光体表面電位を制御手段にて適
    正値になるように電位制御してなることを特徴とする電
    子写真装置。
  2. (2)前記制御手段は、複数の現像器の現像位置におけ
    る感光体の表面電位を制御してなる請求項1記載の電子
    写真装置。
JP63232567A 1988-09-19 1988-09-19 電子写真装置 Pending JPH0281063A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63232567A JPH0281063A (ja) 1988-09-19 1988-09-19 電子写真装置

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JP63232567A JPH0281063A (ja) 1988-09-19 1988-09-19 電子写真装置

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JPH0281063A true JPH0281063A (ja) 1990-03-22

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ID=16941366

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JP63232567A Pending JPH0281063A (ja) 1988-09-19 1988-09-19 電子写真装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH038351U (ja) * 1989-06-14 1991-01-25

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH038351U (ja) * 1989-06-14 1991-01-25

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