JPH0278577A - レーザ記録装置 - Google Patents

レーザ記録装置

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JPH0278577A
JPH0278577A JP63230918A JP23091888A JPH0278577A JP H0278577 A JPH0278577 A JP H0278577A JP 63230918 A JP63230918 A JP 63230918A JP 23091888 A JP23091888 A JP 23091888A JP H0278577 A JPH0278577 A JP H0278577A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は例えば半導体レーザの光出力により、銀塩フィ
ルム等の被写体上を光走査し、中間調画像を記録するレ
ーザ記録装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、中間調画像を銀塩フィルム等に記録するレーザ光
源としてはHe−Neレーザなどの気体レーザが用いら
れていたが、気体レーザの光出力は直接変調することが
できないので、音響光学変調素子(AOM)などの別の
光変調器が必要であったが、この気体レーザとAOMは
高価なので近年は安価な半導体レーザ(レーザダイオー
ド)が使われつつある。
この半導体レーザは駆動電流を変調することによりその
出力光を直接変調でき、AOMのような別の光変調器を
必要としない利点がある。ところが、その際、半導体レ
ーザのダイナミックレンジが問題となる。第4図に半導
体レーザの駆動電流と光出力の特性を示す。半導体レー
ザは駆動電流が零から閾値電流I THまではレーザ発
光をしないでLED発光し、I THを越えると初めて
レーザ発光をする。
半導体レーザの駆動電流対光出力特性はLED発光領域
及びレーザ発光領域の各々に於いては概略直線特性を示
すが、傾きは太き(異なり、ITHに於いて鋭い変曲点
を有する。I THに於ける光出力をP Tl+とする
と、PTHとP MAXO比は高々2桁程度で、レーザ
発光領域、即ちP THからP MAXまでを用いて、
銀塩フィルム上に画像を記録すると、必要な濃度レンジ
が得られないという問題がある。
このことを第5図(A)で説明する。第5図(A)の第
I象限は記録画像の入出力特性を示し、横軸は入力信号
で縦軸は記録濃度である。ここでは半導体レーザの駆動
電流を入力信号に比例させた場合を想定しているので、
入力信号は駆動電流と等価である。駆動電流即ち入力信
号は第■象限に示す半導体レーザ特性で光出力に変換さ
れる。第■象限の縦軸は光出力Pを示すが、露光fiE
は光出力Pと露光時間Tの積であり、露光時間Tが一定
値Toであれば、 E=TXP     ・・・・・・・・・ (1)=T
oXP   ・・・・・・・・・ (2)となって、E
とPは等価である。
露光↑Eは第■象限に示す露光量対記録濃度特性、謂ゆ
るHD曲線によって記録濃度に変換されるが、濃度は透
過率又は反射率を、底が10の対数で定義するので通常
露光iEも底がIOの対数で表わされる。従って、第工
象限で底が10の対数変換を行う。第■象限の横軸を対
数ではな(、通常のスケールで表わすならば第工象限の
対数変換の図は不要となる。
以上の説明から明らかな様に、信号は何も操作されてい
ないので、第1象限に表われる特性は半導体レーザ特性
と銀塩フィルム特性の合成特性そのものとなる。
仮に銀塩フィルムのHD曲線を第■象限(イ)に示す様
に非常にラテイチュードが狭い特性とすると、記録特性
は第工象限(イ)に示す様に銀塩フィルムのベース濃度
D8から所望の最高濃度D MAXまでを半導体レーザ
の閾値電流がITHからI MAXまアのレーザ発光領
域で記録できる。しかし、通常の銀塩フィルムのラテイ
チュードは3桁以上あり、第■象限(ロ)の様な特性と
なる。この場合、記録特性は第工象限(ロ)に示す様に
なって、半導体、レーザの駆動電流をIT)(までしか
用いないとすると、濃度DFのカブリを生じる。(ロ)
は最高濃度D MAXに合せた場合で、カブリが生じな
い様に、低パワーの半導体レーザか、光学フィルターを
用いて、露光量を下げると、第■象限(ロ)は等測的に
左にシフトして(ハ)となる。この場合はカブリは生じ
ないが、得られる最高濃度がDMとD MAXより低下
し、所望の濃度レンジが得られない。
以上の欠点を補う従来例の1つとして、特開昭63−1
02552に示される様に、半導体レーザのLED発光
領域とレーザ発光領域の全域を使い、その非線形性を補
正するのに一般の非線形補正と同様にルックアップテー
ブルを用いる方法がある。
この方法によって得られる特性を第5図(B)に示す。
第5図(B)の第1象限は(A)の第1象限と同様の図
であるが、この場合は入力信号をルックアップテーブル
で補正してから駆動電流に変換するため、横軸は入力信
号Nとなっている。第■象限は、半導体レーザ特性と銀
塩フィルム特性の合成特性で、第5図(A)の第1象限
に(ロ)で示したものと同じである。第工象限は補正特
性で、この例では第工象限の記録特性を直線特性とする
ため、第■象限の特性と対称の特性としている。この変
換過程は特開昭61−81075に詳しいので詳細は省
略する。
また、第工象限の補正はアナログ回路で構成するのは非
常に困難で現実的ではな(、ディジタル回路のルックア
ップテーブルが用いられるのが一般的である。ルックア
ップテーブルの出力は半導体レーザの駆動電流と比例す
るので、各々は等価であり、その変換は省略している。
この従来例では半導体レーザの駆動電流を零からI M
AXまで使用し、光出力は零からP MAXまで使用で
きるために、ラテイチュードの広い銀塩フィルムにも対
応が可能である。しかし、この従来例では補正すべき非
線形特性は急勾配で、鋭い変曲点があり、それをディジ
タル回路のルックアップテーブルで補正するため、種々
の不都合が生じる。ディジタル回路では1ビツト以下は
表現できず、第5図(B)に示した様に表現可能な濃度
差はルックアップテーブルの出力側即ちI軸上でのIL
SBで制限されΔDとなる。このΔDは第■象限°の特
性の勾配に比例する。ΔDが大きいと、記録画像に謂ゆ
る擬輪郭が生じ、ΔDを小さく押えるためにはルックア
ップテーブルのビット数を多くしなければならない。ま
た、前述した様に特性には鋭い変曲点があり、これを忠
実に補正しないと記録画像に階調歪が生じるが、この鋭
い変曲点を忠実に補正するのは現実にはなかなか困難で
ある。
また、他の従来例として、特開昭61−124921に
示される様に、多値のデイザ法と同様に半導体レーザの
レーザ発光領域のうちで、限定された数だけの光出力を
利用し、さらにこの光出力をパルス幅変調することによ
り露光量を変えてダイナミックレンジを広げる方法であ
る。この方法は光の強さと露光時間の積である露光量で
濃度は決定するという相反則に基づいている。即ち(1
)式において、Tが一定でPを変えた場合とPが一定で
Tを変えた場合でもEが一定ならば濃度は一定であるこ
とに基づいている。従って、この従来例では半導体レー
ザの光出力のダイナミックレンジは狭いままで、露光量
のダイナミックレンジは広くなり、入力信号と露光量の
関係もほぼ直線特性とすることができるが、以下に述べ
るような問題点がある。
第7図はレーザ光をオン・オフしながら光走査した場合
の露光量分布を示している。第7図(A)、(B)。
(C)に於いて、(a)はレーザ光の強度分布を示し、
概略ガウス分布となっている。(b)はレーザ光の制御
信号を示し、横軸Tは時間軸であるが、レーザ光を一定
速度V。で光速査すれば距離りはL=V oT   ・
・・・・・・ (3)となり、LとTは等価である。(
c)は露光量分布を示し、これは、(a)と(b)との
重畳積分となるが、この過稈は特開昭62−10426
8に具体的に述べられている。第7図(A)は半導体レ
ーザを最大の光出力にして、1画素オン、1画素オフを
繰返した場合であり、その露光量分布(c)の形状はレ
ーザ光のビーム径によって異るが、オン部とオフ部は常
に対称でデユーティ−比は1対1である。即ち、記録画
像の高濃度部と低濃度部の線幅の比率は等しい。(B)
は半導体レーザの光出力を下げ、(A)と同様に1画素
オン、1画素オフを繰返したアナログ変調の場合で、こ
の例では光出力を(A)の概略4分の1にして露光量を
4分の1にした例を示した。
この場合も(c)におけるオン部とオフ部は対称でデユ
ーティ−比は1対1である。即ち(B)の例でわかる様
に、半導体レーザのオン・オフ制御のデユーティ−比を
1対lとして、光出力を変える場合は、その露光量分布
のデユーティ−比もl対lに保たれる。即ち記録画像の
コントラストを変化させても高濃度部と低濃度部の線幅
の比率は1対1に保たれる。ところが、第7図(C)の
様に半導体レーザの光出力を(a)のごとく最大にした
ままレーザのオン時間を(b)の様に4分の1にするこ
とにより露光量を4分の1としたパルス幅変調の場合は
(C)に示す様に、オン部とオフ部は非対称となりオン
部が短(、オフ部が長くなる。従って、銀塩ネガフィル
ムに対して、この従来例による制御を行いコントラスト
を下げてい(と、黒線か細くなるという欠点が生じる。
従来例では高光出力においてもパルス幅変調をするので
、この現象が顕著に表われている。
〔発明が解決しようとしている問題点1以上説明した様
に、半導体レーザのLED発光とレーザ発光の全発光領
域を補正する従来例ではその極端な非線形性を補正する
のは現実には困難であり、また、レーザ発光領域で多値
のパルス幅変調をする他の従来例では記録画像のコント
ラストによって記録される線幅が変化してしまうという
欠点がある。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明のレー
ザ記録装置は、画像信号が所定値より大きい場合は半導
体レーザをアナログ変調し、画像信号が所定値より小さ
い場合はパルス幅変調する。そして実施例に示す如(、
上記所定値を半導体レーザの閾値電流に相当する光出力
より若干太き(設定することにより、レーザのレーザ発
光領域を有効に活用し、低露光量部のみをパルス幅変調
して、半導体レーザと感光体の合成特性が極端に非線形
特性となることを防止すると共にパルス幅変調による記
録線幅の変化を最小限に留めるものである。
〔実施例〕
第1図は本発明の1実施例で、クロック発振器1の出力
は分周器2で分周され、アドレスカウンタ3を駆動する
。画像メモリ4には図示していない別の手段により画像
データが記憶されており、画像記録時にアドレスカウン
タ3で指定されるアドレスの画像データを出力する。な
お本実施例では画像データは12ビツトで構成され、0
〜4095の値をとるものとする。画像メモリ4から読
出された画像データはルックアップテーブル5で変換さ
れ、マルチブレキサロに入力する。ルックアップテーブ
ル5でのデータ変換については後述する。画像データが
所定値より大きい場合は後述する動作によって、マルチ
ブレキサロは入力する画像データを選択して出力し、D
/Aコンバータ7でアナログ信号に変換され、電流アン
プ8で電流信号となって半導体レーザ9を駆動する。半
導体レーザ9の光出力は図示していない光学系を介し、
回転多面鏡10で銀塩フィルム11上を主走査する。銀
塩フィルム11は図示していない他の駆動系によって図
面矢印方向に移動して副走査され、レーザ光は銀塩フィ
ルム11上をラスター走査して潜像を形成する。
また、図示していないが通常は回転多面鏡10による1
主走査ごとの同期信号が光検出器によって検出され、ア
ドレスカウンタ3を制御する。また、半導体レーザは温
度によって光出力が変化するので、通常は光出力を受光
する光検出器の信号を駆動電流にフィードバックするオ
ートマチックパワーコントロール(APC)回路を用い
るが、本実施例では図を省略している。
さて、12は使用する半導体レーザの特性に応じてセッ
トされたディジタル値としての所定値を示すもので、デ
ィジタル信号レベルを電源又はグランドに結線している
。又、可変スイッチを用いて、所定値12を可変とする
ことも可能である。本例では所定値12を255とした
。これは画像データの最大値の16分の1であり、この
ときの半導体レーザの駆動電流は第4図におけるI M
INで、光出力はP MINであって、レーザ発光域と
なっている。なお、所定値12は225には限らず、駆
動電流I MINにおける光出力P MINがレーザが
発光域にあれば良いが、なるべく閾値PTHに近い方が
好ましい。本実施例においては、P MINはP MA
Xの16分の1である。ところがI MINはI MA
Xの16分の1よりははるかに大きいので、電流アンプ
8には図示していないが、D/Aコンバータ入力が25
5のときI MINになる様にバイアス電流が流れる様
になっている。ディジタルコンパレータ13はルックア
ップテーブル5の出力と所定値12を比較し、ルックア
ップテーブル5の出力が所定値12より大きいと、即ち
255より大きいとハイレベル信号を出力する。この出
力はマルチブレキサロの出力選択を制御し、ハイレベル
のときはルックアップテーブル5からの入力を出力する
また逆にルックアップテーブル5の出力が所定値12以
下、即ち255以下の場合はローレベルを出力し、マル
チブレキサロは所定値である255を出力する。
従って、ルックアップテーブル5で変換された後の画像
データが255以下であるならば半導体レーザ9の駆動
電流は常に一定のI MINとなる。また、ルックアッ
プテーブル5の出力のうち下位8ビツトはD/Aコンバ
ータ14でアナログ信号になったのちコンパレータ15
に入力し、クロック発振器lの出力に同期して三角波を
作る三角波発生器16の出力と比較される。D/Aコン
バータ14の出力より、三角波発生器16の出力の方が
大きい場合、コンパレータ15の出力はハイレベルとな
り、トランジスタなどのスイッチング素子17をオンす
る。トランジスタ17がオンすると半導体レーザ9の駆
動電流は零となる。但し、D/Aコンバータ14は変換
後の画像データの下位8ビツトしか入力しておらず、変
換後の画像データが255より大きい場合でも下位8ビ
ツトの値が255より小さいことがある。そのためディ
ジタルコンパレータ13の出力はトランジスタなどのス
イッチング素子18を制御し、変換画像データが255
より大きい場合は18をオンして、17がオンするのを
防いでいる。
この様にして制御された信号の例を第2図に示す。
第2図(イ)〜(ト)は各々第1図(イ)〜(ト)の信
号に相当する。なお本例では第1図の分周器2の分周率
は1、即ち分周していない例を示しており、読出される
画像データの周期と、三角波の周期とが同じ場合の例と
なっている。第2図(ロ)は変換後の画像データの値を
示しており、値が383の場合は下位8ビツトは255
より小さいため、(へ)は一部ハイレベルになるが、(
ハ)がハイレベルのため18がオンして、17はオンせ
ず、半導体レーザ9の駆動電流(ト)はパルス幅変調さ
れない。
この様に、ルックアップテーブル5で変換後の画像デー
タが255より大きい場合は半導体レーザ9の駆動電流
はアナログ変調され、255以下の場合は駆動電流は一
定のままパルス幅変調される。このパルス幅はO〜25
5のデータ値と比例しており、(1)式よりデータ値と
露光量は比例していることが明らかである。
第6図は本実施例による記録特性を示す図で、第6図(
A)、(B)は各々第5図(A)、(B)に相当してい
る。但し、第5図(A)では画像データと半導体レーザ
の駆動電流は比例していて等価であったが、第6図(A
)では画像データNと駆動電流はI MINとIMΔX
に相当する間は等価であるが、I MINに相当する値
以下はパルス幅変調なので等価ではない。また第■象限
の縦軸は露光fiEとなっており、I MINとI M
AXに相当する間は1画素のオン時間は一定で、画像デ
ータと露光量の関係は半導体レーザの駆動電流と光出力
の関係と同じになり、概略直線特性を示し、I MIN
に相当する値以下は前述した様に画像データと露光量の
関係は直線特性となる。なおこの場合は第1図における
ルックアップテーブル5の人出力はl対lとなっており
、入力画像データがそのまま出力される。画像データと
して0〜4095のグレースケールを記憶させておくと
、第■象限に示される様な特性が得られる。また、ルッ
クアップテーブル5は通常RAMで構成され、図示して
いないマイクロコンピュータなどによって自由に内容を
書き替えることができる。第6図と第5図を比較すれば
明らかな様に本発明で得られる特性は従来例と比べて、
勾配が緩やかで、鋭い変曲点もない特性となっている。
従って、ルックアップテーブル5に第6図(B)の第I
象限に示される特性を書込み記録画像特性を直線特性に
補正した場合、勾配が緩いのでILSB当りの濃度差Δ
Dは従来例より小さいためルックアップテーブルのビッ
ト数が少くて済み、また、鋭い変曲点もないため補正の
困難さもない。なお、第6図(B)に示した様に一度非
線形補正をしてしまえば、この非線形補正の前段での処
理、即ち第6図(B)の第■象限に相当する所の特性と
等価の特性が第1象限に得ることができ、記録画像特性
を自由に設定できる。
また、本実施例ではパルス幅変調を行うのはDA以下の
低濃度部であり、黒線が細(なるという現象は非常に低
い濃度域でしか発生せず、実用上はとんど問題とはなら
ない。
また、第1図の14. 15. 16からなるパルス幅
変調器はアナログ回路による例を示したが、閾値を書込
んだメモリを1画素サイクルで読出し、8ビット画像デ
ータとディジタルコンパレータで比較スルことによって
も可能である。この場合、メモリを読出すクロックは本
例では1画素のクロックの256倍となり、非常に高速
のものが要求される。
〔他の実施例〕
第3図は本発明の他の実施例で、第1図におけるクロッ
ク発振器lの周波数を画像データの読出し周波数の2倍
とし、分周器の分周率を2とし、1画素の時間内にパル
ス幅変調を2度行った場合の例である。なお、第3図(
イ)〜(ト)は第2図(イ)〜(ト)に相当している。
この場合の露光量分布を第8図に示す。なお、第8図(
a)〜(C)は第7図(a)〜(C)に相当している。
この例は第7図(c)における4分の1画素分のオン時
間を8分の1画素分ずつ2度に分けたもので、露光量の
積分は同じであるが、露光量分布におけるオン部とオフ
部のデユーティ−比が改善されることがわかる。なお、
第8図では第7図と対応をとるため、光出力をP MA
Xとしたが本発明ではP MINであり、この現象は低
コントラスト部でしか生じない。
クロック発振器1の周波数と分周器2の分周率をさらに
上げれば1画素の時間内にさらに多くのパルス幅変調を
行い、露光分布のデユーティ−比をほぼ1対lにするこ
とも可能であるが、その場合は三角波発生器16、コン
パレータ15として非常に高速のものが要求される。
実施例で示した1画素の時間内に2度変調を行えば実用
上充分である。
〔発明の効果〕
以上説明した様に本発明では、画像信号が所定値より大
きい場合は半導体レーザを発光強度を変調し、画像信号
が所定値より小さい場合は発光時間を変調することによ
り、ダイナミックレンジの広いほぼ完全な非線形補正が
簡便に実現できる。また、画像記録装置に適用した場合
、半導体レーザと銀塩フィルムの非線形性を補正するル
ックアップテーブルを少いビット数で構成する事ができ
る。
また、1画素に相当する時間内に2度以上パスル幅変調
することにより、パルス幅変調特有の記録画像において
線が細(なる現象を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のブロック図、第2図は第1図
実施例の信号波形図、 第3図は他の実施例における第1図の信号波形図、第4
図は半導体レーザの駆動電流対光出力の特性図、 第5図は従来例の記録画像特性図、 第6図は本発明による記録画像特性図、第7図はパルス
幅変調による影響図、 第8図は本発明によるパルス幅変調の影響の改善図、 であり、図中の主な符号は、

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、記録信号により半導体レーザを変調し、半導体レー
    ザの光出力を被写体上に走査させてレーザ記録を行うレ
    ーザ記録装置において、前記記録信号と半導体レーザの
    レーザ発光領域内の所定値とを比較する手段と、前記記
    録信号が前記所定値よりも大きい場合には半導体レーザ
    の発光強度を変調する手段と、前記記録信号が前記所定
    値よりも小さい場合には半導体レーザの発光時間を変調
    する手段を有することを特徴とするレーザ記録装置。 2、前記記録信号が前記所定値よりも小さい場合は、1
    画素に相当する期間内に複数回発光させる請求項1記載
    のレーザ記録装置。 3、変調信号により光ビームを変調する光照射装置にお
    いて、前記変調信号と所定値とを比較する手段と、前記
    変調信号が前記所定値よりも大きい場合には光ビームの
    発光強度を変調する手段と、前記変調信号が前記所定値
    よりも小さい場合には光ビームの発光時間を変調する手
    段を有することを特徴とする光照射装置。
JP63230918A 1988-09-14 1988-09-14 レーザ記録装置 Expired - Fee Related JP2774521B2 (ja)

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