JPH0278025A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は光ピックアップ装置に関し、特に対物レンズに
より記録媒体上に集光し、その反射光が前記対物レンズ
を通り、更に集光レンズ、光分波器を通って２系統のデ
ィテクタ上に照射され、その光量差により前記対物レン
ズのフォーカス位置制御を行う光ピックアップ装置に関
する。

［従来の技術］ 従来、フォーカシング制御としては非点収差法、臨界角
法、ナイフェツジ法等が知られている。これらは１つの
分割ディテクタ上の光量分布によりフォーカス検出を行
うので簡単ではあるが、ディスク面のキズやゴミによる
誤動作、トラック誤差信号とのクロストークが大きい等
の欠点ある。

この点、光路な２分割して各光路の出力が夫々逆になる
ような光学配置で上記非点収差法等を行えば、各出力の
差を取ることで欠点を除去できる。しかし、各光路につ
いて厳密なフォーカス調整が必要となり、従って調整工
数も従来の倍となる。

また光磁気ディスク用ともなれば、光路分割は偏光によ
る分割となるためディスクの複屈折による影響を無視で
きない。即ち、各光路で光量が均一に変化すれば問題無
いが、実際にはディスクの複屈折の影響はディスクへの
入射角に依存し、入射角が大きくなるに従って顕著にな
る。従って各光路の光軸付近ではあまり影響な営けない
が、特に周辺部での光量変化が大きく、従来法では正確
なフォーカス検出が行えなかった。

［発明が解決しようとする課題］ 本発明は上述した従来技術の欠点を除去するものであり
、その目的とする所は、正確なフォーカス検出が行える
構造簡単な光ピックアップ装置を提供することにある。

また本発明の他の目的は、光磁気ディスク用としても、
複屈折による悪影響を受けない光ピックアップ装置を提
供することにある。

［課題を解決するための手段］ 本発明の光ピックアップ装置は上記の目的を達成するた
めに、対物レンズにより記録媒体上に集光し、その反射
光が前記対物レンズを通り、更に集光レンズ、光分波器
を通って２系統のディテクタ上に照射され、その光量差
により前記対物レンズのフォーカス位置制御を行う光ピ
ックアップ装置において、前記光分波器で分割された一
方の光路には前記集光レンズの焦点の内側に、かつ他方
の光路には焦点の外側に夫々ディテクタを配置し、前記
各ディテクタは夫々の光軸を中心として前記集光レンズ
により照射される光束の照射パターンよりも小さい面積
の受光部を有し、かつ対物レンズの合焦時には夫々の光
電出力が一致するように配置されていることをその概要
とする。

［作用］ 上記構成により、対物レンズの合焦時には各ディテクタ
への照射パターン面積は略等しい、従って各ディテクタ
における単位面積当りの光強度も等しく、夫々の光電出
力も一致している。

また対物レンズが近焦点側にある時は一方の照射パター
ン面積は増大し、他方の照射パターン面積は減少する。

これを夫々の照射パターンよりも小さい面積の受光部で
受けると単位面積当りの光強度は一方では常に減少し、
他方では常に増大するから、それに応じて各光電出力も
一様に変化する。また、対物レンズが遠焦点側にある時
は上記の逆になる。

［実施例の説明］ 以下、添付図面に従って本発明による実施例を詳細に説
明する。

第１図は実施例の光ピックアップ装置の光学ヘッド部の
外観斜視図である。図中、１は光源である半導体レーザ
（ＬＤ）　、２はＬＤＩの射出光を平行光束にするコリ
メートレンズ、３はビーム整形プリズム３ａ及び無位相
ビームスプリッタ（ガラス３ｂと３０の境界Ｇ）−を含
む光学ブロック、４はディスク２０からの戻り光束の偏
光面を変える坏波長板、５は戻り光束を集光する集光レ
ンズ、６は戻り光束を２系統（Ｐ成分とＳ成分）に分割
する偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）、７及び８は信号
検出用のディテクタである。

１ｏはディスク２０の回転軸（Ｚ軸）方向及びラジアル
（Ｘ軸）方向に移動可能に支持されたアクチュエータ本
体、１１はアクチュエータ１０に固定され、ＬＤ光をデ
ィスク面上に集光してその反射光を平行光束にする対物
レンズ、９ｂは不図示の光学へラドシーク機構に固定さ
れたマグネット、９ａはマグネット９ｂの磁路を形成す
る磁気ヨーク、１２ａはアクチュエータ１ｏをフォーカ
ス（Ｚ軸）方向に駆動するフォーカスコイル、１２ｂは
同じくラジアル（、ｘ軸）方向に駆動するトラックコイ
ル、１３及び１４はバネ材よりなるアクチュエータ１０
の保持部材、１５は同じくシーク機構により固定され、
前記保持部材１３及び１４を取り付ける取付部材である
。

尚、実施例の光学ヘッド部は不図示のシーク機構により
その全体がラジアル方向にシークされる。

第２図は光学ヘッド部における光路な説明する図である
。ＬＤＩから射出したＬＤ光はコリメートレンズ２で平
行光束にされるが、その光断面はＬＤ光の性質により一
般に楕円強度分布をしている。実施例ではビーム整形プ
リズム３ａによりこれを真円補正する。即ち、楕円の長
軸が紙面に垂直であるとすると、ＬＤ光束を例えば材質
ＢＫ７（ＢＳＣ７）のビーム整形プリズム３ａの面Ｅに
入射角θで入射させ、屈折角φで屈折させる。

これによりビーム径はＣＯ８φ／ＣＯ３θだけ短軸方向
に広がり、略円になる。

また一般にＬＤ光の波長λは温度や発光強度によって若
干変化する。このために屈折角φも変化　−して光学ヘ
ッドの光軸９も変化してしまう。

そこで、屈折率ｎについて波長依存性や温度依存性を有
する例えば材質ＳＦＩ　１　（ＦＤＩ　１）のガラス３
ｂを設け、ＬＤ光をガラス３ａと３ｂの境界Ｆに入射角
αで入射させ、屈折角βで屈折させる。これによりＬＤ
光の波長依存性、温度依存性を補償している。

ガラス３ｂと３０の境界Ｇは無位相ビームスプリッタに
なっており、ＬＤｌ、からのＰ偏光は７０〜８０％透過
し、Ｓ偏光はほとんど反射する。透過したＰ偏光はガラ
ス３ｃの低斜面Ｈに入射角４５°で入射し、面Ｈで全反
射し、光束は直角（２軸）方向に立ち上がり、光学ブロ
ック３から射出する。更にアクチュエータ１０で支持さ
れる対物レンズ１１に入射し、該対物レンズ１１により
ディスク２０の情報記録面に集光し、反射した光束は再
び対物レンズ１１により平行光束（戻り光束）にされる
。

光磁気ディスク方式においては、ビームスポットがディ
スク情報記録面で反射される際に、情報ビットを形成す
る垂直磁荷（Ｎ又はＳ）によるカー（ｋｅｒｒ）効果を
受け、カー回転角±Δθにだけ偏光面が傾く。偏光を受
けた戻り光束は再び光学ブロック３に入射し１、無位相
ビームスプリッタＧに入射するが、カー効果により偏光
面は±Δθにだけ傾いているので、Ｐ成分の２０〜３０
％と、Ｓ成分が反射する。具体的にはＰ成分（Ｒ，ｃｏ
ｓΔθｋ）とＳ成分（±Ｒ，ｓｉｎΔθｋ）である。

無位相ビームスプリッタＧで反射した光束は更にＰ成分
（又はＳ成分）に対して結晶軸が２２．５°傾いている
坏波長板４を通過し、その偏光面はＰＢＳ６に対して略
４５°に傾けられる。これにディスクの情報が乗ると、 ｐ の偏光面となる。

更に戻り光束は集光レンズ５を通り、ＰＢＳ６によりＰ
成分とＳ成分に分割され、夫々は一方の光路の焦点Ｆの
内側に設けたディテクタ７と、もう一方の焦点Ｆ′の外
側に設けたディテクタ８上に集光される。

［対物レンズのフォーカス位置制御］ 第２図において、Ｆ及びＦ′は集光レンズ５の２光路に
おける焦点（Ｆ＝Ｆ’）であり、受光面７ａは焦点Ｆの
前方ｐの距離に、受光面８ａは焦点Ｆ′の後方ｑの距離
に夫々位置している。

更に受光面７ａはディスク２０のトラック（Ｙ）方向を
投影した直線に相当する線ρ及び該線上の略中点（光軸
９と一致）を中心とする径φＲの円ＲによりエリアＡ　
Ｉ””　Ａ　ａに分割され、受光面８ａも前記７ａと等
しいエリアＢ、〜Ｂ４に分割されている。但し、この分
割形状は後述するトラック追従誤差信号（ＴＥＳ）の検
出をも兼ね備えた形状であり、もしフォーカス検出のみ
を考える時は夫々を径φＲの円Ａ、Ｂ　（Ａ＝Ａｓ　＋
Ａｓ　、Ｂ＝Ｂａ　＋Ｂｓ　）と考えて良い。

今、戻り光束Ｓのスポット径を夫々φ□、φＩＢとする
と、距離ｐはφＳ＾〉φＲを満足する範囲で、距離ｑは
φ■〉φＲを満足する範囲で夫々法められる。好ましく
は、対物レンズ１１の合焦時において各スポット径φ口
、φＳ＠が円Ｒの径ψ８を余裕を持って上回るようにし
、かつ検出光量Ａ（＝Ａｔ　＋Ａ３）と検出光量Ｂ　（
＝Ｂａ　＋Ｂｓ　）とが等しくなるようように距離ｐ、
ｑ　（ｐ４ｑ）を決める。

第３図（Ａ）〜（Ｃ）は対物レンズ１１のフォーカス／
アンフォーカス状態とフォーカスエラー（ＦＥＳ）信号
の関係を示す図である。

ここで、ＦＥＳ信号は検出光量ＡとＢとの差信号（Ａ−
Ｂ）とする。

第３図（Ｂ）は対物レンズ１１の中心がトラックの真上
に有り、かつ合焦点位置にある状態を示している。対物
レンズ１１の中心はトラックの真上に有るからスポット
Ｓ内の光強度は略均−である。また対物レンズ１１は合
焦点位置にあるからスポット径はφ８＾、φ８Ｂ＞φＲ
及びφＩＩＡ＝φ３８の関係にあり、夫々における単位
面積当りの光強度は略等しい。従って検出光量はＡ”Ｆ
Ｂの関係になり、ＦＥＳ信号は略ゼロになる。

第３図（Ａ）は対物レンズ１１の中心がトラックの真上
に有り、かつ近焦点側にある状態を示している。対物レ
ンズ１１が近焦点側にあるとスポット径はφＳ＾〉φＳ
８の関係になり、単位面積当りの光強度は受光面７ａで
は減る一方であるが、受光面８ａでは増す一方（但し、
φＩＩＢ≧φＲ）である。従って常にＡ＜Ｂの関係を満
足し、ＦＥＳ信号は負になる。

第３図（Ｃ）は対物レンズ１１の中心がトラックの真上
に有り、かつ遠焦点側にある状態を示している。対物レ
ンズ１１が遠焦点側にあるとスポット径は逆にφｓａ＜
φＳＢの関係にあり、単位面積当りの光強度は受光面７
ａでは増す一方（但し、φ、≧φＲ）であるが、受光面
８ａでは減る一方である。従って常にＡ＞Ｂの関係を満
足し、ＦＥＳ信号は正になる。

このように対物レンズ１１の合焦点位置を境にして、対
物レンズとディスク面間の距離の微小変化に応じて増加
する量と減少する量との光学的な差動検出を行うので前
記微小変化が光学的に増幅された形で取り出せる。

またディスク面の傷や傾き等による影響は２系統のディ
テクタに等しく現われるのでこれらをキャンセルできる
。

またディスクの複屈折はデイクスへの入射角が大きい時
゛（戻り光束の外周付近）に顕著に現われるが、実施例
では戻り光束の中心付近（円Ｒの内側）を利用している
ので複屈折の影響は軽減される。

第４図は実施例のフォーカス位置制御回路の回路図であ
る。受光面７ａではエリアＡ２とＡ。

の和信号（Ａ２　＋Ａ３　）がアンプ（ＡＭＰ）３１で
増幅されて信号Ａになる。受光面８ａではエリアＢ２と
Ｂ、の和信号（Ｂ２＋８３　）がＡＭＰ３２で増幅され
て信号Ｂになる。更に信号ＡとＢの差信号（Ａ−Ｂ）が
ＡＭＰ３３で増幅されてフォーカスエラー（ＦＥＳ）信
号になり、更に位相補償回路３４でサーボ制御のための
位相補償を受け、ドライバ回路３５で増幅され、フォー
カスコイル１２ａをサーボ制御する。

第５図は実施例のフォーカス検出特性を示す図である。

図において、横軸は対物レンズ１１とディスク２０間の
距離（μｍ）であり、合焦点位置では“０”である。ま
た縦軸は前記距離に対するＦＥＳ信号を正規化（Ａ、Ｕ
）ｔ、て示したものであり、図示の如く距離±２０μｍ
の範囲内で急峻なリニア特性が得られた。

［対物レンズのトラック位置制御］ 実施例のトラック位置制御は受光面７ａ（又は受光面８
ａ若しくは双方）の信号を利用して行う。基本的には、
円Ｒの内側の信号Ａ２とＡ３の差信号（Ａ！　−Ａ２　
）を形成して高レスポンスのトラック追従制御を行い、
かつ円Ｒの外側の信号ＡＩとＡ４の差信号（Ａｔ　−Ａ
４　）の低周波成分を抽出して前記のトラック追従制御
に対する後述のオフセット補正を行うと供に、シーク時
の対物レンズ１１のサーボロツタも行う。

第６図（Ａ）、（Ｂ）は対物レンズ１１のラジアル方向
への移動と戻り光スポットＳの関係を説明する図である
。

第６図（Ａ）では対物レンズ１１は合焦点位置にあり、
かつ対物レンズ１１の中心はレンズシフトしない状態で
追跡すべきトラックの真上（真下）にある。即ち、対物
レンズ１１はラジアル方向に移動（レンズシフト）して
いない。

この状態では対物レンズ１１の中心と光軸９は一致して
おり、受光面７ａ上の線βと追跡トラック方向の投影線
β′も重なっている。また検出光量Ａ２とＡ、はバラン
スしている。しかし、何らかの理由で追跡中のトラック
が左又は右の方向にズレると検出光量Ａ２とＡ３のバラ
ンスが崩れ、ＴＥＳ　（）ラック・エラー・シグナル）
信号により対物レンズ１１の中心はズしたトラックの真
上に移動させられる。

第６図（Ｂ）では対物レンズ１１は合焦点位置にあるが
、アクチュエータ１ｏにラジアル方向の変位を加えた結
果、対物レンズ１１の中心はレンズシフトした状態で追
跡中のトラックの真上にある。実施例の光学ブロック３
からの射出ビーム径【ｉ十分に大きいから、対物レンズ
１１の中心が光軸９からズしてもディスク面への集光、
反射は正常に行われる。しかし、集光及び戻り光束の中
心は光軸９からズレるため、この戻り光束の中心は集光
レンズ５の中心を通らない。従って受光面７ａ上のスポ
ットＳの中心も例えば図示の如くズレる。しかし、対物
レンズ１１の中心は既に追跡中のトラックの真上にいる
のであるから、これに変位を加える必要はない。

この点、実施例ではトラック追従誤差信号として円Ｒの
内側の信号Ａ２とＡ３を利用しているが、図示の如く、
この範囲では検出光量Ａ２とＡ３には若干の差が生じる
ので微妙なオフセットを生じる。これをそのままトラッ
ク追従誤差信号とすると対物レンズ１１はトラックから
少しズした位置を追従することになり正確なトラッキン
グを行えない、ところで、検出光量Ａ＋とＡ４とは対物
レンズ１１のシフト量を良く反映しており、しかも、エ
リアＡ２とＡ、の部分は除かれているから、これらの差
信号（ＡＩ　−Ａ４　）は対物レンズ１１のシフト量に
対して一層敏感に反応する。

そこで差信号（Ａｔ　　Ａ４）の低周波成分を抽出し、
該信号で前記オフセット量をキャンセルすることにより
、対物レンズ１１は正確なトラッキングが行える。

また、光学ヘッド全体をシークする時には機械的振動に
よりアクチュエータ１０（対物レンズ１１）が振らつか
ないようにサーボロックする必要が有る。その場合にも
シーク前の位置でサーボロックすれば、余分なサーボを
省略でき、アクセス全体の時間を短くできる。

上記の通り、差信号（Ａ、　−ｐ、、　）の低周波成分
は対物レンズ１１のシフト量を良く反映しているから、
実施例ではこの信号でロックサーボをかけてアクチュエ
ータ１ｏをロックする。そして、シーク後はサーボロッ
クを解除して直ちにトラック追従制御を行う。

第７図は実施例のトラック位置制御回路の回路図である
。エリアＡ３とＡ２の差信号（Ａ。

−Ａ２）はＡＭＰ４１で増幅されてトラック追従誤差信
号ＰＰになり、更にＡＭＰ４４において信号ｐｐ’によ
るオフセット補正を受け、位相補償回路４６で位相補償
され、ドライバ回路４８に入カレ、タイミング回路４９
の制御下でトラック追従制御に使用される。

一方、エリアＡＩとＡ４の差信号（Ａ、−Ａ４）はＡＭ
Ｐ４１で増幅されて信号ｐｐになリ、更にローパスフィ
ルタ（ＬＰＦ）４３でフィルタリングされて低周波成分
から成る信号ｐｐ’が抽出される。信号ｐｐ’の一方は
ＡＭＰ４５で反転増幅され、その出力はＡＭＰ４４の一
端子に入力してレンズシフトによる信号ＰＰのオフセッ
ト分をキャンセルするように働く。また信号ｐｐ’のも
う一方は位相補償回路４６で位相補償されてドライバ回
路４８に人力し、タイミング回路４９の制御下でアクチ
ュエータ１０のサーボロックに使用される。

［アクチュエータ部］ 第８図（Ａ）は実施例のアクチュエータ部の上面図、第
８図（Ｂ）は実施例のアクチュエータ部の側面図である
６図において、対物レンズ１１はアクチュエータ本体１
ｏに固定され、該アクチュエータ本体１ｏの端部にはフ
ォーカスコイルＬ２ａと、更にその外側の２箇所にトラ
ックコ゛イル１２ｂが接着固定されている。アクチュエ
ータ本体１０の他端では薄板材から成る保持部材１３．
１４がスペーサ１６を挟んで平行に固定されているが、
その接続部には夫々幅の狭い２箇所のヒンジ部１３ａ及
び１４ａが形成されている。また保持部材１３．１４の
他端は夫々幅の狭い１つのヒンジ部１３ｂ及び１４ｂに
よ・リアクチュエータ取付部材１５に接続されている。

また保持部材１３．１４の周囲には剛性を増すための曲
げ部や補強部１３ｃ、１４ｃが付加されている。

フォーカス（２軸）方向には、レンズ側の４箇所のヒン
ジ部１３ａ、１４ａと、固定側の２箇所のヒンジ部１３
ｂ、１４ｂとが夫々保持部材１３．１４の薄板面に対し
て垂直方向に弾性屈曲することにより、保持部材１３．
１４は平行を保ちながら、かつ対物レンズ１１はその光
軸が倒れることがない状態で上下のフォーカス方向に変
位できる。

一方、固定側のヒンジ部１３ｂ、１４ｂは薄板面の方向
に弾性屈曲する（尚、レンズ側のヒンジ部１３ａ、１４
ａは薄板面の方向には屈曲しない）ことにより、対物レ
ンズ１１はヒンジ部１３ｂ、１４ｂを中心にしてディス
クのラジアル（Ｘ軸）方向に円弧を描くが、ヒンジ部１
３ａ、１４ａの屈曲は極めて小さいため、見かけ上、対
物レンズ１１はトラックに直交した方向に僅かに変位す
る。

その他の変位モードとしては、固定側ヒンジ部１３ｂ、
１４ｂが薄板面内方向に互いに逆向きに屈曲して起こる
回転変位が考えられるが、これに対しては、仮にトラッ
ク方向最大に変位する屈曲と同等量発生するとしても、
ヒンジ部の長さは高々０．５ｍｍ程度なので、保持部材
１３と１４の間隔が十分にあれば無視できる。例えば間
隔を４ｍｍ、トラック変位量０．５ｍｍとすると、その
変位を起こす力が全て回転に向いたとしても光軸の倒れ
は１０’に満たない。従って、実施例のアクチュエータ
１０は実質的にフォーカス方向とラジアル方向にのみ変
位すると考えて良い。

第９図（Ａ）は他の実施例のアクチュエータ部の上面図
、第９図（Ｂ）はその側面図である。

尚、第８図と同等の構成には同一符号を付してその説明
を省略する。第８図の場合はフォーカス方向変位のため
の固定側ヒンジ部１．３ｂとトラック方向変位のための
ヒンジ部１３ｂとは共通であった。第９図の場合は、固
定部１５のヒンジ部１３ｂの所にアクチュエータ可動部
の重心が一致する様にして、該固定側ヒンジ部１３ｂ（
１４ｂ）を対称点として対物レンズ１１と反対側にバラ
ンサ１６を設け、これをヒンジ部１３ｄ。

１４ｄで支持している。これにより振動モードの単純化
が図れ、より安定したフォーカス及びトラッキングサー
ボが行える。

この場合に、磁気ヨーク１７ａ１マグネツト１７ｂ、フ
ォーカスコイル１８ａ１　トラックコイル１８ｂを設け
、これらに対して対物レンズ１１に対するのと逆のサー
ボをかけることによりアクチュエータＩＯの動きを迅速
かつスムーズなものにしている。

尚、上述実施例では固定側のヒンジ部１３ｂ。

１４ｂを板バネ材としたがこれに限らない。例えば弾性
のワイヤ（細線）で形成していも良い。

［発明の効果コ ゛以上述べた如く本発明によれば、光分波器で分割され
た一方の光路には集光レンズの焦点の内側に、かつ他方
の光路には焦点の外側に夫々ディテクタを配置し、かつ
対物レンズの合焦時には夫々の光電出力が一致するよう
に配置するので、調整容易であり、かつ正確なフォーカ
ス検出が行える。

また、各ディテクタは夫々の光軸を中心として集光レン
ズにより照射される光束の照射パターンよりも小さい面
積の受光部を有するので、光磁気ディスク用としても複
屈折による悪影響を受けない。

【図面の簡単な説明】

第１図は実施例の光ピックアップ装置の光学ヘッド部の
外観斜視図、 第２図は光学ヘッド部における光路を説明する図、 第３図（Ａ）〜（Ｃ）は対物レンズ１１のフォーカス／
アンフォーカス状態とフォーカスエラー（ＦＥＳ）信号
の関係を示す図、第４図は実施例のフォーカス位置制御
回路の回路図、 第５図は実施例のフォーカス検出特性を示す図、 第６図（Ａ）、（Ｂ）は対物レンズ１１のラジアル方向
への移動と戻り光スポットＳの関係を説明する図、 第７図は実施例のトラック位置制御回路の回路図、 第８図（Ａ）は実施例のアクチュエータ部の上面図、 第８図（Ｂ）は実施例のアクチュエータ部の側″面図、 第９図（Ａ）は他の実施例のアクチュエータ部の上面図
、 第９図（Ｂ）は他の実施例のアクチュエータ部の側面図
である。 図中、１・・・半導体レーザ（ＬＤ）　、２・・・コリ
メートレンズ、３・・・光学ブロック、３ａ・・・ビー
ム整形プリズム、３ｂ、３ｃ・・・ガラス材、Ｇ・・・
無位相ビームスプリッタ、４・・・％波長板、５・・・
集光レンズ、６・・・偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）
、７．８・・・ディテクタ、９・・・光軸、９ａ・・・
磁気ヨーク、９ｂ・・・マグネット、１０・・・アクチ
ュエータ本体、１１・・・対物レンズ、１２ａ・・・フ
ォーカスコイル、１２　ｂ−・・トラックコイル、１３
．１４−・・保持部材、１５・・・取付部材である。 ＦＥＳ　　（Ａ、Ｕ、） 第６図 ＡＩ　　　　　　Ａ４ （Ｂ）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　対物レンズにより記録媒体上に集光し、その反射光が
   前記対物レンズを通り、更に集光レンズ、光分波器を通
   つて２系統のディテクタ上に照射され、その光量差によ
   り前記対物レンズのフォーカス位置制御を行う光ピック
   アップ装置において、 前記光分波器で分割された一方の光路には前記集光レン
   ズの焦点の内側に、かつ他方の光路には焦点の外側に夫
   々ディテクタを配置し、 前記各ディテクタは夫々の光軸を中心として前記集光レ
   ンズにより照射される光束の照射パターンよりも小さい
   面積の受光部を有し、かつ対物レンズの合焦時には夫々
   の光電出力が一致するように配置されていることを特徴
   とする光ピックアップ装置。