JPH0276134A - 光学式ヘッド装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野〕 この発明は光学式情報記憶媒体への情報の記憶／再生に
用いられる光学式ヘッド装置において、情報記録／再生
用光ビームの光軸と記憶媒体の記録面とのなす相対角度
を検出する光学系の構成簡素化に関するものである。

〔従来の技術〕

第１１図（ａｌ、　（ｂｌは従来の光学式ヘッド装置の
概略構成図および光検知器の電気的構成を示すブロック
図であり、図において、ｌは光源である半導体レーザ（
以後ＬＤと称する）、３はＬＤＩの出射光束２を回折し
３つのビームに分離する回折格子、４は光束を反射して
集光レンズ５に入射させる平板状ビームスプリフタ、６
は集光レンズ５を透過した光束の集光点付近に置かれた
光学式情報記憶媒体（以後、光ディスクと称する）、８
は光デイスク６上の記憶情報列よりなるトラック、て反
射され、集光レンス５及びビームスプリンタ４を透過し
た光束１１を受光し光電変換する光検知器、１３．１２
は減算器、１６は加算器、１８゜１９は位相補償回路、
２０は集光レンズ５を光軸方向±Ｚに駆動するフォーカ
シングアクチエエータ、２１は集光レンズ５をトラック
８を横断する方向±Ｘに駆動するトラッキングアクチュ
エータ、２６は光ディスク６を回転させるモータである
。

次に従来装置の動作について説明する。ＬＤｌを出射し
た光束２は回折格子３によって３本の光束に回折分離さ
れ、ビームスプリンタ４の表面で反射された後、集光レ
ンズ５によって透明基板２５を通して光ディスク６の情
報記憶面２７上に三つの光スポット９ａ、９ｅ、９ｆと
して集光される。三つの光スポット９ａ、９ｅ、９ｆの
中心を結ぶ線は、トラック８の方向に対して僅かに傾く
ように配置されている。このように光ディスク６の情報
面に集光した光は反射され、集光レンズ５を再透過した
後、ビームスプリッタ４を透過することによって公知の
ように非点収差が与えられた状態で、光検知器ｌＯに入
射する。光検知器１０は光・ディスク６上の集光スボッ
）９ａが合焦状態にある時に、中心ビームｌｌａ即ち０
次回折光の反射光束が最小錯乱円となる光束方向位置に
置かれている。光検知器ｌＯは第１１図（ｂ）に示すよ
うに６分割構成であり、中央のビームｌｌａを受光する
部分はＡ、Ｂ、Ｃ，Ｄに４分割されている。また、両側
のビーム１１４１．１１ｆを受光する部分は独立した検
知器Ｅ、Ｆである。公知のように、両側検知器Ｅ、Ｆの
出力を減算器１３によって（Ｅ　−Ｆ）と差動演算する
ことにより、中央のスポット９ａとトラック８のＸ方向
の位置ずれが検知できる（トラッキングエラー信号）、
トラッキングエラー信号は、適当な位相補償回路１８を
通してトラッキングアクチエエータ２１に印加され、集
光レンズ５をトラック８と直交する方向（±Ｘ方向）に
駆動してスポット９ａがトラック８の中心に正しく位置
するよう補正するのに用いられる。さらに中央の４分割
検知器出力は、対角成分Ａ、Ｃ及びＢ、Ｄの出力を減算
器１２によって（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）と差動演算する
ことにより、集光スポット９ａの焦点ずれを検知できる
（フォーカスエラー信号）、この焦点ずれ検出方法は非
点収差人とよばれ、光デイスク６上のスポットが合焦状
態のときｌｌａで示すように最小錯乱円の略円形状態で
ある検知器上スポットが、光子゛イスクロの遠近各々の
焦点ずれに従って、破線で示した如＜Ａ、Ｃ方向及びＢ
、Ｄ方向に細長い楕円形に変形するのを電気出力に変損
するのである。フォーカスエラー信号は適当な位相補償
回路１９を通してフォーカシングアクチエエータ２０に
印加され、集光レンズ５を光軸方向（±Ｚ力方向に駆動
して焦点ずれを補正するのに用いられる。

また、光ディスク６の回転に伴って得られる４分割検知
器の加算器１６による和出力Ｖ□は、光ディスク６の再
生信号として、後段の特に図示しない回路によって処理
され利用される。

なお、従来より平板状ビームスプリンタによって発生す
る非点収差の方向は、図のトラック８の延在方向（Ｙ方
向）に対して４５°を成すのが好ましいことが公知であ
り、このためＬＤＩの出射光の中心光ｍ２’　はＹ方向
に対して４５°を成すよう配置されていた。

従来の光学式ヘッド装置は、情報の記録／再生が上述の
ように基Ｆｉ、２５を通して行われる際に、基板２５の
反りやモータ２６への装着時の傾きにより、ディスク情
報記憶面２７が集光レンズ５の光軸に対して垂直でなく
なることがあった。典型時には厚み１．２５ｎ程度の基
板２５は、集光レンズ５と共に対物レンズの１要素とし
てレンズ設計に織り込まれているが、上述のように基板
２５が傾くとコマ収差が発生し、本来記録／再生すべき
トラック８の隣接トラック８１．８２からのクロストー
クが増加するという問題があった。この現象は、とりわ
けアナログ信号の記録された光学式ビデオディスク等に
おいで画質を劣化させる大きな問題となっていた。従来
の光学式ヘッド装置では、上記問題点を解消すべく、チ
ルトサーボによって集光レンズ光軸４０と基板２５の垂
直性が確保されていた。

以下、第１２図により従来のチルトサーボの一例につい
て説明する。

図において、２７は光ディスク６の情報記録面、３３は
ヘッド筐体であり、この中に第１１図の光学式ヘッド装
置光学系を保持している。３４はヘッド筺体３３を回動
させる回動支点、３５は回動支点３４を支える支持体、
３６はモータ、３７はモータ３６の回転軸であり、雄ネ
ジ形状に加工されて筐体３３と連結されている。３０は
筺体３３の上面に配置された発光ダイオード（ＬＥＤ）
であり、情報記録面２７に向かって矢印で示す如く光線
を出射している。３１．３２は光検知器であり、ＬＥＤ
３０を挟んでＸ方向くトランクと直交する方向）に１列
に配置されている。３８は減算器、３９は位相補償回路
である。次に、従来のチルトサーボの動作について説明
する。ＬＥＤ３０から出射された光線は情報記憶面２７
で反射され、ＬＥＤ３０の両側に対称に配置された光検
知器３１．３２に入射する。光検知器３１．３２の出力
は減算器３８によって（３２）　−（３１）の如く減算
される。光検知器３１．３２への入射光量は、第１１図
に示す集光レンズ５の光軸４０と基板２５が垂直状態の
時に等しくなるよう設定されている。従って、基板２５
が第１３図のようにＹ方向を軸として傾いた場合には、
光検知器３１゜３２への入射光量がアンバランスになる
。よって、減算器３８の出力は基板２５の傾きに応じて
正負に変化する（チルトセンサ）。減算器３８の出力は
適当な位相補償器３９を介してモータ３６に印加され、
ネジ３７の回転に応じて筐体３３が回動支点３４の回り
に回動される。従来の光学式ヘッド装置では、以上のよ
うな負帰還制御（チルトサーボ）により集光レンズ５の
光軸４０と基板２５を垂直に保ち、コマ収差の発生を最
小限に抑えて隣接トラックからのクロストークの増加を
防止していた。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来装置では、前述のとおりＬＥＤから出射された光を
一対の光検知器で受光し、該光検知器出力の差動演算に
よりチルトセンサ出力を得ていた。

しかし、このために下記のような問題点があった。

即ち、従来装置では、光ディスクの情報記憶面と集光レ
ンズの光軸との相対角度を検出するためのＬＥＤなどの
付加光学部品が必要となり、このためコストアップの要
因となる問題点と、筐体上面と基板との間にはあまり空
間的余裕がなく、ＬＥＤや光検知器の配置は設計上の大
きな制約となる問題点があった。

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、記録／再生光学系に付加光学部品を使用する
ことなく、情報記憶媒体の情報記憶面と集光レンズの光
軸との相対角度を検出することにより、コストダウンを
図るとともに筐体上面と基板との間の空間的制約にとら
れれず設計できる光学式ヘッド装置を提供することを目
的とする。

〔課題を解決するための手段〕

この発明に係る光学式ヘッド装置は、集光手段（集光レ
ンズ５）の光軸と情報記憶媒体（光ディスク６）の情報
記憶面との相対角度およびトラッキングアクチュエータ
２１による変位によって変化する第１の演算信号を出力
する第１の演算手段（減算器５７）と、複数本の光束の
うちの両側光束を受光する光検知手段（光検知器１０）
の出力信号を受けトラッキングアクチュエータ２１によ
る変位によって変化する第２の演算信号を出力する第２
の演算手段（減算器１３）とを備え、上記第１の演算信
号と上記第２の演算信号とに基づいて集光手段（集光レ
ンズ５）の光軸と情報記憶媒体（光ディスク６）の情報
記憶面とのなす相対角度を検出することを特徴とするも
のである。

〔作用〕

この光学式ヘッド装置において、第１の演算手段（減算
器５７）は集光手段（集光レンズ５）の光軸と情報記憶
媒体く光ディスク６）の情報記憶面との相対角度および
トラッキングアクチュエー両側光束を受光する光検知手
段（光検知器１０）の出力信号を受け、トラッキングア
クチュエータ２１による変位によって変化する第２の演
算信号を出力する。したがって、上記相対角度は第１の
演算信号と第２の演算信号とに基づいて検出される。

〔発明の実施例〕

以下、この発明の一実施例を、第１１図（ｂｌと同一部
分に同一符号を付し光検知器ｌＯ以降の電気回路部のみ
抜き出した第１図により説明する。なお、第１１図（ａ
）に示した光学系の構成は、本発明の装置においても従
来例と全く同じであるため、図示および説明を省略する
。

第１図において、５２，５３，５４．５５゜５６は加算
器、５７．６７は減算器、５８は波形整形回路、５９は
ゲート回路、６０は積分器、６１はパルス幅測定器、６
２は除算器、６３゜７２はサンプルホールド回路、６４
．６５はローパスフィルタ（ＬＰＦ）　、６６は増幅率
にの増幅器、６８は位相補償回路である。

次に実施例の動作について説明する。第２の演算手段と
しての減算器１３はトラッキングエラー信号（Ｅ−Ｆ）
を出力し、従来例と同様に位相補償回路１８を通じてト
ラッキングアクチュエータ２１を駆動することにより、
光デイスク６上の集光スポット９ａのトラックずれが補
正される。又、加算器５２．５３と減算器１２とにより
フォーカスエラー信号（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）が演算さ
れ、従来例と同様に位相補償回路１９を通じてフォーカ
シングアクチュエータ２０を駆動することにより、光デ
イスク上集光スポットの焦点ずれが補正される。第１図
中で上記以外の回路がチルトサーボ回路を形成している
が、その動作説明を行なうにあたり、本発明によるチル
トセンサ検出法の動作原理について、第４図により説明
する。第４図Ｔａ）は、集光レンズ５の光軸に垂直な場
合の光ディスク６と、集光レンズ５の光軸に対して傾い
た場合の光ディスク６°とを示している。図中の１０２
は、ディスク傾きの無い場合に光検知器１０に入射する
中心光線を示している。一方、１０１は、光ディスクが
６°のように傾いた場合の中心光線を示している。この
ように、中心光線だけを考えても光検知器１０上で光ス
ポットが変位することがわかる。よって、（Ｃ＋Ｄ）−
（Ａ＋Ｂ）なる演算出力よりチルトセンサ出力が得られ
ることが期待できるが、単純にこのような差動を行なう
と以下の様な点が問題となる。

（１）ディスクピット部出力によるチルトセンサ外乱の
問題 第５図（Ｃ）には、第４図の４分割光検知器の受光領域
であるエレメントＡ、ＢとＣ，Ｄの分割線で見た光スポ
ットの強度分布を示している。光ディスクの傾きが無い
場合の４分割光検知器上の光スポットの強度分布は、光
スポットが光ディスクのランド１１１上（情報を記録し
た微小なディスク上の凹み又は突起の間の鏡面部）にあ
るときには第５図（ａ）の様な単峰上の反射光になり、
光スポットが光ディスクのピント１１２部にあるときに
は第５図（７％）の様にピット１１２で散乱を受け双峰
状の分布となることが公知である。第５図（ａ）、（７
４）から明らかなように、ディスク傾き、レンズ変位の
ない場合には、検知器分割線に対し光スポット強度分布
は対称になる。しかし、光ディスクの傾きがある場合、
トラッキングサーボによって１−ラックずれが補正され
ている時の４分割光検知器上の光スポット強度分布は、
光スポットがランド部１１１上にあるときには第６図Ｔ
ｄ）の様に光検知器分割線に対して光スポツト強度分布
がずれる。−方、光スポットがビット部１１２上にある
ときには同様に第６図（Ｅ））の様に分布中心がシフト
する。

光ディスクが逆方向に傾くと、第６図（ｄ）、（ｐ）に
おいて光束分布が光検知器１０のエレメントＡ。

Ｂ側にシフトする。このように４分割光検知器Ａ。

Ｂ、Ｃ，Ｄ上の光スポットのシフトに対して演算（Ｃ＋
Ｄ）−（Ａ＋Ｂ）を行なえばチルトセンサ出力が得られ
る。

しかし、光スポットがビット部１１２上にある場合の光
束分布は、０．１．Ｉｊｍ程度のわずかなトランクずれ
に対しても大きく変化することが知られている。このこ
とは第６図Ｏ））の状態で（Ｃ＋Ｄ）−（Ａ］・Ｂ）な
る演算出力が、トラッキングサーボ系の残留誤差に依存
し、チルトサーボ系の外乱成分となることを意味する。

一方、光スポットがランド部１１１上にある場合には、
本質的に光デイスク鏡面部からの反射光が検知器上光束
となるので上記の如くトラッキングサーボの残留誤差に
は影響されない。

よって、本発明の光学ヘッド装置におけるチルトセンサ
検出は、光ディスクのランド部１１１での（Ｃ＋Ｄ）−
（Ａ＋Ｂ）出力を選択的に抽出するように構成されてい
る。

（２１１−ランキングアクチュエータのチルトセンサ出
力への干渉の問題点 光検知器上光スポットの強度分布の変位は、トラッキン
グアクチュエータによる集光レンズ変位の影響を受ける
。第４図ｆｂ）はこの影響についての模式的説明図であ
る。

第４図（ｂｌのように、集光レンズ５が実線で示した基
準状態から、トラッキング動作によって破線５゛の如く
変位すると、光検知器１０に入射する光スポットも変位
前の状態１１から変位後の状態１１′へとシフトするこ
とがわかる。そして、トラッキング動作による光検知器
上の光スポツト変位は、光ディスク６のＹ軸回りのチル
トによる光スポツト変位と同じく±Ｙ力方向生じる。こ
のため、トラッキングサーボによる集光レンズ５の変位
がチルト検出に干渉することになる。この干渉は、サー
ボ系が閉ループ状態においては、トラッキングセンサ出
力（Ｅ−Ｆ）がレンズ変位量に比例することを利用して
、下記のＣ１）〜（３）式で示すように補正可能である
。

（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）ｏｃディスク傾き十集光レンズ
変位・・・・・・（１１ （Ｅ−Ｆ）＜　　　　集光レンズ変位　・・・・・・（
２）なる関係を利用すると（３）式が得られる。

（（Ａ＋Ｂ）　−（Ｃ＋Ｄ））−ｋ　（Ｅ−Ｆ）Ｃディ
スク傾き・・・・・・（３） 但しｋは適当な定数である。

（３）式はトラッキングセンサ出力（Ｅ−Ｆ）による補
正を併用することにより、１１１式における集光レンズ
変位の干渉項が除去できて純粋なチルト検出が可能であ
ることを示している。

次に、第１図により前記（１１，＋２）項の問題点解決
を適用した本実施例のチルトセンサ検出法の動作につい
て述べる。

第２図は、第１図の回路のタイミングチャートである。

第２図（ａｌは、ビット列である。第２図（ｂ）は光検
知器１０の出力より、加算器５４，５５゜５６により演
算された波形である。第２図１ｂ）の波形を波形整形回
路５８により矩形波にしたものが第２図（Ｃ）である。

第２図ｉｄ）は、光検知器１０の出力に基づいて加算器
５４．５５及び第１の演算手段としての減算器５７によ
り演算された波形であり、ランド部では大きく、ビット
部では小さい出力となっている。第２図（ｄ）のランド
部での出力を得るために、第２図（Ｃ１の波形がＩ−１
”の期間のみ入力信号を出力するゲート回路５９は、第
２図ｔｅｌに示すような信号を出力する。第２図（Ｃ）
の波形の立上がり時に積分を開始し、立下がりでリセッ
トする積分器６０の出力波形が第２図（ｆ）であり、立
下がり時に積分器６０の出力を保持するサンプルホール
ド回路７２の出力波形が第２図（ｇｌである。

第２図（ｇ）で示したサンプルホールド回路７２の出力
を第２図（Ｃ）の波形の立上がりから立下がりまでの時
間（’ｒ＋　、Ｔｚ・・・・・・）を測定し出力するパ
ルス幅測定器６１の出力によって除算器６２で演算した
出力を第２図（Ｃ）の波形の立下がりで保持するサンプ
ルホールド回路６３の出力波形が第２図（ｈｌである。

出力（ｈ）は、光スポットがディスクのランド部１１１
上にあるときの（Ｃ＋Ｄ）−（Ａ十Ｂ）の平均値となる
。第１図に戻って、減算器１３の出力（Ｅ−Ｆ）は前記
（３）式の左辺第２項の一部をなすトラッキングエラー
信号である。サンプルホールド回路６３と減算器１３と
の各出力はカントオフ周波数を典型的には１ｏＯＨｚ程
度に設定したＬＰＦ６４と６５とにより、高域が遮断さ
れる。

これは、チルトサーボの応答周波数が高々ディスク回転
数（数１０Ｈｚ程度）でよいのに対し、（Ｅ−Ｆ）、　
　（Ｃ＋Ｄ）−（Ａ＋Ｂ）を出力中にディスク信号成分
（最高１０ＭＨｚ程度）や、各種トリガ信号成分が混入
してサーボ系に外乱を与えるのを防ぐためである。ＬＰ
Ｆ６５の出力は増幅器６６でに倍され、（３）式の左辺
第２項ｋ　（Ｅ−Ｆ）が出力される。ＬＰＦ６４及び増
幅器６６の出力は減算器６７に入力され、（３）式左辺
のチルトセンサ出力となる。該チルトセンサ出力は、位
相補償回路６８で適当なループ補償が施されてモータ３
６に供給される。

第３図はチルトサーボ系を含めたサーボ系の全体図を示
している。図において１００は第１図の処理回路を示し
ている。処理回路１００の出・力のうち、サーボ用の出
力ＶＡ？＋　ｖａｔはアクチュエータ２１．２０に供給
され、各々トラッキング制御。

フォーカシング制御に用いられる。又、チルトサーボ用
の出力ＶＴＬｔ　はモータ３６の軸３７を回転駆動させ
、光学式ヘッド装置筺体３３を回動支点３４の回りに回
動させ、集光レンズ５の光軸４０をディスク基板２５に
対して垂直に保つ、なお、本実施例においても従来例と
同様に光検知器エレメントＡ、Ｂ、Ｃ，Ｄの全相より再
生信号ＶＩＩＦが得られるが、これは本発明の本質とは
関係無いので図示を省略した。

第７図は本発明の第２実施例である。第７図において６
９のパルス発生器、７０のサンプルホールド回路を除い
て第１図と同一である。以下、第２実施例の動作につい
て述べる。第８図は、第７図の回路のタイミングチャー
トである。第８図（ａ）はピット列、第８図（ｂ）は光
検知器１０の出力を加算器５４．５５．５６により演算
した波形、第８図（Ｃ）は第８図（ｂ）の波形を波形整
形回路５８により矩形波にした図であり、以上は第１実
施例と同様である。第８図（ｄｌは波形整形回路５８の
出力の立上がりでランド部の最短期間よりも短いサンプ
リングパルスを発生するパルス発生器６９からの出力、
第８図（６１は加算器５４．５５および減算器５７によ
り演算された減算器５７の出力波形、第８図（ｆ）は図
１６）の波形をパルス発生器６９からのパルスの立上り
でサンプルホールドするサンプルホールド回路７０の出
力波形であり、光スポットが光ディスクのランド部上に
あるときの出力（Ｃ十〇）−（Ａ＋Ｂ）であり、第１実
施例のサンプルホールド回路６３の出力に準じている。

以下第１の実施例のサンプルホールド回路６３以後の回
路と同様の処理を施せば、チルトセンサ出力が得られる
。

第９図は、本発明の第３の実施例である。第９図におい
て７１は遅延回路である。以下、第３の実施例につき第
９図の回路のタイムチャートである第１０図について説
明する。第１θ図（ａ）、　（ｂｌ。

（Ｃ）は、第２の実施例と同一であるので説明を省略す
る。第１０図（ｄ）は波形整形回路５８の出力の立上が
りでランド部の最短期間よりも短いサンプリングパルス
をサンプリングパルス幅よりも小さい期間だけ遅らせる
遅延回路７１を通した波形である。第１Ｏ図（１３）は
減算器５７の出力波形、第１０図（ｆ）は第１Ｏ図（６
１の波形を遅延回路７１を通したパルス発生器６９から
のパルスの立上りでサンプルホールドするサンプルホー
ルド回路７０の出力波形である。そして、第１０図（ｅ
）は、遅延回路７１によりピント部とランド部の境界よ
りもランド部の中央に近いところでサンプルホールドし
た出力（Ｃ＋Ｄ）−（Ａ＋Ｂ）であるため、以下第１の
実施例のサンプルホールド回路６３以後の回路と同様の
処理を施せば、よりビア）部の影響の少ないチルトセン
サ出力が得られる。

以上のように本実施例の光学式ヘッド装置では、従来フ
ォーカスエラー信号を検出するのに用いていた４分割光
検知器上の光スポットが、ディスク基板の傾きに応じて
変位するのを利用して、該４分割検知器出力を演算処理
する。この演算出力は、ディスク基板の傾き及び集光レ
ンズのトラッキング変位の双方に比例して変化するので
、トラッキングエラー信号を用いてトラッキング変位の
影響を打ち消し、所望のチルトセンサ出力を得る。その
際、集光レンズのトラッキング変位がチルトセンサの動
作と干渉するので、トラッキングセンサ出力を用いてそ
の干渉を除去する。

したがって、本実施例では光デイスク再生用の光検知器
の電気的演算処理だけでチルトセンサ出力を得るので、
付加光学部品が不用であり、しかも光学ヘッド装置の設
計上の空間的制約条件を緩和することができる。

更に詳しく述べると、この実施例によれば従来フォーカ
スエラー信号を検出するのに用いていた４分割検知器上
の光スポットの強度分布が、光ディスクのランド部では
トランクずれの影響を程んど受けないことを利用し、ラ
ンド部の差動出力（Ｃ＋Ｄ）−（Ａ＋Ｂ）からチルトセ
ンサ出力を得ることができる。この際、光スボントが光
ディスクの傾き及び集光レンズのトラッキング変位の双
方に比例して変位することを利用して、トラッキングエ
ラー信号（Ｅ−Ｆ）を用いてトラッキング変位の影響を
打ち消し、所望のチルトセンサ出力を得ることができる
。このため、光デイスク再生用の光検知器の電気的演算
処理だけでチルトセンサ出力を得るので、付加光学部品
が不用であり、しかも、従来のチルトセンサで問題であ
った光学ヘッド装置設計上の空間的制約条件を緩和ｒる
ことができる。

〔発明の効果〕

以上のように本発明によれば、集光手段の光軸と情報記
憶媒体の情報記憶面との相対角度およびトラッキングア
クチュエータによる変位にＪ、って変化する第１の演算
信号を出力する第１の演算出力と、両側光束を受光する
光検知手段の出力信号を受けトラッキングアクチュエー
タによる変位によって変化する第２の演算信号を出力す
る第２の演算手段とを設け、第１の演算信号と第２の演
算信号とに基づいて集光手段の光軸と情報記憶媒体の情
報記憶面とのなす相対角度を検出するように構成したの
で、記録／再生光学系に付加光学部品を使用することな
く、情報記憶媒体の情報記憶面と集光レンズの光軸との
相対角度を検出でき、したがってコントダウンが図られ
るとともに筐体上面と基板との間の空間的制約にとられ
れず設計できるという効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例による光学式ヘッド装置の
サーボ系回路の構成図、第２図は第１図の動作説明を行
なうためのタイミングチャート図、第３図は実施例の光
学式ヘッド装置の制御系全体構成図、第４図（ａｌ、　
（ｂｌ、　ｉｃｌは本発明のヂルト検出に用いる光検知
器上の光スポツト変位の説明図、第５図［ａ）、　（ｂ
ｌ、　（ｃｌ、　（ｄ）、　（Ａ）、（＃）、（ｃ）お
よび第６図１ａ）、　（ｂ）、　（ｃｌ、　ｌｄ）、　
（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）、（ｐ）は四分割検知器上の光
スポットの強度分布を示す図、第７図は本発明の第２実
施例によるサーボ系回路の構成図、第８図は第７図の動
作説明を行なうためのタイミングチャート図、第９図は
本発明の第３実施例によるサーボ系回路の構成図、第１
０図は第９図の動作説明を行なうためのタイミングチャ
ート図、第１１図（ａ）は従来の光学式ヘッド装置のチ
ルトサーボ機構を除く構成図、第１１図ｔｂｌはこの従
来装置のサーボ系回路の構成図、第１２図は従来の光学
式ヘッド装置におけるチルトサーボ機構の構成図、第１
３図は従来のチルトセンサの動作原理説明図である。 ｌ・・・・・・１ｌ）（光源）、３・・・・・・回折格
子、５・・・・・・集光Ｉ／ンズ（集光手段）、８・・
・・・・トラック、】０・・・・・・光検知器、ｌｌａ
・・・・・・中心光束、１１ｅ。 １１「・・・・・・両側光束、１３・・・・・・減１γ
器（第２の演算手段）、２１・・・・・・トラッキング
アクチュエータ、２７・・・・・・情報記憶面、４０・
・・・・・平板ビームスプリンタ（光束分離手段）、５
７・・・・・・減算器（第１の演算手段）。 代理人　　大岩　増Ｂｉｔ（ほか２名）第８図 手続補正書（自発） ２０発明の名称 光学式ヘッド装置 ３、補正をする者 代表者　志　岐　守　哉 五　補正の対象 特許請求の範囲、発明の詳細な説明の欄。 ６　補正の内容 （１）特許請求の範囲を別紙のとおり補正する。 （２）明細書第６頁第１６行目乃至第１７行目「典型時
には」とあるのを「典型的には」と補正する。 以上 ２、特許請求の範囲 光源から出射する光束を複数本の光束に回折分離する回
折格子と、その複数本の光束を光学式情報記憶媒体上に
複数個の光スポットとして集光する集光手段と、この集
光手段を上記情報記憶媒体上に記憶された情報の列であ
るトラックと直角方向に変位させるトラッキングアクチ
ュエータと、上記偕報記憶媒体の情報記憶面によって反
射され上記春光主刃を再透過した光束と上記光源からの
番射洸とを分離しその反射光に非点収差を付与する光束
分離手段と、その非点収差を付与された複数本の光束の
うちの中心光束とその中心光束の両側光束とをそれぞれ
受光する複数の受光領域を有する光検知手段とを備えた
光学式ヘッド装置において、上記集光手段の光軸と上記
情報記憶面との相対角度および上記トラッキングアクチ
ュエータによる変位によって変化する第１の演算信号を
出力する第１の演算手段と、上記両側光束を受光する上
記光検知手段の出力信号を受け上記トラッキングアクチ
ュエータによる変位によって変化する第２の演算信号を
出力する第２の演算手段とを設け、上記第１の演算信号
と上記第２の演算信号とに基づいて上記集光手段の光軸
と一ト記情報記憶媒体の情報記憶面とのなす相対角度を
検出することを特徴とする光学式ヘッド装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　光源から出射する光束を複数本の光束に回折分離する
   回折格子と、その複数本の光束を光学式情報記憶媒体上
   に複数個の光スポットとして集光する集光手段と、この
   集光手段を上記情報記憶媒体上に記憶された情報の列で
   あるトラックと直角方向に変位させるトラッキングアク
   チュエータと、上記情報記憶媒体の情報記憶面によって
   反射され上記集光レンズを再透過した光束と上記光源か
   らの出射とを分離しその反射光に非点収差を付与する光
   束分離手段と、その非点収差を付与された複数本の光束
   のうちの中心光束とその中心光束の両側光束とをそれぞ
   れ受光する複数の受光領域を有する光検知手段とを備え
   た光学式ヘッド装置において、上記集光手段の光軸と上
   記情報記憶面との相対角度および上記トラッキングアク
   チュエータによる変位によって変化する第１の演算信号
   を出力する第１の演算手段と、上記両側光束を受光する
   上記光検知手段の出力信号を受け上記トラッキングアク
   チュエータによる変位によって変化する第２の演算信号
   を出力する第２の演算手段とを設け、上記第１の演算信
   号と上記第２の演算信号とに基づいて上記集光手段の光
   軸と上記情報記憶媒体の情報記憶面とのなす相対角度を
   検出することを特徴とする光学式ヘッド装置。