JPH027456A - 強制液冷式集積回路装置 - Google Patents

強制液冷式集積回路装置

Info

Publication number
JPH027456A
JPH027456A JP63156760A JP15676088A JPH027456A JP H027456 A JPH027456 A JP H027456A JP 63156760 A JP63156760 A JP 63156760A JP 15676088 A JP15676088 A JP 15676088A JP H027456 A JPH027456 A JP H027456A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cooling
integrated circuit
heat transfer
semiconductor chip
heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63156760A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Kato
加藤 重雄
Akizo Toda
尭三 戸田
Fumiyuki Kobayashi
小林 二三幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP63156760A priority Critical patent/JPH027456A/ja
Publication of JPH027456A publication Critical patent/JPH027456A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73253Bump and layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、液体によって強制的に冷却を行う高集積化さ
れた集積回路装置とその電子計算機への応用に係り、特
に放熱特性を向上させることにより集積回路装置の一層
の高集積化と電子計算機の性能向上を図ったものである
〔従来の技術〕
電子計算機を高速化するに従い、演算や記憶に用いられ
る半導体集積回路から発生する熱量が大きくなってきて
いる。これは半導体集積回路の演算などの速度が、半導
体集積回路に投入される電力量に比例するからである。
投入された電力量は全て発熱となるため、この発熱を十
分取り去らないと半導体装置は作動できないような高温
度となってしまう、そこで1強力な冷却とくに液体によ
る冷却ができる集積回路装置が高速な電子計算機の実現
のために必須なこととなってきている。
さて、強制冷却装置をつけた集積回路装置については、
公開特許公報昭60−92642等に示されている。
第8図は従来の強制冷却装置をつけた集積回路装置の断
面図である。絶縁基板51は表面に導電体を有している
。複数の半導体チップ52が半田バンプ53を介して、
絶縁基板51の導電体部に半田づけしである。冷却筐体
54にはダイヤフラム55がついている。冷却筐体内に
は、スプリング等からなる加圧助成部材56があり、ダ
イヤフラムに取りつく加圧体57に力を与えて、半導体
チップと加圧体との圧着力を増加させている。冷却筐体
内には、冷却液58が入口59から出口60へと矢印の
ように流れている。半導体チップで発生した熱は加圧体
、ダイヤフラムを経て、冷却液へと放熱されることにな
る。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、上記従来技術は以下に示す点で配慮がなされて
おらず、放熱特性がすぐれた集積回路装置を実現できな
いという問題があった。すなわち、1)スプリング等の
加圧助成部材が強い加圧力を出して、加圧体が半導体チ
ップに接触させねばならない。しかし、この強力な加圧
力は半田バンプを疲労させ、集積回路装置の断線の原因
となっている。
2)絶縁基板にはうねりがあり、また、半導体チップは
個々に自由に熱膨張する。そこで加圧体の先端形状は必
然的に球体とならざるを得ない。
そのため、半導体チップと加圧体は単なる点接触をして
いるだけであるので、この部分の熱抵抗はきわめて大き
い、従って、半導体チップからの放熱は十分でなく、放
熱特性のすぐれた集積回路装置が得られない。
3)冷却液の流れの下流にある半導体チップは湿度の上
った冷却液で冷却されることになり、冷却効果が悪い、
従って、集積回路装置内の半導体チップの冷却にはバラ
つきが生じるという問題が発生する。
本発明の目的は、上記の問題点を解決し、冷却特性のき
わめて優れた、しかも回路の断線の恐れのない高性能の
高集積回路装置とこれを演算や記憶素子とする高性能の
電子計算機を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的は以下の手段によって達成された。
すなわち、 1)冷却板と半導体チップとの間に、スプリングなどの
加圧助成部材による圧加力がなくても、高い伝熱特性の
得られる伝熱要素を設けた。これによって、圧加力によ
る半田バンプの疲労をなくすことが達成できた。
2)冷却板に波紋状模様の襞をもつ凹凸をつけて柔軟な
構造のものを採用した。これによって半田などの伝熱要
素を半導体チップに結合できるようになった。伝熱要素
は熱抵抗がきわめて小さいので、放熱特性を大幅に向上
することが達成できた。
3)冷却液の通路の中に、各半導体チップに対して独立
して冷却液を供給できる孔の明いた構造の隔壁を設けた
。この結果、全ての半導体チップは等しく入口温度の冷
却液が供給されて冷却され、半導体チップの冷却のバラ
つきの問題を解決できた。
〔作用〕
さて、伝熱要素であるが、その一つの実施例は半田や熱
伝導のよい接着剤による接合である。もう一つの実施例
は、半導体チップと冷却板を結ぶ方向に移動でき、しか
も移動しても伝熱特性のほとんど変らない一対の対向す
る部材である。例えば、剣山状あるいはスプライン状の
一対の部材が伝熱要素となる。これらのすきまは2〜5
μmとせまいので、軸方向に動きうるが伝熱面積がきわ
めて大きいので、伝熱特性は大きい。半導体チップの熱
は伝熱要素を経て、冷却板に達し、冷却液へと放熱され
る。
つぎに、波紋状模様の襞をもつ冷却板の特徴は。
この襞がやわらかいバネの作用があるので、これにとり
つく部材の上下、左右の移動が容易にできることである
。この特徴によって、半導体チップと冷却板とを伝熱要
素を介して結合した状態で、絶縁基板のうねりや半導体
チップの熱膨張による半導体チップ表面の不規則な微小
移動や傾きが生じても、半導体チップ本体や半田バンプ
になんら問題を起さなくなった。すなわち、この構造の
冷却板を採用したことで、半田などの伝熱要素と半導体
チップとの結合が可能となったことになる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図をもちいて説明する。
第1図は本発明の強制液冷式集積回路装置の断面図であ
る。絶縁基板1は集積回路装置内の半導体チップ2を結
ぶ配線がその内部になされている(図示せず)6またそ
の表面には配線に接続する導電体(図示せず)を有して
いる。半田バンプ3は、複数の半導体チップを絶縁基板
上の導電体部に半田付は接合している。もし、半導体チ
ップが発熱しないならば、この状態で集積回路装置は動
作する。しかし、実際には電熱器をしのぐ程の多量の熱
が発生するため、その放熱対策をしなければならない。
絶縁基板の上には下部筐体4が気密に固着されている。
下部筐体の上に冷却板5が気密に固着される。この冷却
板は熱伝導性のよい薄い金属板で。
冷却液に対して耐腐食性の高いも・のが適している6例
えば、ステンレス、金、銀、ニッケルの薄板あるいは、
アルミニウム、チタン、マグネシウムの両面を上記金属
のステンレス、金、銀、ニッケルや窒化チタン、窒化ニ
ッケル等の化合物で上記金属を保護した薄板が適してい
る。
冷却板は、凹凸をつけて、柔軟性をもたせている。−例
として、冷却板は、各半導体チップが固定される固定部
6を中心として波紋状の襞7を有している。この波紋状
の襞があるため、各固定部はおたがいを束縛することな
く、自由に上下かつ左右方向に移動することができる。
冷却板と半導体チップとは熱伝導のよい伝熱要素8で接
合される。伝熱要素には半田等の低融点の金属や、熱伝
導性のよい接着材が適合するが、また、その他、チップ
と冷却板の方向に移動しつる伝熱特性の高い部材でもよ
い。これについては第6図、第7図において詳しく説明
する。半導体チップの周辺空間9にはヘリウムガスを充
填しているので、半導体チップや絶縁基板からの熱の一
部はこのヘリウムを介して、冷却板へ放熱される。
冷却板の上側には上部筐体10が密封固着されている。
この上部筐体には、冷却液の流れを制御する隔壁11が
固定されている。この隔壁の特性は、冷却板の半導体チ
ップが固定される固定部6に位置する部分に冷却液供給
孔12がおいていることである。上部筐体の冷却液人口
13から供給された冷却液は図中の点線のように通れて
いく。
そして、冷却液供給孔から噴出して、冷却板の半導体チ
ップ固定部6を一様に冷却する。このため。
半導体チップの冷却にはバラつきが生じない。冷却を終
えた冷却液は冷却液出口14を通って集積回路装置の外
へと返っていく。
第2図は本発明の強制液冷式集積回路装置のうち、冷却
板の一部の平面図である。図中の番号は第1図の中の番
号の部品を示している。すなわち、半導体チップ固定部
6を中心に、波紋状の襞7がつくられているのが示され
ている。
第3図は本発明の強制液冷式集積回路装置のうち、冷却
板の別の実施例を示す一部の断面図である。本実施例の
特徴は、冷却板5のうちの半導体チップ固定部6の部分
に冷却フィン16を設けたことである。冷却液は図中の
点線のように流れ、冷却フィンに当る。この冷却フィン
は冷却板の冷却面積を大きくする効果があるので、半導
体チップ2からの熱を更に効果的に放熱することができ
る。なお図中の番号は第1図の番号の部品を示している
第4図は本発明の強制液冷式集積回路装置のうち、半導
体チップ自体が小型の気密容器に入っている場合の実施
例の断面図の一部を示すものである。半導体チップ2は
小型基板17の上に小型半田バンプ18を介して固定さ
れ、配線される。小型基板には気密容@19が固着され
ている。半導体チップと気密容器の間には半田等の熱伝
導体20があり、半導体チップの発生する熱は気密容器
へと伝えられる。この熱は、半田等の伝熱要素8および
冷却板5の冷却フィン16を経て1図中の点線のように
流れる冷却液へと放熱されることになる。なお、図中の
番号は第1図の番号の部品を示している。
さて、半田や接着材以外の伝熱要素の構造について、第
5図に示す。伝熱要素は2つもしくは3つの部材からな
る。すなわち、冷却板5側に付く上側伝熱要i8Aと半
導体チップ2側に付く下側伝熱要素8Bが2つの部材の
場合であり、3つの部材の場合は、両者の間に加える熱
伝導特性のすぐれたグリース等の粘性体が更に追加され
る。伝熱要素の一方は板状あるいは線状のフィンをもっ
ておりその伝熱面積はきわめて大きい。またフィンの形
状は、半田バンプ3に力がかからないように、冷却板と
半導体チップを結ぶ方向に大きく移動できる構造をして
いる。すなわち、剣山のような形状である。伝熱要素の
もう一方は他方に対して対向する形状をもつ、したがっ
て、剣山のような形状では上側伝熱要素と下側伝熱要素
は同じ形状をもつ。
なお1図中の番号は第1図の番号の部品を示している。
第6図は伝熱要素の別の例を示すものである。
上側伝熱要素8Aは円筒に多数のフィンが有るものであ
る。一方、下側伝熱要素8Bはスプライン状をしている
。この場合は一対の伝熱要素は雄。
雌の関係の形状をしている。しかし、いずれの場合も、
冷却板を半導体チップにおしつけることなく、半導体チ
ップの熱を冷却板へ十分伝熱できる点では半田や接着材
と変わることはない。
伝熱要素の材質はアルミや銅や銀のように、熱伝導のよ
い金属の外、窒化アルミ(AQN)や炭化シリコン(S
 i C)などの化合物が適している。
第7図は本発明の強制液冷式集積回路装置の電子計算機
への応用例を示すものである。
絶縁基板1にのり、上部筐体1oによってシールドされ
る集積回路装置22は多層プリント基板23にのせられ
て、半田づけされる。それぞれの集積回路装置はこの多
層プリント基板中の配線によって回路が組まれる。多層
プリント基板はプラッタ24の多芯コネクタ25にはめ
こめられる。
多芯コネクタと他の多芯コネクタ(図示せず)とは配線
がなされている。これにより、すべての集積回路袋N(
1部のみ図示)は、回路として緒なかり、演算、記憶が
できるようになり、電子計算機として作動する。さて、
冷却液供給管26からは、供給支管27が分れ、冷却液
人口13へ冷部液を供給する。一方、集積回路装置22
の冷却を終だ液体は冷却液出口14から出て、回収支管
28を、経て、冷却液回収管29へと戻る。ここに戻っ
た冷却液は電子計算機の外の冷凍機(図示せず)に導び
かれ、一定の低い温度に調整されたのち、再び冷却液供
給管へと循環される。
本発明の強制液冷式集積回路装置はきわめて半導体素子
の冷却特性がすぐれており、また、その冷却のための実
装も容易であるので、超高速の電子計算機を提供するこ
とができた。
〔発明の効果〕
以上述べてきたように、本発明によれば、波紋状襞のつ
いた冷却板は、半導体チップが熱によって微小移動する
のを全くさまたげず、かつ、半導体チップの発生する熱
を伝熱要素を介してただちに冷却液へ放熱することがで
きるので、半田バンプが疲労によって断線することのな
いしかも冷却特性のきわめて優れた集積回路装置を提供
することができた。また、本発明の集積回路装置は演算
や記憶動作がきわめて高速となるので、これを演算装置
や記憶装置に応用することによって、きわめて高速な電
子計算機を提供することができた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は本発
明の一実施例を示す平面図、第3図、第4図、第5図及
び第6図は本発明の一実施例を示す断面図、第7図は本
発明の応用の一実施例を示す斜視図、第8図は従来の一
実施例を示す断面図である。 1・・・絶縁基板、2・・・半導体チップ、3・・・半
田バンプ、5・・・冷却板、6・・・半導体チップ固定
部、7・・・波紋状の襞、8 (8A、8B)・・・伝
熱要素、10・・・上部筐体、11・・・隔壁、16・
・・冷却フィン、19・・・気密容器、20・・・熱伝
導体(半田)、21・・・伸縮部、22・・・集積回路
、23・・・多層プリント基板、24・・・プラッタ、
25・・・多芯コネクタ、第 閉 第 区 6ノ1\E−T−閃パノフ−2o ’f!!=4<44
;ト(千日)(ど−とボロシ) (Y−γ前曲)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、絶縁基板上に固着された半導体チップの表面あるい
    は半導体チップを納めた小型気密容器の表面と、波紋模
    様の襞をつけて凹凸状をつくり柔軟な構造にした一枚の
    冷却板との間に、外部から圧加力を加えることなく伝熱
    できる伝熱要素を設け、冷却板の裏側に冷却液を流して
    半導体チップを冷却することを特徴とする強制液冷式の
    集積回路装置。 2、上記伝熱要素として、半田もしくは熱伝導性のすぐ
    れた接着剤を用いることを特徴とする請求項1記載の強
    制液冷式の集積回路装置。 3、上記伝熱要素として、半導体チップと冷却板を結ぶ
    方向に移動でき、しかも移動しても伝熱特性がほとんど
    変らない一対の対向する部材を用いることを特徴とする
    請求項1記載の強制液冷式の集積回路装置。 4、上記伝熱要素の形状は櫛の歯状、剣山状あるいはス
    プライン状で、またその材質はアルミ・銅・銀などの金
    属や窒化アルミ、炭化シリコンなどの化合物のように熱
    伝導のすぐれたものを用いたことを特徴とする請求項3
    記載の強制液冷式の集積回路装置。 5、上記伝熱要素を構成する一対の対向する部材の間に
    熱伝導のすぐれた粘性体を充填したことを特徴とする請
    求項3記載の強制液冷式の集積回路装置。 6、冷却液の流路中に孔の明いた隔壁をおき、冷却板上
    の伝熱要素のそれぞれに個々に冷却液を供給できる構造
    をもつことを特徴とする請求項1に記載の強制液冷式の
    集積回路装置。 7、請求項1に記載の強制液冷式集積回路装置を組合せ
    、超高速の演算および記憶を可能とした電子計算機。
JP63156760A 1988-06-27 1988-06-27 強制液冷式集積回路装置 Pending JPH027456A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63156760A JPH027456A (ja) 1988-06-27 1988-06-27 強制液冷式集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63156760A JPH027456A (ja) 1988-06-27 1988-06-27 強制液冷式集積回路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH027456A true JPH027456A (ja) 1990-01-11

Family

ID=15634723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63156760A Pending JPH027456A (ja) 1988-06-27 1988-06-27 強制液冷式集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH027456A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5368980A (en) * 1993-10-25 1994-11-29 Minnesota Mining And Manufacturing Company Process of developing a diffusion transfer printing plate
US5514906A (en) * 1993-11-10 1996-05-07 Fujitsu Limited Apparatus for cooling semiconductor chips in multichip modules
US6046498A (en) * 1997-06-30 2000-04-04 Nec Corporation Device having a heat sink for cooling an integrated circuit
JP2010278130A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Toyota Motor Corp パワーデバイスの冷却装置及び燃料電池システム
JP2020107885A (ja) * 2018-12-26 2020-07-09 廣達電腦股▲ふん▼有限公司Quanta Computer Inc. 流体分配メカニズムを有するフレキシブルな冷却板

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5368980A (en) * 1993-10-25 1994-11-29 Minnesota Mining And Manufacturing Company Process of developing a diffusion transfer printing plate
US5514906A (en) * 1993-11-10 1996-05-07 Fujitsu Limited Apparatus for cooling semiconductor chips in multichip modules
US6046498A (en) * 1997-06-30 2000-04-04 Nec Corporation Device having a heat sink for cooling an integrated circuit
US6251709B1 (en) 1997-06-30 2001-06-26 Nec Corporation Method of manufacturing a cooling structure of a multichip module
JP2010278130A (ja) * 2009-05-27 2010-12-09 Toyota Motor Corp パワーデバイスの冷却装置及び燃料電池システム
JP2020107885A (ja) * 2018-12-26 2020-07-09 廣達電腦股▲ふん▼有限公司Quanta Computer Inc. 流体分配メカニズムを有するフレキシブルな冷却板

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3518434B2 (ja) マルチチップモジュールの冷却装置
Sathe et al. A review of recent developments in some practical aspects of air-cooled electronic packages
US5719444A (en) Packaging and cooling system for power semi-conductor
US6377453B1 (en) Field replaceable module with enhanced thermal interface
JP6722426B2 (ja) 電子機器システムのためのサーマルクランプ装置
US8358000B2 (en) Double side cooled power module with power overlay
US5933323A (en) Electronic component lid that provides improved thermal dissipation
US4768581A (en) Cooling system for semiconductor modules
TW200836615A (en) Liquid-based cooling system for cooling a multi-component electronics system
JPH02398A (ja) 集積回路の冷却構造
US6760222B1 (en) Dissipating heat using a heat conduit
JPH027456A (ja) 強制液冷式集積回路装置
WO2010099545A1 (en) Microscale heat transfer systems
JPH08261672A (ja) 熱伝導装置
JP2610492B2 (ja) 半導体装置の冷却実装構造
JP2018509771A (ja) 熱抵抗が向上した電子チップデバイス、および関連する製造プロセス
TW532057B (en) Manufacturing method of thermal super-conducting heat conduction block and the structure thereof
JPS58218148A (ja) 電子部品冷却装置
JP2004311911A (ja) 水冷式ヒートシンク並びに水冷式ユニット
US20100251536A1 (en) Heat-dissipating structure on case of industrial computer and manufacturing method thereof
JP5047422B2 (ja) 吸熱器
TWI729325B (zh) 散熱單元
Pence et al. Package thermal resistance: Geometrical effects in conventional and hybrid packages
JPH10256677A (ja) プリント基板
JPH0617313Y2 (ja) 液冷形半導体パッケージ