JPH026763A - 電子回路基板のプロービング方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子回路基板のプロービング方法に係り、特
に電子回路基板の測定点の変形や半田フラックスによる
検査不良、不能を解消し、しかも電子回路基板への電子
部品の高密度実装化に対しても有効に検査を行うために
好適な電子回路基板のプロービング方法に関する。

〔従来の技術〕

電子回路基板等の検査、調整を行うプロービング方法の
従来技術としては、特開昭６０−１８６７６７号公報に
記載の技術がある。

この従来技術の検査、調整装置におけるブローピンク方
法の一例を第２図に示す。

この第２図において、電子回路基板（以下、［基板Ｊと
いう）１は、位置決めピン２と、基板１の４隅に設けら
れた位置決め穴３によって位置決めされる。

基板１の下方には、カイト４とエアシリンダ５によって
昇降動作するピンフロック６が配置されている。このピ
ンブロック６上には、基板１の半田面（下面）の４１１
定点の配置に従ってプローブピン７が配置され、固定さ
れている。

基板１の測定点は、半田面に突き出し、半田付けされた
電子部品８のリード部９や、測定パッドに付された半田
ポイントにより配置されている。

また、基板１の上方には、ガイド１０とエアシリンダ１
１によって昇降動作するブラケッ１へ１２が設置されて
いる。このブラケット１２には、基板１の上面にある半
固定抵抗１３を回転調整するための調整ドライバ１４が
固定されている。そして、位置決めピン２、ガイド４，
１ｏ、エアシリンダ５，１１は同一のフレーム１５に固
定されている。

以下、従来の検査、調整装置の動作を説明する。

基板１を位置決めピン２で位置決めした後、ピンブロッ
ク６がエアシリンダ５によって上昇し、基板１の半田面
上の測定点へプローブピン７を押し当てて接触させる。

そして、テスト信号発生器１６から基板１へテスト信号
を出力し、該テスト信号による基板１からの出力信号を
プローブピン７が入力し、信号判定器１７内で信号を処
理する。

調整ドライバ１４は、エアシリンダ１１によってピンフ
ロック６の上昇と同時に降下し、基板１」−の半固定抵
抗」３と嵌合する。その後、信号判定器］７内での信号
判定に基ついて、調整ドライバ１４の回転角度をドライ
ツユニット１８へ送信し、調整ｊヘライバ１４が半固定
抵抗１３を所定角度回転させて調整を終了する。

〔発明が祭′決しようとする課題〕

前記従来技術では、プローブピン７を接触させる４１す
定点を基板１の半田面より突出した電子部品８のり一１
〜部９や、測定パッドとしているため、電子部品８のリ
ード部９の曲がりによりプローブピン７との間の位置ず
れによる接触不良、電子部品８のり−１へ部９や４１す
定パット表面にある半田フラックスをプローブピン７の
押し付は力不足によって突き破れないことによる接触不
良が発生するため、ｍ頼性が低ドする問題かある。

また、従来技術では基板１の小型化、高密度実装化に伴
って、測定点ピッチの極小化と、プローブピン７の極細
化を図らなければならず、装置のコス１−が上昇する問
題がある。

さらに、従来技術ではプローブピン７のピッチの極小化
およびプローブピン７の極細化に伴い、より一層前記接
触不良を促進する問題がある。

本発明の目的は、前記従来技術の問題を解決し、基板を
小型化、高密度実装化しても、プローブピンの接触不良
を解消でき、しかも装置の簡素化を図り得る基板のブロ
ーピンク方法を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

前記目的は、基板上に設置されているコネクタにおける
コネクタピンの配列に合わせてプローブピンを配置し、
前記コネクタピンにプローブピンを直接接触させて検査
するようにしたことにより、達成される。

〔作用〕

本発明のように、ピンブロックへのプローブピンの配列
を、基板上の各コネクタピンの配置に合わせ、プローブ
ピンを直接コネクタピンに接触させることにすると、元
来雄コネクタであるコネクタピンは雌コネクタとの嵌合
部品であることから、ピンの曲がりや、変形が発生しな
い。

また、コネクタピンは半田付は部分でもないのて、半田
フラックスのよらな絶縁被覆もないため、これらによる
プローブピンの接触不良は発生しない。

さらに、基板が小型化、高密度実装化されても、コネク
タピン内のピンのピンチは不変であるから、プローブピ
ンのピッチを極小化したり、プローブピンを極細化する
必要がない。

したがって、プローブピンの接触不良を解消でき、かつ
装置の簡素化を図ることか可能となる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面により説明する。

第１図は本発明方法を実施するためのブロービング装置
の一例を示す斜視図である。

この第１図において、フレーム１９は下板１９ａと、側
板１９ｂと、上板１９ｃとを組み合わせて構成され、側
面から見てｍ＝型に形成されている。

前記フレーム１９の下板１９ａの上面における−半部に
は、互いに対向して配置された２本−刻のカイト２０，
２０と、エアシリンダ２１とが設置されている。

前記ガイド２０．２０間には、ピンブロック２２がスラ
イド可能に支持されており、このピンブロック２２には
プローブピン２３が設けられている。航記プローブピン
２３は、後述のコネクタピン２６に合わせて配置されて
いる。前記ピンブロック２２は、前記エアシリンダ２１
に連結されていて、プローブピン２３をコネクタピン２
６に接触させる方向と、コネクタピン２６から離れる方
向とに移動操作されるようになっている。

前記フレーム１９の下板１９ａの上面における他半部に
は、基板１が設置されている。この基板１は、下板１９
ａ上に突設された位置決めピン２４と、基板１に設けら
れた位置決め穴３とにより位置決めされている。前記基
板１には、電子部品８と、半固定抵抗１３と、コネクタ
ピン２６を有するコネクタ２５とが搭載されている。前
記コネクタ２５は、コネクタピン２６に前記プローブピ
ン２３が直接接触させ得る位置および方向に設置されて
いる。

前記フレーム１９の下板１９　ａの他生部側と、−］二
抜板　り　ｃ間には、２本一対のガイ１〜棒２７゜２７
か設けられている。

前記フレーム１≦〕の」二枚Ｌ９ｃには、エアシリンダ
２８か設置されている。

前記フレーム１９の」二級１９　ｃと下板１９ａ間には
、調整ドライバ用のフラケッ１〜２９が配置されている
。このブラケッ１〜２９は、エアシリンダ２８に連結さ
れ、かつ前記ガイド捧２７，２７に沿って昇降可能に支
持されている。

前記ブラケット２９には、半固定抵抗用の調整トライバ
３０が取り付けられている。

この実施例では、ほかに基板］に対してテスト信号を出
力するデス１〜信号発生器１６と、基板１からの出力信
号に取り込んで判定する信号判定器１７と、信−手利定
器１７の判定結果を取り込んで半固定抵抗１３の調整ト
ライバ３０を制御するドライブユニツ１〜１８とが配備
されている。

次に、前記実施例のプロービング装置の作用に関連して
、本発明に係るプロービング方法の一例を説明する。

まず、位置決めピン２４と位置決め穴３とにより、フレ
ーム１９の下板１９ａ上の所定位置に、基板１を位置決
めして固定する。

ついで、エアシリンダ２１によりピンブロック２２を基
板１に接近する方向に移動させ、基板１上に設置された
コネクタ２５のコネクタピン２６に、ピンブロック２２
に配列されたプローブピン２３を直接接触させる。

これと平衡して、エアシリンダ２８によりブラケット２
９を下降させ、これに取り付けられた調整ドライバ３０
を、基板１に設けられた半固定抵抗１３に嵌合させる。

ついで、テス１へ信号発生器１６から基板１に対してテ
スト信号を出力する。そして、テスト信号による基板１
からの出力信号をコネクタピン２６およびプローブピン
２３を通じて信号判定器１７に送り込む。この信号判定
器１７では、前記基板１からの出力信号を取り込み、調
整ドライバ３０による半固定抵抗１３の回転角度を判定
し、その判定結果をドライブユニツ１へ１８に対して出
力する。前記ドライブユニット１８は、信号判定器１７
の判定結果に基づいて調整ドライバ３０を必要角度回転
させる。前記調整ドライバ３０により、半固定抵抗１３
を所定角度回転させて調整を終了する。

〔発明の効果〕

以上説明した本発明では、基板上に設置されているコネ
クタにおけるコネクタピンの配列に合わせてプローブピ
ンを配置し、コネクタピンにプローブピンを直接接触さ
せて検査するようにしており、元来雄コネクタであるコ
ネクタピンは雌コネクタとの嵌合部品であることから、
ピンの曲がりや、変形が発生しないし、コネクタピンは
半田付は部分でもないので、フラックスのような絶縁被
覆もないため、これらによるプローブピンの接触不良は
発生しないし、基板が小型化、高密度実装化されても、
コネクタピン内のピンのピッチは不変であるから、プロ
ーブピンのピッチを極小化したり、プローブピンを極細
化する必要がない。したがって、本発明によれば、プロ
ーブピンの接触不良を解消でき、かつ装置の簡素化を図
り得る効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法を実施するためのブロービング装置
の一例を示す斜視図、第２図は従来技術を示す斜視図で
ある。 １・・・基板、８・・・電子部品、１３・・半固定抵抗
、１６・・テスト信号発生器、１７・・信号判定器、１
８・・・ドライブユニット、１９・・フレーム、２１・
・・ピンブロック用のエアシリンダ、２２・　ピンブロ
ック、２３・・・プローブピン、２５・・コネクタ、２
６・・・コネクタピン、２８・調整ドライバのブラケッ
ト用のエアシリンダ、２９・・・調整ドライバ用のブラ
ケット、３０・・・調整ドライバ。 躬

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、電子回路基板の測定点にプローブピンを接触させ、
   前記電子回路基板へテスト信号を出力し、電子回路基板
   からの出力信号を、プローブピンを通じて取り込み、そ
   のテスト信号を処理して検査し、この検査結果に基づい
   て電子回路基板上の半固定抵抗を所要角度回転させて調
   整する電子回路基板のプロービング方法において、前記
   電子回路基板上に設置されているコネクタにおけるコネ
   クタピンの配列に合わせてプローブピンを配置し、前記
   コネクタピンにプローブピンを直接接触させて検査する
   ようにしたことを特徴とする電子回路基板のプロービン
   グ方法。