JPH026701A - 非破壊断面形状検査装置 - Google Patents
非破壊断面形状検査装置Info
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- JPH026701A JPH026701A JP63155197A JP15519788A JPH026701A JP H026701 A JPH026701 A JP H026701A JP 63155197 A JP63155197 A JP 63155197A JP 15519788 A JP15519788 A JP 15519788A JP H026701 A JPH026701 A JP H026701A
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、合成樹脂成形品、陶磁器なとの断面形状、寸
法などを破壊することなく検査、開側する装置に関する
。
法などを破壊することなく検査、開側する装置に関する
。
従来、画像診断装置として被検体の断面を計測する為に
は、Ｘ線を用いたＣＴ（コンピュータトモタラフィー）
装置か用いられてきた。この方法は、Ｘ線の吸収と投影
像再構成法を用いたものである。
は、Ｘ線を用いたＣＴ（コンピュータトモタラフィー）
装置か用いられてきた。この方法は、Ｘ線の吸収と投影
像再構成法を用いたものである。
しかしながら、このＸ線−ＣＴ装置によると、Ｘ線吸収
と投影像再構成法によって計測するため、Ｘ線を吸収す
る物体で囲まれた内部を偽像なしに鮮明に描出すること
が困難であるという問題があった・ また、当然なからＸ線を吸収しない合成樹脂などの影像
も困何１であった。
と投影像再構成法によって計測するため、Ｘ線を吸収す
る物体で囲まれた内部を偽像なしに鮮明に描出すること
が困難であるという問題があった・ また、当然なからＸ線を吸収しない合成樹脂などの影像
も困何１であった。
本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決し、Ｘ線
をほとんど吸収しない合成樹脂の断面やＸ線を吸収する
陶磁器などで囲まれた被検体の断面を検査できる装置を
提供することにある。
をほとんど吸収しない合成樹脂の断面やＸ線を吸収する
陶磁器などで囲まれた被検体の断面を検査できる装置を
提供することにある。
上記の目的を達成するために本発明は、試料検体を取囲
んで核磁気共鳴信号を発する物質を充填する充填手段を
設け、該核磁気共鳴信号を画像化することによって前記
試料検体の断面形状を相対して描画する画像処理手段を
有することを特徴とするものであり、試料検体を取囲ん
で核磁気共鳴信号を発する溶液を充填する溶液槽と、該
溶液槽に高周波パルスを照射して核磁気共鳴信号を発生
させる高周波照射装置と、該核磁気共鳴信号を受信する
信号検出装置と、該信号を画像化して曲記試料検体の断
面形状を相対して描画する画像処理手段とを有すること
を特徴とするものである。
んで核磁気共鳴信号を発する物質を充填する充填手段を
設け、該核磁気共鳴信号を画像化することによって前記
試料検体の断面形状を相対して描画する画像処理手段を
有することを特徴とするものであり、試料検体を取囲ん
で核磁気共鳴信号を発する溶液を充填する溶液槽と、該
溶液槽に高周波パルスを照射して核磁気共鳴信号を発生
させる高周波照射装置と、該核磁気共鳴信号を受信する
信号検出装置と、該信号を画像化して曲記試料検体の断
面形状を相対して描画する画像処理手段とを有すること
を特徴とするものである。
上記の構成によれば、核磁気共鳴現象によって、Ｘ線の
吸収のような吸収現象と異り空間の各点から発生する信
号を取得できるので、この信号を影像化することによっ
て信号の無い部分や少い部分を相対的に描出することが
できる。
吸収のような吸収現象と異り空間の各点から発生する信
号を取得できるので、この信号を影像化することによっ
て信号の無い部分や少い部分を相対的に描出することが
できる。
そのため、信号発生源に囲まれた内部についても描画す
ることか可能となり、袋状の被検体の内側と外側を信号
発生源でうめつくした場合でも袋状の被検体の内側につ
いて描画することができる。
ることか可能となり、袋状の被検体の内側と外側を信号
発生源でうめつくした場合でも袋状の被検体の内側につ
いて描画することができる。
以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は本実施例の要部を示す具体例の断面図及び平面
図で、検体１は、試料室５の中央に設置される。本実施
例での検体１はろう型を用いて精密成形した合成樹脂製
のサンプルである。内部を成形するのにろう型を用いて
いるが合成樹脂成形後、ろう型は溶かして流し出す為の
穴があるのみの袋物である。このようなサンプルの断面
形状を測定、検査しようとしても実際に厚みを計測する
ことは従来不可能であった。
図で、検体１は、試料室５の中央に設置される。本実施
例での検体１はろう型を用いて精密成形した合成樹脂製
のサンプルである。内部を成形するのにろう型を用いて
いるが合成樹脂成形後、ろう型は溶かして流し出す為の
穴があるのみの袋物である。このようなサンプルの断面
形状を測定、検査しようとしても実際に厚みを計測する
ことは従来不可能であった。
本実施例の試料室５内には、核磁気共鳴溶液（信号発生
物質の溶液）を充填する信号発生物質槽４が備えられて
いる。本実施例の信号発生物質槽４は、アクリル樹脂で
製作され、信号発生物質２には硫酸銅溶液が用いられて
いる。硫酸銅は水の中に含まれる水素原子核の緩和時間
を短縮・させ核磁気共鳴信号を増大させる為のものであ
る。信号量は減るが信号発生物質２として純水を用し）
ることも可能である。信号発生物質２は、検体にある小
さな穴から信号発生物質注入パイプ８（非磁性ノズル）
により検体内部に注入され内部空間を信号発生物質２で
満たした後、信号発生物質槽４にあふれ出る。こうして
信号発生物質槽４の内部は信号発生物質２で満たされる
。試料室５のまわりには、照射コイル６と受信コイル７
が設置されており、試料室５内で発生した核磁気共鳴信
号を検出する。
物質の溶液）を充填する信号発生物質槽４が備えられて
いる。本実施例の信号発生物質槽４は、アクリル樹脂で
製作され、信号発生物質２には硫酸銅溶液が用いられて
いる。硫酸銅は水の中に含まれる水素原子核の緩和時間
を短縮・させ核磁気共鳴信号を増大させる為のものであ
る。信号量は減るが信号発生物質２として純水を用し）
ることも可能である。信号発生物質２は、検体にある小
さな穴から信号発生物質注入パイプ８（非磁性ノズル）
により検体内部に注入され内部空間を信号発生物質２で
満たした後、信号発生物質槽４にあふれ出る。こうして
信号発生物質槽４の内部は信号発生物質２で満たされる
。試料室５のまわりには、照射コイル６と受信コイル７
が設置されており、試料室５内で発生した核磁気共鳴信
号を検出する。
核磁気共鳴信号により、信号発生物質槽内を描画すると
、検体の断面が無信号部分として描出される。
、検体の断面が無信号部分として描出される。
第２図に本実施例の装置の概略を示す。磁石２１は、シ
ステムの主要部を成すもので、超電導形、常電導形、永
久磁石形があるが、ここでは、常電導形を例に示す。
ステムの主要部を成すもので、超電導形、常電導形、永
久磁石形があるが、ここでは、常電導形を例に示す。
常電導形としては、高い磁場均一度を得る為、通常、空
芯の電磁石が用いられる。本実施例では、磁束密度０．
１５Ｔ（テスラ）、磁場の均一度は、約５０ ｎｎｍ／
３０ ｃｍ ｄｓｖ （球）である。電流は、静磁場
電源２２から供給される。空芯磁石の中心部に試料室２
５が設置されている。
芯の電磁石が用いられる。本実施例では、磁束密度０．
１５Ｔ（テスラ）、磁場の均一度は、約５０ ｎｎｍ／
３０ ｃｍ ｄｓｖ （球）である。電流は、静磁場
電源２２から供給される。空芯磁石の中心部に試料室２
５が設置されている。
静磁場には、空間位置情報を取得するための傾斜磁場が
重しようされる。Ｎ Ｍ Ｒ現象を発生させる高周波は
、送信器２７から、照射コイル２３に送ら九る。被験者
あるいは検査対称物質から発生するＮ Ｍ Ｒ信−弓は
、受信コイル２４によって検知され、受信器２８へ送ら
れる。Ｎ Ｍ Ｒ（Ｎ ｕｃ］ｅａｒＭ ａｇｎｃｔｊ
、ｃ Ｒｅｓｏｎａｒｉｃｅ、核磁気共鳴）現象では、
ＮＭＲ信号の位相情報も重要な為、受信器ケ−１へ信号
３２を介して送受信器２７．２８に於ける位相関係が正
確に同期化されている。
重しようされる。Ｎ Ｍ Ｒ現象を発生させる高周波は
、送信器２７から、照射コイル２３に送ら九る。被験者
あるいは検査対称物質から発生するＮ Ｍ Ｒ信−弓は
、受信コイル２４によって検知され、受信器２８へ送ら
れる。Ｎ Ｍ Ｒ（Ｎ ｕｃ］ｅａｒＭ ａｇｎｃｔｊ
、ｃ Ｒｅｓｏｎａｒｉｃｅ、核磁気共鳴）現象では、
ＮＭＲ信号の位相情報も重要な為、受信器ケ−１へ信号
３２を介して送受信器２７．２８に於ける位相関係が正
確に同期化されている。
傾斜磁場電源２９は、ｘ、ｙ、ｚの３軸方向の傾斜磁場
を独立に発生させる為、３チヤンネルの定電流電源から
成る。傾斜磁場は、パルス状で印加されるので高速応答
が要求される。そのため、パルスの発生は傾斜磁場制御
部４０によって制御される。
を独立に発生させる為、３チヤンネルの定電流電源から
成る。傾斜磁場は、パルス状で印加されるので高速応答
が要求される。そのため、パルスの発生は傾斜磁場制御
部４０によって制御される。
システムの操作は操作卓３０を用いて行なわれ、操作卓
３０には各種のキーの他、２つのＣＲＴが装備されてい
る。一つは対話方式により、各種パラメータを設定した
り、システム全体の運転を行う為に用いられ、もう一つ
は、得られた映像を表示する為のものである。
３０には各種のキーの他、２つのＣＲＴが装備されてい
る。一つは対話方式により、各種パラメータを設定した
り、システム全体の運転を行う為に用いられ、もう一つ
は、得られた映像を表示する為のものである。
全体システムの制御、並びに像構成の為の高速演算は、
コンピュータ４１が行う。コンピュータ４１と各制御系
とのやりとりは、バス３７を介してなされる。各種パル
スシーケンスの制御はシーケンス制御部３６が行うが、
中心となるシーケンスは高周波パルスと傾斜磁場パルス
の組合せにかかわるものである。
コンピュータ４１が行う。コンピュータ４１と各制御系
とのやりとりは、バス３７を介してなされる。各種パル
スシーケンスの制御はシーケンス制御部３６が行うが、
中心となるシーケンスは高周波パルスと傾斜磁場パルス
の組合せにかかわるものである。
尚、第２図中の符号の２６は傾斜磁場コイルへの信号、
３１は振幅データ信号、３３はＲＦ振幅制御部、３４は
ＲＦ時間制御部、３５はデータ取込部、３８は操作卓制
御部、３９はＣＲＴ制御部である。
３１は振幅データ信号、３３はＲＦ振幅制御部、３４は
ＲＦ時間制御部、３５はデータ取込部、３８は操作卓制
御部、３９はＣＲＴ制御部である。
ＮＭＲ現象を用いた映像法の基本を第３図及び第４図に
よって説明する。
よって説明する。
第３図に本実施例装置の測定部断面を示す。第３図中の
電磁石は、４ケの静磁場コイル５１から構成され、内側
に傾斜磁場コイル５２、照射コイル２３、受信コイル２
４が設置される。静磁場の方向５３は、図中に示しであ
るが、通常、静磁場の方向を２軸と定める。傾斜磁場は
、ｘ、、ｙ、ｚの３方向に、互いに完全に独立な傾斜を
印加することが必要であり、Ｘ、Ｙ、Ｚ用の３種類のコ
イルが設置されている。第３図中の符号の５４，５５．
５６．５７は、それぞれ受信器２６、送信器２７、傾斜
磁場電源２９ （Ｘ、Ｙ、Ｚ、３チヤンネル）、静磁場
電源２２への接続を示す。
電磁石は、４ケの静磁場コイル５１から構成され、内側
に傾斜磁場コイル５２、照射コイル２３、受信コイル２
４が設置される。静磁場の方向５３は、図中に示しであ
るが、通常、静磁場の方向を２軸と定める。傾斜磁場は
、ｘ、、ｙ、ｚの３方向に、互いに完全に独立な傾斜を
印加することが必要であり、Ｘ、Ｙ、Ｚ用の３種類のコ
イルが設置されている。第３図中の符号の５４，５５．
５６．５７は、それぞれ受信器２６、送信器２７、傾斜
磁場電源２９ （Ｘ、Ｙ、Ｚ、３チヤンネル）、静磁場
電源２２への接続を示す。
第４図にパルスのシーケンスの一例を示す。
第４図中、上から高周波６１、即ち、照射コイル２３か
ら被験者なとの試料検体に照射される高周波電力のパル
ス波形を示し、信号６２は、受信コイル２４に起ける起
電力を増幅したもの、傾斜磁場２・６３は、静磁場の方
向に印加される傾斜磁場、傾斜磁場Ｙ・６４は、Ｙ軸方
向に位相をエンコードし、傾斜磁場Ｘ・６５はＸ方向の
座標と周波数を一対一に対応させる為のものであり、船
釣にはスピンエコーの発生に使われるので、読み出し用
傾斜磁場と解釈されることもある。時間軸６６はその上
のすべてのパルスシーケンスについての時間の関係を明
らかにしている。
ら被験者なとの試料検体に照射される高周波電力のパル
ス波形を示し、信号６２は、受信コイル２４に起ける起
電力を増幅したもの、傾斜磁場２・６３は、静磁場の方
向に印加される傾斜磁場、傾斜磁場Ｙ・６４は、Ｙ軸方
向に位相をエンコードし、傾斜磁場Ｘ・６５はＸ方向の
座標と周波数を一対一に対応させる為のものであり、船
釣にはスピンエコーの発生に使われるので、読み出し用
傾斜磁場と解釈されることもある。時間軸６６はその上
のすべてのパルスシーケンスについての時間の関係を明
らかにしている。
次に、これらの各種パルスの役割をもう少し詳細に説明
し、二次元フーリエ法と呼ばれる像構成法の原理を述べ
る。
し、二次元フーリエ法と呼ばれる像構成法の原理を述べ
る。
第４図の例では高周波パルスの波形にジンク函数を用い
ている。ジンク函数をフーリエ変換すると、く形波形と
なる。即ち、時間空間に於けるジンク函数は周波数空間
に於ける、く形波となるので、ある限定された区間の周
波数のみを持つ。第４図で、９０度パルス（核スピンを
９０度倒すパルス）と同時に、傾斜磁場２・６３につい
て傾斜磁場パルス７０が印加されている。
ている。ジンク函数をフーリエ変換すると、く形波形と
なる。即ち、時間空間に於けるジンク函数は周波数空間
に於ける、く形波となるので、ある限定された区間の周
波数のみを持つ。第４図で、９０度パルス（核スピンを
９０度倒すパルス）と同時に、傾斜磁場２・６３につい
て傾斜磁場パルス７０が印加されている。
ＮＭＲ現象に於ける共鳴条件は次式で表されるので、Ｚ
方向の特定の断層面のみが選択的に励起される。
方向の特定の断層面のみが選択的に励起される。
Ｗ ｏ ＝ ｊ ［Ｈｏ ＋ Ｉ−ＩＧ （Ｚ））
−−（Ｘ）ここで、Ｗｏは共鳴点に於ける角
速度、γは磁気回転比、Ｉ−Ｉ ｏは静磁場の磁束密度
、Ｈａ（Ｚ）は、位置Ｚに於ける傾斜磁場の磁束密度で
ある。
−−（Ｘ）ここで、Ｗｏは共鳴点に於ける角
速度、γは磁気回転比、Ｉ−Ｉ ｏは静磁場の磁束密度
、Ｈａ（Ｚ）は、位置Ｚに於ける傾斜磁場の磁束密度で
ある。
通常は、断層面の厚さが１〜２０ｍｍの範囲で選択照射
の周波数が設定される。本実施例では、９０度パルス６
７のあとに１．８０度パルス６８を印加して、スピンエ
コー信号６９を得ている。（オリジナルな２次元フーリ
エ法では、傾斜磁場によりスピンエコーを発生させてお
り、１８０度パルスを使用していない。） スピンエコーのテクニックは、不均一磁場により見かけ
上の横緩和時間Ｔ２で急速に分散する位相を一定時間後
に再びそろえるテクニックである。
の周波数が設定される。本実施例では、９０度パルス６
７のあとに１．８０度パルス６８を印加して、スピンエ
コー信号６９を得ている。（オリジナルな２次元フーリ
エ法では、傾斜磁場によりスピンエコーを発生させてお
り、１８０度パルスを使用していない。） スピンエコーのテクニックは、不均一磁場により見かけ
上の横緩和時間Ｔ２で急速に分散する位相を一定時間後
に再びそろえるテクニックである。
傾斜磁場も一種の不均一磁場であり、位相のそろった信
号を得る為には、傾斜磁場を反転させるか、あるいは、
傾斜磁場と同時に１８０度パルスを印加する必要がある
。実際に傾斜磁場を立ち上げる際に、立ち上り及び立ち
下り時間は有限である。
号を得る為には、傾斜磁場を反転させるか、あるいは、
傾斜磁場と同時に１８０度パルスを印加する必要がある
。実際に傾斜磁場を立ち上げる際に、立ち上り及び立ち
下り時間は有限である。
実際には１ｍｓ程度が必要である。従って、この過渡的
な期間に位相が乱れる。これを補償する為に、傾斜磁場
パルス７０のあとに補償用パルス７１を印加することで
立ち上り、立ち下りが相殺され、見かけ上完全な、く形
波が印加された場合と等価にできる。
な期間に位相が乱れる。これを補償する為に、傾斜磁場
パルス７０のあとに補償用パルス７１を印加することで
立ち上り、立ち下りが相殺され、見かけ上完全な、く形
波が印加された場合と等価にできる。
次に位相エンコードについて述べる。
核磁気共鳴現象に於ける核スピンの挙動の基本的性質と
して、 ■磁気モーメントの方向 ■磁圧モーメントの大きさ ■磁気モーメントの数 ■磁気モーメントのせつ動周波数 ■磁気モーメントのせつ動の位相 がある。
して、 ■磁気モーメントの方向 ■磁圧モーメントの大きさ ■磁気モーメントの数 ■磁気モーメントのせつ動周波数 ■磁気モーメントのせつ動の位相 がある。
これら個々のパラメータの統計的結果として、巨視的な
磁化の振るまいが記述できる。特に周波数と位相は独立
のパラメータであり、位相をエンコードすることにより
空間座標と対応づけられる。
磁化の振るまいが記述できる。特に周波数と位相は独立
のパラメータであり、位相をエンコードすることにより
空間座標と対応づけられる。
位相をエンコードする傾斜磁場は、第４図の傾斜磁場Ｙ
・６４である。位相エンコード量は、エンコー１く用傾
斜磁場パルスの積分値で決まるので、パルスの振幅を変
えるか、パルス幅を変えるかすれば良い。第４図では振
幅を変えている。
・６４である。位相エンコード量は、エンコー１く用傾
斜磁場パルスの積分値で決まるので、パルスの振幅を変
えるか、パルス幅を変えるかすれば良い。第４図では振
幅を変えている。
傾斜磁場Ｘ・６５は、Ｘ方向に印加した傾斜磁場である
。９０度パルス６７で励起され、コヒレン１−な歳差運
動をするスピンにＸ方向の傾斜磁場を引加すると、Ｘ方
向に対して歳差運動の周波数が線型に変化する。１８０
度パルス６８のあとで、同し傾斜磁場を与えることで、
スピンエコー信号６９を発生させることかできる。Ｘ座
標と共鳴周波数が線型な関係にあるので、スピンエコー
信号６９をフーリエ変換することにより、Ｘ座標に関す
る信号強度の関係を得ることができる。これを位相エン
コード方向（Ｙ軸）について再びフーリエ変換すると、
こんどはＹ座標に関する信号強度の関係が得られる。こ
うして、Ｘ−Ｙ平面について信号の分布が得られるので
、信号強度をＣＲＴ」二に表示することにより断層像が
得られる。
。９０度パルス６７で励起され、コヒレン１−な歳差運
動をするスピンにＸ方向の傾斜磁場を引加すると、Ｘ方
向に対して歳差運動の周波数が線型に変化する。１８０
度パルス６８のあとで、同し傾斜磁場を与えることで、
スピンエコー信号６９を発生させることかできる。Ｘ座
標と共鳴周波数が線型な関係にあるので、スピンエコー
信号６９をフーリエ変換することにより、Ｘ座標に関す
る信号強度の関係を得ることができる。これを位相エン
コード方向（Ｙ軸）について再びフーリエ変換すると、
こんどはＹ座標に関する信号強度の関係が得られる。こ
うして、Ｘ−Ｙ平面について信号の分布が得られるので
、信号強度をＣＲＴ」二に表示することにより断層像が
得られる。
このように、核磁気共鳴現象を使用し、同時に被検体を
核磁気共鳴信号を発する物質でとりかこむことによって
、例えば、袋状の合成樹脂製精密成形品の断面の肉厚分
布を検査する場合、ます袋状の成形品の内部に核磁気共
鳴信号を発する溶液を注入し、次に試料室内に設置され
た溶液槽に同じく核磁気共鳴信号を発する溶液を満たし
、この中に前記の成形品を沈め、このあと２次元あるい
は３次元フーリエ画像再構成法を用いた核磁気共鳴描画
法により断層撮影を行うと、被検体の成形品の断面が無
信号部分として描出される。
核磁気共鳴信号を発する物質でとりかこむことによって
、例えば、袋状の合成樹脂製精密成形品の断面の肉厚分
布を検査する場合、ます袋状の成形品の内部に核磁気共
鳴信号を発する溶液を注入し、次に試料室内に設置され
た溶液槽に同じく核磁気共鳴信号を発する溶液を満たし
、この中に前記の成形品を沈め、このあと２次元あるい
は３次元フーリエ画像再構成法を用いた核磁気共鳴描画
法により断層撮影を行うと、被検体の成形品の断面が無
信号部分として描出される。
被検体については核磁気共鳴現象に妨害を与える金属材
料以外のどのような材料で構成されていても被検体表面
の描出が可能であり、また、核磁気共鳴現象は磁場と電
波を使用するだけで観測できるので検体に損傷を与える
ことがない。また、検体をおおう信号発生物質も、例え
ば水自身を使用することも可能であり、完全な非破壊検
査が可能である。
料以外のどのような材料で構成されていても被検体表面
の描出が可能であり、また、核磁気共鳴現象は磁場と電
波を使用するだけで観測できるので検体に損傷を与える
ことがない。また、検体をおおう信号発生物質も、例え
ば水自身を使用することも可能であり、完全な非破壊検
査が可能である。
更に、本実施例では核磁気共鳴物質に溶液を用いている
が、変形例として例えば水素ガスのように核スピンを打
つ原素を含む気体を充填しても原理的には同一である。
が、変形例として例えば水素ガスのように核スピンを打
つ原素を含む気体を充填しても原理的には同一である。
に述のとおり本発明によれは、核磁気共鳴信号を発生し
ない検体についても、その表面形状の描画か可能であり
、また、核磁気共鳴現象に影響を与える電気の良導体以
外の検体について適用可能である。即ち、従来検査困難
であったＸ線吸収の人なる袋物検体、Ｘ線吸収も小さく
、かつ核磁気共鳴現象も小さな袋物検体についても断面
の形状、寸法を非破壊的に検査することができる。
ない検体についても、その表面形状の描画か可能であり
、また、核磁気共鳴現象に影響を与える電気の良導体以
外の検体について適用可能である。即ち、従来検査困難
であったＸ線吸収の人なる袋物検体、Ｘ線吸収も小さく
、かつ核磁気共鳴現象も小さな袋物検体についても断面
の形状、寸法を非破壊的に検査することができる。
第１図は本発明の−・実施例の要部を示す（Ａ）が断面
図、（Ｉ３）が平面図、第２図は本実施例の装置を示す
構成図、第３図は本実施例装置の測定部の断面図、第４
図はパルスのシーケンスの一例を示す図である。 １ ・検体、２・・信号発生物質、４ ・信号発生物質
槽、５ 試料室、６・照射コ、イル、７ ・照射コイル
、８ ・信号発生物質注入パイプ、２１・磁石、２２
静磁場電源、２３・・照射コイル、２４・受信コイル、
２５・・・試料室、２７・・送信器、２８ 受信器、２
９・・傾斜磁場電源、３６ ・シーケンス制御、３７・
・・バス、４ｏ・・傾斜磁場制御部、４１ コンピュー
タ、５１ 静磁場コイル、５２・・・傾斜磁場コイル、
５３ ・静磁場の方向、５４・・・受信器への接続、５
５・・送信器への接続、５６・・・傾斜磁場電源（Ｘ、
Ｙ、２ ３チヤンネル）への接続、５７・・・静磁場電
源への接続、６］ 高周波、６２・・信号、６３・・傾
斜磁場Ｚ（断層選択）、６４・・・傾斜磁場Ｙ（位相エ
ンコード）、６５ 傾斜磁場Ｘ（読み出し）、６６・・
・時間軸、６７・・９０度パルス、６８・・１８０度パ
ルス、６９・・スピンエコー信号、７０・・・傾斜磁場
パルス、７１・・・補償用パルス、７２ ・傾斜磁場パ
ルス、７３・・・立上り立下り補償パルス、７４・・位
相エンコードパルス、７５− Ｘ方向傾斜磁場パルス、
７６ ・Ｘ方向傾斜磁場パルス。
図、（Ｉ３）が平面図、第２図は本実施例の装置を示す
構成図、第３図は本実施例装置の測定部の断面図、第４
図はパルスのシーケンスの一例を示す図である。 １ ・検体、２・・信号発生物質、４ ・信号発生物質
槽、５ 試料室、６・照射コ、イル、７ ・照射コイル
、８ ・信号発生物質注入パイプ、２１・磁石、２２
静磁場電源、２３・・照射コイル、２４・受信コイル、
２５・・・試料室、２７・・送信器、２８ 受信器、２
９・・傾斜磁場電源、３６ ・シーケンス制御、３７・
・・バス、４ｏ・・傾斜磁場制御部、４１ コンピュー
タ、５１ 静磁場コイル、５２・・・傾斜磁場コイル、
５３ ・静磁場の方向、５４・・・受信器への接続、５
５・・送信器への接続、５６・・・傾斜磁場電源（Ｘ、
Ｙ、２ ３チヤンネル）への接続、５７・・・静磁場電
源への接続、６］ 高周波、６２・・信号、６３・・傾
斜磁場Ｚ（断層選択）、６４・・・傾斜磁場Ｙ（位相エ
ンコード）、６５ 傾斜磁場Ｘ（読み出し）、６６・・
・時間軸、６７・・９０度パルス、６８・・１８０度パ
ルス、６９・・スピンエコー信号、７０・・・傾斜磁場
パルス、７１・・・補償用パルス、７２ ・傾斜磁場パ
ルス、７３・・・立上り立下り補償パルス、７４・・位
相エンコードパルス、７５− Ｘ方向傾斜磁場パルス、
７６ ・Ｘ方向傾斜磁場パルス。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、試料検体を取囲んで核磁気共鳴信号を発する物質を
充填する充填手段を設け、該核磁気共鳴信号を画像化す
ることによって前記試料検体の断面形状を相対して描画
する画像処理手段を有することを特徴とする非破壊断面
形状検査装置。 ２、請求項１記載の検査装置において、前記充填手段が
設けられている試料室を有することを特徴とする非破壊
断面形状検査装置。 ３、請求項１又は２記載の検査装置において、前記充填
手段は、前記試料検体を取囲んで核磁気共鳴信号を発す
る溶液を充填する溶液槽を含むことを特徴とする非破壊
断面形状検査装置。 ４、請求項１、２又は３記載の検査装置において、前記
充填手段は、前記核磁気共鳴信号を発する物質を袋状の
試料検体の内部に注入する注入手段を含むことを特徴と
する非破壊断面形状検査装置。 ５、請求項１記載の検査装置において、前記画像処理手
段は、前記核磁気共鳴信号に対して相対的に無信号部分
あるいは小さな信号部分を描画するものであることを特
徴とする非破壊断面形状検査装置。 ６、請求項３記載の装置において、前記核磁気共鳴信号
を発する溶液は、硫酸銅水溶液あるいは純水であること
を特徴とする非破壊断面形状検査装置。 ７、試料検体を取囲んで核磁気共鳴信号を発する溶液を
充填する溶液槽と、該溶液槽に高周波パルスを照射して
核磁気共鳴信号を発生させる高周波照射装置と、該核磁
気共鳴信号を受信する信号検出装置と、該信号を画像化
して前記試料検体の断面形状を相対して描画する画像処
理手段とを有することを特徴とする非破壊断面形状検査
装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63155197A JPH076765B2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | 非破壊断面形状検査装置 |
| US07/369,253 US4998065A (en) | 1988-06-23 | 1989-06-20 | Non-destructive sectional shape inspecting method and apparatus |
| GB8914303A GB2220750B (en) | 1988-06-23 | 1989-06-22 | Non-destructive sectional shape inspecting method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63155197A JPH076765B2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | 非破壊断面形状検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH026701A true JPH026701A (ja) | 1990-01-10 |
| JPH076765B2 JPH076765B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=15600621
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63155197A Expired - Fee Related JPH076765B2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | 非破壊断面形状検査装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4998065A (ja) |
| JP (1) | JPH076765B2 (ja) |
| GB (1) | GB2220750B (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH022911A (ja) * | 1988-06-17 | 1990-01-08 | Otsuka Denshi Kk | 生体組織のｎｍｒ測定方法および測定装置 |
| JPH03103236A (ja) * | 1989-09-18 | 1991-04-30 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴マルチエコー撮影方法 |
| WO2001014847A2 (en) * | 1999-08-25 | 2001-03-01 | Intermagnetics General Corporation | Magnetic resonance inspection of synthetic rubber |
| DE10111321A1 (de) * | 2000-09-08 | 2002-05-23 | Nanosolutions Gmbh | Paramagnetische Nanopartikel |
| ATE365565T1 (de) * | 2001-03-08 | 2007-07-15 | Ct Angewandte Nanotech Can | Paramagnetische nanopartikel |
| US7157908B1 (en) | 2002-12-10 | 2007-01-02 | Fonar Corporation | Magnetic resonance imaging using bessel functions |
| JP4841434B2 (ja) * | 2004-07-21 | 2011-12-21 | 株式会社日立メディコ | 断層像撮影装置 |
| US7176681B2 (en) * | 2005-03-08 | 2007-02-13 | Siemens Power Generation, Inc. | Inspection of composite components using magnetic resonance imaging |
| US9678175B2 (en) * | 2010-07-26 | 2017-06-13 | Radiation Monitoring Devices, Inc. | Eddy current detection |
| US9891257B2 (en) | 2014-08-06 | 2018-02-13 | Hand Held Products, Inc. | Testing system and method using electromagnetic near field measurements |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS60207655A (ja) * | 1984-04-02 | 1985-10-19 | 旭メデイカル株式会社 | 分解能測定用フアントム |
| JPS61120048A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-07 | Hitachi Ltd | Ｎｍｒイメ−ジング装置用フアントム |
| JPS6244248U (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-17 | ||
| JPS62289531A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-12-16 | マイケル・エイ・デイビス | 病的状態の診断のための低密度コントラスト媒体を使用する腸壁のイメ−ジング法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3235113A1 (de) * | 1982-09-22 | 1984-03-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Geraet zur erzeugung von bildern eines untersuchungsobjektes mit magnetischer kernresonanz |
| US4551678A (en) * | 1982-11-26 | 1985-11-05 | Morgan Tommie J | Phantom for nuclear magnetic resonance machine |
| NL8302721A (nl) * | 1983-08-01 | 1985-03-01 | Philips Nv | Phantoom voor nmr apparatuur. |
| US4581582A (en) * | 1983-12-27 | 1986-04-08 | General Electric Company | High-spatial-resolution spectroscopic NMR imaging of chemically-shifted nuclei |
| GB8405065D0 (en) * | 1984-02-27 | 1984-04-04 | Picker Int Ltd | Nuclear magnetic resonance imaging apparatus |
| GB8408127D0 (en) * | 1984-03-29 | 1984-05-10 | Nyegaard & Co As | Contrast agents |
| US4687658A (en) * | 1984-10-04 | 1987-08-18 | Salutar, Inc. | Metal chelates of diethylenetriaminepentaacetic acid partial esters for NMR imaging |
-
1988
- 1988-06-23 JP JP63155197A patent/JPH076765B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-06-20 US US07/369,253 patent/US4998065A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-06-22 GB GB8914303A patent/GB2220750B/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60207655A (ja) * | 1984-04-02 | 1985-10-19 | 旭メデイカル株式会社 | 分解能測定用フアントム |
| JPS61120048A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-07 | Hitachi Ltd | Ｎｍｒイメ−ジング装置用フアントム |
| JPS6244248U (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-17 | ||
| JPS62289531A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-12-16 | マイケル・エイ・デイビス | 病的状態の診断のための低密度コントラスト媒体を使用する腸壁のイメ−ジング法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2220750B (en) | 1993-02-17 |
| GB2220750A (en) | 1990-01-17 |
| US4998065A (en) | 1991-03-05 |
| JPH076765B2 (ja) | 1995-01-30 |
| GB8914303D0 (en) | 1989-08-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |