JPH02665B2 - - Google Patents
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- JPH02665B2 JPH02665B2 JP60064167A JP6416785A JPH02665B2 JP H02665 B2 JPH02665 B2 JP H02665B2 JP 60064167 A JP60064167 A JP 60064167A JP 6416785 A JP6416785 A JP 6416785A JP H02665 B2 JPH02665 B2 JP H02665B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- flaw detection
- detection coil
- flaw
- delay
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- Expired
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 39
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 10
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
- G01N27/9066—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals by measuring the propagation time, or delaying the signals
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
＜産業上の利用分野＞
この発明は、金属材料の表面近傍に存在する傷
を検出するための貫通型渦流探傷装置に関する。
を検出するための貫通型渦流探傷装置に関する。
＜従来技術＞
従来の貫通型渦流探傷装置には、被検材が直進
する通路をとり囲むように巻いた傷検出用コイル
を２個接近して並べたものがある。これは、２個
のコイルに生じた電圧の差をもつて傷を検出す
る。
する通路をとり囲むように巻いた傷検出用コイル
を２個接近して並べたものがある。これは、２個
のコイルに生じた電圧の差をもつて傷を検出す
る。
＜発明が解決しようとする問題点＞
上記従来の貫通型渦流探傷装置は、２個のコイ
ルの間隔程度の長さの傷は検出できるが、徐々に
深まり徐々に浅くなる長い傷は、両コイル間に生
じる電圧差が小さいので検出できないという問題
点があつた。傷の長短にかかわらず検出するため
には、１個の傷検出コイルからの信号を基準信号
と比較すればよい。しかし、これでは傷検出コイ
ルが傷を検出して発生した信号と雑音との弁別が
できないという新たな問題点が生じる。
ルの間隔程度の長さの傷は検出できるが、徐々に
深まり徐々に浅くなる長い傷は、両コイル間に生
じる電圧差が小さいので検出できないという問題
点があつた。傷の長短にかかわらず検出するため
には、１個の傷検出コイルからの信号を基準信号
と比較すればよい。しかし、これでは傷検出コイ
ルが傷を検出して発生した信号と雑音との弁別が
できないという新たな問題点が生じる。
＜問題点を解決するための手段＞
上記の問題点を解決するための手段では、１個
の傷検出コイルからの検出信号を複数の遅延手段
を用いてそれぞれ異なる時間遅延させる。そし
て、各遅延手段からの各遅延信号と傷検出コイル
からの検出信号とを重畳手段によつて重畳する。
重畳手段からの重畳信号と基準信号とを比較手段
で比較する。
の傷検出コイルからの検出信号を複数の遅延手段
を用いてそれぞれ異なる時間遅延させる。そし
て、各遅延手段からの各遅延信号と傷検出コイル
からの検出信号とを重畳手段によつて重畳する。
重畳手段からの重畳信号と基準信号とを比較手段
で比較する。
＜作 用＞
この手段によれば、傷検出コイルからの現在の
検出信号と遅延回路からの各遅延信号（過去に傷
検出コイルが発生した検出信号）とを重畳手段で
重畳しているので、傷が浅くて長いものであつて
も重畳手段からの重畳信号は、重畳回数に比例し
てかなり大きな値となり、一方短かい傷や雑音で
は傷検出コイルで１回しか検出されないので元の
値のままである。よつて確実に浅くて長い傷を検
出できる。
検出信号と遅延回路からの各遅延信号（過去に傷
検出コイルが発生した検出信号）とを重畳手段で
重畳しているので、傷が浅くて長いものであつて
も重畳手段からの重畳信号は、重畳回数に比例し
てかなり大きな値となり、一方短かい傷や雑音で
は傷検出コイルで１回しか検出されないので元の
値のままである。よつて確実に浅くて長い傷を検
出できる。
＜実施例＞
この実施例は、第２図に示すように１個の傷検
出コイル２を有する。この傷検出コイル２は、被
検材４の周囲をとりまくように配置されたコイル
で、被検材４をその長さ方向に適当な相対速度で
走査する。被検材４は、傷検出コイル２により励
振されるため、円周方向に電流が流れ、外表面近
傍に傷があると、その傷の周りの電流分布が変化
するため傷検出コイル２のインピーダンスに変化
が生じ、電圧が変化する。
出コイル２を有する。この傷検出コイル２は、被
検材４の周囲をとりまくように配置されたコイル
で、被検材４をその長さ方向に適当な相対速度で
走査する。被検材４は、傷検出コイル２により励
振されるため、円周方向に電流が流れ、外表面近
傍に傷があると、その傷の周りの電流分布が変化
するため傷検出コイル２のインピーダンスに変化
が生じ、電圧が変化する。
傷検出コイル２の信号、すなわち検出電圧は、
第１図に示すように増幅器６で増幅されてから、
雑音成分を除去するためのフイルタ８に供給され
る。
第１図に示すように増幅器６で増幅されてから、
雑音成分を除去するためのフイルタ８に供給され
る。
このフイルタ８からの信号は遅延回路１０1乃
至１０oに供給される。遅延回路１０1乃至１０o
は、供給された信号をＴ乃至NTだけそれぞれ遅
延させるもので、例えばBBD（バケツトブリゲー
トデバイス）を用いることができる。Ｔ乃至NT
は、検出しようとする傷、この場合には長くて浅
い傷の長さ、深さ及びコイル２の相対速度に応じ
て定める。なお、図には示していないが、各遅延
回路１０1乃至１０oは、共通のクロツクパルス発
生器によつて制御される。従つて、各遅延回路１
０1乃至１０oの遅延時間は倍数関係になつてい
る。
至１０oに供給される。遅延回路１０1乃至１０o
は、供給された信号をＴ乃至NTだけそれぞれ遅
延させるもので、例えばBBD（バケツトブリゲー
トデバイス）を用いることができる。Ｔ乃至NT
は、検出しようとする傷、この場合には長くて浅
い傷の長さ、深さ及びコイル２の相対速度に応じ
て定める。なお、図には示していないが、各遅延
回路１０1乃至１０oは、共通のクロツクパルス発
生器によつて制御される。従つて、各遅延回路１
０1乃至１０oの遅延時間は倍数関係になつてい
る。
各遅延回路１０1乃至１０oからの各遅延信号は
加算器１２に供給される。加算器１２にはフイル
タ８からも信号が供給される。加算器１２は、こ
れら各信号を加算、すなわち重畳し、その加算信
号を比較器１４に供給する。
加算器１２に供給される。加算器１２にはフイル
タ８からも信号が供給される。加算器１２は、こ
れら各信号を加算、すなわち重畳し、その加算信
号を比較器１４に供給する。
比較器１４には第１基準電圧設定器１６に設定
された第１基準電圧も供給される。第１基準電圧
は、浅くて長い傷を磁気検出コイル２が検出した
ときの加算信号より幾分小さく設定されている。
比較器１４は、加算信号が第１基準電圧以上にな
つたとき、付勢信号をマーカー１８に供給する。
マーカー１８は、付勢信号が供給されたとき、被
検材４の傷のある位置にマークを付す。
された第１基準電圧も供給される。第１基準電圧
は、浅くて長い傷を磁気検出コイル２が検出した
ときの加算信号より幾分小さく設定されている。
比較器１４は、加算信号が第１基準電圧以上にな
つたとき、付勢信号をマーカー１８に供給する。
マーカー１８は、付勢信号が供給されたとき、被
検材４の傷のある位置にマークを付す。
フイルタ８の信号は遅延回路２０にも供給され
ている。この遅延回路２０の遅延時間はｔであ
る。遅延時間ｔは、検出しようとする傷、この場
合には微小な傷の深さ、長さ及びコイル２の相対
速度に応じて定める。この遅延回路２０には
BBDや従来公知の他の遅延回路を用いることが
できる。この遅延回路２０からの遅延信号は減算
器２２に供給される。減算器２２には、この他に
フイルタ８の信号も直接に供給される。減算器２
２は、遅延回路２０からの遅延信号とフイルタ８
からの信号との差を算出し、比較器２４に供給す
る。
ている。この遅延回路２０の遅延時間はｔであ
る。遅延時間ｔは、検出しようとする傷、この場
合には微小な傷の深さ、長さ及びコイル２の相対
速度に応じて定める。この遅延回路２０には
BBDや従来公知の他の遅延回路を用いることが
できる。この遅延回路２０からの遅延信号は減算
器２２に供給される。減算器２２には、この他に
フイルタ８の信号も直接に供給される。減算器２
２は、遅延回路２０からの遅延信号とフイルタ８
からの信号との差を算出し、比較器２４に供給す
る。
比較器２４には第２基準電圧設定器２６に設定
された第２基準電圧も供給される。第２基準電圧
は、磁気検出コイル２が微小な傷を検出したとき
の減算器２２の差信号より幾分小さく設定してあ
る。比較器２４は、減算器２２からの差信号が第
２基準電圧以上になつたとき、付勢信号をマーカ
ー２８に供給する。マーカー２８は、マーカー１
８と同様に構成されている。
された第２基準電圧も供給される。第２基準電圧
は、磁気検出コイル２が微小な傷を検出したとき
の減算器２２の差信号より幾分小さく設定してあ
る。比較器２４は、減算器２２からの差信号が第
２基準電圧以上になつたとき、付勢信号をマーカ
ー２８に供給する。マーカー２８は、マーカー１
８と同様に構成されている。
この実施例は、次のように動作する。例えば第
２図に示すように浅くて長い傷３０を検出する場
合について説明する。傷検出コイル２が被検材４
を走査して符号４０0で示す位置にあるとする。
このとき、加算器１２には、符号４０0で示した
位置でのフイルタ８の信号が供給されると共に、
各遅延回路１０1乃至１０oで遅延された符号４０
１乃至４０oで示した位置でのフイルタ８の信号が
供給される。これら信号は加算器１２で加算さ
れ、その加算信号は比較器１４で第１基準電圧と
比較されるが、加算信号の方が第１基準電圧より
大きくなり、付勢信号をマーカー１８に供給し、
マーカー１８が傷３０の位置にマークを付す。
２図に示すように浅くて長い傷３０を検出する場
合について説明する。傷検出コイル２が被検材４
を走査して符号４０0で示す位置にあるとする。
このとき、加算器１２には、符号４０0で示した
位置でのフイルタ８の信号が供給されると共に、
各遅延回路１０1乃至１０oで遅延された符号４０
１乃至４０oで示した位置でのフイルタ８の信号が
供給される。これら信号は加算器１２で加算さ
れ、その加算信号は比較器１４で第１基準電圧と
比較されるが、加算信号の方が第１基準電圧より
大きくなり、付勢信号をマーカー１８に供給し、
マーカー１８が傷３０の位置にマークを付す。
このとき、フイルタ８の信号と遅延回路２０の
遅延信号とでは値がほぼ等しいので、減算器２２
からの差信号は非常に小さく、比較器２４は付勢
信号を生成せず、マーカー２８は作動しない。
遅延信号とでは値がほぼ等しいので、減算器２２
からの差信号は非常に小さく、比較器２４は付勢
信号を生成せず、マーカー２８は作動しない。
次に、第２図に示すように微小な傷３２を検出
する場合について説明する。今、傷検出コイル２
が符号５０0で示した位置にあるとすると、減算
器２２にはそのときのフイルタ８の信号が供給さ
れている。同時に、減算器２２には遅延回路２０
によつて遅延された符号５０1で示した位置に傷
検出コイル２が位置するときのフイルタ８の信号
も供給される。これら両者の差信号は、第２基準
電圧より大きく、比較器２４がマーカー２８に付
勢信号を供給し、マーカー２８が被検材４の傷３
２の位置にマークを付す。
する場合について説明する。今、傷検出コイル２
が符号５０0で示した位置にあるとすると、減算
器２２にはそのときのフイルタ８の信号が供給さ
れている。同時に、減算器２２には遅延回路２０
によつて遅延された符号５０1で示した位置に傷
検出コイル２が位置するときのフイルタ８の信号
も供給される。これら両者の差信号は、第２基準
電圧より大きく、比較器２４がマーカー２８に付
勢信号を供給し、マーカー２８が被検材４の傷３
２の位置にマークを付す。
このとき、遅延回路１０1乃至１０oの各遅延信
号のほとんどは、傷検出コイル２が傷のない位置
にあつたときのフイルタ８の信号を遅延させたも
のであるので、加算器１２の加算信号は、第１基
準電圧より小さく、マーカー１８は作動しない。
号のほとんどは、傷検出コイル２が傷のない位置
にあつたときのフイルタ８の信号を遅延させたも
のであるので、加算器１２の加算信号は、第１基
準電圧より小さく、マーカー１８は作動しない。
上記の実施例では、遅延回路１０1乃至１０oに
BBDを用い、共通のクロツクパルス発生器によ
つて制御しているので、各遅延回路１０1乃至１
０oの各遅延時間は倍数関係となつているが、こ
れは必らずしも必要条件ではなく、各遅延時間が
それぞれ異なつていればよい。また、BBD以外
の他の公知の遅延回路を用いることもできる。
BBDを用い、共通のクロツクパルス発生器によ
つて制御しているので、各遅延回路１０1乃至１
０oの各遅延時間は倍数関係となつているが、こ
れは必らずしも必要条件ではなく、各遅延時間が
それぞれ異なつていればよい。また、BBD以外
の他の公知の遅延回路を用いることもできる。
＜効 果＞
以上のように、この発明による貫通型渦流探傷
装置によれば、各遅延手段によつてそれぞれ異な
る時間遅延させた傷検出コイルの信号と現在の傷
検出コイルの信号とを重畳し、その重畳信号を基
準信号と比較しているので、浅くて長い傷を確実
に検出できる。
装置によれば、各遅延手段によつてそれぞれ異な
る時間遅延させた傷検出コイルの信号と現在の傷
検出コイルの信号とを重畳し、その重畳信号を基
準信号と比較しているので、浅くて長い傷を確実
に検出できる。
第１図はこの発明による探傷装置の１実施例の
ブロツク図、第２図は同実施例の磁気検出素子の
配置図である。 ２……傷検出コイル、１０1乃至１０o……遅延
回路（遅延手段）、１２……加算器（重畳手段）、
１４……比較器（比較手段）。
ブロツク図、第２図は同実施例の磁気検出素子の
配置図である。 ２……傷検出コイル、１０1乃至１０o……遅延
回路（遅延手段）、１２……加算器（重畳手段）、
１４……比較器（比較手段）。
Claims (1)
- １ １個の傷検出コイルと、この傷検出コイルか
らの検出信号をそれぞれ異なる時間遅延させる複
数の遅延手段と、これら各遅延手段からの各遅延
信号と上記傷検出コイルからの検出信号とを重畳
する重畳手段と、この重畳手段からの重畳信号と
基準信号とを比較する比較手段とを備える貫通型
渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60064167A JPS61221646A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 貫通型渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60064167A JPS61221646A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 貫通型渦流探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61221646A JPS61221646A (ja) | 1986-10-02 |
| JPH02665B2 true JPH02665B2 (ja) | 1990-01-09 |
Family
ID=13250233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60064167A Granted JPS61221646A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 貫通型渦流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61221646A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017077570A1 (ja) * | 2015-11-02 | 2017-05-11 | 三菱電機株式会社 | ワイヤロープ探傷装置 |
-
1985
- 1985-03-27 JP JP60064167A patent/JPS61221646A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61221646A (ja) | 1986-10-02 |
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