JPS61221646A - 貫通型渦流探傷装置 - Google Patents
貫通型渦流探傷装置Info
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- JPS61221646A JPS61221646A JP60064167A JP6416785A JPS61221646A JP S61221646 A JPS61221646 A JP S61221646A JP 60064167 A JP60064167 A JP 60064167A JP 6416785 A JP6416785 A JP 6416785A JP S61221646 A JPS61221646 A JP S61221646A
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- JP
- Japan
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- signal
- reference voltage
- flaw
- delay
- flaw detection
- Prior art date
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
- G01N27/9066—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals by measuring the propagation time, or delaying the signals
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、金属材料の表面近傍に存在する傷を検出す
るための貫通型渦流探傷装置に関する。
るための貫通型渦流探傷装置に関する。
〈従来技術〉
従来の貫通型渦流探傷装置には、被検材が直進する通路
をとり囲むように巻いた傷検出用コイルを２個接近して
並べたものかある。これは、２個のコイルに生じた電圧
の差をもって傷を検出する。
をとり囲むように巻いた傷検出用コイルを２個接近して
並べたものかある。これは、２個のコイルに生じた電圧
の差をもって傷を検出する。
〈発明が解決しようとする問題点〉
上記従来の貫通型渦流探傷装置は、２個のコイルの間隔
程度の長さの傷は検出できるが、徐々に深まり徐々に浅
くなる長い傷は、両コイル間に生じる電圧差が小さいの
で検出できないという問題比較すればよい。しかし、こ
れでは傷検出コイルが傷を検出して発生した信号と雑音
との弁別ができないという新たな問題点が生じる。
程度の長さの傷は検出できるが、徐々に深まり徐々に浅
くなる長い傷は、両コイル間に生じる電圧差が小さいの
で検出できないという問題比較すればよい。しかし、こ
れでは傷検出コイルが傷を検出して発生した信号と雑音
との弁別ができないという新たな問題点が生じる。
く問題点を解決するための手段〉
上記の問題点を解決するための手段では、１個の傷検出
コイルからの検出信号を複数の遅延手段を用いてそれぞ
れ異なる時間遅延させる。そして、各遅延手段からの各
遅延信号と傷検出コイルからの検出信号とを重畳手段に
よって重畳する。重畳手段からの重畳信号と基準信号と
を比較手段で比較する。
コイルからの検出信号を複数の遅延手段を用いてそれぞ
れ異なる時間遅延させる。そして、各遅延手段からの各
遅延信号と傷検出コイルからの検出信号とを重畳手段に
よって重畳する。重畳手段からの重畳信号と基準信号と
を比較手段で比較する。
く作 用〉
小信号と遅延回路からの各遅延信号（過去に傷検出コイ
ルが発生した検出信号）とを重畳手段で重畳しているの
で、傷が浅くて長いものであっても重畳手段からの重畳
信号は、重畳回数に比例してかなり大きな値となり、一
方短かい傷や雑音では傷検出コイルで１回しか検出され
ないので元の値のままである。よって確実に浅くて長い
傷を検出できる。
ルが発生した検出信号）とを重畳手段で重畳しているの
で、傷が浅くて長いものであっても重畳手段からの重畳
信号は、重畳回数に比例してかなり大きな値となり、一
方短かい傷や雑音では傷検出コイルで１回しか検出され
ないので元の値のままである。よって確実に浅くて長い
傷を検出できる。
く実 施 例〉
この実施例は、第２図に示すように１個の傷検出コイル
２を有する。この傷検出コイル２は、被検材４の周囲を
とりまくように配置されたコイルで、被検材４をその長
さ方向に適当な相対速度で走査する。被検材４は、傷検
出コイル２により励振されるため、円周方向に電流が流
れ、外表面近傍に傷があると、その傷の周りの電流分布
が変化するため傷検出コイル２のインピーダンスに変化
が生じ、電圧が変化する。
２を有する。この傷検出コイル２は、被検材４の周囲を
とりまくように配置されたコイルで、被検材４をその長
さ方向に適当な相対速度で走査する。被検材４は、傷検
出コイル２により励振されるため、円周方向に電流が流
れ、外表面近傍に傷があると、その傷の周りの電流分布
が変化するため傷検出コイル２のインピーダンスに変化
が生じ、電圧が変化する。
傷検出コイル２の信号、すなわち検出電圧は、第１図に
示すように増幅器６で増幅さ些てから、雑音成分を除去
するためのフィルタ８に供給される。
示すように増幅器６で増幅さ些てから、雑音成分を除去
するためのフィルタ８に供給される。
このフィルタ８からの信号は遅延回路１ｏ工乃至１０ｎ
ニ供給される。遅延回路１０□乃至１ｏｎは、供給され
た信号をＴ乃至ＮＴだけそれぞれ遅延させるもので、例
えばＢＢＤ（パケットブリゲートデバイス）を用いるこ
とができる。Ｔ乃至ＮＴは、検出しようとする傷、この
場合には長くて浅い傷の長さ、深さ及びコイル２の相対
速度に応じて定める。なお、図には示していないが、各
遅延回路１０□乃至１０ｎは、共通のクロックパルス発
生器によって制御される。従って、各遅延回路１ｏ工乃
至１０ｎの遅延時間は倍数関係になっている。
ニ供給される。遅延回路１０□乃至１ｏｎは、供給され
た信号をＴ乃至ＮＴだけそれぞれ遅延させるもので、例
えばＢＢＤ（パケットブリゲートデバイス）を用いるこ
とができる。Ｔ乃至ＮＴは、検出しようとする傷、この
場合には長くて浅い傷の長さ、深さ及びコイル２の相対
速度に応じて定める。なお、図には示していないが、各
遅延回路１０□乃至１０ｎは、共通のクロックパルス発
生器によって制御される。従って、各遅延回路１ｏ工乃
至１０ｎの遅延時間は倍数関係になっている。
各遅延回路１０工乃至１０ｎからの各遅゛延信号は加算
器１２に供給される。加算器１２にはフィルタ８からも
信号が供給される。加算器１２は、これら各信号を加算
、すなわち重畳し、その加算信号を比較器１４に供給す
る。
器１２に供給される。加算器１２にはフィルタ８からも
信号が供給される。加算器１２は、これら各信号を加算
、すなわち重畳し、その加算信号を比較器１４に供給す
る。
比較器１４には第１基準電圧設定器１６に設定された第
１基準電圧も供給される。第１基準電圧は、浅くて長い
傷を磁気検出コイＡ２が検出したときの加算信号より幾
分小さく設定されている。比較器１４は、加算信号が第
１基準電圧以上になったとき、付勢信号をマーカー１８
に供給する。マーカー１８は、付勢信号が供給されたと
き、被検材４の傷のある位置にマークを付す。
１基準電圧も供給される。第１基準電圧は、浅くて長い
傷を磁気検出コイＡ２が検出したときの加算信号より幾
分小さく設定されている。比較器１４は、加算信号が第
１基準電圧以上になったとき、付勢信号をマーカー１８
に供給する。マーカー１８は、付勢信号が供給されたと
き、被検材４の傷のある位置にマークを付す。
フィルタ８の信号は遅延回路２０にも供給されている。
この遅延回路２０の遅延時間はｔである。遅延時間ｔは
、検出しようとする傷、この場合には微小な傷０深さ・
長さ及びコイλ２″′相対速度″応じ′て定める。この
遅延回路２ｏにはＢＢＤや従来公知の他の遅延回路を用
いる。ことができる。この遅延回路２０からの遅延信号
は減算器２２に供給される。
、検出しようとする傷、この場合には微小な傷０深さ・
長さ及びコイλ２″′相対速度″応じ′て定める。この
遅延回路２ｏにはＢＢＤや従来公知の他の遅延回路を用
いる。ことができる。この遅延回路２０からの遅延信号
は減算器２２に供給される。
減算器２２には、この他にフィルタ８の信号も直接に供
給される。減算器２２は、遅延回路２０からの遅延信号
とフィルタ８からの信号との差を算出し、比較器２４に
供給する。
給される。減算器２２は、遅延回路２０からの遅延信号
とフィルタ８からの信号との差を算出し、比較器２４に
供給する。
比較器２４には第２基準電圧設定器２６に設定された第
２基準電圧も供給される。第２基準電圧は、器２２の差
信号より幾分小さく設定しである。比較器２４は、減算
器２２からの差信号が第２基準電圧以上になったとき、
付勢信号をマーカー２８に供給する。マーカー２８は、
マーカー１８と同様に構成されている。
２基準電圧も供給される。第２基準電圧は、器２２の差
信号より幾分小さく設定しである。比較器２４は、減算
器２２からの差信号が第２基準電圧以上になったとき、
付勢信号をマーカー２８に供給する。マーカー２８は、
マーカー１８と同様に構成されている。
この実施例は、次のように動作する。例えば第２図に示
すように浅くて長い傷３０を検出する場合について説明
する。傷検出コイル２が被検材４を走査して符号４０ｏ
で示す位置にあるとする。このとき、加算器１２には、
符号４０ｏで示した位置でのフィルタ８の信号が供給さ
れると共に、各遅延回路１０工乃至１０ｎで遅延された
符号４０□乃至４ｏｎで示した位置でのフィルタ８の信
号が供給される。
すように浅くて長い傷３０を検出する場合について説明
する。傷検出コイル２が被検材４を走査して符号４０ｏ
で示す位置にあるとする。このとき、加算器１２には、
符号４０ｏで示した位置でのフィルタ８の信号が供給さ
れると共に、各遅延回路１０工乃至１０ｎで遅延された
符号４０□乃至４ｏｎで示した位置でのフィルタ８の信
号が供給される。
これら信号は加算器１２で加算され、その加算信号は比
較器１４で第１基準電圧と比較されるが、加算信号の方
が第１基準電圧より大きくなり、付勢信号をマーカー１
８に供給し、マーカー１８がｇｉＪ３ｏの位置にマーク
を付す。
較器１４で第１基準電圧と比較されるが、加算信号の方
が第１基準電圧より大きくなり、付勢信号をマーカー１
８に供給し、マーカー１８がｇｉＪ３ｏの位置にマーク
を付す。
このとき、フィルタ８の信号と遅延回路２０の遅延信号
とでは値がほぼ等しいので、減算器２２からの差信号は
非常に小さく、比較器２４は付勢信号を生成せず、マー
カー２８は作動しない。
とでは値がほぼ等しいので、減算器２２からの差信号は
非常に小さく、比較器２４は付勢信号を生成せず、マー
カー２８は作動しない。
次に、第２図に示すように微小な＠３２を検出する場合
について説明する。今、傷検出コイル２が符号５０ ｏ
で示した位置にあるとすると、減算器２２にはそのとき
のフィルタ８の信号が供給されている。同時に、減算器
２２には遅延回路２０によって遅延された符号５０工で
示した位置に゛傷検出コイル２が位置するときのフィル
タ８の信号も供給される。
について説明する。今、傷検出コイル２が符号５０ ｏ
で示した位置にあるとすると、減算器２２にはそのとき
のフィルタ８の信号が供給されている。同時に、減算器
２２には遅延回路２０によって遅延された符号５０工で
示した位置に゛傷検出コイル２が位置するときのフィル
タ８の信号も供給される。
これら両者の差信号は、第２基準電圧より大きく、比較
器２４がマーカー２８に付勢信号を供給し、マーカー２
８が被検材４の傷３２の位置にマークを付す。
器２４がマーカー２８に付勢信号を供給し、マーカー２
８が被検材４の傷３２の位置にマークを付す。
このとき、遅延回路１０□乃至１０ｎの各遅延信号のほ
とんどは、傷検出コイル２が傷のない位置にあったとき
のフィルタ８の信号を遅延させたものであるので、加算
器１２の加算信号は、第１基準電圧より小さく、マーカ
ー１８は作動しない。
とんどは、傷検出コイル２が傷のない位置にあったとき
のフィルタ８の信号を遅延させたものであるので、加算
器１２の加算信号は、第１基準電圧より小さく、マーカ
ー１８は作動しない。
上記の実施例では、遅延回路１０□乃至１ＯｎＩｃＢＢ
Ｄを用い、共通のクロックパルス発生器によって制御し
ているので、各遅延回路１０よ乃至１０ｎの各遅延時間
は倍数関係となっているが、これは必らずしも必要条件
ではなく、各遅延時間がそれぞれ異なっていればよい。
Ｄを用い、共通のクロックパルス発生器によって制御し
ているので、各遅延回路１０よ乃至１０ｎの各遅延時間
は倍数関係となっているが、これは必らずしも必要条件
ではなく、各遅延時間がそれぞれ異なっていればよい。
また、ＢＢＤ以外の他の公知の遅延回路を用いることも
できる。
できる。
く効 果〉
以上のように、この発明による貫通型渦流探傷装置によ
れば、各遅延手段によってそれぞれ異なる時間遅延させ
た傷検出コイルの信号と現在の傷検出コイルの信号とを
重畳し、その重畳信号を基準信号と比較しているので、
浅くて長い傷を確実に検出できる。
れば、各遅延手段によってそれぞれ異なる時間遅延させ
た傷検出コイルの信号と現在の傷検出コイルの信号とを
重畳し、その重畳信号を基準信号と比較しているので、
浅くて長い傷を確実に検出できる。
第１図はこの発明による探傷装置の１実施例のブロック
図、第２図は同実施例の磁気検出素子の配置図である。 ２・・・傷検出コイル、１０工乃至１０ｎ・・・遅延回
路（遅延手段）、１２・・・加算器（重畳手段）、１４
・・・比較器（比較手段）。
図、第２図は同実施例の磁気検出素子の配置図である。 ２・・・傷検出コイル、１０工乃至１０ｎ・・・遅延回
路（遅延手段）、１２・・・加算器（重畳手段）、１４
・・・比較器（比較手段）。
Claims (1)
- （１）１個の傷検出コイルと、この傷検出コイルからの
検出信号をそれぞれ異なる時間遅延させる複数の遅延手
段と、これら各遅延手段からの各遅延信号と上記傷検出
コイルからの検出信号とを重畳する重畳手段と、この重
畳手段からの重畳信号と基準信号とを比較する比較手段
とを備える貫通型渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60064167A JPS61221646A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 貫通型渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60064167A JPS61221646A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 貫通型渦流探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61221646A true JPS61221646A (ja) | 1986-10-02 |
| JPH02665B2 JPH02665B2 (ja) | 1990-01-09 |
Family
ID=13250233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60064167A Granted JPS61221646A (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 | 貫通型渦流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61221646A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017077570A1 (ja) * | 2015-11-02 | 2017-05-11 | 三菱電機株式会社 | ワイヤロープ探傷装置 |
-
1985
- 1985-03-27 JP JP60064167A patent/JPS61221646A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017077570A1 (ja) * | 2015-11-02 | 2017-05-11 | 三菱電機株式会社 | ワイヤロープ探傷装置 |
| JP6161819B1 (ja) * | 2015-11-02 | 2017-07-12 | 三菱電機株式会社 | ワイヤロープ探傷装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02665B2 (ja) | 1990-01-09 |
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