JPH0265463A - 画像読取処理におけるシェーディング歪補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明は、各種画像の読取走査処理における光字系およ
びｌｌ像素子の非線形特性によるシェーディング歪をデ
ジタル処理によって補正するシェーディング歪補正方法
に関するものである。特に、予めメモリに蓄えた比較基
準値を効率的に読み出すことで読取走査処理を高速に実
行できるシェーディング歪補正方法に関するものである
。

〔従来の技術〕

イメージスキャナ、ファクシミリ、複写機への画像人力
やパターン認識などの画像処理ではＣＣ［ｌ！Ｉ像素子
等のイメージラインセンサで画像を１ライン毎に走査し
ながら読み取っている。ラインセンサによる画像読取処
理を線状に照明するために、蛍光灯や襟故並べた光源を
用いたり、あるいは、光学系を介して点光源を線状に拡
散させろなどの１段がレンズを含む光７系と共に用いら
れる。ところが、光７糸のレンズを通過する読取画像か
らの反射光はレンズの中央部に比べて周辺部で人世が低
下する。この現象はシェープインク、警といわれる光学
的非線形特性であり、あらゆる光学系が不可避的に持つ
性質である。このシェーディング歪を取り除くために、
たとえば、特公昭５３−１４３２９号、天間昭５６−９
３０６１号、実開昭５６−１３７５６３号公報などの提
案のように、中央部で透過率を小さくしたシェーディン
グ歪補正通光板が用いられていた。また、特開昭６！−
４８９８２号公報のように、線状の発光ダイオード列の
配置間隔を中央部で籾にして両端部で密にしたり、ある
いは、発光駆動電源から発光ダイオードの間に抵抗を介
在させ、発光ダイオード列の中央部の低坑を大きくして
、両端部に向かって低抵抗にすることで、発光照度の均
一化を図っていた。

上記した従来の補正方式ではいずれも、シェーディング
歪補正値が固定される。ところが、光源の先組分布の非
線形性は必ずしも一定に保たれない、たとえば、光源の
経時的照度の劣化によって人世分布が変化する。この先
遣変化ｔよ、特に蛍光灯のような線状発光光源で顕著に
発生する。厳密には、読取走査ライン毎の基阜読取光呈
が微妙に異なるのが舒通である。更には、１回毎の画＠
読取りでも光用分布状態が微妙に異なる。こうした光用
分布の変化は、Ｒ稿を載置する透明ガラス板（原稿プラ
テン）の汚れや原稿の地色の変化などを含む光字的不確
定要素などが原因で発生する。再現性のよい画像読取り
を実行するには、こうしたシェーディング歪を補正する
必要がある。また、　　ＣＣＤＩＩ＠素子のようなＮ数
の充電変換素子からなる＋１像装置では、個々の＃１毎
に充電度１１特性が異なっているためにシェーディング
歪が発生するが、こうしたミクロ的なシェーディング歪
は上記したような従来のシェーディング歪補正板の使用
だけでは解決できなかった。

上記シェーディング歪をデジタル処理で補正するための
従来の方法を、−例として示した第５図のブロック回路
図を参照して以下に説明する。与えられた＠像１を走査
光学駆動系２で読取走査してその反射光すをＣＣ口など
の撮ａ素子３で充電変換し、その読取信号をアナログ−
デジタル（Ａ／ＤＪ変換器４によって電子化して読取デ
ータＳｉを得る。電子化された読取データＳｔは、演算
処理部５に送られる。メモリ６に予め記憶設定された白
、黒基準データｖｗ、ｖＢｌｔ参照値として、演算処理
部５で前記読取データＳｉを比較演算してシェープイン
ク歪補正処理を行なう、こうして処理されて得られた補
正信号Ｓｏはバッファメモリ７およびインタフェース（
１／Ｆ）　８を介して外部の画像処理装置に出力される
。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記した従来のシェーディング歪補正処理では、一番目
ラインの読取走査時に、読取データＳｉが読出されて演
算処理部５に送られている間、白基準値信号６ｗと黒ｐ
＆準メモリ６ｂの対応するラインの基準値ＶＷｔｍ、　
ＶＢ−が、　ｓａ目クライン読み出し走査が終γした時
点で２演算処理部５に転送されたＬでＦ記シェーディン
グ届涌＋Ｅ処理がＪｆｊされる。つまり、第６図のタイ
ミングチャートに示すように、１１１番目ラインの画ｆ
２読取りと基準１直読出しを時間ｔｌ−Ｌ２の間に実行
し、画像読取データと基準匝の比較演算による補正処理
を時間ｔ２−シ３に実行する。ｍ番目ラインの読取りが
完ｒすると、ｍ＋１番目ラインの読取り、および、補正
処理を順次繰返し実行する。

このように、従来のシェーディング歪補正処理方法では
、ｍ番目ラインの読取りが終ｒして、引き続（ｍａ１ａ
目ラインの読取りを行なうまでに時間ｔ２−ｔ３のタイ
ムラグが生じる。このタイムラグは与えられた１枚の画
像原稿の全域に亙る読取走査が完了するまで繰返し発生
するため、原稿読み所要時間が著しく長くなワ、画像読
取速度が遅くなる間開かあった。

本発明はト記した従来の間開点を解消するためのもので
、画像読取やパターン認識などの各１４画像処理におけ
る画像読俄走査時に全歪補正処理を高速、巨っ、合理的
に実行できるシェーディング乏Ｍ正方法を堤供すること
を目的とする。

［５厘を解決するための手段ｊ 上記の目的を達成するために、本発明による画像読取処
理におけるシェーディング歪補正方法は、ｇＭ慴両画像
ラインセンサで予備読取走査して得た黒基準値信号と白
基準１＋ａ信号がら比較基準（ｌ＾を求めてメモリにシ
己憶し、５えられた読取画像のｎ番目画素の画像濃淡デ
ータをラインセンサで読取って画像読取信号をｅｉ算処
理部に転送し　前記画像読取信号の演算処理部への転送
と同時に、前記メモリに記憶されたｎｅｔ番目画素の前
記比較基準値を第１ラッチ部に読み出すと共に、前記第
２ラッチ部に記憶されているｎ番目画素の前記比較基ｒ
！ｉ、値をＩｉＯ記ｎ番目画素の画（を読取信号と比較
演算して前記比較基準値の差に対する前記画像読取信号
値の比を表わす補正信号を出力し：前記補正信号を出力
した時点で、前記第１ラッチ部に記憶されたｎ＋１番目
画素の前記比較基準値を前記第２ラッチ部に転送して、
前記読取画像における次のラインの濃淡画像データの読
取走査を前記読取画像の全走査領域に亙って繰返し、前
記出力補正信号に基づいて画像処理を実行して成る。

また、ラインセンサで読取走査した濃淡データをアナロ
グ−デジタル変換器で量子化して、メモリへの格納、お
よび、メモリ内の面記比較基両値との比較演算をデジタ
ルで行なう。

前記メモリに黒基準メモリと比較基準値メモリを設け、
前記予備読取走査で黒基準メモリを求めて前記１基早メ
モリに格納し１次に白基辛ＩＩｉ信号を求めて前記黒基
準値信号との差で表わされる比較基ｒ＄値を前記比較基
準値メモリに格納する。

ｎ番目画素の臼基率値読取時にｎ＋１番目画素の黒基準
値を第１ラッチ部の第１黒基率ラツチ回路に読み出すと
同時に、ｎ番目画素の１Ｐ′、基ＨＡ　ｆＩｒｌを第２
ラッチ部の第２黒基準ラッチ回路から読み出して＋ｉｉ
ｉ記自基準頭との差を、にめ、　０番［１画素の予備読
取走査完了時に前記第１黒基準ラッチ回路の口匂番目゛
覗基慴頭を第２黒基準ラッチ回路に転送する。

前記メモリに白基準値信号と比較）ＩＳ慴頌メモリを設
け、前記予備読取走査で白基ダ１直信号を求めて前記白
基準値信号に格納し、次に１１基準値信号を求めて前記
白基零値信号との差で表わされる比較基準値を前記比較
基準値メモリに格納する。

ｎ番目画素のＭ基ｆＩ（ｌＩＸ読取読取口＋１番目画素
の白基準１直を第１ラッチ部の第１白基準ラッチ回路に
読み出すと同時に、　ｎ番目画素の白基準値を第２ラッ
チ部の第２白基準ラッチ回路から読み出して前記黒基準
値との差を求め、ｎ番目画素の予備読取走査完了時に前
記第１白基ｑラツチ回路のｎｅｔ番目白基！ｌ！！Ｉ値
を第２白Ｉ＆準ラツチ回路に転送する。

ｎ番目画素の画像読取時にｎ◆Ｉｉ目画素の比較基！？
！値を第１ラッチ部の第１比較基慴値ラツチ回路に読み
出すと同時に、ｎ番目画素の比較基！′％値を第２ラッ
チ部の第２比較基準ラッチ回路から読み出して前記画像
読取信号の比を求めてシェーディング歪補正処理を実行
し、ｎ番目画素の前記補正処理完了時に前記第１比較基
準ラッチ回路のｎｉ１番目比較基ＱＩＩＩＩを第２比較
基慴ラツチ回路に転送する。

［作用］ ｎ番目画素の読取画像を読取走査している間に、予めメ
モリに格納されているｎ◆■番目画素の比較基準値が第
１ラッチ部に転送され、ｎ＋１番目画素の読取走査まで
待機する。この間、ｎ−ｎ番目画素の読取走査完了時に
第２ラッチ部に転送されていたｎ番目画素の比較基準値
が、走査読取りされた画像読取信号と比較されてシェー
ディング歪補正処理が実行される。これらｎ＋１番目画
素の比較基準値の第１ラツチ耶への転送と、ｒ４４直素
のシェーディング歪補正処理が同時に実行される。した
がって、補正処理に必要な比較基準値がメモリから読み
出される時間を短縮できる。

ラインセンサで読取走査したａ淡データをアナログ−デ
ジタル変換器で量子化するデジタル処理によって、第２
ラッチ回路に記憶されているｎ番目画素の比較基準値と
ｎ番目画素の画像読取信号を比較して演算処理を実行す
るので、比較基準値に対する画像読取信号値の比を正確
に表わす量子化補正信号を出力できる。こうしたデジタ
ル処理によって再現性の優れた画像処理が可能となる。

メモリに一時記憶される比較基準値は、黒画両値信号あ
るいは白基両値信号の一方を先に基準メモリに格納して
、後から測定した他方の基ｒ＄ｆｌｌＩ信号との差から
容易に求めることができる。

［実施例］ 本発明によるシェーディング歪補正方法の一実施例を第
１図に示すブロック回路図を参照して以下に説明１−る
。

本発明の方法を適用する画像読取走査系の一例として図
示のようなイメージスキャナ１０がある。このイメージ
スキャナＩＯは、与えられた画＠原稿１１とこの画像原
稿の読取画像面に線状の光を照射する呻明光源１２とを
Ｆ走査方向にｉｌｌ対移動させて画像面を読取走査する
ようになっている。こうして照明された細長い照明領域
「を反射器などを含む光字系１３を介して撮像ＪＡ置！
４のたとえばＣＣＤ撮像素子などのラインセンサＩ５で
受光画像をｍ位画素ごとに光電変換して画像信号］ｌを
出力する。ここでは、前記照明領域「が画像原稿ＩＩを
主走査方向に多数の走査ラインに細分割したうちの鶴番
目の主走査ラインであるとする６また、ここでのシェー
ディング歪補正方法を容易に理解するために、１番目主
走査ラインにおける照明領域【のｎ番目の画素のみにつ
いて説明する。即ち、第２図に示す画像原稿１１の１番
目ラインの照明領域「からの反射光すの元旦の分布特性
においてｎ番目画素におけるシェーディング歪補正処理
を実行するものとする。

与えられた画像の読取走査に先立って１．Ｗ色褪ダ原稿
と白色基準原稿を予備読取走査して、照明光源１２およ
び光学系１３あるいはラインセンサ１５の総合的なシェ
ーディング歪値を確定する。この予備読取走査は、ライ
ンセンサ１５が受光する白色基ｒ＄原稿と漂白基準原稿
の人々の口画素からの反射先組に相当する電気信号であ
る黒画Ｑ値信号ＶＢｎと白基ｌ？！値信号ＶＷｎとの差
（■１−ＶＢｎｌ　、つまり、比較基準１石を求めるも
のである。

先ず、里色基慴原稿を上記イメージスキャナによって読
取走査し、ラインセンサ１５で得られた画像信号をアナ
ログ−デジタル変換２ｉｉ　（Ａ／Ｄｉ　ｌ　６で７Ｙ
化した黒基準画像信号Ｖａｎをゲート６１を介してＲＡ
Ｍなどによるメモリ１７の゛目−基準メモ１月７ａに格
納する。天面には、全画素について黒基準画像信号な里
基準メそり１７ａに記憶させておく１次に、白色基ｆＪ
ｔ稿を上記と同様に読取走査し、更に、Ａ／Ｄ変換器１
６でコｒ化した白色画像信号ＶＷｎをゲートＧ２を介し
て演Ｊ処理部２０の減算器２０ａに送る６ 白色Ｅ＆率原稿の読取走査の際に、先に読取った黒基準
画像信号ＶＢｎとの差（’／Ｗｎ−ＶＢ口）を求める。

この処理をリアルタイムで行なうために、第３図のタイ
ミングチャートから明らかなように、ひとつ前の画素ｎ
−１の白色基＄原稿の読取時（ｔ［１−ｔｌ）に、先に
読取ったｎ番目の％基早画像信号ＶＢｎを第１ラッチ部
１８の第１Ｍ１！ｓ準ラツチ回路Ｌ１１に黒基準メモ１
月７ａから読み出してラッチしておく。

ｎ−１画素読取りから＋Ｊ素読取りに移行するｔｌ時に
、第２ラッチ部１９の第２Ｌ基嘔ラツチ回路（，１２に
データを転送する。そこで、ｎ番目画素の白色読取信号
ＶＷｎがＡ／ＤＲ換器１６から減算器２０ａに送られて
くると、第２厖基卒ラツチ回路Ｌ１２からｎ番目の黒基
準画像信号Ｖ［ｌｎを呼出し減Ｑ　２ｉ！２０ａで白基
準画像信号ＶＷｎと黒基準画像信号ＶＢｎの７２ＡＶを
求める。こうしてｉｌられたｎｉ目差ΔＶをゲートＧ３
を介して比較Ｍｓ　準Ｍｉメモリ１７ｂに格納する。第
３図に示したように、ｎｍｎ差ａＶを演算している間に
、第１黒基準ラッチ回路Ｌｌｌではｎ◆１番目の黒基準
画像信号ＶＢｎ◆１が黒基準メモリ１７ａから読み出さ
れて次の演算のために待機している。　ｔ２時間以降、
メモリのアドレスをインクリメントしながら、前記読取
演算処理の実行を繰返す。

こうした演算を走査画像の↑領域についで実１ｒシ、金
での画素の差成分を比較層ｒ￥１所として比較基準値メ
モリ＋７ｂに記憶させておく。

以上が予備読取走査による比較基準値を求める演算処理
プロセスである。

次に、与えられた画像の読取走査を行なって、所期のｕ
！ｉ像読取データ信号を出力するプロセスを第４図のタ
イミングチャートに従って説明する。

上記イメージスキャナ１０でＩＩＩａ目走査ラインの画
像を読取走査した時を実行する場合を考える。ラインセ
ンサ１５からの画像データ信号がＡ／Ｄ変ＦｆＡ器１６
で；ｒ化されたｍ番目ラインのｎ番目画素の画像読取デ
ータ信号ＩＯｎがゲートＧ４を介して演算処理部２０の
乗除算器２０ｂに送られる。この画像読取処理プロセス
でも、前記比較基準値演算プロセスと同様に５処理の高
速化を図るべく、　ｎ？ｈ目画素の画像読取りに先立つ
ｎ−Ｉ画素の画＠読取り時（ｔｏ−ｔｌ時）に、ｎｌＲ
目の比較基準値ａＶｎを第１ラッチ部１８の第１比較基
嘔１直ラツチ回路Ｌ２＋に格納しておく、ｎ番目画素の
読取開始時（Ｌｌ）に第１比較基準値ラッチ回路Ｌ２１
から第２ラッチ部＋９の第２比較基準雇ラツチ回路Ｌ２
２に比較基準ｆｌｌＬＶｎを転送しておく、そこで、　
ｔｌ−ｔ２時に行なうｎ番目画素の画像読取に同期して
第２比較基準値ラッチ回路１２２から順次、比較基ｉ＄
！＝ＩＩＩＩΔＶｎを呼出す１乗除算器２０ｂで、以下
の式で表わされる比較基準値ΔＶｎに対する画像読取デ
ータ信号ＩｒＪｎの比（ｆａｎ−Ｖａｎ／ＩＩＶｎ）を
求める。

＋０ｎ−ｖ［Ｉｎ　　　’Ｄ″−Ｖ８ｎ　　　、、、　
ｔ　、＋ＩＤ”　”　　ＶＷｎ−Ｖｆｉｎ　　　　ａＶ
ｎ式において、　　ｌＤｎ’　はシェーディングａ正値
、ＩＤｎは画＠読取値、ＶＷｎは白基準値、■８０は１
基準（偵、　６Ｖｎは白基準ｆぷと、環基？ｊ酒の差Ｉ
ＶＷｎ−ＶＢｎｌである比較基準（屯、ｎは画素番号で
あり、画像読取処理は全走査ラインの全画素（口・Ｉ−
ｎ、、、ｌについて、Ｉｉｉ＠素毎の補正処理完了時に
メモリアドレスをインクリメントしながら上式（１）の
処理を繰返し実行する。

即ち、第２図における画像読取光量の分布特性図で示す
ように、与えられた画像原稿のｆｆｉ番目走査ラインの
受光光型分布曲線【Ｄにおける画素ｎの画像読取１ａｌ
ＯｎのＡＶｎに対する比としてシェーディング歪補正１
ｆｆｉｌＤｎ’が求まる。つまり、画像原稿からの反射
光すが光学系あるいは撮像系の非線形特性が原因で発生
するシェーディング歪によって光重の減衰を肢るが、上
式（１）の処理を実行することで光学的減衰率を補い、
画像の絶対濃淡型を求めることができる。

上述の方法でシェーディング歪を補正して得られる補正
信号１０’を一旦、出力メモリ２１に蓄えてから、イン
タフェースｆｌ／Ｆｌ　２２を介して外部画像処理装面
に出力する。

車　上記実施例では、第１、第２の各ラッチ部１８．１
９に黒基準ラッチ回路と比較基準値ラッチ回路を有して
いるが、減算処理と乗除算処理が同時に行なわれること
がないので、１つのラッチ回路をゲートで切り替えてｌ
ｌ用することもｉ５Ｔ能である。

また、上記した一実施例ではｒ・端読取処理でｉ色基字
原稿を先に読取処理して′に基準メモリ１７ａに黒基準
データを格納したが、勿論、白色原稿を先に読取処理し
てそれに対応するメモリ（白基準値信号）に格納して、
後から読み取る黒基準原稿を先に求めた白基準データを
呼び出して′６ＩＡＷ処理するようにしてもよい。

更にまた。ラッチ回路をＡ／Ｄ変＠２ｉ１６の後段に設
ければ、メモリ１７の出力側の第１ラッチｉ＄１８．第
２ラツチ都１９を省くことも可能である。言うまでもな
く、図示の回路構成は本発明を′Ｘ絶するための一例で
あって１本発明の思想に基づく原理を実現するものであ
ればどのような回路構成であってもよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、千ｆＩ読取走査に
おける黒画嘔値信号と白色画像信号から差成分である比
較基準値を求めてメモリに記憶させ、与えられた読取画
像のｎ番目画素の読取演算と同時に第１のラッチ回路に
酎１番目画素の比較基ｒ！ｉ、値を読み出しておき、０
４１番目画素の読取演算開始時に第２ラッチ回路にｎｉ
１番目画素の比較Ｍｅｔ！！値を転送してｎ＋Ｉｆｋ目
画素の読取演算を実行するため、ｎ番目画素の画像読取
後にメモリから比較基Ｉｆ直の読み出したり、あるいは
、シェーディング歪補正処理を行なうことなく、リアル
タイムにシェーディング歪補正処理を実行できる。これ
によって、シェーディング補正処理に費やす時間を短縮
でき、高速画像処理が可能になる。しかも、デジタル処
理でシェーディング乏の補正をイｆなうので、＋：ＩＪ
５度の□ｆ　ｈｈ　ＩＦ処理がｊｆなえ、浸取１ＩＩＩ
Ｉｆ争のｌｌｊ現性をとしく向１−することができる。

！！！に、基’￥＝　ｔ＋Ｉ’ｉメモリと演算処理部と
の間に瑞にラッチ回路を介在させるだけで高速、高画質
の画像処理ができるので購逍的合即性が高められる。

【図面の簡単な説明】

図面第１図は本発明のシェーディング歪補正方法を通用
する画像処理ＪＡ１！及び回路系の一例の概略構成図、
第２図はシェーディング歪特性曲線、第３図は基＊＋ｉ
演算処理を説明するタイミングチャート、第４図はシェ
ーディング歪補正処理を説明するタイミングチャート、
第５図は従来のシェーディング歪補正回路のブロック図
、第６図は同回路による補正処理のタイミングチャート
である。 １５・・・ラインセンサ５１６・・・アナログ−デジタ
ル変換器、１７−メモ１ハ　１７ａ・−・黒画卒メモリ
、　＋７ｂ・・・比較基卓傾メモリ、＋８・・・第１ラ
ッチ部、＋　９−・・第２ラッチ部。 ２０・・・演算処理部

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. （１）基準画像をラインセンサで予備読取走査して得た
   黒基準値信号と白基準値信号から比較基準値を求めてメ
   モリに記憶し、与えられた読取画像のｎ番目画素の画像
   濃淡データをラインセンサで読取って画像読取信号を演
   算処理部に転送し、該画像読取信号の演算処理部への転
   送と同時に、該メモリに記憶されたｎ＋１番目画素の該
   比較基準値を第１ラッチ部に読み出すと共に、該第２ラ
   ッチ部に記憶されているｎ番目画素の該比較基準値を該
   ｎ番目画素の画像読取信号と比較演算して該比較基準値
   の差に対する該画像読取信号値の比を表わす補正信号を
   出力し、該補正信号を出力した時点で、該第１ラッチ部
   に記憶されたｎ＋１番目画素の該比較基準値を該第２ラ
   ッチ部に転送して、該読取画像における次のラインの濃
   淡画像データの読取走査を該読取画像の全走査領域に亙
   って繰返し、 該出力補正信号に基づいて画像処理を実行することを特
   徴とするシェーディング歪補正方法。
2. （２）該ラインセンサで読取走査した濃淡データをアナ
   ログ−デジタル変換器で量子化して、メモリへの格納、
   および、メモリ内の該比較基準値との比較演算を行なう
   ことを特徴とする請求項（１）記載のシェーディング歪
   補正方法。
3. （３）該メモリに黒基準メモリと比較基準値メモリを設
   け、該予備読取走査で黒基準値信号を求めて該黒基準メ
   モリに格納し、次に白基準値信号を求めて該黒基準値信
   号との差で表わされる比較基準値を該比較基準値メモリ
   に格納する請求項（１）または（２）記載のシェーディ
   ング歪補正方法。
4. （４）ｎ番目画素の白基準値読取時にｎ＋１番目画素の
   黒基準値を第１ラッチ部の第１黒基準ラッチ回路に読み
   出すと同時に、ｎ番目画素の黒基準値を第２ラッチ部の
   第２黒基準ラッチ回路から読み出して該白基準値との差
   を求め、ｎ番目画素の予備読取走査完了時に該第１黒基
   準ラッチ回路のｎ＋１番目黒基準値を第２黒基準ラッチ
   回路に転送する請求項（３）記載のシェーディング歪補
   正方法。
5. （５）該メモリに白基準メモリと比較基準値メモリを設
   け、該予備読取走査で白基準値信号を求めて該白基準メ
   モリに格納し、次に黒基準値信号を求めて該白基準値信
   号との差で表わされる比較基準値を該比較基準値メモリ
   に格納する請求項（１）または（２）記載のシェーディ
   ング歪補正方法。
6. （６）ｎ番目画素の黒基準値読取時にｎ＋１番目画素の
   白基準値を第１ラッチ部の第１白基準ラッチ回路に読み
   出すと同時に、ｎ番目画素の白基準値を第２ラッチ部の
   第２白基準ラッチ回路から読み出して該黒基準値との差
   を求め、ｎ番目画素の予備読取走査完了時に該第１白基
   準ラッチ回路のｎ＋１番目白基準値を第２白基準ラッチ
   回路に転送する請求項（５）記載のシェーディング歪補
   正方法。
7. （７）ｎ番目画素の画像読取時にｎ＋１番目画素の比較
   基準値を第１ラッチ部の第１比較基準値ラッチ回路に読
   み出すと同時に、ｎ番目画素の比較基準値を第２ラッチ
   部の第２比較基準ラッチ回路から読み出して該画像読取
   信号の比を求めてシェーディング歪補正処理を実行し、
   ｎ番目画素の該補正処理完了時に該第１比較基準ラッチ
   回路のｎ＋１番目比較基準値を第２比較基準ラッチ回路
   に転送する請求項（３）または（５）記載のシェーディ
   ング歪補正方法。