JPH0261895A - 光記憶素子 - Google Patents

光記憶素子

Info

Publication number
JPH0261895A
JPH0261895A JP63213086A JP21308688A JPH0261895A JP H0261895 A JPH0261895 A JP H0261895A JP 63213086 A JP63213086 A JP 63213086A JP 21308688 A JP21308688 A JP 21308688A JP H0261895 A JPH0261895 A JP H0261895A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
optical
light
solid electrolyte
memory element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63213086A
Other languages
English (en)
Inventor
Teruhisa Kanbara
神原 輝寿
Shigeo Kondo
繁雄 近藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP63213086A priority Critical patent/JPH0261895A/ja
Publication of JPH0261895A publication Critical patent/JPH0261895A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光照射により出力電圧が変化し、かつ光照射
後もこの出力電圧を維持することにより入力された光信
号を電気信号として記憶し、またこれに光照射後戻化し
た出力信号と逆の電圧を印加することにより記憶された
光信号を消去する機能を有する光記憶素子、および入力
された光信号を二次元的な画像信号として記憶し、複数
の端子より前記画像信号を電気信号として出力すること
のできる光記憶素子に関するものである。
従来の技術 従来、光照射の強弱により出力電圧が変化することを利
用し、これを映像信号として取り出す素子として、固体
撮像素子COD (CHARGECOUPLED  D
EVICE)等の物カアッタ。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、CCDなど従来の素子は、光照射の際に
のみ映像信号を出力し、光照射を停止すると信号出力も
停止するものであり、光照射を停止した後も信号出力を
維持する、つまり画像信号を記憶する機能は有していな
い。
課題を解決するための手段 光透過性基体、必要に応じて透明電極、光半導体、第1
電極、固体電解質、第2電極を順次積層することにより
光記憶素子を作成し、前記光半導体に光を照射すること
により光半導体の内部で電子とホールを生成し、これに
より前記第1電極と第2電極で電気化学反応を生じさせ
、第1電極、固体電解質、第2電極からなる二次電池部
分を充電させる。これにより、照射した光信号を化学エ
ネルギーとして第1電極、第2電極に蓄えることにより
メモリー状態を得ることが出来る。またそのとき、第1
電極と第2電極の間の電圧を読み取ることにより、入力
された光情報を知ることが出来る。
作用 光透過性基体を通じて光半導体に光半導体材料のバンド
ギャップより大きいエネルギーを有する光を照射すると
、光半導体において伝導帯では励起電子が、また価電子
帯ではホールが生成される。
このとき、透明電極と第2電極とを電気的に短絡すると
、この電子及びホールの作用により第1電極及び第2電
極ではそれぞれ特定の電気化学反応が発生し、この反応
により第1電極と第2電極間の電圧が変化する。この第
1電極と第2電極間の電圧は第1電極、固体電解質、第
2電極により構成される二次電池の起電圧に相当し、光
照射を停止した後もそのまま維持されるものである。ま
た第1電極と第2電極に対して、これとは逆の電圧の印
加、あるいは電気的に短絡することにより、光照射によ
り生じた電気化学反応とは逆の電気化学反応を第1電極
および第2電極で起こさせることができ、これにより第
1電極と第2電極の間に発生する電圧を光が照射される
以前の電圧に再び戻す事が出来る。この操作を繰り返す
と、本素子は再記録可能な光記憶素子として機能するこ
とになる。
また、固体電解質として厚さ方向つまり第1電極と第2
電極との向きに対しイオン導電性が優れた固体電解質異
方性イオン伝導体を用いると、先に述べた光照射により
生ずる電気化学反応は固体電解質が異方性を有するため
横方向には広がりにり<、光半導体面に於て光が照射さ
れた局所的な範囲を中心としてこの反応は停まる。そこ
で第1電極及び第2′Ili極を複数のマl−IJフッ
クス状配置すると、光照射により電気化学反応が生じた
局所的な部分と暗状態の部分とを、そこから取り出され
る電圧により判別することが出来、また、出力電圧の高
低により二次元的な画像信号として記憶することが出来
る。
実施例 以下、本発明の素子について詳細に説明する。
第1図は本発明の素子の概略図である。図中1は光透過
性基体、2は透明電極、3は光半導体、4は第1電極、
5は固体電解質、6は第2電極、7はパッジベージロン
膜である。光透過性基体1を構成する材料は、ソーダガ
ラス、石英ガラス等の無機ガラス、あるいはポリイミド
、ポリサルホンなどの光透過性を有する有機材料を使用
することが出来る。光半導体としては、照射光の波長強
度より小さいバンドギャップを有するものが使用される
。例えば入力光信号として可視光領域の光を用いるとき
には、光半導体材料のバンドギャップは1.0から2.
5eV程度のもの例えば、Si+アモルファスシリ:y
7S L  Zn5es  ZnTe1CdS+  C
dSe1 CdTe+  AlxGa+−xAs(0≦
X≦1)+  GaAS+−xPx (0≦X≦1)l
A I S bz  I n P+  MO821MO
S C2+  WS2、WS C2,Mx I n S
2(M= CuまたはAg、O<X<1)、MxInS
e2(M=CuまたはAg。
0<X<1)等を使用することが出来、また紫外光のみ
を選択的に入力光信号として捉えたいときには、ZnS
1 GaN5  SiC等のバンドギャップのより大き
いものを主体とし、これらのP型、N型、あるいはP−
11N−1,P−I−N接合型のものを選択することが
出来る。また様々な波長の光が混成して照射されるとき
には、必要とする波長により光半導体材料のバンドギャ
ップを選択することで、逆に記憶すべき入射信号を選択
することも出来る。また異なるバンドギャップの光半導
体材料により作成した複数個の光記憶素子や、光透過性
基体として相異なる特定波長領域の光のみを透過させる
ものを用い作成した光記憶素子を二次元的に配置した複
合素子を形成することも可能であり、これにより、波長
を限定することにより作成した複数情報光信号の記憶素
子として機能させることも可能となる。
また、本素子の光照射に対する応答速度は、本素子の構
成要素である固体電解質のイオン伝導度により大きく影
響をうける。本素子の機能目的を考えるとイオン伝導度
は少なくとも1(1’s/am程度のものが好ましく、
このようなイオン伝導度を有する固体電解質としては、
RbC1−CuC1−CuI系やCu I −Cu20
  Mo Os系の結晶状及びガラス状銅イオン導電性
固体電解質物、又は、Rbl−AgI系やA g I 
−A g20−Ba03系の結晶状及びガラス状銀イオ
ン導電性固体電解質物を用いることが出来る。
また、本素子は画像信号の記憶素子としても用いること
が出来、そのときは画像信号を2次元的に分解する必要
が有り、このためには、入力画像信号の分解能に応じた
分解能を有する異方性固体電解質を使用する必要が有る
。例えば1cmXICmの大きさの入力画像信号を10
0μmX100μmの画素に分解するときは、1ブロツ
クが50μm×50μm程度の大きさの異方性固体電解
質を用い、縦横それぞれ100×100個の端子を取り
出すことにより、画像としての記憶が可能となる。
また、上述の固体電解質を用いて素子を構成したとき、
第1及び第2電極を構成する材料は固体電解質との界面
に於て可逆的に電気化学反応を起こす必要が有るため、
例えば固体電解質として銅イオン導電性固体電解質を用
いた場合は、CuX51CuxT i S2、 CLI
XN b S2や、 CuxMOeSsで示される銅シ
ェブレル相化合物やカーボンが、また固体電解質として
銀イオン導電性固体電解質を用いた場合は、A gxT
 i S2、A gxN b S2や、A g x M
 Oa S sで示される銀シェブレル相化合物やカー
ボン等を用いることが出来る。更に、透明電極としては
、酸化インジウム、酸化スズ、金よりなる透明電極が用
いられ、必要に応じてこれらに白金を付けることも可能
である。
以下、本発明の詳細な実施例を用い具体的に説明する。
(実施例1) 第2図は、本発明の実施例である光記憶素子の断面図で
ある。第1図における光透過性基体1に対応するものと
して大きさl Q X 10.mm1  厚さ0.1m
mのガラスよりなるものを用い、前記基体8上に酸化イ
ンジウムを主体としてなる透明電極を蒸着し、透明電極
層9とした。さらに前記透明電極の上に第1図の光半導
体3として、まずアモルファスシリコンをCVD法によ
り厚さ0.04μm形成した後、不純物としてホウ素を
ドープしP型半導体層10を、更に連続して前記CVD
法によりI型アモルファスシリコンJlllt−0゜4
μm形成した2層構造の光半導体を用いた。光半導体層
10とした。引きつずき前記アモルファスシリコン層上
にRFスパッタ法を用いてCuaMoasaで示される
銅シェブレル相化合物を厚さ1μm形成し第1電極層1
2とした。つぎに前記第1電極層の上にRb Cu4I
 1.76C13,2sで表される固体電解質層12を
真空蒸着法により5μm形成した。更に前記固体電解質
層上に前記第1電極と同一のシェブレル相化合物を前記
RFスパッタ法を用いて厚さ1μm形成し第2電極層1
4とし、最後にスパッタ法により酸化ジルコニウムで全
体をコートシハッシベーシロン層15とすることで、本
実施例の光記憶素子とした。
以上のようにして作成した本実施例の光記憶素子に対し
て、波長515(nm)の単色光を用いて様々の照射強
度を有する光を照射したときの、第1電極12と第2電
極14より取り出される出力電圧を測定したものが第3
図である。なお、出力信号の測定は、透明電極2と第2
電極6とを短絡させた後、光照射時間を1秒間行ない、
その後10秒間の休止を、した後、第1電極と第2電極
との電圧を測定した。この結果、本実施例の光記憶素子
は照射光の強度により連続的に変化しており、その照射
光の強度を記憶する機能を有していることが判明した。
言うことが出来る。また出力信号の消去は第1電極12
と第2電極14とを10秒間短絡することで消去するこ
とが出来た。
次ぎに前記実施例の光記憶素子に対して、波長515(
nm)の単色光を用いて照射強度を1mW/cI112
で一定とし、照射時間を変化させたときの出力電圧を測
定した。その結果を第4図に示した。
この結果から、本実施例の光記憶素子は照射光の照射時
間により連続的に変化しており、その照射光の照射時間
の記憶機能を果たしていることが明かで、入力された光
信号は電極間の電圧を測定することにより検出すること
が出来た。なお出力信号は、第1電極12と第2電極1
4とを10秒間短絡することで消去することが出来た。
実施例(2)−(9) 実施例1では、光半導体としてP−I接合型アモルファ
スシリコン、電極材料として銅シェブレル相化合物Cu
2M0eS*、固体電解質として結晶伏の銅イオン伝導
性固体電解質Rb CL12 I 1.76C1326
を用いたが、これらの構成材料以外に上記実施例で記載
した材料を用いても同様の機能を有する光記憶素子を容
易に作成することが出来る。
以下、様々な構成材料を用いて実施例1と同様にして光
記憶素子を作成した。それぞれの素子の構成材料を表1
、またその出力特性を表2及び3に示す。表2に示した
電圧の測定は、まず素子作成直後、暗所において電極1
と電極2を1o分間短絡した後、表2に記載した種々の
波長を有する照射強度1mW/am2の単色光源を用い
、それぞれ光照射を1秒間行ない、10秒間の休止後、
第1電極と第2電極の間に発生する電圧を測定した。ま
た、表3は上記試験で光照射を10秒間としたときのも
のである。なお、実施例(2)から(9)の素子は、構
成材料が異なる以外その大きさ及び構成は全て実施例(
1)の素子のものと同一である。またその製膜方法は、
光半導体であるInPはCVD法、P−N接合型GaA
sはMOCVD法により製膜した後それぞれ亜鉛及びイ
オウをドープすることによりP−N接合型にしたもの、
ZnS−Cd5は真空蒸着法により連続的に作成した。
第1電極の構成材料である銅及び銀は真空蒸着法、固体
電解質材料のCu I−CL120−Mo O3、Ag
l−Ag20−B2O2はRFスッパタ法、Rb A 
g a I sは真空蒸着法、また第2電極材料のTi
S2及びN b S 2はプラズマCVD法、NbSe
2、AgMoaSe、Cu4M0aSsはRFスッパタ
法を用いて作成した。
表2及び表3を見ると分かるように実施例(2)−(9
)の光記憶素子はそれぞ特定波長領域の光に対して、光
記憶素子としての機能を有していた。
実施例10 光半導体としてCd5−CdTe接合型、第1電極に銀
、固体電解質としてA g I −A g 20− B
2O3で示されるガラス状銀イオン導電性固体電解質を
用いて光記憶素子を作成した。その断面を第5図に示す
。光透過性基体として大きさ50×50mm1 厚さ2
mmのガラス16を用い、前記基体上に光半導体として
Cd517及びCdTe18を設けた。それぞれの光半
導体は、次ぎのように作成した。まずCdSをスクリー
ン印刷した後、赤外線乾燥炉内で120°Cの温度で乾
燥、その後、窒素雰囲気中690℃で焼成し、厚さ25
μmの薄膜を形成した直後、CdTeも同様に上記スク
リーン印刷法により印刷し、上記赤外線乾燥炉内で12
0°Cの温度で乾燥した後、窒素雰囲気中580℃で焼
成し厚さ10μmの薄膜を形成した。
このようにして作成した光半導体層に接触するように第
1電極を形成した。第1電極は、銅を微量含有するカー
ボンペーストをスクリーン印刷法により10μmの膜厚
で印刷、その後上記赤外線乾燥炉内で120’Cの温度
で乾燥した後、微量の酸素を含む窒素雰囲気中400℃
で熱処理を行ない第1電極19を形成した。つずいてA
gI −Ag20− B 203で表される固体電解質
を前記スクリーン印刷法により50μm形成した後、全
体を乾燥窒素雰囲気中130°Cでアニールし固体電解
質層20とした。さらに前記固体電解質層上に第2電極
としてAg@、+Nb5gで表される電極材料をスクリ
ーン印刷法により10μmの膜厚で印刷、その後上記赤
外線乾燥炉内で120℃の温度で乾燥し、第2電極21
とし、ひきつずき、前記第2電極と電気的接触を保つよ
うに、I ns  A gl  を含有するカーボンペ
ーストをスクリーン印刷しリード端子22とした。最後
に、パッシベーション膜としてエポキシ樹脂23により
全体をコートし本実施例の光記憶素子とした。
このようにして作成した光記憶素子に対して、実施例(
2)−(9)と同一の評価試験を行なった。その結果を
前記表1. 2. 3に示した。得ら表1 表3 表2 れた結果より分かるように、明かに本実施例の素子も特
定波長領域の照射光に対して光記憶素子としての機能を
何することが分かる。
なを、本実施例では特定波長の照射光に対する特性のみ
を記載したが、例えば288 n m、  355 n
m、  800 n mの3種類波長の光信号が重複さ
れた光信号が加えられても、このような3種類の波長光
に対して、288 nmの光に対してのみ機能する実施
例9の光記憶素子、355nmの光に対してのみ機能す
る実施例1−ゐ光記憶素子、800nmの光に対しての
み機能する実施例10の光記憶素子を同一面に配置する
と、この複数情報光信号にたいする光記憶素子として機
能することは言うまでもない。
同様に、実施例1の素子、実施例7の素子のガラス基体
上に700nmより短波長側の光を吸収するフィルター
を接着した素子、実施例1の素子のガラス基体上に45
0nmより短波長側の光を吸収するフィルターを接着し
た素子の3種類の素子を組み合わせた物を作成すると、
350 n rrh515nm1800nmの3種類の
波長の光により構成された複数情報光信号の記憶素子と
して機能することも言うまでもない。
実施例11 次ぎに、第1電極と第2電極をマトリックス状に二次元
的に配置し、かつ固体電解質として厚さ方向つまり第1
電極から第2電極への方向に対して伝導性が優れた異方
性固体電解質を用いて、二次元的な画像信号を記憶する
素子を作成した。
第6図は、本発明の実施例である画像記憶素子の断面図
である。大きさ50 X 50 m IN  厚さ2m
mのガラスを光透過性基体24として、前記基体上に酸
化インジウムを主体としてなるITOを蒸着し透明電極
25を実施例1と同様構成した。
さらに前記透明電極の上にアモルファスシリコンをCV
D法により厚さ0.04μm形成した後、不純物として
ホウ素をドープしP型半導体特性を与え、更に連続して
前記CVD法によりI型アモルファスシリコン層を0.
 4μm形成してなる光半導体層26を形成した。引き
つずき前記1型アモルファスシリコン層上に前記ITO
電極を幅0゜5 m fTh 相互の間隔0.5mmt
 厚さ5μmの形状で平行に40本作成し第1電極群2
7とした。
次ぎにRb Cu4I 1.?6C13,asで表され
る固体電解質とスチレンブタジェン共重合体ゴムにより
形成された厚さ1011mの異方性固体電解質シートを
前記第1電極群上に設置し固体電解質層28とした。な
お、この異方性固体電解質シートの作成方法は、発明者
の特許出願昭和61−223101における実施例1に
示した作成方法を用い、1ブロツクの大きさは約2μm
である。この後、RFスパッタ法を用いてCuaMOe
Ssで示されるシェブレル相化合物を前記第1電極群と
直行する向きに幅0.5mm1相互の間隔0.5mm1
 厚さ5μmの形状で平行に40本作成し第2電極群2
9とした最後にRFスッパタ法により酸化ジルコニウム
で全体をコートしパッジベージロン層30とし、本実施
例の画像記憶素子とした。なを、31は第2電極群との
リードを取るための端子群であり、前記ITOよりなる
ものである。
このようにして作成した画像記憶素子の出力電圧は、光
照射のないときは、ITO/固体電解質/ Cu 2 
M O63sよりなる電位記憶部分の起電圧300(m
V)がITO電極を正として得られた。これに光照射を
行なうとITO電極側では銅の析出反応、Cu2M06
Se電極側では銅のデインターカレーションが起こり、
最終的には金属銅とM o a S、との電位差520
(mV)がITO電極を負として得られる。また記憶信
号の消去は前記第1電極を正、第2電極を負として30
0(mV)以上の逆電圧を印加することにより消去する
ことが出来た。
本光記憶素子の二次元的な画像信号に対する応答を確認
するため、以下に示す測定を行なった。
波長515 (nm)、照射強度1mW/cm2の単色
光を1秒間素子に照射した。照射光の形状は第7図に示
したように幅2mmの十字型の物とし、照射光の中心を
素子の受光部分の中心に位置を合わせた。測定は、照射
後1秒間の休止後に前記第1及び第2電極群より入力画
像信号として対照的な位置にあるAlB、  C,Dの
4箇所の出力電圧を測定しその結果を第1電極側を正と
して第9図−に示した。これから分かるように光が照射
された部分の出力電圧のみ光照射の前後で正負が反転し
ており、二次元的な画像信号を記憶させることが出来た
さらに本素子の画像信号の記憶および逆電圧印加による
記憶信号の消去の応答速度を確認するため、前記光源と
同一のものを用いて、1秒間の光照射の後、1秒間の休
止を行ないその後、第1及び第2電極間の電圧測定を行
ない、1秒間の400 (mV)の逆電圧印加を行なう
サイクルを繰り返したときの、第8図におけるAlB、
  C,Dポイントの電圧を前記第9図に記録した。こ
の結果本光記憶素子は1砂丘度の間隔で変化する二次元
的な画像を電気信号として処理する機能を有しているこ
とが判明した。
また、本実施例で用いた構成材料に限らず、実施例(1
)−(10)に示した材料で構成し、本実施例の素子の
構成のように電極1及び2をマトリックス状に配置すれ
ば、同様に画像信号の記憶素子としての機能を有するこ
とは言うまでもない。
更に、機能波長領域の異なる単一素子を複数個組み合せ
ることで複数画像信号の記憶素子としての機能を有する
ことは言うまでもない。
発明の効果 本発明に従えば、書換可能な光記憶素子を作製すること
が出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の光記憶素子の概略図、第2
図は同光記憶素子の断面図、第3図及び第4図同光記憶
素子の出力を示した特性図、第5図は本発明の実施例1
0の断面図、第8図は本発明の実施例11の光記憶素子
の断面図、第7図は照射光の形状図、第8図は特性図で
ある。 1・・光透過性基体、2・・透明電極、3・・光半導体
、4・・第1電極、5・・固体電解質、6・・第2電極
、7・・パッジベージロン膜、8・・ガラス基体、9・
・ITO透明IK!、10・・P型アモルファスシリコ
ン、11・・I型アモルファスシリコン、12・・第1
電極、13・・固体電解質、14・・第2電極、15・
・パッシベーション膜、 16・・ガラス基体、17−
CdSm、  18・・CdTe層、 19・・第1電
極、20・・固体電解質、21・・第2電極、22−エ
ポキシコート、23・・リード端子、24・・ガラス基
体、25・・透明電極、26・・光半導体層、27・・
第1電極群、28・・固体電解質層、29・・第2電i
群、30・・パッジベーン8フ層、31・・リード端子
群。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名第1図 第 図 ′0.l112 θ、6 0.8 / MIT潴g (wrW/crnl!ジ 第 図 第 図 0.2 0.6 乙8 / 照璽竹針■ (f)) 第 図 第 図 麻 図 θ O 4θ 乙θ g。 /θO プイグ・少数

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光透過性基体、必要に応じて透明電極、光半導体
    、前記光半導体と電気的接触する第1電極、固体電解質
    、第2電極を順次積層してなり、前記光半導体に光を照
    射することにより、前記第1電極と前記第2電極間の電
    圧を変化させ、光照射を停止した後も前記変化後の電圧
    を維持することにより光信号を電気信号として記憶する
    ことを特徴とする光記憶素子。
  2. (2)請求項4において、光半導体に光を照射し、第1
    電極と第2電極間の電圧を変化させ、前記照射光を電気
    信号として記憶した後、前記第1電極と前記第2電極間
    に発生している電圧とは逆の電圧を印加、あるいは前記
    第1電極と前記第2電極とを電気的に短絡することによ
    り前記記憶信号を消去することを特徴とする光記憶素子
  3. (3)請求項1または2において、光透過性基体として
    特定波長領域の光のみを透過させるものを用い、これに
    より前記特定波長領域の光に対してのみ動作することを
    特徴とする光記憶素子。
  4. (4)請求項3において、動作波長領域の相異なる複数
    個の光記憶素子を二次元的に配置することにより、波長
    を限定することにより合成された複数情報光信号の光記
    憶素子として機能することを特徴とする光記憶素子。
  5. (5)請求項1または2において、異なるバンドギャッ
    プの光半導体材料により作成した複数個のものを二次元
    的に配置することにより、波長を限定することにより合
    成された複数情報光信号の光記憶素子として機能するこ
    とを特徴とする光記憶素子。
  6. (6)請求項1、2、3、4または5において、第1電
    極及び第2電極は、共に複数個よりなる帯状構造を有し
    、かつ、第1電極及び第2電極はお互いに交差してなる
    ことを特徴とする光記憶素子。
  7. (7)請求項1、2、3、4、5または6において、固
    体電解質は異方性固体電解質であることを特徴とする光
    記憶素子。
  8. (8)請求項1、2、3、4、5、6または7において
    、固体電解質は銅イオン導電性固体電解質あるいは銀イ
    オン導電性固体電解質であることを特徴とする光記憶素
    子。
  9. (9)請求項1、2、3、4、5、6または7において
    、固体電解質はガラス状銅イオン導電性固体電解質ある
    いはガラス状銀イオン導電性固体電解質であることを特
    徴とする光記憶素子。
JP63213086A 1988-08-26 1988-08-26 光記憶素子 Pending JPH0261895A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63213086A JPH0261895A (ja) 1988-08-26 1988-08-26 光記憶素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63213086A JPH0261895A (ja) 1988-08-26 1988-08-26 光記憶素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0261895A true JPH0261895A (ja) 1990-03-01

Family

ID=16633324

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63213086A Pending JPH0261895A (ja) 1988-08-26 1988-08-26 光記憶素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0261895A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003068984A (ja) * 2001-06-28 2003-03-07 Sharp Corp 電気的にプログラム可能な抵抗特性を有するクロスポイントメモリ
WO2009020210A1 (ja) * 2007-08-08 2009-02-12 National Institute For Materials Science スイッチング素子とその用途

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5215330A (en) * 1975-07-25 1977-02-04 Hitachi Ltd Electrophotographic image fixing fluid
JPS60117431A (ja) * 1983-11-29 1985-06-24 Canon Inc 高密度記録素子
JPS6175821A (ja) * 1984-09-19 1986-04-18 Mitsubishi Chem Ind Ltd ピツチ系炭素繊維の製造法
JPS6378405A (ja) * 1986-09-19 1988-04-08 松下電器産業株式会社 異方性イオン伝導体

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5215330A (en) * 1975-07-25 1977-02-04 Hitachi Ltd Electrophotographic image fixing fluid
JPS60117431A (ja) * 1983-11-29 1985-06-24 Canon Inc 高密度記録素子
JPS6175821A (ja) * 1984-09-19 1986-04-18 Mitsubishi Chem Ind Ltd ピツチ系炭素繊維の製造法
JPS6378405A (ja) * 1986-09-19 1988-04-08 松下電器産業株式会社 異方性イオン伝導体

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003068984A (ja) * 2001-06-28 2003-03-07 Sharp Corp 電気的にプログラム可能な抵抗特性を有するクロスポイントメモリ
WO2009020210A1 (ja) * 2007-08-08 2009-02-12 National Institute For Materials Science スイッチング素子とその用途
US8320154B2 (en) 2007-08-08 2012-11-27 National Institute For Materials Science Switching element and application of the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4826777A (en) Making a photoresponsive array
Guo et al. Ferro-pyro-phototronic effect in monocrystalline 2D ferroelectric perovskite for high-sensitive, self-powered, and stable ultraviolet photodetector
Guan et al. A monolithic artificial iconic memory based on highly stable perovskite-metal multilayers
JPH11505377A (ja) 半導体装置
KR101343890B1 (ko) 광전 변환 소자, 반도체 장치 및 전자 기기
CA3089058C (en) Voltage-mode photosensitive device
WO2020003564A1 (ja) グラフェンを用いた電子デバイス、その製造方法及びそれを備えた電磁波検出器
US9748425B2 (en) Photoelectric conversion element and photovoltaic cell
US8552358B2 (en) Quantum tunneling photodetector array including electrode nano wires
CN103681895A (zh) 一种基于碳纳米管的红外成像探测器及其制备方法
CN102257617B (zh) 光矩阵器件的制造方法
Cao et al. A Dual‐Functional Perovskite‐Based Photodetector and Memristor for Visual Memory
Kumar et al. Highly transparent reconfigurable non-volatile multilevel optoelectronic memory for integrated self-powered brain-inspired perception
Sumanth et al. A review on realizing the modern optoelectronic applications through persistent photoconductivity
WO2018195383A1 (en) Two-dimensional material with electroactivity and photosensitivity
Wei et al. High-performance self-driven photodetectors based on self-polarized Bi0. 9Eu0. 1FeO3/Nb-doped SrTiO3 pn heterojunctions
JPS63271984A (ja) 光メモリ、光記録方法および光メモリの製法
JPH0261895A (ja) 光記憶素子
GB2164792A (en) A semiconductor device
CN115633510B (zh) 钙钛矿紫外-x射线焦平面阵列探测器及其制备方法
JP7029639B2 (ja) ペロブスカイト型化合物を含む光電変換層を備える光センサ及びそれを用いた光検出装置
CN212571009U (zh) 红外探测器及红外成像仪
CN110310972B (zh) 光电探测器以及制备方法
CN116529571A (zh) 电磁波检测器以及电磁波检测器阵列
Miyasaka Design of intelligent optical sensors with organized bacteriorhodopsin films