JPH02598A - 集積回路カード - Google Patents
集積回路カードInfo
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- JPH02598A JPH02598A JP63252172A JP25217288A JPH02598A JP H02598 A JPH02598 A JP H02598A JP 63252172 A JP63252172 A JP 63252172A JP 25217288 A JP25217288 A JP 25217288A JP H02598 A JPH02598 A JP H02598A
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- G06K19/07728—Physical layout of the record carrier the record carrier comprising means for protection against impact or bending, e.g. protective shells or stress-absorbing layers around the integrated circuit
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- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
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- H01L23/49855—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers for flat-cards, e.g. credit cards
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、その内部にIC要素を搭載した平坦な本体よ
りなる集積回路カードに関する。以下にはこの集積回路
(IC)カードとは記述された種類のものを言うものと
する。
りなる集積回路カードに関する。以下にはこの集積回路
(IC)カードとは記述された種類のものを言うものと
する。
〔従来の技術並びに発明が解決しようとする課題〕記述
された種類のICカードは典型的には積属工程の中でそ
の内部にIC要素が保護された積層構造よりなる。この
種のカードが国際的に承認された基準特に厚みに対する
基準を満たす必要があると、IC要素をJj[されたプ
ラスチンクカードに埋め込むことはかなり難しくなる。
された種類のICカードは典型的には積属工程の中でそ
の内部にIC要素が保護された積層構造よりなる。この
種のカードが国際的に承認された基準特に厚みに対する
基準を満たす必要があると、IC要素をJj[されたプ
ラスチンクカードに埋め込むことはかなり難しくなる。
この様な国際的基準は金融処理または身分証明の目的に
用いられるICカードに対して適用される。
用いられるICカードに対して適用される。
さらに、ICカード内のIC要素は製造中及び通常の使
用中にかなりの機械的ストレスに耐えなければならない
が、その種のカードでIC要素内に使用されるシリコン
の面積が相対的に広くかつ薄ければシリコンのもろい性
質のためにこの問題は一層深刻になる。
用中にかなりの機械的ストレスに耐えなければならない
が、その種のカードでIC要素内に使用されるシリコン
の面積が相対的に広くかつ薄ければシリコンのもろい性
質のためにこの問題は一層深刻になる。
IC要素内のストレスを和らげるための種々の方法が提
五されたが、それらの方法は使用中にカード自身に過度
のストレスを与えるものであった。
五されたが、それらの方法は使用中にカード自身に過度
のストレスを与えるものであった。
〔課題を解決するための手段並びに作用〕本発明によれ
ば、記述される種類の集積回路カードはさらにIC要素
と本体の表面の1つとの間に位置するストレス減少部材
を具備し、ストレス減少部材はカード本体のIC要素に
近接する部分のみを剛直化してIC要素にかかるストレ
スを減少せしめる。
ば、記述される種類の集積回路カードはさらにIC要素
と本体の表面の1つとの間に位置するストレス減少部材
を具備し、ストレス減少部材はカード本体のIC要素に
近接する部分のみを剛直化してIC要素にかかるストレ
スを減少せしめる。
本発明者等はストレス減少部材を設計し、それはIC要
素に対してカード製造及びカード使用中に加わるストレ
スを減少し、カード自身に対して(a)これらの環境及
び(b)ストレス減少部材によってカード本体内に導入
される不連続性から生ずる過度のストレスを回避する。
素に対してカード製造及びカード使用中に加わるストレ
スを減少し、カード自身に対して(a)これらの環境及
び(b)ストレス減少部材によってカード本体内に導入
される不連続性から生ずる過度のストレスを回避する。
ストレス減少部材はIC要素に近接する領域の外側にお
いてカード本体を著しく剛直化するものではない。
いてカード本体を著しく剛直化するものではない。
剛直化効果は製造時においてもその後の使用時において
も有益である。
も有益である。
好ましい配置において、ストレス減少部材はカード本体
内に横に伸びる少なくとも1つの突出部分を具備してい
る。ストレス減少部材のこの形によって部材の中心から
突出部分の端部までに徐々に剛直性が変化し、IC要素
内に過度の曲げストレスが発生することとカード本体と
ストレス減少部材との間の遷移領域におけるカード内に
過度のストレスが発生することを回避している。
内に横に伸びる少なくとも1つの突出部分を具備してい
る。ストレス減少部材のこの形によって部材の中心から
突出部分の端部までに徐々に剛直性が変化し、IC要素
内に過度の曲げストレスが発生することとカード本体と
ストレス減少部材との間の遷移領域におけるカード内に
過度のストレスが発生することを回避している。
別な配置において、突出部分を持つかまたは持たないス
トレス減少部材はその中心からその境界にかけてテーバ
を有し中心方向へ剛直性を徐々に増加させている。
トレス減少部材はその中心からその境界にかけてテーバ
を有し中心方向へ剛直性を徐々に増加させている。
剛直性は要素(プラスチックカード本体またはストレス
減少部材)がゆがむときの負荷及び支持条件の程度を考
慮して測定できる。
減少部材)がゆがむときの負荷及び支持条件の程度を考
慮して測定できる。
成る例においては単一のストレス減少部材が設けられる
。しかしながら、好適な配置においては2つの部材がI
C要素の両側上に設けられる。好適には、それぞれが少
な(とも1つの突出部分を待つ場合において、一方の部
材の該または各突出部分は他方の部材の各突き出し部分
からの角偏位を有している。
。しかしながら、好適な配置においては2つの部材がI
C要素の両側上に設けられる。好適には、それぞれが少
な(とも1つの突出部分を待つ場合において、一方の部
材の該または各突出部分は他方の部材の各突き出し部分
からの角偏位を有している。
好適には、中央部分は少なくともIC要素をカバーする
面積を持つ。このことはストレス減少部材の作用を最適
化する。
面積を持つ。このことはストレス減少部材の作用を最適
化する。
好適には、前記または各ストレス減少部材は奇数の突出
部分を有する。このことは部材の中央部を通ってカード
内に伸びる“ストレスの輔°“の発生を回避する。
部分を有する。このことは部材の中央部を通ってカード
内に伸びる“ストレスの輔°“の発生を回避する。
好適な配置において、前記または各ストレス減少部材は
星形である。本発明者等はこのことにより星の先端の外
部境界から星の中央部まで徐々に開直性が増加し、カー
ド本体のストレス条件の急激な変化が回避されることを
見い出した。
星形である。本発明者等はこのことにより星の先端の外
部境界から星の中央部まで徐々に開直性が増加し、カー
ド本体のストレス条件の急激な変化が回避されることを
見い出した。
前記または各ストレス減少部材はステンレス鋼または真
ちゅうのような金属を具備しても良く、その他の金属で
も良い。合圧のような熱の良導体でストレス減少部材を
つくる特別な利益としては、部材がIC要素に対する放
熱材として働くことである。
ちゅうのような金属を具備しても良く、その他の金属で
も良い。合圧のような熱の良導体でストレス減少部材を
つくる特別な利益としては、部材がIC要素に対する放
熱材として働くことである。
代表的には、前記または各ストレス減少部材は“列理”
構造を持つ、すなわちローリング加工した金属である。
構造を持つ、すなわちローリング加工した金属である。
この場合において列理はカード本体の長手方向に対して
直角に伸びることが好ましい。
直角に伸びることが好ましい。
代表的には、カー、ド本体は通常の積層工程で製造され
る。この場合において、カードの積層物はストレス減少
部材、IC要素、及びIC要素に対する任意の担体に合
った形に変形されなければならない。好ましくは、内部
(コア)の層はこれらの部品の形に合った形で最小数に
保たれる。各コア層は好ましくはその形を受は入れると
ころの部品に実質的に等しい厚みを有する。
る。この場合において、カードの積層物はストレス減少
部材、IC要素、及びIC要素に対する任意の担体に合
った形に変形されなければならない。好ましくは、内部
(コア)の層はこれらの部品の形に合った形で最小数に
保たれる。各コア層は好ましくはその形を受は入れると
ころの部品に実質的に等しい厚みを有する。
IC要素を担う柔軟で平坦な基板とIC要素の両面上の
1対のストレス減少部材とでモジュールを構成すること
が特に有利である。その次にこのモジエールはカード内
に積層される。
1対のストレス減少部材とでモジュールを構成すること
が特に有利である。その次にこのモジエールはカード内
に積層される。
好ましくは、前記または各ストレス減少部材はカード本
体に接合されない。このことは曲がるときに部材と本体
との間での相対的な動きを可能にする。加えて部材は好
ましくはIC要素に対する担体に堅く接合されない。例
えば両面粘着テープによって接合すれば柔軟な接合が可
能である。
体に接合されない。このことは曲がるときに部材と本体
との間での相対的な動きを可能にする。加えて部材は好
ましくはIC要素に対する担体に堅く接合されない。例
えば両面粘着テープによって接合すれば柔軟な接合が可
能である。
一般にIC要素は担体上に設けられ、それはさらにIC
要素上の接触子をICカードの接触子を介してICカー
ドの端子と接続することを可能とする手段をさらに具備
している。これらの環境において単一のストレス減少部
材が設けられるとすればこれは好ましくはTCJj素の
ICカード接触子とは反対側に設けられる。
要素上の接触子をICカードの接触子を介してICカー
ドの端子と接続することを可能とする手段をさらに具備
している。これらの環境において単一のストレス減少部
材が設けられるとすればこれは好ましくはTCJj素の
ICカード接触子とは反対側に設けられる。
以下に本発明に係る集積回路カードの例を図面を参照し
て説明する。
て説明する。
本発明に係るICカードは第1図及び第4図に見られる
如く多数のプラス千ンク層1〜7を有する積層板を具備
している。プラスチック層1〜7は代表的にはPVC、
PVCAまたは同様な材料よりなっている。これらの層
の厚みは以下の表1に示されている。
如く多数のプラス千ンク層1〜7を有する積層板を具備
している。プラスチック層1〜7は代表的にはPVC、
PVCAまたは同様な材料よりなっている。これらの層
の厚みは以下の表1に示されている。
表 1
層 数 予備積11!i厚み(n)(6)
is。
is。
積層後において、カード全体の厚みは約780庫IC減
少する。
少する。
各層はシートがローリング及びカレンダー加工される工
程において分子構造の一部の配向を生じるため列理(g
rain)を有している。その結渠各層は列理に沿うよ
りも列理に交わる方向で“剛直′。
程において分子構造の一部の配向を生じるため列理(g
rain)を有している。その結渠各層は列理に沿うよ
りも列理に交わる方向で“剛直′。
となる。各層の列理の方向は第1図において矢印1′〜
7′でそれぞれ示されており、層2及び6の列理の方向
はその他の層のそれに直交していることがわかる。これ
らの層2,6は典型的には不透明でその外側に面する表
面に印刷が施されている。それらは他の層と比べて薄く
カードの外側方向に位置するので、これらの層の列理の
大きさよりも小さい範囲でカードが曲げられるとこれら
2つの層が割れる危険性が非常に高い。これらの層の列
理の方向を変える理由はこうすれば印刷層が割れる危険
性が小さくなるからである。同時に、すべての方向にわ
たって屈曲に対する抵抗性がほぼ同程度になる。これら
の改良により寿命が長くなる。仮にすべての層が同一方
向に列理が並んでいれば、列理に交わる軸で°′剛直″
である。このことは好ましいことではなく、その理由は
曲げ/ねじれの観点から、カードはICモジュール(後
述)の゛ストレス減少パ部材に関してすべての方向に等
しく柔軟であることが好まれるからである。
7′でそれぞれ示されており、層2及び6の列理の方向
はその他の層のそれに直交していることがわかる。これ
らの層2,6は典型的には不透明でその外側に面する表
面に印刷が施されている。それらは他の層と比べて薄く
カードの外側方向に位置するので、これらの層の列理の
大きさよりも小さい範囲でカードが曲げられるとこれら
2つの層が割れる危険性が非常に高い。これらの層の列
理の方向を変える理由はこうすれば印刷層が割れる危険
性が小さくなるからである。同時に、すべての方向にわ
たって屈曲に対する抵抗性がほぼ同程度になる。これら
の改良により寿命が長くなる。仮にすべての層が同一方
向に列理が並んでいれば、列理に交わる軸で°′剛直″
である。このことは好ましいことではなく、その理由は
曲げ/ねじれの観点から、カードはICモジュール(後
述)の゛ストレス減少パ部材に関してすべての方向に等
しく柔軟であることが好まれるからである。
ローリング及び/またはカレンダー加工によって形成さ
れるプラスチ、り層1〜7の場合において、°“列理“
′は加工処理の長手方向、すなわち加工装置をプラスチ
ックが通過する方向に伸びると考えられる。典型的には
、これはプラスチックが加熱されると優勢に縮む方向で
ある。
れるプラスチ、り層1〜7の場合において、°“列理“
′は加工処理の長手方向、すなわち加工装置をプラスチ
ックが通過する方向に伸びると考えられる。典型的には
、これはプラスチックが加熱されると優勢に縮む方向で
ある。
カード内には[、Cモジュール10 (第2図) カ埋
め込まれており、それは担体となるカプトン(Kapt
on)のようなポリイミド層12B上の銅層12Aによ
って形成されるチップ担体12に搭載された日立659
01のような単一チップのマイクロコンピュータである
チップ11よりなっている。チップ担体12は層4の開
口部8内に収容される。
め込まれており、それは担体となるカプトン(Kapt
on)のようなポリイミド層12B上の銅層12Aによ
って形成されるチップ担体12に搭載された日立659
01のような単一チップのマイクロコンピュータである
チップ11よりなっている。チップ担体12は層4の開
口部8内に収容される。
以下に詳細に説明する様に、チップll上の接触子はチ
ップ爪体12上の銅層12Aよりなる導体を介して層1
〜3を貫く接触部材21と結合することによってカード
読み取り機と電気的に接触することが可能となる。
ップ爪体12上の銅層12Aよりなる導体を介して層1
〜3を貫く接触部材21と結合することによってカード
読み取り機と電気的に接触することが可能となる。
完成したカードにおいて、層1.7は透明で層2.6上
の印刷が使用者に見えるようになっている。
の印刷が使用者に見えるようになっている。
第2図に示されたモジュールは別々のユニットとして造
られその後層1〜7と共に積層される。
られその後層1〜7と共に積層される。
チップ担体12はカプトン層12Bにエポキシで接着し
た鋼箔の層12A(厚さ35声)をその上に設けたカプ
トン(ボッイシド)基1反12B(厚さ75卿)から切
り出される。銅はエツチングされて第3図により詳細に
示されるような導体パターンを3足イ共する。さらにカ
プトンにはパンチされてチップ11を収容する開口部2
2が設けられる。
た鋼箔の層12A(厚さ35声)をその上に設けたカプ
トン(ボッイシド)基1反12B(厚さ75卿)から切
り出される。銅はエツチングされて第3図により詳細に
示されるような導体パターンを3足イ共する。さらにカ
プトンにはパンチされてチップ11を収容する開口部2
2が設けられる。
第3図には導体パターンは接触部材21が個々に接合さ
れる8つの接触バンド23A〜23I(を定めているこ
とが示されている。さらに、導体パターンはパターンの
周辺に広がる外側の接地平面24を有している。接触パ
ッド23A〜23F(は線対称の軸25に関して本質的
に対称に配置されていることに注目すべきである。
れる8つの接触バンド23A〜23I(を定めているこ
とが示されている。さらに、導体パターンはパターンの
周辺に広がる外側の接地平面24を有している。接触パ
ッド23A〜23F(は線対称の軸25に関して本質的
に対称に配置されていることに注目すべきである。
接触パッド23Aはチップ11の機能接触子26と接続
されており、接触パッド23Bはチップの機能接触子2
7と接続されており、接触パッド23Cはチップの機能
接触子28と接続されて参り、接触パッド23Gはチッ
プ11の機能接触子29と接続されている。2つの機能
接触子30は接触パッド23Eと同様に接地平面24に
接続されている。
されており、接触パッド23Bはチップの機能接触子2
7と接続されており、接触パッド23Cはチップの機能
接触子28と接続されて参り、接触パッド23Gはチッ
プ11の機能接触子29と接続されている。2つの機能
接触子30は接触パッド23Eと同様に接地平面24に
接続されている。
接触パッド23D、23F及び23Hは絶縁されている
。
。
さらに、チップ11の多数の非機能的接触子31はそれ
ぞれ導体パターンの短い導体32に接続されてチップ1
1に近接する導体パターンの配置が線対称の軸25に関
して実質的に対称となっている。さらに、M!!録され
た導体34が対称的配置を完成すべく設けられている。
ぞれ導体パターンの短い導体32に接続されてチップ1
1に近接する導体パターンの配置が線対称の軸25に関
して実質的に対称となっている。さらに、M!!録され
た導体34が対称的配置を完成すべく設けられている。
この場合において、導体パターンは第3図の左側にある
チップ11の10個の接触子と右側の9個の接触子とに
接合されていることがわがる。接合された接触子の位置
の数におけるこの小さな相違は受は入れ可能であり゛実
質的に対称°゛という言葉はこのように解釈されるべき
である。導体に接続される接触子のこの実質的に対称な
配置はチップ11が担体12の開口部22内に安全に支
持されることを可能にし、開口部22内でチップ11が
過度にねじられる恐れを減少する一方、I旦体12に関
してチップの動きに多少の自由度を与える。この動きの
自由度はICモジュール1oの製造中、ICカードの積
層力肛Φ、及びその後のICカードの使用中におけるチ
ップ及びその接続に対する用傷を防止するために必要で
ある。開口部22内においてチップ担体12に関しての
チップ11の過度のひねりはrC接続点に過剰なストレ
スを生しる結果となる、 導体パターンの残りの部分もまた線対称の軸25に関し
て実質的に対称である。この接続において、例えば接触
パッド23Fはチップ11と接続されないにもかかわら
ず、導体の線35は接触パッド23Bから接触子27へ
伸びる導体の線36と同様に接触パッド23Fからチッ
プ11に近接する位置まで伸びていることに注目すべき
である。このことは銅層12Aがねじれる傾向、すなわ
ち積層前、積層加工中、及び積層後のある期間において
導体間の結合を弱める傾向を克服する上で助けとなる。
チップ11の10個の接触子と右側の9個の接触子とに
接合されていることがわがる。接合された接触子の位置
の数におけるこの小さな相違は受は入れ可能であり゛実
質的に対称°゛という言葉はこのように解釈されるべき
である。導体に接続される接触子のこの実質的に対称な
配置はチップ11が担体12の開口部22内に安全に支
持されることを可能にし、開口部22内でチップ11が
過度にねじられる恐れを減少する一方、I旦体12に関
してチップの動きに多少の自由度を与える。この動きの
自由度はICモジュール1oの製造中、ICカードの積
層力肛Φ、及びその後のICカードの使用中におけるチ
ップ及びその接続に対する用傷を防止するために必要で
ある。開口部22内においてチップ担体12に関しての
チップ11の過度のひねりはrC接続点に過剰なストレ
スを生しる結果となる、 導体パターンの残りの部分もまた線対称の軸25に関し
て実質的に対称である。この接続において、例えば接触
パッド23Fはチップ11と接続されないにもかかわら
ず、導体の線35は接触パッド23Bから接触子27へ
伸びる導体の線36と同様に接触パッド23Fからチッ
プ11に近接する位置まで伸びていることに注目すべき
である。このことは銅層12Aがねじれる傾向、すなわ
ち積層前、積層加工中、及び積層後のある期間において
導体間の結合を弱める傾向を克服する上で助けとなる。
加えて、銅のパターン12Aはその剛性率を弱めるため
に33A 、 33B 、 33Cにおいて分離されて
いて、チップ担体にはカードが曲げられた城より容易に
曲がる。銅のパターンは対称軸25に沿って33Aにお
いて分けられており、33Aの部分に直角でそしてつな
がった状態で33Bの部分の銅がエツチングで除かれて
おり、33Cの部分においても銅がエツチングで除かれ
ている。
に33A 、 33B 、 33Cにおいて分離されて
いて、チップ担体にはカードが曲げられた城より容易に
曲がる。銅のパターンは対称軸25に沿って33Aにお
いて分けられており、33Aの部分に直角でそしてつな
がった状態で33Bの部分の銅がエツチングで除かれて
おり、33Cの部分においても銅がエツチングで除かれ
ている。
I旦体12の角37は担体の角におけるカード層内のス
トレスの分布を弱めるために丸められている。
トレスの分布を弱めるために丸められている。
モジュールを構成するにあたって、その第1段階は前述
の導体パターンを形成することである。
の導体パターンを形成することである。
次の段階は接触部材21を接触パッド23A〜23■(
に接合することである。
に接合することである。
この段階に続いて、ICチップ11は開口部22内に置
かれ、第3図に示すようにそして前述したように、チッ
プの接触子は開口部22へはみ出す形の導体の内側の端
部に接合される。選ばれた方法はテープ自動ボンディン
グ(TAB)である。TABは(ワイヤボンディングと
比べて)接合強度が大で、信頼性が高く、機械的構成が
優れ、パッケージが薄くなるという点でワイヤボンディ
ングより好ましい。
かれ、第3図に示すようにそして前述したように、チッ
プの接触子は開口部22へはみ出す形の導体の内側の端
部に接合される。選ばれた方法はテープ自動ボンディン
グ(TAB)である。TABは(ワイヤボンディングと
比べて)接合強度が大で、信頼性が高く、機械的構成が
優れ、パッケージが薄くなるという点でワイヤボンディ
ングより好ましい。
TABではICチップ11には内側のリード線がチップ
を担体へ接続することが可能となるように特定の高さと
堅実性のある゛°隆起”した接触子があることが必要と
される。隆起は通常、チップのアルミニウム接触子上に
金を沈着させて形成される。
を担体へ接続することが可能となるように特定の高さと
堅実性のある゛°隆起”した接触子があることが必要と
される。隆起は通常、チップのアルミニウム接触子上に
金を沈着させて形成される。
接合が終了した後、樹脂、(ポリウレタン)の塗布物5
0(第4図)がICチップ11の表面と内側のリード線
の上に塗られ、積層に先立ってチップ接触子と導体との
接合を機械的及び光学的に保護する。この塗布物50は
″“グローブトップ(球状の頂部)”として知られてい
る。
0(第4図)がICチップ11の表面と内側のリード線
の上に塗られ、積層に先立ってチップ接触子と導体との
接合を機械的及び光学的に保護する。この塗布物50は
″“グローブトップ(球状の頂部)”として知られてい
る。
2つの星形の部材15 、16が次にチップ担体12へ
接合される。これらの部材15 、16は金属でありし
たがってプラスチック層1〜7よりも剛直である。部材
15 、16はチップ11周辺のカード本体を局部的に
剛直にし、補強を強化して接触子と導体との接合を保護
する。部材15 、16はカードの積層中及びカード使
用中に接触子と導体との接合にががる機械的ストレスを
減らすストレス緩和部材である。カードにかかるストレ
ス条件が該部材のために急激に変化することを避けるた
め、部材とカード積層との境界は第2図に示すごとく“
星”形をしている。星形の外形をとることにより星の足
40からなる外部境界から破線で示された中央部41へ
と剛直性が徐々に増加する。
接合される。これらの部材15 、16は金属でありし
たがってプラスチック層1〜7よりも剛直である。部材
15 、16はチップ11周辺のカード本体を局部的に
剛直にし、補強を強化して接触子と導体との接合を保護
する。部材15 、16はカードの積層中及びカード使
用中に接触子と導体との接合にががる機械的ストレスを
減らすストレス緩和部材である。カードにかかるストレ
ス条件が該部材のために急激に変化することを避けるた
め、部材とカード積層との境界は第2図に示すごとく“
星”形をしている。星形の外形をとることにより星の足
40からなる外部境界から破線で示された中央部41へ
と剛直性が徐々に増加する。
円盤の“剛直性′°はその直径の自乗に逆比例し厚みの
3乗に比例することに注目すべきである。
3乗に比例することに注目すべきである。
部材15 、16はチップ11の上方と下方とに搭載さ
れ、カードの曲げ及びひねりの間に部材と積層との間で
相対的な動きを可能にするため部材を積層に接合しない
ことが有利であると考えられる。
れ、カードの曲げ及びひねりの間に部材と積層との間で
相対的な動きを可能にするため部材を積層に接合しない
ことが有利であると考えられる。
部材15 、16はそれぞれ柔軟で両面が粘着性のある
テープ51 、52でチップ担体12へ固定されている
が、別な形式の柔軟な接合もまた使用可能である。しか
しながら、上方の部材15とチップ担体12との接合に
使用される方法は上方の部材15が導体パターンと接触
することから電気絶縁性であることが重要である。
テープ51 、52でチップ担体12へ固定されている
が、別な形式の柔軟な接合もまた使用可能である。しか
しながら、上方の部材15とチップ担体12との接合に
使用される方法は上方の部材15が導体パターンと接触
することから電気絶縁性であることが重要である。
この例において上方の部材15はハードローリング加工
の真ちゅう製であり厚さが約50mである。下方の部材
16は厚さ約15Onのハードロ−リング加工の真ちゅ
う製である。厚い方の下方の部材16にはチップ11の
チップ担体12の下方に突出する部分に適合する加工し
たくぼみ53(第4図)を設けることによってチップ1
1周辺にエアポケットを設けることができる。
の真ちゅう製であり厚さが約50mである。下方の部材
16は厚さ約15Onのハードロ−リング加工の真ちゅ
う製である。厚い方の下方の部材16にはチップ11の
チップ担体12の下方に突出する部分に適合する加工し
たくぼみ53(第4図)を設けることによってチップ1
1周辺にエアポケットを設けることができる。
別の例において、ステンレス鋼または銅ニツケル合金の
ような別の金属が使用可能である。加えて、上方の部材
15は真ちゅうのような下方の部材16とは異なる金属
例えばステンレス鋼でも良い。さらには、下方の部材1
6は上方の部材15と同様に約50−の厚みでくぼみの
ない形にすることもできる。この場合において、生ずる
空間は両面粘着テープのような適切な材料で満たされ、
これがチップ11のチップ担体12の下方へ突出する部
分に沿って形成される空洞を許し、さらには下方の部材
16及びチップ担体I2との柔軟な接合を可能とする。
ような別の金属が使用可能である。加えて、上方の部材
15は真ちゅうのような下方の部材16とは異なる金属
例えばステンレス鋼でも良い。さらには、下方の部材1
6は上方の部材15と同様に約50−の厚みでくぼみの
ない形にすることもできる。この場合において、生ずる
空間は両面粘着テープのような適切な材料で満たされ、
これがチップ11のチップ担体12の下方へ突出する部
分に沿って形成される空洞を許し、さらには下方の部材
16及びチップ担体I2との柔軟な接合を可能とする。
上方の部材15を接着するための両面粘着テープ51に
グローブトップ50に合わせて開口部を設ける必要はな
く、その理由はテープには充分に柔軟性がありその中に
グローブトップを押し込める(カードを積層する間に)
ことができるからである。
グローブトップ50に合わせて開口部を設ける必要はな
く、その理由はテープには充分に柔軟性がありその中に
グローブトップを押し込める(カードを積層する間に)
ことができるからである。
部材15 、16が両方とも同じ厚さの約50−である
場合において、各両面テープの典型的な厚さは上方の部
材に対して85μ、下方の部材に対して約1501IT
aであることに注意すべきである。また、上方の部材の
厚みが約504で下方の部材16の厚みが約150−で
ある場合には各両面テープの典型的な厚みは部材15
、16の双方に対して85IAaであることに注意すべ
きである。
場合において、各両面テープの典型的な厚さは上方の部
材に対して85μ、下方の部材に対して約1501IT
aであることに注意すべきである。また、上方の部材の
厚みが約504で下方の部材16の厚みが約150−で
ある場合には各両面テープの典型的な厚みは部材15
、16の双方に対して85IAaであることに注意すべ
きである。
各部材15 、16は奇数の足40(この例では7個)
を有するのでカード積面中に形成され星形の中心を通っ
て拡がる“ストレスの軸”の形成を避けることができる
ことに注目されよう。このこともまた上方の部材15の
足40を接触部材21に好都合に適合させることを可能
にする。
を有するのでカード積面中に形成され星形の中心を通っ
て拡がる“ストレスの軸”の形成を避けることができる
ことに注目されよう。このこともまた上方の部材15の
足40を接触部材21に好都合に適合させることを可能
にする。
この例において、上方の部材15の中央部41の直径は
チップ11の対角寸法に対応して設定され、例えば9m
mであり、外側の境界(足40の先端で決まる)は13
mmでチップ担体12と接触配置物の幅に適合している
。下方の部材16に対しては、中央部はチップ担体12
の幅に合わせて設定されて約15amの直径であり、外
側の境界は約21nmの直径のカードの境界に適合して
設定されている。好ましくは、2つの部材15 、16
はストレスの集中を避は得るように足40が並ばない様
に位置が定められる。
チップ11の対角寸法に対応して設定され、例えば9m
mであり、外側の境界(足40の先端で決まる)は13
mmでチップ担体12と接触配置物の幅に適合している
。下方の部材16に対しては、中央部はチップ担体12
の幅に合わせて設定されて約15amの直径であり、外
側の境界は約21nmの直径のカードの境界に適合して
設定されている。好ましくは、2つの部材15 、16
はストレスの集中を避は得るように足40が並ばない様
に位置が定められる。
はとんどの例において、各部材15 、16は一定の厚
みを持っているが、成る場合には内側の輪から足へ向か
って成る程度のテーパが設けられる。
みを持っているが、成る場合には内側の輪から足へ向か
って成る程度のテーパが設けられる。
完成したモジュール10(第2図)はPVCカード層1
〜7の中に積層されて組み上げられる。
〜7の中に積層されて組み上げられる。
モジュールはチップ担体12に合う形状の層4内のパン
チされた開口部8内に置かれる。層5は下方の部材16
に合ったパンチされた星形の開口部を有し、層3は上方
のストレス減少部材15に合う足形を有するパンチされ
た開口部と接触部材21が突き抜ける8個のパンチされ
た開口部21′の1組とを有している。さらに、Ill
、2は8個のパンチされた開口部の組を有し、その1組
は13で示されておりそれを通して接触部材21が伸び
てrfJlの外部表面に顔を出す。
チされた開口部8内に置かれる。層5は下方の部材16
に合ったパンチされた星形の開口部を有し、層3は上方
のストレス減少部材15に合う足形を有するパンチされ
た開口部と接触部材21が突き抜ける8個のパンチされ
た開口部21′の1組とを有している。さらに、Ill
、2は8個のパンチされた開口部の組を有し、その1組
は13で示されておりそれを通して接触部材21が伸び
てrfJlの外部表面に顔を出す。
チップ担体12の向きは層1〜7の長軸に直角であるこ
とに注目される。この向きはカードの曲げ及びねじれの
観点から最良である。
とに注目される。この向きはカードの曲げ及びねじれの
観点から最良である。
モジュールを含んで組み上げられた予備積層品は通常の
積層用機械(熱処理)により積層される。
積層用機械(熱処理)により積層される。
通常の(プラスチックの身分証明用カード)積層技術で
は積層用組み上げ物を予熱したプレス内に置き即座に全
圧力(積層シートも共に圧縮)をかける、別な方法では
印加する圧力は徐々に増加される。例えば、プレスは1
40°Cに予熱され、段階的に圧力がかけられる。最後
に、積層品は最高圧力を維持しながら約10分間冷却さ
れる。
は積層用組み上げ物を予熱したプレス内に置き即座に全
圧力(積層シートも共に圧縮)をかける、別な方法では
印加する圧力は徐々に増加される。例えば、プレスは1
40°Cに予熱され、段階的に圧力がかけられる。最後
に、積層品は最高圧力を維持しながら約10分間冷却さ
れる。
積層の工程中にチップ11と接触子と導体との接合は曲
げによる過度の圧縮ストレスを受けないようにすること
が重要である。シリコン材料は圧縮破壊強度が1500
01 b / 1nch”であるが引張破壊強度は30
001. b / i nch ”に過ぎない。
げによる過度の圧縮ストレスを受けないようにすること
が重要である。シリコン材料は圧縮破壊強度が1500
01 b / 1nch”であるが引張破壊強度は30
001. b / i nch ”に過ぎない。
部材15 、16はチップ11及び接触子/導体間の接
合内の好ましくない引張ストレスに対する主要な抵抗ど
なり得るが、それに加えて下方の部材16の加工された
くぼみ53によって定まる空気で満たされた空洞内のチ
ップの“ボケッl−”も役に立っている。これは周囲の
気体(空気)は容易に圧縮可能であるので積層加工中の
圧縮力を均一にチップに伝えチップ11に曲げによる好
ましくない引張ストレスを与えないからである。
合内の好ましくない引張ストレスに対する主要な抵抗ど
なり得るが、それに加えて下方の部材16の加工された
くぼみ53によって定まる空気で満たされた空洞内のチ
ップの“ボケッl−”も役に立っている。これは周囲の
気体(空気)は容易に圧縮可能であるので積層加工中の
圧縮力を均一にチップに伝えチップ11に曲げによる好
ましくない引張ストレスを与えないからである。
好適なストレス減少部材15 、16はハードローリン
グ加工のステンレス鋼や真ちゅうのような列理を呈する
金属でつくられる。このことにより該部材はハードロー
リング加工によって自然に湾曲し、それは部材が平らに
されても゛記憶“°される。したがって効果を最大にす
るためにはこの列理がカードを横切ってすなわちカード
の短い方向に伸びるのに対して部材15 、16双方の
自然なそりまたは湾曲がカードの外側にあればそれは好
ましいことである0部材15 、16の列理の方向は第
2図において矢印54で示される。
グ加工のステンレス鋼や真ちゅうのような列理を呈する
金属でつくられる。このことにより該部材はハードロー
リング加工によって自然に湾曲し、それは部材が平らに
されても゛記憶“°される。したがって効果を最大にす
るためにはこの列理がカードを横切ってすなわちカード
の短い方向に伸びるのに対して部材15 、16双方の
自然なそりまたは湾曲がカードの外側にあればそれは好
ましいことである0部材15 、16の列理の方向は第
2図において矢印54で示される。
以上述べてきたように本発明によれば、搭載されたIC
要素及びその接合に対して、製造中及びその後の使用中
において加わるストレスを減少したrcカードが捉供さ
れる。
要素及びその接合に対して、製造中及びその後の使用中
において加わるストレスを減少したrcカードが捉供さ
れる。
第1図はカードを分解した図、
第2図はICモジュールの外観図、
第3図はICモジュールの担体要素上に設けられる導体
パターンの図、 第4図はカードの一部の拡大断面図である。 図において、 10・・・ICモジュール、 11・・・IC要素、 12・・・担体、15 、
16・・・ストレス減少部材。
パターンの図、 第4図はカードの一部の拡大断面図である。 図において、 10・・・ICモジュール、 11・・・IC要素、 12・・・担体、15 、
16・・・ストレス減少部材。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、内部にIC要素(11)を搭載した平坦な本体を具
備し、さらに該IC要素(11)と該本体の表面の1つ
との間に位置するストレス減少部材(15、16)を具
備し、該ストレス減少部材はカード本体のIC要素に近
接する部分のみを剛直化してIC要素にかかるストレス
を減少せしめる集積回路カード。 2.2つのストレス減少部材(15、16)が前記IC
要素(11)の両面上に設けられる請求項1記載のカー
ド。 3、前記または各ストレス減少部材(15、16)はカ
ード本体に横に伸びる少なくとも1つの突出部分(40
)を有する請求項1または2記載のカード。 4、一方の部材の前記または各突出部分(40)は他方
の部材の各突出部分からの角偏位を有する請求項3記載
のカード。 5、前記または各ストレス減少部材(15、16)は奇
数の突出部分(40)を有する請求項3または4記載の
カード。 6、前記または各ストレス減少部材(15、16)は少
なくともIC要素をカバーする面積を持つ中央部(41
)を有する請求項1〜5のいずれか1項記載のカード。 7、前記または各ストレス減少部材(15、16)は星
形を有する請求項1〜6のいずれか1項記載のカード。 8、前記または各ストレス減少部材(15、16)は“
列理”構造を有する材料より形成され、該ストレス減少
部材は列理がカード本体の長手方向に直角に伸びるよう
に配置される請求項1〜7のいずれか1項記載のカード
。 9、前記または各ストレス減少部材(15、16)は金
属製である請求項1〜8のいずれか1項記載のカード。 10、前記または各ストレス減少部材(15、16)は
実質的に一定の厚みである請求項1〜9のいずれか1項
記載のカード。 11、前記カード本体は積層構造として形成され、前記
または各ストレス減少部材(15、16)は該積層構造
体に接合されない請求項1〜10のいずれか1項記載の
カード。 12、前記IC要素(11)は担体部材(12)に接続
されてICモジュール(10)を定め、該ICモジュー
ル(10)は前記カード本体内に支持され、前記または
各ストレス減少部材(15.16)は該担体部材(12
)に柔軟に接合される請求項1〜11のいずれか1項記
載のカード。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8723736 | 1987-10-09 | ||
GB878723736A GB8723736D0 (en) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | Integrated circuit card |
GB888810389A GB8810389D0 (en) | 1988-05-03 | 1988-05-03 | Integrated circuit card |
GB8810389.0 | 1988-05-03 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02598A true JPH02598A (ja) | 1990-01-05 |
Family
ID=26292861
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63252172A Pending JPH02598A (ja) | 1987-10-09 | 1988-10-07 | 集積回路カード |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0311434A3 (ja) |
JP (1) | JPH02598A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100447159C (zh) * | 1996-05-24 | 2008-12-31 | 菲罗根有限责任公司 | 结合纤连蛋白ed-b结构域的抗体及其构建和应用 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE9100665U1 (de) * | 1991-01-21 | 1992-07-16 | TELBUS Gesellschaft für elektronische Kommunikations-Systeme mbH, 85391 Allershausen | Trägerelement für integrierte Halbleiter-Schaltkreise, insbesondere zum Einbau in Chip-Karten |
FR2745930B1 (fr) * | 1996-03-11 | 1998-04-10 | Solaic Sa | Carte a circuit integre comportant une zone desolidarisee par une rainure |
FR2749687B1 (fr) * | 1996-06-07 | 1998-07-17 | Solaic Sa | Carte a memoire et procede de fabrication d'une telle carte |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL191959B (nl) * | 1981-03-24 | 1996-07-01 | Gao Ges Automation Org | Identificatiekaart met IC-bouwsteen en dragerelement voor een IC-bouwsteen. |
DE3153768C2 (de) * | 1981-04-14 | 1995-11-09 | Gao Ges Automation Org | Ausweiskarte |
-
1988
- 1988-10-07 EP EP88309392A patent/EP0311434A3/en not_active Withdrawn
- 1988-10-07 JP JP63252172A patent/JPH02598A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100447159C (zh) * | 1996-05-24 | 2008-12-31 | 菲罗根有限责任公司 | 结合纤连蛋白ed-b结构域的抗体及其构建和应用 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0311434A3 (en) | 1990-05-09 |
EP0311434A2 (en) | 1989-04-12 |
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