JPH0251078A - プロービングヘッド - Google Patents
プロービングヘッドInfo
- Publication number
- JPH0251078A JPH0251078A JP19982288A JP19982288A JPH0251078A JP H0251078 A JPH0251078 A JP H0251078A JP 19982288 A JP19982288 A JP 19982288A JP 19982288 A JP19982288 A JP 19982288A JP H0251078 A JPH0251078 A JP H0251078A
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- JP
- Japan
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- pin
- leads
- tips
- probe
- tip
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- Pending
Links
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000005069 ears Anatomy 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、プロービングヘッドに係り、とくに。
ブロービングを電子部品のリードに接触させて信号検査
を行うのに好適なプロービングヘッドに関する。
を行うのに好適なプロービングヘッドに関する。
従来、電子回路基板などの検査調整装置に使用されるブ
ロービングは、たとえば特開昭60−18767号公報
に記載されているように、セラミック基板と、複数のプ
ローブの探針を保持するプローブボードとの間に上記セ
ラミック基板の電極と位置合せされた穴および逃げ穴を
有する透明なアクリル板を配置し、上記穴に上記プロー
ブの探針を貫通させることによって探針を電極に接触す
るように位置合せするものが提案されている。
ロービングは、たとえば特開昭60−18767号公報
に記載されているように、セラミック基板と、複数のプ
ローブの探針を保持するプローブボードとの間に上記セ
ラミック基板の電極と位置合せされた穴および逃げ穴を
有する透明なアクリル板を配置し、上記穴に上記プロー
ブの探針を貫通させることによって探針を電極に接触す
るように位置合せするものが提案されている。
また、従来たとえば、第2図に示すように、電子回路基
板(以下単に基板という)は、図示しない位置決めピン
によって固定され、その上面には。
板(以下単に基板という)は、図示しない位置決めピン
によって固定され、その上面には。
ブロービングの対象となる電子部品2が複数搭載され、
その下面には電子部品2のリード3が突出している。
その下面には電子部品2のリード3が突出している。
一方、プロービングヘッド10上には、基板1の下面か
ら突出しているリード3と対向する位置に複数のプロー
ブピン6が配置されている。
ら突出しているリード3と対向する位置に複数のプロー
ブピン6が配置されている。
つぎにブロービング作業をする場合には、3板1とブロ
ービングボード10とが相対的に位置合せされた状態で
、ブロービングボード10を図示しないガイド部材にそ
うで上方に移動し、プローブピン6をリードに接触させ
て信号検査を行うものが実施されている。
ービングボード10とが相対的に位置合せされた状態で
、ブロービングボード10を図示しないガイド部材にそ
うで上方に移動し、プローブピン6をリードに接触させ
て信号検査を行うものが実施されている。
上記いずれの従来技術においても、電子部品の取付誤差
などによりリードとプローブピンとがそれぞれ異なる方
向で位置ずれを生じた場合について配慮がされておらず
、複数のプローブピンの先端部が複数のリードの先端部
に同時に接触しないことがあった。
などによりリードとプローブピンとがそれぞれ異なる方
向で位置ずれを生じた場合について配慮がされておらず
、複数のプローブピンの先端部が複数のリードの先端部
に同時に接触しないことがあった。
また、複数のプローブピンの先端部を位置修正すること
が困難であった。
が困難であった。
そのため、自動ブロービングの信頼性の低下、ブロービ
ング作業時間の増大を招く問題があった。
ング作業時間の増大を招く問題があった。
本発明の目的は、プローブピンと電子部品のり−ドとの
位置ずれによって発生するミスブロービングを防止する
とともに、隣接するリードにプローブピンを当て電流値
不適合による電子部品の破損を防止可能とするプロービ
ングヘッドを提供することにある。
位置ずれによって発生するミスブロービングを防止する
とともに、隣接するリードにプローブピンを当て電流値
不適合による電子部品の破損を防止可能とするプロービ
ングヘッドを提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明のプロービングヘッド
においては、複数のプローブピンを、それぞれバネを介
してその先端部が内方に引込んだ状態で対向する電子部
品の方向に摺動自在に嵌挿するピンブロックを有し、こ
のピンブロックをコンプライアンス機構を利用して各プ
ローブピンを独立して位置調整可能に装着したものであ
る。
においては、複数のプローブピンを、それぞれバネを介
してその先端部が内方に引込んだ状態で対向する電子部
品の方向に摺動自在に嵌挿するピンブロックを有し、こ
のピンブロックをコンプライアンス機構を利用して各プ
ローブピンを独立して位置調整可能に装着したものであ
る。
またビンブロックは、プローブピンの位置調整範囲を拡
大するため各プローブピンを嵌挿する穴の先端部に面取
り部を構成したものである。
大するため各プローブピンを嵌挿する穴の先端部に面取
り部を構成したものである。
上記のように構成された本発明のプロービングヘッドに
おいては、基板に搭載された複数の電子部品のリードが
それぞれ異なる方向に位置ずれを起していたとしても、
各プローブピンは独立してリードに対接するように位置
を修正することができるので、確実にブロービングでき
る。
おいては、基板に搭載された複数の電子部品のリードが
それぞれ異なる方向に位置ずれを起していたとしても、
各プローブピンは独立してリードに対接するように位置
を修正することができるので、確実にブロービングでき
る。
またピンブロックはプローブピンを嵌挿する穴の先端部
に面取り部を構成しているので、リードの先端部が面取
り部に対接したとき1.ピンブロックが水平方向に移動
しつつリードの先端部を面取り面にそうでプローブピン
の中心部の方向に移動させ、リードの先端部の位置ずれ
を修正することができる。
に面取り部を構成しているので、リードの先端部が面取
り部に対接したとき1.ピンブロックが水平方向に移動
しつつリードの先端部を面取り面にそうでプローブピン
の中心部の方向に移動させ、リードの先端部の位置ずれ
を修正することができる。
したがってリードの先端部の位置ずれの許容範囲を拡大
することができる。
することができる。
以下、本発明の一実施例であるプロービングヘッドを示
す第1図について説明する。
す第1図について説明する。
第1図に示すように、基板1は、位置決めビン(図示せ
ず)によって所定位置に固定され、その上面には、複数
の電子部品2が取付けられ、その下面には、電子部品2
のリード3が突出している。
ず)によって所定位置に固定され、その上面には、複数
の電子部品2が取付けられ、その下面には、電子部品2
のリード3が突出している。
上記基板1の下方位置には、プロービングヘッド4が設
置されている。このプロービングヘッド4は、ブロービ
ングボード10′ と、複数のピンブロック5とから構
成されている。
置されている。このプロービングヘッド4は、ブロービ
ングボード10′ と、複数のピンブロック5とから構
成されている。
上記ブロービングボード10は、その上面に複数のくぼ
み11を形成し、これら各くぼみ11内に水S1を方向
に摺動自在に嵌挿するビンボード10と、このビンボー
ド10の両側に介挿されコンブラインスを構成するバネ
8とを設置している。
み11を形成し、これら各くぼみ11内に水S1を方向
に摺動自在に嵌挿するビンボード10と、このビンボー
ド10の両側に介挿されコンブラインスを構成するバネ
8とを設置している。
上記ピンブロック5は、それぞれそプローブピン6をバ
ネ13を介して基板1の方向に摺動自在に嵌挿する穴7
を形成し、これら6穴7の先端部には1面取り部9を形
成している。
ネ13を介して基板1の方向に摺動自在に嵌挿する穴7
を形成し、これら6穴7の先端部には1面取り部9を形
成している。
なお、上記バネ13は、プローブピン6の先端部が穴7
内の而取り部9の内側に位置するように弾性力を設定さ
れている。また図示の12は、ピンブロック5の先端面
を示す。
内の而取り部9の内側に位置するように弾性力を設定さ
れている。また図示の12は、ピンブロック5の先端面
を示す。
つぎに、ブロービング動作について説明する。
基板1に複数の電子部品2を取付けた場合、複数の電子
部品2のリード3は、取付誤差などによってプローブピ
ン6に対して位置ずれを生じている。しかもその位置ず
れの方向は、各1u子部品2毎に異なっている。
部品2のリード3は、取付誤差などによってプローブピ
ン6に対して位置ずれを生じている。しかもその位置ず
れの方向は、各1u子部品2毎に異なっている。
このような状態で、プロービングヘッド4がガイド部材
(図示せず)にそうて上昇すると、各す−ド3の先端部
は対応するプローブピン6を嵌挿する穴7の面取り部1
9に当たる。
(図示せず)にそうて上昇すると、各す−ド3の先端部
は対応するプローブピン6を嵌挿する穴7の面取り部1
9に当たる。
引続きプロービングヘッド4が上昇すると各リード3の
先端部の押圧力によりピンブロック5がバネ8の弾性力
に打かって穴7内を摺動するので、各リード:3の先端
部はそれぞれ独立して、面取り部9にそうて穴7円中心
位置方向に移動して対応するプローブピン6の先端面に
接触する。
先端部の押圧力によりピンブロック5がバネ8の弾性力
に打かって穴7内を摺動するので、各リード:3の先端
部はそれぞれ独立して、面取り部9にそうて穴7円中心
位置方向に移動して対応するプローブピン6の先端面に
接触する。
しかるのち、すべてのリード3の先端部がプローブピン
6の先端面に接触すると、ピンブロック5の穴7間の先
端面12がリード3間に挿入するので、隣接するリード
3の先端部がプローブピン6の先端面に接触するのを防
止することができる。
6の先端面に接触すると、ピンブロック5の穴7間の先
端面12がリード3間に挿入するので、隣接するリード
3の先端部がプローブピン6の先端面に接触するのを防
止することができる。
本発明は1以上説明したように構成されているので、電
子回路基板のブロービング作業をする場合、基板上の電
子部品の位置ずれなどによって発生するミスブロービン
グを防止することができ。
子回路基板のブロービング作業をする場合、基板上の電
子部品の位置ずれなどによって発生するミスブロービン
グを防止することができ。
かつ隣接するリードがプローブピンに接触して電流値不
適合による電子部品の破損を防止することができこれに
よって自動検査装置の信頼性、直行率の向上をはかるこ
とができる。
適合による電子部品の破損を防止することができこれに
よって自動検査装置の信頼性、直行率の向上をはかるこ
とができる。
また、ピンブロックのプローブピンを嵌挿する穴の先端
部に面取り部を構成したので、リードの位置ずれの許容
範囲を拡大することができる。
部に面取り部を構成したので、リードの位置ずれの許容
範囲を拡大することができる。
第1図は、本発明の一実施例であるプロービングヘッド
を示す断面図、第2図は、従来のプロービングヘッドを
示す断面図である。 I・・・基板、2・・・電子部品、3・・・リード、4
・・・プロービングヘッド、5・・・ピンブロック、6
・・、プローブピン、7・・・穴、8・・・バネ、10
′・・・ブロービングボード、11・・・くぼみ、】3
・・・バネ。 馬 I 閃 第 Z 口 基オ仄 電子部品 4; アO−ごし7゛へ・・注゛ j: ごシフ加(リフ 7:穴 ?、)3: ハ゛ギ1 1−ド 乙ニ ア″叶γじし 9; 面耳丈す邦
を示す断面図、第2図は、従来のプロービングヘッドを
示す断面図である。 I・・・基板、2・・・電子部品、3・・・リード、4
・・・プロービングヘッド、5・・・ピンブロック、6
・・、プローブピン、7・・・穴、8・・・バネ、10
′・・・ブロービングボード、11・・・くぼみ、】3
・・・バネ。 馬 I 閃 第 Z 口 基オ仄 電子部品 4; アO−ごし7゛へ・・注゛ j: ごシフ加(リフ 7:穴 ?、)3: ハ゛ギ1 1−ド 乙ニ ア″叶γじし 9; 面耳丈す邦
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、複数のプローブピンを、それぞれバネを介してその
先端部が内方に引込んだ状態で対向する電子部品の方向
に摺動自在に嵌挿するピンブロックを有し、このピンブ
ロックをコンプライス機構を利用して各プローブピンを
独立して位置調整可能に装着したプロービングヘッド。 2、ピンブロックは、プローブピンを嵌挿する穴の先端
部に面取り部を構成した請求項1記載のプロービングヘ
ッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19982288A JPH0251078A (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | プロービングヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19982288A JPH0251078A (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | プロービングヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0251078A true JPH0251078A (ja) | 1990-02-21 |
Family
ID=16414222
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19982288A Pending JPH0251078A (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | プロービングヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0251078A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5923176A (en) * | 1991-08-19 | 1999-07-13 | Ncr Corporation | High speed test fixture |
US5949238A (en) * | 1995-12-20 | 1999-09-07 | Siemens Medical Systems, Inc. | Method and apparatus for probing large pin count integrated circuits |
-
1988
- 1988-08-12 JP JP19982288A patent/JPH0251078A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5923176A (en) * | 1991-08-19 | 1999-07-13 | Ncr Corporation | High speed test fixture |
US5949238A (en) * | 1995-12-20 | 1999-09-07 | Siemens Medical Systems, Inc. | Method and apparatus for probing large pin count integrated circuits |
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