JPH02504332A - 電線 - Google Patents
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- JPH02504332A JPH02504332A JP63506222A JP50622288A JPH02504332A JP H02504332 A JPH02504332 A JP H02504332A JP 63506222 A JP63506222 A JP 63506222A JP 50622288 A JP50622288 A JP 50622288A JP H02504332 A JPH02504332 A JP H02504332A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(b)弗化ポリマーからなる外側絶縁層とを含む電気絶縁体を有してなる電線。
2、ポリアミドが、ポリマー主鎖に少なくとも平均4個の炭素原子を有する部分
により互いに離れている隣接アミド基を有する請求の範囲l記載の電線。
3、ポリアミドがナイロンである請求の範囲2記載の電線。
4、層(a)のポリマーが、テレフタル酸およびトリメチルへキサメチレンジア
ミン系のポリアミド、ラウリンラクタム、イソフタル酸およびビス−(4−アミ
ノ−3−メチルシクロヘキシル)メタン系のポリアミド、2.2’−ビス(4−
アミノシクロヘキシル)プロパン、アゼライン酸およびアジピン酸系のポリアミ
ド、またはm−キシリレンジアミンおよびアジピン酸系のポリアミドを含んでな
る請求の範囲lまたは2記載の電線。
5、ポリアミドが架橋されている請求の範囲1〜4のいずれかに記載の電線。
6、フルオロポリマーが架橋している請求の範囲1〜5のいずれかに記載の電線
。
7、弗化ポリマーが弗化付加ポリマーである請求の範囲1〜6のいずれかに記載
の電線。
8、弗化ポリマーが、ヘキサフルオロプロピレン、テトラフルオロエチレン、ビ
ニリデンフルオライドまたは01〜C,パーフルオロアルコキシ置換パーフルオ
ロエチレンのホモポリマー、またはそれらと一種またはそれ以上の弗化または非
弗化コモノマーとのコポリマーを含んでなる請求の範囲7記載の電線。
9、弗化ポリマーが、エチレン、テトラフルオロエチレンおよび要すれば10モ
ル%までの一種まt;はそれ以上の他のコモノマーから成るポリマーである請求
の範囲8記載の電線、10、内側層および外側層の両方が押し出しにより導体上
に形成されている請求の範囲1〜9のいずれかに記載の電線。
11.内側層および外側層の肉厚が各々、50〜150μπである請求の範囲1
〜10のいずれかに記載の電線。
12、内側および外側絶縁層の間に別の層を有する請求の範囲1〜11のいずれ
かに記載の電線。
明 細 書
i練
本発明は電線、限定されるものではないが、特に航空機に用いる電線に関する。
航空機電線に起こり得る一つの現象はトラッキングである。トラッキングは、電
場と外表面汚れとの効果が複合して材料の表面に永久的な導電路が徐々に形成さ
れることに関係する。炭素質導電性付着物は、一度成長し始めると、迅速に樹枝
状に広がり、特徴的な「樹木」パターンが形成され、表面に欠陥が生じる。損傷
した通電中の電線束が例えば電解質まI;は結露により湿った場合に電気トラッ
キングが生じ得る。このトラッキングによりフラッシュオーバーおよびアークが
生じ、それにより電線束中で別の電線が損傷する。異なる電位の隣接電線もトラ
ッキングl:敏感である場合、または電線束が設置構造部に接触している場合は
、一本の電線の欠陥から急激な破壊的損傷が起こり得る。低電圧、例えば交流1
00Vまたはそれ以下においてトラッキングが起こり得るが、電圧が低下すると
その程度が小さくなる。
上述の電線に起こり得る関連しt;現象は、アーキングによる絶縁破壊である。
この場合、二つの導体間の、まt;は絶縁が機械的に損傷している導体と接地部
との電位差により、導体間または導体と接地部との間にアークが生じ得る。アー
クの高温によりポリマーが非常に急速に分解し、導電性炭素質付着物が形成され
、それがウェットトラッキングの場合のように迅速に広がり得、激しい損傷につ
ながり、電線束中の電線の多くがまたは全部が破壊される。アーキングは、非常
に低い電圧、例えば直流24Vまたはそれより低い電圧で発生し得、トラッキン
グとは異なり電解質まt;は湿分が関与しないので非常に危険な現象である。ア
ーキングは、例えば、ツマ−ビル(J、M、Somerville) rジ−エ
レクトリック・アーク(The Electric Arc)」、メスエン(M
ethuen) 1959に記載されているように、間に電流が流れている二つ
の導体を引き離すことによっても生じ得る。
トラッキングおよびアーキングに関係し得るもうひとつの現象は腐食である。こ
の場合、導電性付着物が形成されることなく絶縁物質が放電により生じる気化工
程により除去され、絶縁材料の完全な絶縁破壊が生じるまで絶縁損傷が生じない
。
本発明によれば、長い導電体、および
(a)ガラス転移温度が低くとも0℃であるポリアミドからなる内側絶縁層と
(b)弗化ポリマーからなる外側絶縁層とを含む電気絶縁体を有してなる電線が
得られる。
本発明は、トラッキング、アーキングおよび腐食に対する非常に高度の耐性に加
えて、耐溶媒性、耐こすり犀擦性、靭性、剥離重量および能力のような特性の均
衡のとれた電線を形成することができるという利益を有する。例えば、内側ポリ
アミド層を形成するポリマー材料(あらゆる充填剤を含む)および好ましくは両
方の層を形成する材料は、通常、破断点伸びが少なくとも50%、とくに少なく
とも100%であり、かつ、150℃における裁断力が少なくとも15.好まし
くは少なくとも2ONである。
ポリアミドの炭素対水素モル比は好ましくは1.0を越えず、特に0.8を越え
ない。このことは、通常、炭素質チャー残量が15重量%を越えない、好ましく
は10重量%を越えない、最も好ましくは5重量%を越えない、特に2重量%を
越えない、特に実質的に0重量%であることに相当する。
本発明の電線中のポリマー成分のチャー残量は、ポリマーのサンプルを窒素また
は他の不活性ガス雰囲気中で例えばlO°C/1分の所定の速度で所定の温度に
加熱しチャーからなる残留重量を記録する熱重量分析すなわちTGAとして知ら
れている方法により測定することができる。チャー残量は、簡単には、全ての非
ポリマー性の揮発性まt;は非揮発性成分を考慮に入れI;後の、最初のポリマ
ーに対するこの残留チャーの割合として表された量である。上記チャー残量は8
50℃で測定したものと定義される。
層(a)に用いるポリアミドは、全て脂肪族であっても、または脂肪族部分と芳
香族部分の両方を含んでよく、好ましくは、ポリマー主鎖中に平均少なくとも4
個の炭素原子(アミドカルボニル基の炭素原子を除く:すなわち側鎖基は除くが
主鎖中の全ての単環まl:は縮合芳香環中の炭素原子は含む)を有する分子によ
り互いに離されt;隣接アミド基を有する。最も好ましいポリアミドは、ポリマ
ー主鎖中に少なくとも6個、しかし15個を越えない炭素原子を有する分子によ
り分離されている隣接アミド基を有する。好ましいポリアミドは下
肥大:
〔式中、RおよびR″は同一まt;は異なってよく、各々、炭素数が1〜30、
好ましくは2〜20、最も好ましくは4〜12であるアルキレン基、一種まI;
はそれ以上のアルキレン、シクロアルキレンまたはアリーレン部分を有し炭素数
が3〜30、好ましくは2〜20、最も好ましくは4〜12である二価の基、ま
たは炭素数が4〜30、好ましくは4〜20、最も好ましくは4〜12である混
合アルキル−シクロアルキル基を表す、または、Rは式:
(式中、R2およびR1は同一または異なってよく、各々、水素厚子または炭素
数1−15、好ましくは1〜5のアルキル炭素数3〜16、好ましくは5〜10
のシクロアルキル基、炭素数6〜20、好ましくは6〜10の混合アルキルシク
ロアルキル
ル基を表す。)
により表すこともできる。〕
により定義することができる。
一つの好ましい態様において、R2は各々、メチル基およびR3は各々、水素厚
子を表す。nは整数であり、好ましくは約10〜約5oooooである。
好ましいポリアミドの例は、(例えば、米国特許第3.8 4 0.501号に
より調製され?=)2.2’−(ビス(4−アミノシクロヘキシル)プロパンと
アゼライン酸/アジピン酸の6 0/4 0重量%混合物との50 : 50モ
ル比コポリマー、ヘキサメチレンジアミンとテレフタル酸およびイソフタル酸の
等量混合物との50 : 50から誘導された無定をポリアミド、ジメチルテレ
フタレートおよび2,2。
4−と2.4.4−トリメチルへキサメチレンジアミンとの50=50混合物か
ら誘導され!;ポリアミド、m−キシレンジアミンとアジピン酸のポリアミド、
一種またはそれ以上のビスアミノメチルノルボルナン異性体と一種またはそれ以
上の脂肪族、脂環式または芳香族ジカルボン酸、例えばテレフタル酸との縮合に
より得られ、要すれば一種またはそれ以上のアミノ酸またはラクタムコモノマー
、例えばC−カプロラクタムコモノマーを含むポリアミド、および特にラウリン
ラクタム、イソフタル酸およびビス−(4−アミノ−3−メチルシクロヘキシル
)メタンから誘導された単位を有するポリアミドを含むが、これらに限定される
ものではない。無定形ポリアミドの結晶化度は、好ましくは、例えば米国特許第
4.528.335号に記載されているように、示差走査熱量計(DSC)によ
り測定した値が2%を趨えない。本発明に使用することのできる結晶性または半
結晶性ポリアミドは、ナイロン、例えば、ナイロン46、ナイロン6、ナイロン
7、ナイロン66、ナイロン610、ナイロン611、ナイロン612、ナイロ
ン11.ナイロン12およびナイロン1212を含む。
所望により、ポリアミドを相互にまたは他のポリマーとブレンドしてよい。例え
ば、ポリアミドをポリエステル、ポリエチレン、エチレンエチルアクリレートコ
ポリマーもしくはスチレン/ジニシブロックコボリマーのようなポリオレフィン
、またはフェニレンエーテルホモもしくはコポリマーとブレンドして使用するこ
とができる。
多くの場合、ポリアミドを、芳香族ポリマー、好ましくは完全に芳香族性のポリ
マー、またはポリマー主鎖に脂肪族部分、例えば、好ましくは炭素数が5を越え
ない、特に3を越えない側鎖アルキル基まt;はアルキレン基、例えばメチル基
まt;はアルキレン基としてメチレンもしくはイソプロピリジン基を有する芳香
族ポリマーとブレンドすることが非常に望ましい。そのような組成物およびその
ような組成物を用いた電線が、英国比11Nos、8716304および同87
16307の優先権を主張している「電線およびケーブルJ (PCT/GB
8810 O545)および「電線J (PCT/GB88100548)
と題した本願と同日付けの出願人の国際出願に開示されている。
層(b)に用いられる弗化ポリマーは、好ましくは、10重量%を越えない、好
ましくは25重量を越えない弗素を含有する。すなわち、弗化炭素ポリマーは、
一種類の弗素含有ポリマー、弗素含有ポリマーの二種またはそれ以上の混合物、
まt;は一種またはそれ以上の弗素含有ポリマーと一種またはそれ以上の弗素を
含有しないポリマーとの混合物であってよい。一つの好ましい場合において、弗
化炭素ポリマーは、各々が少なくとも25重量%の弗素を含む一種またはそれ以
上の熱可塑性結晶性ポリマーを、少なくとも50重量%、特に少なくとも75重
量%、特に少なくとも85重量%含むが、そのような結晶性ポリマーの単独物が
好ましい。そのような弗化炭素ポリマーは、結晶性弗素含有ポリマーの一種また
はそれ以上に加えて、例えば、弗素含有ニラストマー及び/又はポリオレフィン
、好ましくは結晶性ポリオレフィンを含んでよい。弗素含有ポリマーは、通常、
一種またはそれ以上の弗素含有オレフィン性不飽和七ツマ−のホモまたはコポリ
マー、または一種またはそれ以上のそのようなモノマーと一種またはそれ以上の
オレフィンとのコポリマーである。弗化炭素ポリマーの融点は、通常、低くとも
150℃、多くの場合低くとも250℃、例えば350℃までであり、結晶性ポ
リマーの融点は、それより高温ではポリマー中(まt;は、結晶性ポリマーの混
合物を用いt;場合は、混合物中の主たる結晶成分中)に結晶が存在しない温度
であると定義される。好ましくは、架橋前のポリマー組成物の粘度は、融点より
60℃高い温度を越えない温度において10’Pa、s(10’ポアズ)より低
い。好ましい弗化炭素ポリマーは、エチレンとテトラフルオロエチレンおよび要
すれば一種またはそれ以上の他のコモノマーとのコポリマー(ETFEポリマー
として知られている)であり、特に35〜60モル%のエチレン、35〜60モ
ル%のテトラフルオロエチレンおよび10モル%までの一種まt;はそれ以上の
他のコモノマーからなるコポリマーである。
使用することのできる他のポリマーは、エチレンとクロロトリフルオロエチレン
とのコポリマー、ポリビニリデンフルオライド、ビニリデンフルオライドとへキ
サフルオロプロピレンおよびテトラフルオロエチレンの一方または両方、または
へキサフルオロインブチレンとのコポリマー、およびテトラフルオロエチレンと
へキサフルオロプロピレンとのコポリマーを含む。その他、cI〜C,バーフル
オロアルフキシ置換パーフルオロニチレンホモポリマーおよび上記弗化ポリマー
とのコポリマーを使用する二とができる。
絶縁電線の二つの層の一方または両方は、例えば高エネルギー放射線にさらすこ
とにより架橋することができ、そうすることが好ましい。
放射線架橋は、電子線やガンマ線のような高エネルギー線にさらすことにより行
うことができる。放射線量は、対象となるポリマーの特性により、通常、20〜
80 okcy、好ましくは20〜500kGy、例えば20〜200kGy、
特に40〜120kGyが適当である。照射中に架橋を促進する!こめに、好ま
しくは、多官能性ビニルまたはアリル化合物、例えば、トリアリルシアヌレート
、トリアリルイソシアヌレ−)(TA I C)、メチレンビスアクリルアミド
、メタフェニレンジアミンビスマレイミドまたは例えば米国特許第4゜121.
001号および同第4.176.027号に記載されている他の架橋剤のような
プロラドを0.2〜15重量%の量で、照射前に組成物に配合する。
絶縁材料は、他の添加剤、例えば補強用または非補強用充填剤、紫外線安定化剤
のような安定化剤、酸化防止剤、酸受容体および加水分解防止安定化剤、顔料、
可星剤のような加工助剤、ハロゲン化または非ハロゲン化難燃剤、例えば加工条
件が許せば酸化アルミニウム三水和物のような水和金属酸化物または水酸化マグ
ネシウム、ホウ酸亜鉛、またはデカブロモジフェニルエーテル、殺菌剤等を含ん
でよい。
多くの場合、絶縁電線は単一のポリアミド内側層および弗化ポリマー外側層から
なる。しかしながら、要すれば、一種またはそれ以上の他の層が存在してよい。
例えば、無機材料を導体に付着させることにより、更なる無機層を導体表面に直
接設けることができる。
例えば絶縁材料の高温特性を向上させるために層(a)(b)間に芳香族性の高
いポリマーの層を、選択的にまたは更に設けることができる。そのような芳香族
ポリマーの例が出願人の出願第8716306に開示されている。
本発胡の電線およびケーブルは従来技術により形成することができる。例えば、
ポリマーをミキサー中で他の成分とブレンドし、ペレット化し、電線導体上に押
し出すことができる。他の好ましくない電線はテープラッピング法により形成す
ることができるが、弗化ポリマーとポリアミド層の両方を溶融押出成形すること
が好ましい。
電線は、単独で「回路用」ワイヤーまt;は機体電線に、または束にしておよび
ハーネスに、外被をつけてまたは外被をつけないで使用され、多心ケーブルに使
用することができる。電線、ノ1−ネスまたはケーブルはスクリーンを設けなく
とも、当業者に良く知られているように電磁妨害から保護するためにスクリーン
を設けてもよい。
更に、平坦導体まI;は丸を導体を用いて本発明の絶縁材料により平坦ケーブル
を形成することができる。
本発明を添付の図面を参照にして説明する;第1図は本発明の電線の一部分の等
角投影図であり、第2図はウェットトラッキングの試験装置の概略図であり、第
3図はドライアーキングの試験装置の概略図である。
まず添付図面の第1図を参照にすると、電線は中実または図示するようにより線
であってよい導体11からなり、要すれば錫めっきされる。導体上には内側絶縁
層12すなわち第1絶縁層が押出成形されている。絶縁材料は、ナイロン12.
まl;は約5重量%のトリアリルイソシアヌレート架橋促進剤を含むナイロン1
2とボリアリールエーテルイミドとのブレンドから形成されている。内側層12
を形成しt;後、約7重量%のトリアリルイソシアヌレート架橋促進剤を含むエ
チレン−テトラフルオロエチレンコポリマーからなル外側層13すなわち第1外
被を内側層12上に押出成形する。各層の厚さは約100趨である。両方の層を
押出成形した後、絶縁材料に高エネルギー電子を約120kGyの量で照射する
。
以下の実施例により本発明を説明する;実施例において以下の試験手順を用いI
:。
ウェットトラッキング試験
この試験は、損傷された電線束が電解質に接触したときに発生する状況をシュミ
レートすることを目的としている。寅際の条件下においては、電解質は湿分含有
はこり粒子まt;は他のイオン性汚染物であり得る。多くの原因により、例えば
摩擦、絶縁材料の加水分解、老化等により電線束に損傷が起き得る。電解質を電
流が流れることにより溶液が加熱され蒸発が起きる。このことにより、−または
それ以上のドライパントが生じ、そこで試験電圧が低下し、その結果、小さく、
多くの場合強い火花が発生して絶縁が損傷する。
第2図は試験装置を示す。電線束1は、試験材料の層で被覆した長さ18cmの
20Awc錫めっき銅導線2の7本から作られる。電線束1は、1本の中心電線
の周囲に6本の電線が配され、ワイヤーが捩れないようにラップ3により保持さ
れている。2本の隣接している電線は、各々の電線について0.5關の導電体が
むき出しになるように周囲に刻み目が設けられている。刻み目4は、タイラップ
のいずれの側からも5mm離れているように配される。各電線の一方の端は、絶
縁ワニロクリップを介して電気供給源への接続が可能となるようにストリップさ
れている。サンプルは、絶縁性樹脂からなる単純なりランプにより水平に対して
30″の角度に保持され、損傷しt:電線が最上部にあり、ストリップ端が電線
束の上端にある。
20X10關の寸法の濾紙5が、上部刻み目の上方約2闘の位置で電線束の周囲
にラップされている。これは上部タイラップの位置に保持するのが最もよい。
ぜん動ポンプにより、滴下ピペット6を介して貯蔵部からサンプルに電解質が送
られ、電源から電線束に通電される。使用する電解質は、塩化ナトリウム2%お
よび要すればアンモニウムパーフルオロアルキルカルボキシレート界面活性剤0
.02%の蒸留水または脱イオン水溶液である。ポンプは、この溶液を約100
+ng/分の速度で、濾紙5の垂直上710+nmに配置されているピペット6
を介して送出するように設定されている。
電力は、少なくとも電気容量が5kVAの三相400Hzl15/200v発電
機または少なくとも電気容量が3kV、Aの単相50Hz115V変圧器により
供給される。損傷時間記録用装置が設けられ、電線が開回路になった時まt;は
回路ブレーカ−が遮断したB? t 記録する。電線の周囲に適当なオシロスコ
ープに連結した電流検出用クランプを配することにより漏れ電流を追跡すること
ができる。
三相供給の場合、電線束の隣接電線を7.5A航空機型回路ブレーカー1例えば
クリクソン(Klixon)を介して電源の交流相につなぎ、中心線をアースに
直接つなぐ。単相供給の場合、交流電線をアースにつなぎ、中心導電体を含む残
りの電線を通電線につなぐ。数滴の電解質を濾紙に滴下して、試験開始前に確実
に飽和させる。電源を入れ、タイマーを始動する。試験は、a)一つまたはそれ
以上の回路ブレーカ−が遮断する;b)を線が開回路になる:まI;は
c)8時間経過する
まで統ける。
全ての場合に、最終の電線束の状態および損傷までの時間を記録する。ブレーカ
−が遮断した場合、更に反応が生じなくなるまで、順に電流を再度流しブレーカ
−を再度閉じる。電線束の状態を再度記録する。
電線が開回路になること(結果(b))により生じる損傷は、腐食の兆候である
。一つまたはそれ以上の回路ブレーカ−の遮断(結果(a))により損傷が生じ
る場合、回路ブレーカ−リセットの際に更にばちばちという音が発生しないこと
は腐食による損傷を示し、更にばちばちという音が発生することはトラッキング
損傷を示す。
に何が起こるかシュミレートすることを目的としている。絶縁物質の熱劣化を引
き起こすアークを生じさせるためにグラファイトロッドを使用する。欠陥電流は
、導電性チャーを介する隣接相関のショートにより、まt;は絶縁物質がアーク
の連続により全て除去された場合に起こる導電体−導電体直接接触により試験下
の電線束を通して持続するのみである。
第3図は、試験装置を示すものである。電線束21は、試験材料の層で被覆され
た7本の長さ10cmの20AWG錫めっき銅導電体22から形成される。電線
束22は1本の中心電線の周囲に6本の電線が配され、約5cm離れたタイラッ
プにより保持されている。外側電線のうちの1本は、タイラップ間において周囲
に刻み目が設けられ0 、5 +nmの導電体がむき出しとなっており、各電線
の一端は絶縁ワニロクリラグを介して連結し得るようにストリップされている。
分光的に純粋なグラファイトからなり、不純物含有レベルが20ppmを越えな
い、直径4.6齢のロッド23が提供される。それは、各試験前に、垂直に対し
て10’の角度をなし先端部直径が0.4±0.1闘となるようにヨーロッパ型
の従来の鉛筆削りを用いて尖らすことにより得られる。アーク発生中に接触を維
持し、下方向の移動を制限することによりロッドの貫入深さを制限する装置とし
て、100gの荷重24がロッド23の上端部に取り付けられる。ロッドは、ロ
ッドが自由に上下に滑動できるPTFEブツシュを通って移動する。
レバーを設置することによりロッド23を電線束21上に精確に配置することが
でき、電気絶縁性樹脂からなり同じ物質からなるブロック26上に載置された簡
単なりランプ25によりその場に確実に保持されている。
電源は
a)を負容量が少なくとも5kVA?’あル三相400Hzl 15/2OOV
発電機
b)電気容量が少なくとも3kVAである単相50Hzl15V変圧器
C)二つの12V@電池により供給された直流24Vのいずれでもよい。
漏電は結合リード線を覆っている電流検出用クランプにより感知され、漏を時の
電圧はlo:1!圧グローブにより測定される。トランスデユーサ−シグナルは
多チヤンネルデジタル貯蔵オシロスコープに送られ、そこでディスプレイおよび
操作して電力曲線(電圧×電流)およびエネルギー(を力曲線の積分)を得るこ
とができる。
電線束21は、刻み目を設けた電線が最上部となるようにクランプ25に配置さ
れる。電線束の隣接電線は7.5A航空機型回路ブレーカーを介して異なる相の
供給源に連結され、中心の電線はアースに直接接続される。単相まI;は直流供
給の場合、交流電線をアースまたは陰端子に接続し、中心電線を含む残りの電線
は回路ブレーカ−を介して通電線まt;は陰端子に接続される。カーボンロッド
もアースまたは陰端子に接続され、先端部が導電体露出部に接触するように配置
される。100g荷重とPTFEブツシュ間のギャップは、ロッドのサンプル中
への貫通を制限する!こめに適当なスペーサーを用いてO−4mmに調節する。
電圧プローブは掻傷電線およびロッドを横切ってつながり、電流検出用クランプ
は三相の各々または供給源の通電側につながっている電線に配されている。試験
組立構造体の前に保護スクリーンを配し、電源を入れる。全ての場合において、
最終的電線束の状態を記録する。ブレーカ−の遮断により損傷が起こった場合、
更なる反応が起こらなくなるまで、再度入力しブレーカ−を再度閉じる。電線束
の状態を再度記録する。
a)回路ブレーカ−が遮断せず、反応が比較的小さい、まt;はb)活性が小さ
い試験後のブレーカ−のリセット時に更に反応が起こらない
場合、材料はこの試験に合格したとみなされる。
更に、非トラツキング材料は電流トレース中にスパイクがほとんどなく、それに
相当して消費される全エネルギーは少ない。他方、トラッキング物質は通常三つ
の全ての相に多くのスパイクがあり、それに伴いばちばちという音が激しく多量
のエネルギーが消費される。
哀惠匹1
20mmポーガン(B aughan)押出機を用いて、20AWG錫めっき銅
導線、ならびにラウリンラクタム、イソフタル酸およびビス−(4−アミノ−3
−メチルシクロヘキシル)メタンから得られ5重量%のトリアリルイソシアヌレ
ートを含む芳香族/脂肪族ポリアミド(ポリアミドl)から形成された1100
uの内側絶縁層と約7重量%のトリアリルイソシアヌレートを含むETFEから
形成された100μmの外側絶縁層からなる電線構造体を形成した。形成後、電
線に高エネルギー線を12ohcy照射して絶縁材料を架橋した。
該電線の物理的および機械的特性を、厚さ200μmのETFE絶縁層を有する
従来の機体電線の特性と共に第工表に示す。表から、本発明の電線は、ETFE
t線よりも軽量で切断力が強く耐こすり摩擦性に優れている。
C
一定量のETFEをポリアミドで置換することにより電線の物理的および機械的
特性がかなり向上するが、上記のウェットトラッキング試験およびドライアーキ
ング試験に付した際のポリアミド電線の腐食挙動が非常に悪いことを考慮すると
、ETFEを全部ポリアミドで置換することはできない。電線構造体(a)およ
び構造体(a)と同じポリアミドから形成された厚さ200μmの絶縁層を有す
る電線のこれらの試験結果を第■表に示す。
寅施例2
下記ポリアミドを使用した以外は寅箆例1の手順を繰り返しt;:ナイロン12
(ポリアミドn)、ジメチルテレフタレートおよび2゜2.4−と2.4.4−
トリメチルへキサメチレンジアミンとの50=50混合物から誘導された無定形
ポリアミド〔例えばダイナミツト・ノベル(Dynamit Nobel)社製
〕(ポリアミド■)、ヘキサメチレンジアミンおよびイソフタル酸系の無定形ポ
リアミド(ポリアミドR+)、およびキシレンジアミンおよびアジピン酸系の無
定形ポリマー(ポリアミドV)。更に、比較のために、単一壁ポリエーテルイミ
ドおよびポリエーテルケトン電線について試験を行った。ウェットトラッキング
およびドライアーキング試験の結果を第m表および第■表に示す。
実施例3
弗化炭素層がバーフルオロアルコキシボリマーーテ70ンPFA(商標)および
弗化エチレンプロピレンポリマー−テフロンFEP(商標)からなり、層がいが
なる架橋促進剤も含まず照射も行わなかった以外は実施例】の手順を繰り返した
。結果を第7表および第■表に示す。
補正書の写しく翻訳文)提出書
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.長い導電体、および (a)ガラス転移温度が低くとも0℃であるポリアミドからなる内側絶縁層と (b)弗化ポリマーからなる外側絶縁層とを含む電気絶縁体を有してなる電線。 2.ポリアミドが、ポリマー主鎖に少なくとも平均4個の炭素原子を有する部分 により互いに離れている隣接アミド基を有する請求の範囲1記載の電線。 3.ポリアミドがナイロンである請求の範囲2記載の電線。 4.層(a)のポリマーが、テレフタル酸およびトリメチルヘキサメチレンジア ミン系のポリアミド、ラウリンラクタム、イソフタル酸およびビス−(4−アミ ノ−3−メチルシクロヘキシル)メタン系のポリアミド、2,2′−ビス(4− アミノシクロヘキシル)プロパン、アゼライン酸およびアジピン酸系のポリアミ ド、またはm−キシリレンジアミンおよびアジピン酸系のポリアミドを含んでな る請求の範囲1または2記載の電線。 5.ポリアミドが架橋されている請求の範囲1〜4のいずれかに記載の電線。 6.フルオロポリマーが架橋している請求の範囲1〜5のいずれかに記載の電線 。 7.弗化ポリマーが弗化付加ポリマーである請求の範囲1〜6のいずれかに記載 の電線。 8.弗化ポリマーが、ヘキサフルオロプロピレン、テトラフルオロエチレン、ビ ニリデンフルオライドまたはC1〜C5パーフルオロアルコキシ置換パーフルオ ロエチレンのホモポリマー、またはそれらと一種またはそれ以上の弗化または非 弗化コモノマーとのコポリマーを含んでなる請求の範囲7記載の電線。 9.弗化ポリマーが、エチレン、テトラフルオロエチレンおよび要すれば10モ ル%までの一種またはそれ以上の他のコモノマーから成るポリマーである請求の 範囲8記載の電線、10.内側層および外側層の両方が押し出しにより導体上に 形成されている請求の範囲1〜9のいずれかに記載の電線。 11.内側層および外側層の肉厚が各々、50〜150μmである請求の範囲1 〜10のいずれかに記載の電線。 12.内側および外側絶縁層の間に別の層を有する請求の範囲1〜11のいずれ かに記載の電線。
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