JPH0248963B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、デイスクデータの読み出し回路に
関するものであり、更に詳しくは、デイスクデー
タのエラー検出機能を具備した読み出し回路に関
するものである。

従来、フロツピーデイスク装置におけるデータ
の読み出しは、第１図に示すような回路により行
なわれている。即ち、デイスク上の磁気データ
は、磁気ヘツド１によつて、電気信号に変換され
る。この電気信号は、プリアンプ２によつて増幅
された後、ローパスフイルタ３で高域のノイズを
除去される。ローパスフイルタ３の出力信号は、
微分アンプ４によつて微分される。ここで、微分
とは、微分アンプ４に入力された電気信号である
デイスクデータのピークの部分が零（ゼロ）とな
るような微分である。

このようにして、微分された信号は、比較回路
５に入力され、前述の微分によつてゼロとされた
点をデータとするような比較動作が行なわれ、こ
れによりデイスクデータはデイジタル化され出力
される。

ところで、このような回路を持つ従来のフロツ
ピーデイスク装置における読み出しデータのエラ
ーチエツクは、CRC（Cyclic Redundancy
Check）という手法により、行なわれていた。こ
の手法は、磁気ヘツド１から出力される信号の振
幅には、無関係とし、デイジタル化された信号の
みをエラーチエツクの対象としている。つまり、
タイミングエラーについてのチエツクである。

従つて、例えばデイスクに欠陥が生じて、出力
信号の振幅に低下を生じても、デイジタル信号と
してのエラーとならぬ時には、デイスクに欠陥の
あることは知り得ない。このために、CRCの手
法によつて、エラーと判明したときは、デイジタ
ルデータがエラーとなつてしまつているので、回
復不可能となつてしまう。

本発明は、このような欠点に鑑みなされたもの
である。それ故、本発明の目的は、デイスクから
読み出されるデータの振幅に異常が生じた段階で
これを検出し、デイジタルデータのエラーを未然
に防止するようにしたデイスクデータの読み出し
回路を提供することである。

以下、本発明の実施例を詳しく説明する。

第２図は、本発明の実施例を示すブロツク図で
ある。

図において、６は振幅−電圧変換手段であつ
て、全波整流回路７、積分回路８から成る。この
振幅−電圧変換手段６は、ローパスフイルタ３の
出力信号であるデイスクから読み出されたデイス
クデータを入力して、このデータからその振幅に
対応する電圧を得るものである。

つまり、ローパスフイルタ３から出力された信
号が、第３図ａに示すような波形であると、振幅
−電圧変換手段６内の全波整流回路７は、これを
入力して、第３図ｂの実線に示すような波形へ整
流をする。更に、整流された信号は、積分回路８
に入力され、積分されて、第３図ｂの破線で示す
ような波形とされるのである。

ここに用いられる全波整流回路７、積分回路８
は公知の回路で良い。

９は、基準電圧発生回路であり、その機能は、
デイスクから読み出されるデータが内側に存在す
るか外側に存在するかによつて、二種類の電圧を
発生することである。

このデイスクから読み出されるデータが内側に
存在するか、外側に存在するかは、図示せぬコン
トローラによつて、SWICH−FILTER信号とし
て与えられる。一般的に、フロツピーデイスク装
置にはフロツピーデイスクコントローラと称され
るプロセツサ機能を有するLSIが載置される。こ
のLSIの中に、両面倍密度フロツピーデイスク装
置用のものがあり、このインタフエース信号の内
に、前述のSWICH−FILTER信号が存在する。
そして、この信号は、デイスクのトラツク00〜59
（外側）では“Ｈ”レベル、トラツク60〜76（内
側）では“Ｌ”レベルとなつてローパスフイルタ
３の遮断周波数を変化させ、デイスクデータのピ
ークシフトによる微分アンプ４の出力信号に凹が
無くなることを防止しているものである。

このようなSWICH−FILTER信号が“Ｈ”と
して、基準電圧発生回路９に入力されるときの、
基準電圧発生回路９の出力レベルは、SWICH−
FILTER信号が“Ｌ”として入力されたときの出
力レベルより高く出力される。

１０は、比較回路を示し、比較器１１とアンド
ゲート１２とから構成される。この比較回路１０
は、振幅−電圧変換手段６及び基準電圧発生回路
９から電圧を入力して比較する機能を有する。即
ち、この主要な機能は比較器１１がなす。この比
較器１１は、基準電圧発生回路９が出力する電圧
以下の電圧が、振幅−電圧変換手段６から入力さ
れると、その出力を“Ｌ”とし、しからざるとき
は、その出力を“Ｈ”とするものである。

そして、この比較器１１の出力信号は、
WEAK信号として、図示せぬフロツピーデイス
クコントローラへ送られる構成となつている。こ
れだけで、コントローラは、所定の動作をするで
あるが、デイスクに欠陥が生じたことをシステム
を総括しているCPUにも知らせるため、比較回
路５の出力と比較器１１の出力との論理積をアン
ドゲート１２によつて作り、タイミングエラーを
強制的に発生させる。

次に、第２図の読み出し回路の動作を、デイス
クに欠陥が生じ、デイスクデータの振幅が小さく
なつた場合について説明する。

例えば、磁気ヘツド１によつてデイスク上の磁
気データが読み取られ、プリアンプ２で増幅さ
れ、ローパスフイルタ３でノイズが除去され、第
４図ａに示すような波形が出力されたとする。つ
まり、Ｐ点付近は、振幅が小さくなつている。

この信号は、振幅−電圧変換手段６から出力さ
れたときは、第４図ｂのような出力信号となつて
いる。一方、基準電圧発生回路９からは、デイス
ク外周側か内周側かにより、一定のレベルの電圧
が出力されている。従つて、比較器１１では基準
電圧発生回路９から入力された電圧をスレツシヨ
ールドレベルとして、振幅−電圧変換手段６の出
力電圧をスライスして、第４図ｃに示す信号を出
力する。

この出力信号は、コントローラへWEAK信号
として送られ、これによりコントローラは所定の
処理を行うことができる。

更に、比較器１１の出力信号はアンドゲート１
２にも到つているから、比較回路５の出力信号で
あるデイジタルデータは、比較器１１の出力信号
が“Ｌ”となつている間、インヒビツトされ、第
４図ｄに示す信号となる。このため、タイミング
エラーが発生したことにより、図示せぬCPUは
所定の処理を行いうる。

このように、本発明によれば、振幅が一定以上
に低下したときに、異常を知らせる信号を出力さ
せ得るので、基準電圧発生回路の出力レベルの選
び方によつて、デイスクの欠陥を知り得る。この
ため、タイミングエラーとなつて、全くデイスク
の機能をなくす以前に欠陥を発見できこれに対処
できる。

更に、異常を検出したときに、本発明の実施例
のように、コントローラ及びCPUにこれを知ら
せるようにすれば、コントローラ、CPUは自己
の管轄に応じた対応がなされるものである。

そして、外周側と内周側とを考慮した制御を行
つているのでより有効な読み出しが可能であり、
両面倍密度のフロツピーデイスク装置にとつて極
めて効果的な読み出し回路を提供しうる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来例のブロツク図、第２図は本発明
実施例のブロツク図、第３図、第４図は本発明実
施例を説明するための波形図である。 ６……振幅−電圧変換手段、９……基準電圧発
生回路、１０……比較回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ デイスクから読み出された読出しデータを入
   力して、このデータからその振幅に対応する電圧
   を得る振幅−電圧変換手段と、 デイスクから読み出されるデータが内側に存在
   するか外側に存在するかによつて、二種類の電圧
   を発生する基準電圧発生回路と、 前記振幅−電圧変換手段及び基準電圧発生回路
   から電圧を入力して比較する比較回路とを具備す
   るデイスクデータの読み出し回路。