JPH0246779A - 炭化珪素半導体を用いたpn接合型発光ダイオード - Google Patents
炭化珪素半導体を用いたpn接合型発光ダイオードInfo
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- JPH0246779A JPH0246779A JP63197500A JP19750088A JPH0246779A JP H0246779 A JPH0246779 A JP H0246779A JP 63197500 A JP63197500 A JP 63197500A JP 19750088 A JP19750088 A JP 19750088A JP H0246779 A JPH0246779 A JP H0246779A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/26—Materials of the light emitting region
- H01L33/34—Materials of the light emitting region containing only elements of Group IV of the Periodic Table
- H01L33/343—Materials of the light emitting region containing only elements of Group IV of the Periodic Table characterised by the doping materials
-
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- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L33/0054—Processes for devices with an active region comprising only group IV elements
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は炭化珪素半導体を用いたpn接合型発光ダイオ
ードに関し、特に緑から紫色の短波長可視光を発光する
pn接合型発光ダイオードに関する。
ードに関し、特に緑から紫色の短波長可視光を発光する
pn接合型発光ダイオードに関する。
(従来の技術)
発光ダイオードは、小型で、消費電力が少なく。
高輝度発光を安定に行い得る発光源であるため。
各種表示装置における表示素子として広く用いられ、ま
た各種情報処理装置における情報記録読み取り用の光源
としても利用されている。しかし。
た各種情報処理装置における情報記録読み取り用の光源
としても利用されている。しかし。
赤から緑色の発光ダイオードは実用化されているが、青
から紫色の短波長可視光を発光する発光ダイオードは実
用的な性能を有する素子が開発されていない。
から紫色の短波長可視光を発光する発光ダイオードは実
用的な性能を有する素子が開発されていない。
発光ダイオードの発光色は用いる半導体材料に依存し、
青色発光ダイオード用の半導体材料としては、 IV−
IV族化合物半導体である炭化珪素(SiC)。
青色発光ダイオード用の半導体材料としては、 IV−
IV族化合物半導体である炭化珪素(SiC)。
11t−V族化合物半導体である窒化ガリウム(GaN
) 。
) 。
およびII−Vl族化合物半導体である硫化亜鉛(Zn
S)およびセレン化亜鉛(ZnSe)に限られる。これ
らの半導体材料を用いて、青色発光ダイオードの研究開
発が盛んに行われているが、実用に供しうる輝度と安定
性とを有する素子の量産化には至っていない。
S)およびセレン化亜鉛(ZnSe)に限られる。これ
らの半導体材料を用いて、青色発光ダイオードの研究開
発が盛んに行われているが、実用に供しうる輝度と安定
性とを有する素子の量産化には至っていない。
発光ダイオードの素子構造としては+ pn接合型の発
光ダイオードが、電子や正孔キャリアを発光領域へ高効
率に注入できるため最も適している。
光ダイオードが、電子や正孔キャリアを発光領域へ高効
率に注入できるため最も適している。
しかしながら、上記の青色発光ダイオード用半導体材料
の中で、 GaN、 ZnS、およびZn5eの各半導
体は、p単結晶を得ることが困難か、あるいは得られて
も、高抵抗であったり、極めて不安定であるため、 p
n接合型の発光ダイオードを作製することはできない。
の中で、 GaN、 ZnS、およびZn5eの各半導
体は、p単結晶を得ることが困難か、あるいは得られて
も、高抵抗であったり、極めて不安定であるため、 p
n接合型の発光ダイオードを作製することはできない。
それゆえ、薄い絶縁層を利用したMIS構造(金属−絶
縁層一半導体構造)が採用されている。このようなMI
S構造を有する発光ダイオードは、素子特性が不均一で
あったり2発光が不安定であるという欠点を有する。
縁層一半導体構造)が採用されている。このようなMI
S構造を有する発光ダイオードは、素子特性が不均一で
あったり2発光が不安定であるという欠点を有する。
これに対して、炭化珪素(StC)は、p単結晶および
n型結晶が容易に得られるため+ pn接合型の発光ダ
イオードを作製することができる。しかも。
n型結晶が容易に得られるため+ pn接合型の発光ダ
イオードを作製することができる。しかも。
このようなpn接合型発光ダイオードの作製に際して、
液相エピタキシャル成長法(LPIE法)や気相エピタ
キシャル成長法CCVD法)などの量産に適した方法を
用いることができるという利点を有する。
液相エピタキシャル成長法(LPIE法)や気相エピタ
キシャル成長法CCVD法)などの量産に適した方法を
用いることができるという利点を有する。
アルミニウム(A1)を発光中心として用いた炭化珪素
の青色発光ダイオードについては、すでに多くの報告が
なされている(例えば、 M、 Ikeda、 T。
の青色発光ダイオードについては、すでに多くの報告が
なされている(例えば、 M、 Ikeda、 T。
Hayakawa、 S、 Yamagiwa、 +(
、Matsunami、 and T。
、Matsunami、 and T。
Tanaka、 Journal of Applie
d Physics、 Vol、50+Nα12.
pp、 8215−8225. 1979)。
d Physics、 Vol、50+Nα12.
pp、 8215−8225. 1979)。
(発明が解決しようとする課題)
炭化珪素を用いた従来のpn接合型発光ダイオードの一
例を第3図に示す。このpn接合型発光ダイオードは、
n型SiC単結晶基板l上に、 n型SiC単結晶薄層
7とn型SiC単結晶薄層8とが順次積層された構造を
有する。また、n型SiC単結晶基板lおよびn型Si
C単結晶薄層8の上には、 n型SiC用オーミック電
極9およびp型SiC用オーミック電極10がそれぞれ
形成されている、p型SiC単結晶薄層7におけるキャ
リア発生用ドーパントとしては窒素(N) ドナーが
用いられ、 n型SiC単結晶薄層8におけるキャリア
発生用ドーパントとしてはアルミニウム(^l)アクセ
プタが用いられている。ガリウム(Ga)アクセプタや
ホウ素(B)アクセプタが用いられる場合もある。青色
用の発光中心として、 n型SiC単結晶薄N7にAI
が添加されている。
例を第3図に示す。このpn接合型発光ダイオードは、
n型SiC単結晶基板l上に、 n型SiC単結晶薄層
7とn型SiC単結晶薄層8とが順次積層された構造を
有する。また、n型SiC単結晶基板lおよびn型Si
C単結晶薄層8の上には、 n型SiC用オーミック電
極9およびp型SiC用オーミック電極10がそれぞれ
形成されている、p型SiC単結晶薄層7におけるキャ
リア発生用ドーパントとしては窒素(N) ドナーが
用いられ、 n型SiC単結晶薄層8におけるキャリア
発生用ドーパントとしてはアルミニウム(^l)アクセ
プタが用いられている。ガリウム(Ga)アクセプタや
ホウ素(B)アクセプタが用いられる場合もある。青色
用の発光中心として、 n型SiC単結晶薄N7にAI
が添加されている。
このようなpn接合型発光ダイオードは、n型SiC単
結晶層7にも適量のへ1アクセプタを添加しておき、
pn接合面近傍のn型層においてNドナーに捕捉された
電子と、 AIアクセプタに捕捉された正孔との間の発
光再結合か、あるいは伝導帯の電子と。
結晶層7にも適量のへ1アクセプタを添加しておき、
pn接合面近傍のn型層においてNドナーに捕捉された
電子と、 AIアクセプタに捕捉された正孔との間の発
光再結合か、あるいは伝導帯の電子と。
^1アクセプタに捕捉された正孔との間の発光再結合に
よる発光を利用している。すなわち、 AIアクセプタ
を正孔キャリア発生用のドーパントと発光中心とに併用
している。このため、 p型層およびn型層におけるキ
ャリア濃度の制御と発光過程の制御とを、それぞれ独立
に行うことができない。
よる発光を利用している。すなわち、 AIアクセプタ
を正孔キャリア発生用のドーパントと発光中心とに併用
している。このため、 p型層およびn型層におけるキ
ャリア濃度の制御と発光過程の制御とを、それぞれ独立
に行うことができない。
従って2発光効率を向上させることが困難である。
またN ドナーおよび^lアクセプタは、そのエネルギ
ー準位が、それぞれ伝導帯および価電子帯から充分に離
れていないため、電子や正孔を充分に捕捉できない。従
って、低い発光効率しか得られないという問題点を有す
る。
ー準位が、それぞれ伝導帯および価電子帯から充分に離
れていないため、電子や正孔を充分に捕捉できない。従
って、低い発光効率しか得られないという問題点を有す
る。
本発明は上記従来の問題を解決するものであり。
その目的とすることころは、緑から紫色の短波長可視光
を効率よく安定に発光し得る。炭化珪素半導体を用いた
pn接合型発光ダイオードを提供することにある。
を効率よく安定に発光し得る。炭化珪素半導体を用いた
pn接合型発光ダイオードを提供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明は炭化珪素半導体を用いたpn接合型発光ダイオ
ードであって、 p型層およびn型層の少なくとも一方
に発光中心として4価の原子価を示す遷移元素を含んで
なり、そのことにより上記目的が達成される。
ードであって、 p型層およびn型層の少なくとも一方
に発光中心として4価の原子価を示す遷移元素を含んで
なり、そのことにより上記目的が達成される。
本発明の炭化珪素を用いたpn接合型発光ダイオードで
は、 p型層およびn型層のキャリア濃度を制御するア
クセプタおよびドナーとは別に2発光過程を制御するた
めの発光中心を導入している。
は、 p型層およびn型層のキャリア濃度を制御するア
クセプタおよびドナーとは別に2発光過程を制御するた
めの発光中心を導入している。
これら発光中心は、キャリア濃度に影響を与えるような
キャリアを発生せず、かつ発光中心として電子や正孔を
充分に捕捉し得るエネルギー準位を有する必要がある。
キャリアを発生せず、かつ発光中心として電子や正孔を
充分に捕捉し得るエネルギー準位を有する必要がある。
本発明に用いられる発光中心としては、4価の原子価を
示す遷移元素である3例えばチタン(Ti)。
示す遷移元素である3例えばチタン(Ti)。
ジルコニウム(Zr) 、およびハフニウム(Hf)を
挙げることができる。これらの遷移元素は同時に複数の
種類のものを用いてもよい。これらの遷移元素の添加量
は、典型的には10′5〜10110l9’の範囲であ
る。
挙げることができる。これらの遷移元素は同時に複数の
種類のものを用いてもよい。これらの遷移元素の添加量
は、典型的には10′5〜10110l9’の範囲であ
る。
発光中心として導入する上記遷移元素は、p型層および
n型層の両方に添加するか、あるいはいずれか一方に添
加される。この場合、遷移元素はp型層および/または
n型層の全体に添加しても。
n型層の両方に添加するか、あるいはいずれか一方に添
加される。この場合、遷移元素はp型層および/または
n型層の全体に添加しても。
あるいは部分的に添加してもよい。
上記の遷移元素は、炭化珪素(SiC)結晶中に導入さ
れた場合、原子の大きさにより、 Stの格子点に入る
が、 SiやCと同様に4価の原子価を示す元素である
ため1価電子の過不足が生じることなく周囲の炭素原子
と共有結合を形成し得る。従って。
れた場合、原子の大きさにより、 Stの格子点に入る
が、 SiやCと同様に4価の原子価を示す元素である
ため1価電子の過不足が生じることなく周囲の炭素原子
と共有結合を形成し得る。従って。
キャリア濃度や導電性に影響を与えるようなキャリアを
発生しない。
発生しない。
さらに、これらの遷移元素は、d殻が電子で完全に充た
されていないため、炭化珪素の結晶中で周囲の炭素原子
と共有結合を形成した場合、電子を有効に捕捉し得るエ
ネルギー準位を有する。このようなエネルギー準位に電
子が捕捉されると。
されていないため、炭化珪素の結晶中で周囲の炭素原子
と共有結合を形成した場合、電子を有効に捕捉し得るエ
ネルギー準位を有する。このようなエネルギー準位に電
子が捕捉されると。
正孔が該電子のクローン引力により捕捉される。
そして、これらの捕捉された電子と正孔とが発光再結合
を行う。上記の発光中心を用いた場合2発光再結合によ
る発光波長は緑から紫色の可視光領域となる。
を行う。上記の発光中心を用いた場合2発光再結合によ
る発光波長は緑から紫色の可視光領域となる。
本発明の炭化珪素半導体を用いたpn接合型発光ダイオ
ードは、 p型層およびn型層におけるキャリア濃度の
制御とは別に発光過程を制御し得る発光中心を導入した
ことにより1発光効率が向上し。
ードは、 p型層およびn型層におけるキャリア濃度の
制御とは別に発光過程を制御し得る発光中心を導入した
ことにより1発光効率が向上し。
高輝度発光が可能となった。しかも2発光中心として上
記の遷移金属を用いているため、従来実用化が困難であ
った青から紫色の発光色が達成された。
記の遷移金属を用いているため、従来実用化が困難であ
った青から紫色の発光色が達成された。
(実施例)
以下に本発明の実施例について説明する。
実施炭上
本実施例では発光中心としてチタン(Ti)を用いた発
光ダイオードについて説明する。第1図に該発光ダイオ
ードの断面図を示す。本実施例のpn接合型発光ダイオ
ードは、Nをドープしたn型SiC単結晶基板1上に、
Nをドープしたn型SiC単結晶薄層3と、 AIをド
ープしたn型SiC単結晶薄層4とが順次積層された構
造を有する、p型SiC単結晶薄層3およびn型SiC
単結晶薄層4には、いずれも発光中心としてTiが添加
されている。
光ダイオードについて説明する。第1図に該発光ダイオ
ードの断面図を示す。本実施例のpn接合型発光ダイオ
ードは、Nをドープしたn型SiC単結晶基板1上に、
Nをドープしたn型SiC単結晶薄層3と、 AIをド
ープしたn型SiC単結晶薄層4とが順次積層された構
造を有する、p型SiC単結晶薄層3およびn型SiC
単結晶薄層4には、いずれも発光中心としてTiが添加
されている。
上記のn型SiC単結晶薄層3およびn型SiC単結晶
薄層4を形成する方法としては、炭化珪素単結晶を成長
させるのに通常用いられる液相エピタキシャル成長法(
LPE法)を用いた。該[、PE法は。
薄層4を形成する方法としては、炭化珪素単結晶を成長
させるのに通常用いられる液相エピタキシャル成長法(
LPE法)を用いた。該[、PE法は。
例えばM、 Ikeda、 T、 Hayakawa、
S、 Yamagiwa、 H。
S、 Yamagiwa、 H。
Matunami、 and T、 Tanaka、
Journal of AppliedPhysics
、 Vol、5Q、No、12. pp、 8215−
8225 (1979)に開示されている。
Journal of AppliedPhysics
、 Vol、5Q、No、12. pp、 8215−
8225 (1979)に開示されている。
まず、Nをドープしたn型SiC単結晶基板1上に、窒
素不純物を添加した珪素溶融液を用いて。
素不純物を添加した珪素溶融液を用いて。
n型SiC単結晶薄層3を成長させた、p型SiC単結
晶薄層3の厚さは5μmであり、キャリア濃度は約1×
10′8印−3であった。
晶薄層3の厚さは5μmであり、キャリア濃度は約1×
10′8印−3であった。
次いで、n型SiC単結晶薄層3の上に、 AIを添加
した珪素溶融液を用いて、n型SiC単結晶薄層4を成
長させた、p型SiC単結晶薄層4の厚さは約4amで
あり、キャリア濃度は約I XIO”c+++−’であ
った。
した珪素溶融液を用いて、n型SiC単結晶薄層4を成
長させた、p型SiC単結晶薄層4の厚さは約4amで
あり、キャリア濃度は約I XIO”c+++−’であ
った。
上記のSiC単結晶薄層を成長させる際には、珪素溶融
液に金属チタンを添加しておくことにより。
液に金属チタンを添加しておくことにより。
n型SiC単結晶薄層3およびn型SiC単結晶薄層4
の両方に発光中心としてTiを含有させた。
の両方に発光中心としてTiを含有させた。
最後に、n型SiC単結晶基板1のn型SiC単結晶薄
層3を形成した面とは反対側の面上に、ニッケルからな
るn型SiC用オーミック電極9を形成し、 n型Si
C単結晶薄層4の上にはAl−Si合金からなるp型S
tC用オーミック電極10を形成することにより、第1
図に示すような発光ダイオードを得た。
層3を形成した面とは反対側の面上に、ニッケルからな
るn型SiC用オーミック電極9を形成し、 n型Si
C単結晶薄層4の上にはAl−Si合金からなるp型S
tC用オーミック電極10を形成することにより、第1
図に示すような発光ダイオードを得た。
このようにして得られた炭化珪素発光ダイオードは、順
バイアスの電圧を印加することにより。
バイアスの電圧を印加することにより。
第1図に示すように、主としてn型SiC単結晶薄層4
の上側表面から発光した。3.5V、 20mAの動作
条件で、 430nm付近に発光ピーク波長を有する
強い青紫色の発光が得られた。チタンを発光中心として
添加しても、 n型SiC単結晶薄層3およびp型Si
C単結晶層4の電気的特性は変化しなかったが。
の上側表面から発光した。3.5V、 20mAの動作
条件で、 430nm付近に発光ピーク波長を有する
強い青紫色の発光が得られた。チタンを発光中心として
添加しても、 n型SiC単結晶薄層3およびp型Si
C単結晶層4の電気的特性は変化しなかったが。
これらSiC単結晶薄層へのチタン添加量が10”〜1
01 Q cm −:lの範囲である場合に発光が観測
された。
01 Q cm −:lの範囲である場合に発光が観測
された。
チタン添加量が1019cm−3を越えると、 SiC
薄層の結晶性が低下して発光は見られなくなった。本実
施例のpn接合型発光ダイオードの最大発光効率は0.
5%であり、従来の青色発光ダイオードに比べて発光効
率が1桁以上向上した。
薄層の結晶性が低下して発光は見られなくなった。本実
施例のpn接合型発光ダイオードの最大発光効率は0.
5%であり、従来の青色発光ダイオードに比べて発光効
率が1桁以上向上した。
尖施1
本実施例では発光中心としてジルコニウム(Zr)を用
いた発光ダイオードについて説明する。第2図に該発光
ダイオードの断面図を示す。本実施例のpn接合型発光
ダイオードは、ノンドープの高抵抗SiC単結晶基板2
上に、 Nをドープしたn型SiC単結晶薄層、5と、
AIをドープしたn型SiC単結晶薄層6とが順次積
層された構造を有する、p型SiC単結晶薄層5および
n型SiC単結晶薄層6には。
いた発光ダイオードについて説明する。第2図に該発光
ダイオードの断面図を示す。本実施例のpn接合型発光
ダイオードは、ノンドープの高抵抗SiC単結晶基板2
上に、 Nをドープしたn型SiC単結晶薄層、5と、
AIをドープしたn型SiC単結晶薄層6とが順次積
層された構造を有する、p型SiC単結晶薄層5および
n型SiC単結晶薄層6には。
いずれも発光中心としてZrが添加されている。
上記のn型SiC単結晶薄層5およびp型SiC単結晶
薄N6を形成する方法としては、炭化珪素単結晶を成長
させるのに通常用いられる気相エピタキシャル成長法(
CVD法)を用いた。該CVD法は。
薄N6を形成する方法としては、炭化珪素単結晶を成長
させるのに通常用いられる気相エピタキシャル成長法(
CVD法)を用いた。該CVD法は。
例えばS、 N15hino、 H,5uhara、
H,Ono、 and II。
H,Ono、 and II。
Matsunami 、 Journal of Ap
plied Physics、 Vol。
plied Physics、 Vol。
61、Nα10. pp、 4889−4893 (1
9B?)に開示されている。炭化珪素単結晶を成長させ
るための原料ガスとしては、モノシラン(SiH4)ガ
スおよびプロパン(C3H11)ガスを用いた。基板と
しては、ノンドープの高抵抗SiC単結晶を用いた。
9B?)に開示されている。炭化珪素単結晶を成長させ
るための原料ガスとしては、モノシラン(SiH4)ガ
スおよびプロパン(C3H11)ガスを用いた。基板と
しては、ノンドープの高抵抗SiC単結晶を用いた。
まず、上記の原料ガス以外にドーピング用の窒素(N2
)ガスを加えて、ノンドープ高抵抗SiC単結晶基板2
上に、n型SiC単結晶薄層5を成長させた、p型Si
C単結晶薄層5の厚さは約5μmであり、キャリア濃度
は約I XIOlllcm−’であった。
)ガスを加えて、ノンドープ高抵抗SiC単結晶基板2
上に、n型SiC単結晶薄層5を成長させた、p型Si
C単結晶薄層5の厚さは約5μmであり、キャリア濃度
は約I XIOlllcm−’であった。
次いで+N2ガスに代えて、 AIトド−ング用のトリ
メチルアルミニウム(TMA)ガスを用いて、 n型S
iC単結晶薄層5の上に、 n型SiC単結晶薄層6を
成長させた、p型SiC単結晶薄層6の厚さは約4μm
であり、キャリア濃度は約I XIO”cm−3であっ
た。上記のSiC単結晶薄層を成長させる際には9反応
管中に金属ジルコニウムを載置して加熱することにより
、 n型SiC単結晶薄層5およびn型SiC単結晶薄
層6の両方に発光中心としてZrを含有させた。
メチルアルミニウム(TMA)ガスを用いて、 n型S
iC単結晶薄層5の上に、 n型SiC単結晶薄層6を
成長させた、p型SiC単結晶薄層6の厚さは約4μm
であり、キャリア濃度は約I XIO”cm−3であっ
た。上記のSiC単結晶薄層を成長させる際には9反応
管中に金属ジルコニウムを載置して加熱することにより
、 n型SiC単結晶薄層5およびn型SiC単結晶薄
層6の両方に発光中心としてZrを含有させた。
最後に、 n型SiC単結晶薄層6の一部をドライエツ
チングで除去し、 n型SiC単結晶薄層5の上にニッ
ケルからなるn型SiC用オーミック電[9を形成し、
n型SiC単結晶薄層6の上にはp型SiC用オーミ
ック電極10を形成することにより、第2図に示すよう
な発光ダイオードを得た。
チングで除去し、 n型SiC単結晶薄層5の上にニッ
ケルからなるn型SiC用オーミック電[9を形成し、
n型SiC単結晶薄層6の上にはp型SiC用オーミ
ック電極10を形成することにより、第2図に示すよう
な発光ダイオードを得た。
このようにして得られた炭化珪素発光ダイオードは、順
バイアスの電圧を印加することにより。
バイアスの電圧を印加することにより。
第2図に示すように、主としてノンドープ高抵抗SiC
単結晶基板2の下側表面から発光した。このように2本
実施例の発光ダイオードでは、基板として透明なノンド
ープSiC単結晶を用いているため1発光は基板側から
取り出すことができる。3.5V。
単結晶基板2の下側表面から発光した。このように2本
実施例の発光ダイオードでは、基板として透明なノンド
ープSiC単結晶を用いているため1発光は基板側から
取り出すことができる。3.5V。
20n+Aの動作条件で、 460nm付近に発光ピー
ク波長を有する強い青色の発光が得られた。上記のSi
C単結晶薄層へのジルコニウム添加量が10”〜101
9crV3の範囲である場合に発光が観測された。本実
施例のpn接合型発光ダイオードの最大発光効率は0.
7%であり、従来の青色発光ダイオードに比べて発光効
率が1桁以上向上した。
ク波長を有する強い青色の発光が得られた。上記のSi
C単結晶薄層へのジルコニウム添加量が10”〜101
9crV3の範囲である場合に発光が観測された。本実
施例のpn接合型発光ダイオードの最大発光効率は0.
7%であり、従来の青色発光ダイオードに比べて発光効
率が1桁以上向上した。
(発明の効果)
本発明によれば、このように、これまで実現されていな
かった青から紫色の短波長可視光を効率よく安定に発光
し得る発光ダイオードが得られる。
かった青から紫色の短波長可視光を効率よく安定に発光
し得る発光ダイオードが得られる。
このような発光ダイオードは2例えば各種表示装置にお
ける表示部の多色化や1発光ダイオードを光源として用
いた各種情報処理装置における情報記録読み取りの高速
化および高密度化を可能にする。しかも1通常の炭化珪
素単結晶成長法により作製し得るため、量産化が容易で
ある。従って。
ける表示部の多色化や1発光ダイオードを光源として用
いた各種情報処理装置における情報記録読み取りの高速
化および高密度化を可能にする。しかも1通常の炭化珪
素単結晶成長法により作製し得るため、量産化が容易で
ある。従って。
発光ダイオードの応用分野が飛躍的に拡大される。
4 ′ の なl
第1図は本発明の一実施例である炭化珪素半導体を用い
たpn接合型発光ダイオードの断面図、第2図は本発明
の他の実施例である炭化珪素半導体を用いたpn接合型
発光ダイオードの断面図、第3図は炭化珪素半導体を用
いた従来のpn接合型発光ダイオードの断面図である。
たpn接合型発光ダイオードの断面図、第2図は本発明
の他の実施例である炭化珪素半導体を用いたpn接合型
発光ダイオードの断面図、第3図は炭化珪素半導体を用
いた従来のpn接合型発光ダイオードの断面図である。
1・・・Nドープn型SiC単結晶基板、2・・・ノン
ドープ高抵抗SiC単結晶基板、3・・・発光中心とし
てTiが添加されたNドープn型SiC単結晶薄層、4
・・・発光中心としてTiが添加されたへ1ドープp型
SiC単結晶薄層、5・・・発光中心としてZrが添加
されたNドープn型SiC単結晶薄層、6・・・発光中
心としてZrが添加されたAllドープ型SiC単結晶
薄層、7・・・発光中心として八!が添加されたNドー
プn型SiC単結晶薄層、8・・・A1ドープp型Si
C単結晶薄層、9・・・n型SiC用オーミック電極、
10・・・n型SiC用オーミック電極。
ドープ高抵抗SiC単結晶基板、3・・・発光中心とし
てTiが添加されたNドープn型SiC単結晶薄層、4
・・・発光中心としてTiが添加されたへ1ドープp型
SiC単結晶薄層、5・・・発光中心としてZrが添加
されたNドープn型SiC単結晶薄層、6・・・発光中
心としてZrが添加されたAllドープ型SiC単結晶
薄層、7・・・発光中心として八!が添加されたNドー
プn型SiC単結晶薄層、8・・・A1ドープp型Si
C単結晶薄層、9・・・n型SiC用オーミック電極、
10・・・n型SiC用オーミック電極。
以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、炭化珪素半導体を用いたpn接合型発光ダイオード
であって、 p型層およびn型層の少なくとも一方に発光中心として
4価の原子価を示す遷移元素を含む、pn接合型発光ダ
イオード。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19750088A JP2650730B2 (ja) | 1988-08-08 | 1988-08-08 | 炭化珪素半導体を用いたpn接合型発光ダイオード |
DE3926373A DE3926373A1 (de) | 1988-08-08 | 1989-08-05 | Lichtemittierende diode aus siliciumcarbid mit einem pn-uebergang |
US07/390,600 US5063421A (en) | 1988-08-08 | 1989-08-07 | Silicon carbide light emitting diode having a pn junction |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19750088A JP2650730B2 (ja) | 1988-08-08 | 1988-08-08 | 炭化珪素半導体を用いたpn接合型発光ダイオード |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0246779A true JPH0246779A (ja) | 1990-02-16 |
JP2650730B2 JP2650730B2 (ja) | 1997-09-03 |
Family
ID=16375505
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19750088A Expired - Fee Related JP2650730B2 (ja) | 1988-08-08 | 1988-08-08 | 炭化珪素半導体を用いたpn接合型発光ダイオード |
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Country | Link |
---|---|
US (1) | US5063421A (ja) |
JP (1) | JP2650730B2 (ja) |
DE (1) | DE3926373A1 (ja) |
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US7573075B2 (en) | 2004-03-30 | 2009-08-11 | Showa Denko K.K. | Compound semiconductor device, production method of compound semiconductor device and diode |
JP2010123794A (ja) * | 2008-11-20 | 2010-06-03 | Toyota Motor Corp | p型SiC半導体 |
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-
1988
- 1988-08-08 JP JP19750088A patent/JP2650730B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-08-05 DE DE3926373A patent/DE3926373A1/de not_active Ceased
- 1989-08-07 US US07/390,600 patent/US5063421A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3926373A1 (de) | 1990-02-15 |
JP2650730B2 (ja) | 1997-09-03 |
US5063421A (en) | 1991-11-05 |
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