JPH024670A - エンボス包装用カバーテープ - Google Patents

エンボス包装用カバーテープ

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JPH024670A
JPH024670A JP63146190A JP14619088A JPH024670A JP H024670 A JPH024670 A JP H024670A JP 63146190 A JP63146190 A JP 63146190A JP 14619088 A JP14619088 A JP 14619088A JP H024670 A JPH024670 A JP H024670A
Authority
JP
Japan
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cover tape
tape
carrier tape
heat
cover
Prior art date
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Pending
Application number
JP63146190A
Other languages
English (en)
Inventor
Takehiro Saito
齋藤 武博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH024670A publication Critical patent/JPH024670A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路装置等が個々に収納されるエン
ボス部を有する長尺状のキャリアテープの一連のエンボ
ス部をカバーするエンボス包装用カバーテープに関する
〔従来の技術〕
従来、この種のエンボス包装用のカバーテープとしては
、ヒートシール層としてのポリエチレンと、カバーテー
プ自体に強度を持たせるためのポリエチレンテレフタレ
ートとを貼り合せたものが一般的であった。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のエンボス包装用のカバーテープは、ヒー
トシール層がポリエチレンであり表面抵抗値はlXl0
”(Ω)にまで達していた。また、表層のポリエチレン
テレフタレートにおいても表面抵抗値はlXl015(
Ω)にまで達している。
一方、半導体集積回路が挿入される窪(以下キャリアテ
ープのエンボス部分)とキャリアテープ(一連の窪をも
ったテープ)はカーボンを含ませることで表面抵抗値は
lXl0’Ω以下に作られている。
しかし、カバーテープの表面抵抗があまりに高いためキ
ャリアテープからカバーテープをはがして半導体集積回
路をプリントボードに実装しようとする際、カバーテー
プに帯電した静電気が原因で軽量のチップ部品は、カバ
ーテープに吸着されてしまうという不具合が生じる。
また、高集積度をもった半導体集積回路の場合は、キャ
リアテープとカバーテープが剥離される時に発生する静
電気が原因でいわゆる静電気破壊を起ごす場合があった
これを防止するために、カバーテープにスタチサイドや
フルコート等の帯電防止剤を使用しカバーテープを浸漬
した場合、通常のプラスチックマガジンと同様表面抵抗
値はlXl0Ia(Ω)以下になるもののキャリアテー
プにカバーテープが熱圧着されにくくカバーテープがキ
ャリアテープからはがれてしまったり逆に、熱圧着後異
常にシール強度が上昇しキャリアテープかもカバーテー
プをはがして半導体装置をプリントボードに実装する際
不具合が生じる。通常実装機の性能上、カバーテープを
180′に120mm/winの速さで引っばった時の
強さは10〜150g程度でなければならない。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のエンボス包装用カバーテープは、電子部品が個
々に収納されるエンボス部を有する長尺状のキャリアテ
ープの一連のエンボス部をカバーするエンボス包装用カ
バーテープにおいて、キャリアテープとヒートシールす
る部分を除き表面抵抗値がlXl012(Ω)以下のプ
ラスチック層を積層したことを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図(A)は本発明の一実施例の平面図、第1図(B
)は第1図(A)のA−A’断面図である。
キャリアテープ1はカバーテープ2でヒートシール3に
より封止されている。半導体集積回路はエンボス部4に
挿入される。また、キャリアテープ1を送るためのスプ
ロケット5がもうけられている。本実施例のカバーテー
プ2は、ヒートシール部以外に表面抵抗値がlXl0”
(Ω)以下のカーボン入りのプラスチック層をもうけて
いる。
さらに、第2図に該−実施例の拡大斜視図を示した。カ
ーボン入りプラスチック層6は、カバーテープの表裏に
施けられている。しかし、カーボン入りプラスチック層
6はキャリアテープと熱圧着性が悪いのでポリエチレン
層7の熱圧着部にはもうけない。
第3図は本発明の他の実施例のカバーテープの拡大斜視
図である。金属細線を入りた表面抵抗値がlXl0”(
Ω)以下のプラスチック層9は、カバーテープの表裏に
もうけられている。また熱圧着部11には、金属細線層
をもうけない。この実施例ではカーボンを用いないため
カバーテープは透明を維持できるのでエンボス内に挿入
された半導体集積回路の確認ができる利点がある。
第4図は表面抵抗値が1xtO”(Ω)のキャリアテー
プ上に21.05mmのカバーテープを熱圧着し50c
m/secの速さでカバーテープを剥離した場合に発生
する帯電圧を、集電式電位差計を用いて測定した値を示
す図である。第4図に示すようにカバーテープの表裏の
表面抵抗値がlXl0”(Ω)以下であるのでほとんど
帯電圧が生じない。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、ヒートシール部以外のカ
バーテープの表裏に表面抵抗値が1×10”(Ω)以下
のプラスチック層をもうけることにより、実装時に高速
でカバーテープがキャリアテープから剥離される時に生
じる静電気に起因する半導体集積回路チップのカバーテ
ープへのくっつきや半導体集積回路の静電気破壊が防止
できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)は本発明の一実施例の平面図、第1図(B
)は第1図(A)のA−A’線断面図、第2図は該−実
施例の拡大斜視図、第3図は本発明の他の実施例の拡大
斜視図、第4図は本発明及び従来のカバーテープを剥離
した場合に発生する帯電圧の測定図である。 1・・・・・・キャリアテープ、2・・印・カバーテー
プ、3・・・・・・ヒートシール、4・・・・・・エン
ボス部、5・・・・・・スプロケット、6・・・・・・
カーボン入りプラスチック層、7・・・・・・ポリエチ
レン層、8・・・・・・熱圧着部、9・・・・・・金属
細線を入れたプラスチック層、10・・・・・・ポリエ
チレン層、11・・・・・・熱圧着部。 代理人 弁理士  内 原   晋 イ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 電子部品が個々に収納されるエンボス部を有する長尺状
    のキャリアテープの一連のエンボス部をカバーするエン
    ボス包装用カバーテープにおいて、キャリアテープとヒ
    ートシールする部分を除き表面抵抗値が1×10^1^
    2(Ω)以下のプラスチック層を積層したことを特徴と
    するエンボス包装用カバーテープ。
JP63146190A 1988-06-13 1988-06-13 エンボス包装用カバーテープ Pending JPH024670A (ja)

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JP63146190A JPH024670A (ja) 1988-06-13 1988-06-13 エンボス包装用カバーテープ

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JPH024670A true JPH024670A (ja) 1990-01-09

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ID=15402171

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JP63146190A Pending JPH024670A (ja) 1988-06-13 1988-06-13 エンボス包装用カバーテープ

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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