JPH0243235B2

JPH0243235B2 -

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Publication number: JPH0243235B2
Application number: JP56127336A
Authority: JP
Priority date: 1981-08-15
Filing date: 1981-08-15
Publication date: 1990-09-27
Also published as: JPS5829097A

Description

【発明の詳細な説明】この発明は物理量の変化を容量、抵抗または電
圧値の変化として検出し、該検出々力をデイジタ
ル量に変換するとともに、該デイジタル量にもと
づいて所定の演算を行なうことによつて物理量の
測定を行なうようにした測定装置に関する。

従来、かゝる測定装置においては、検出部にて
検出された容量、抵抗または電圧値をアナログ演
算回路によつてアナログ的に処理し、必要に応じ
てゼロ、スパンの調整をしたのち、電圧−電流変
換伝送回路にて４〜20ｍＡのアナログ出力に変換
して遠隔のパネル側装置へ伝送する。ところで、
このような測定装置はアナログ回路を使用するも
のであるため測定誤差を生じ易く、したがつて測
定精度が低下するという欠点を有している。ま
た、電圧−電流変換回路との絶縁もアナログ回路
であるために一般には困難であり、そのために外
部からのノイズやサージ等によつて誤動作し易い
という欠点を有している。

この発明は上記に鑑みなされたもので、測定装
置をデイジタル化することによつて測定精度の向
上を図るとともに、測定装置と電圧−電流変換回
路との絶縁を容易になしうるようにすることを目
的とするものである。

上記の目的は、この発明によれば、コンデンサ
（抵抗器）、容量（抵抗）−周波数変換手段、第１、
第２計数手段およびデイジタル演算手段を組み合
わせて構成される測定部と、直流電源を備え該電
源に接続された一対の伝送ラインを介して測定出
力を所定範囲の電流信号に変換して送出する変換
部とを設け、該変換部から測定部へ電源を供給す
るようにして達成される。

以下、この発明の実施例を図面を参照して説明
する。

第１図はこの発明の実施例を概略的に示すブロ
ツク図、第２図はこの発明の実施例を詳細に示す
回路図、第３図は機械的な変位量を容量値に変換
して検出する検出原理を説明するための原理図、
第４図は第２図の動作を説明するタイムチヤー
ト、第５図は容量検出部の他の実施例を示す回路
図である。

第１図において１は検出部、２は検出部選択回
路、３は周波数変換回路、４はカウンタ、５はタ
イマー、６は基準クロツク発生回路、７はマイク
ロプロセツサ（以下、μ−COM演算回路ともい
う。）、８は周波数−電圧（Ｆ／Ｖ）変換回路、９
は電圧−電流（Ｖ／Ｉ）変換伝送回路、１０はキ
ーボードであり、１〜７および10によつて測定部
MEが形成され、８および９によつて変換部CO
が形成されている。なお、Ｆ／Ｖ変換器および
Ｖ／Ｉ変換伝送回路としては従来周知のものを使
用することができる。

これらの各部は第２図に示されるように、検出
部１はコンデンサC₁，C₂によつて構成され、検
出部選択回路２はコンデンサC₁，C₂および測温
用のコンデンサCs、サーミスタRsの選択を行な
うＣ−MOS（相補形MOS）タイプのアナログス
イツチSW２（SW２１，SW２２）より構成さ
れ、周波数変換回路３はコンデンサC₁，C₂の充
放電の切替えおよびフリツプフロツプQ₁のクリ
アまたはリセツトを行なうアナログスイツチSW
１（SW１１，SW１２）と、コンデンサC₁また
はC₂の充電々圧が所定の電圧レベル（スレツシ
ユホールドレベル）を超えたときセツトされ、所
定の時定数（抵抗Rf、コンデンサCf）によつて
決まる一定時間後にリセツトされるフリツプフロ
ツプQ₁（Ｄ形）とから構成されている。なお、従
来の一般的なＤ形フリツプフロツプを使用する場
合は、その前段にスレツシユホールドレベルを判
別するための特別な回路（例えば、シユミツト回
路）が必要となるが、Ｃ−MOS形のフリツプフ
ロツプを使用する場合はこのような回路を必要と
せず、その切り替わり電圧をそのままスレツシユ
ホールド電圧として使用することができる。タイ
マー５は２段のカウンタCT２，CT３から構成さ
れ、μ−COM演算回路７からのリセツト信号PO
３の解除によつて基準クロツク発生回路６から与
えられるクロツク信号の計数を開始し、カウンタ
CT１，４からのカウントアツプ信号によつて計
数を停止する。μ−COM演算回路７は基準クロ
ツク発生回路６からのクロツク信号によつて駆動
され種々の演算、制御動作を行なう。例えば、検
出部選択回路２のアナログスイツチSW２にモー
ド選択信号PO１，PO２を送出してコンデンサC₁
測定モード、コンデンサC₂測定モード、または
温度測定モード（抵抗Rs、コンデンサCsによる
測定）の選択を行ない、非測定時にはカウンタ４
およびタイマー５に対してリセツト信号PO３を
与えてこれらのリセツトを行なうとともに、測定
時には該リセツト信号PO３を解除して計数動作
を行わせ、カウンタ４からのカウントアツプ信号
を割込信号IRQとして受け、タイマー５からの計
数出力を端子PI０〜PI１５を介して読取り、所
定の演算処理を行なう。また、キーボード１０か
らの指令を受けてゼロ点およびスパン調整を行な
い、測定結果についての補正演算を行なう。μ−
COM演算回路７の出力端子TOには、該回路７
からの周波数出力信号を電圧信号（アナログ量）
に変換する周波数−電圧変換回路８、および入力
電圧を４−20ｍＡの電流に変換して出力する電圧
−電流変換伝送回路９が接続されている。この伝
送回路９は一対の伝送ラインl₁，l₂を介して直流
電源Esおよび負荷抵抗RLに接続されている。な
お、伝送回路９において、９１は定電流源、９２
は出力トランジスタ、９３は差動増幅器、９４は
フイードバツク抵抗、９５はツエナーダイオー
ド、９６は抵抗回路網である。

ところで、ここで行なわれる測定は圧力等の機
械的な変位量を容量に変換し、該検出結果をさら
にデイジタル量に変換し、該デイジタル量にもと
づいて所定の演算を行なうことにより測定するも
のであるから、測定動作を説明する前に、まず、
その検出原理について第３図を参照して説明す
る。

同図Ａには２つの固定電極EL_F間に可動電極
EL_Vが配置され、該可動電極EL_Vは圧力等の機械
的な変位に応じて図の左、右（矢印Ｒ参照）方向
に移動する。この場合、各電極間の容量CA₁，
CA₂は一方が増大すれば他方は減少する、つまり
差動的に変化する。ここで、各電極の面積をＳ、
電極間の誘電率をε、可動電極EL_Vと固定電極
EL_Fとの間隔をｄとし、例えば同図Ａの点線で示
される如く可動電極EL_VがΔdだけ変位したとき
の容量CA₁，CA₂は CA₁＝εA／ｄ−Δd CA₂＝εA／ｄ＋Δd として求められる。こゝで、これら容量の和およ
び差を考えると、 CA₁＋CA₂＝εA・2d／d²−（Δd）² CA₁−CA₂＝εA・2Δd／d²−（Δd）² となり、したがつてその比をとると、（CA₁−CA₂）／（CA₁A＋CA₂）＝Δd／ｄが得られ、変位量Δdを容量値（CA₁−CA₂）／
（CA₁＋CA₂）によつて求めることができる。

同様にして、第３図Ｂでは２つの固定電極EL_F
に対して可動電極EL_Vが図の如く配置され、外部
圧力等の変位によつて図の点線位置にΔdだけ変
位した場合は次のようになる。この場合、容量
CA₁は固定、CA₂は可変であつて、その値は上記
と同様にして、 CA₁＝εA／ｄ、CA₂＝εA／（ｄ＋Δd）と表わすことができる。そこで、これらの差を考
えると、 CA₁−CA₂＝εA・Δd／ｄ（ｄ＋Δd）であり、したがつてCA₁−CA₂とCA₂との比をと
ると、（CA₁−CA₂）／CA₂＝Δd／ｄとなり、変位量Δdを静電容量値の変化として検
出することができる。これらの式からも明らかな
ように、変位量は静電容量のみの関数であるか
ら、電極間の誘電率や浮遊容量の影響を受けず、
このため容量によつて機械的な変位量を正確に検
出することが可能となる。

次に、このような検出原理にもとづく測定動作
について主として第２図および第４図を参照して
説明する。

初期状態においては、μ−COM演算回路７か
らはモード選択信号PO１，PO２は与えられず、
リセツト信号PO３によつてカウンタCT１，４お
よびタイマー５はリセツト状態にある。ここで、
第４図イの如きコンデンサC₁の測定モード信号
が与えられ、第４図ロの如くリセツト信号PO３
が解除されるとコンデンサC₁、スイツチSW２
１、SW１１、抵抗Ｒ、電源V_DDなる経路が形成
されるので、コンデンサC₁が第４図ハで示され
るように充電される。t₁時間後にこの充電々圧が
フリツプフロツプＱ１のスレツシユホールド電圧
V_THを超えると、該フリツプフロツプＱ１がセツ
トされ、その出力端子Ｑより出力が得られる。こ
の出力は抵抗RfおよびコンデンサCfに与えられ
るとともに、アナログスイツチSW１にも与えら
れる。その結果、スイツチSW１２が開放されて
抵抗RfとコンデンサCfによる充電回路が形成さ
れる。なお、このときSW１１が点線の位置へ切
り替えられ、コンデンサC₁の放電が行なわれる。
コンデンサCfの充電々圧が第４図ホで示される
ように、所定時間t_c後に所定の値となると、フリ
ツプフロツプＱ１はクリアされ、その結果、フリ
ツプフロツプＱ１からは第４図ニの如き一定幅
（t_c）の出力パルスが得られる。なお、フリツプ
フロツプＱ１のリセツトによつてアナログスイツ
チSW１もオフとなるので、スイツチSW１２は
第２図の図示位置に復帰し、コンデンサCfの放
電回路を形成する。上述の時間t₁はコンデンサC₁
および抵抗Ｒの大きさに比例するから、フリツプ
フロツプＱ１の出力からはコンデンサC₁の容量
値に比例した周波数のパルス信号が得られること
になる。このパルス信号はカウンタ４によつて計
数され、所定数に達すると第４図ヘに示される如
きパルス（カウントUP出力）を発してタイマー
５による計数を停止させる（第４図ト参照）。タ
イマー５は先のリセツト信号PO３の解除ととも
にパルス発生回路６からのクロツクパルスを計数
しており、該計数結果がカウンタ４からのカウン
トUP信号を受けたμ−COM演算回路７により端
子PI０〜PI１５を介して読取られる。

こゝで、上記フリツプフロツプＱ１のスレツシ
ユホールド電圧をV_THとすれば、 V_TH＝V_DD（１−e^-t ₁ ^/RC ₁）として表わされ、したがつてコンデンサC₁の充
電時間t₁（第４図ニ参照）は、 t₁＝−RC₁log_e（１−V_TH／V_DD）の如く表わされる。なお、V_DDは電源電圧であ
る。

また、上記の時間t_cも同様にして t_c＝−RfCflog_e（１−V_TH／V_DD）として表わされる。なお、Rf，Cfの値は既知で
あるから、このt_cは一定値である。

したがつて、コンデンサC₁の充、放電動作を
ｎ回カウントする迄の基準クロツク発生回路６か
らのクロツクパルスを数えることにより、すなわ
ちタイマー５からの計数出力によつてコンデンサ
C₁による充放電時間T₁を求めることができる。

この充放電時間T₁は第４図ニからも明らかな
ように、充電（t₁）はｎ回であるのに対して放電
（t_c）はｎ−１回であるから T₁＝nt₁＋（ｎ−１）t_c ……（）として求めることができる。なお、このようにｎ
回カウントするのは、時間測定カウンタCT２，
CT３の分解能を上げるためであり、その数ｎは
基準クロツク発生回路６の出力周波数、抵抗Ｒの
抵抗値またはコンデンサC₁の容量値等に応じて
適宜選択される。

このようにして、コンデンサC₁の充放電時間
T₁を測定した後（なお、測定されるのは厳密に
は充電時間t₁だけである。）、μ−COM演算回路
７からの指令信号PO１またはPO２によりスイツ
チSW２１を切換えてコンデンサC₂の測定モード
とし、コンデンサC₂の充放電時間を測定する。
この場の動作の態様は全く同様であるから説明は
省略するが、そのタイムチヤートは第４図の右側
半分にC₂モードとして示されている。なお、こ
の場合の充放電時間T₂は（）式と同様にして T₂＝nt₂＋（ｎ−１）t_c ……（）となる。

μ−COM演算回路７では上記（）、（）式
より次の如き演算を行なう。

T₁＋T₂−２（ｎ−１）t_c＝−nR（C₁＋C₂）log_e（１−
V_TH／V_DD）T₁−T₂＝−nR（C₁−C₂）log_e（１ −V_TH／V_DD）T₁−T₂／T₁＋T₂−２（ｎ−１）t_c＝C₁−C₂／C₁＋C₂……（）この（）式は先の原理図における説明からも
明らかなように変位に比例するから、μ−COM
演算回路７では上記の如き演算を行なうことによ
つてその変位を測定できることがわかる。

なお、上記ではコンデンサC₁，C₂の容量を差
動的に変化させることにより機械的な変位置、例
えば差圧ΔPを測定するようにしたが、第５図に
示されるように、コンデンサの一方（C₂）を固
定とし、他方（C₁）を可変とするものについて
も同様に測定しうることは、先の原理図の説明か
らも明らかである。ただし、この場合は上記の差
圧ΔPのかわりに圧力Ｐを求めることとなるが、
その演算式は上記と同様にして次のように表わさ
れる。

Ｐ＝C₁−C₂／C₂＝T₁−T₂／T₂−（ｎ−１）t_c 上記の実施例においては、機械的な変位量を静
電容量値に変換して検出するようにしたが、これ
を抵抗、周波数または電圧に変換して検出するこ
とも可能である。

第６〜８図は検出部の他の実施例を示す回路図
で、第６図は抵抗値に変換する場合、第７図は周
波数に変換する場合、そして第８図は電圧値に変
換して検出する場合をそれぞれ示すものである。

これらの図において、コンデンサＣの容量値お
よび抵抗Rcの抵抗値はともに一定であり、また
スイツチSW１１，SW２１およびフリツプフロ
ツプＱ１は第２図実施例に示されるものと同様の
ものである。

第６図ａ〜ｃにおける検出原理はいずれも容量
による検出原理と全く同様であつて、充放電時間
が抵抗とコンデンサとの積に比例することを利用
して、ここでは抵抗値を検出するようにしたもの
である。すなわち、同図ａに示されるものはスイ
ツチSW２１をRx側に倒してその充放電時間T₁
を測定（なお、測定されるのは厳密には充電時間
だけである。）し、次にRc側に倒して同様に充放
電時間T₂を求め、 Rx／Rc＝T₁−（ｎ−１）t_c／T₂−（ｎ−１）t_c なる演算によつてRxの抵抗値を求める。

同じく同図ｃに示されるものは、先の実施例に
おけるコンデンサC₁，C₂を抵抗R₁，R₂におきか
えたものに相当するから、その演算式も T₁−T₂／T₁＋T₂−２（ｎ−１）t_c＝R₁−R₂／R₁＋R₂ の如く全く同様に表わされることになる。

また、同図ｂに示されるものはライン抵抗Rl
が変動する場合である。したがつて、スイツチ
SW２１を順次切替えることによつてRx＋2Rl、
2RlおよびRcによるそれぞれの充放電時間T₁，
T₂およびT₃を求め、 T₁−T₂／T₃−（ｎ−１）t_c＝Rx／Rc なる演算式より抵抗値Rxを測定する。

第７図においては、検出部にすでに周波数に変
換されているから、第２図実施列の如き周波数変
換回路は不要となり、検出部からの出力は適宜増
巾されて直接カウンタへ導入される。この場合、
カウンタが所定数Ｎを計数する迄にどれだけの時
間Ｔがかゝるかを演算することによつてその周波
数（Ｎ／Ｔ）を求めることができる。

第８図は電圧E₁に変換して検出する場合であ
つて、コンデンサＣに一定の電流（）を流して
充電を行ない、該充電による電圧を演算増巾器
OP２の一方に与え、もう一方には演算増巾器OP
１によつて増巾された入力電圧E₁を導入し、充
電電圧が入力電圧E₁を超えたときフリツプフロ
ツプＱ１をセツトするようにしたものである。コ
ンデンサＣによる充電は一定の態様で行なわれる
のに対し入力電圧レベルE₁が変動するので、電
圧値に応じた時間信号を得ることができる。ここ
で、スイツチSW２１が図示の状態にあるときの
時間測定出力をT₂、図示とは反対側の状態に切
替えたときのそれをT₁とすると、 T₂−T₁＝Cx／Ｉ・E₁ なる演算によつて電圧値E₁を求めることができ
る。こゝに、E₁は測定電圧、ＩはコンデンサＣ
に与えられる電流、CxはコンデンサＣの容量値
である。

このようにして測定された測定データは、第１
図または第２図に示される周波数−電圧（Ｆ／
Ｖ）変換回路８を介して４−20ｍＡの電流を出力
する電圧−電流（Ｖ／Ｉ）変換伝送回路９へ与え
られ、遠隔のパネル側装置（負荷抵抗側）へ伝送
される。すなわち、測定部ME（第１図参照）自
体には電源を有しておらず、Ｖ／Ｉ変換伝送回路
９から電源の供給を受けてアナログ・デイジタル
変換して測定した物理量を再びアナログ量に変換
するとともに、Ｖ／Ｉ変換回路９にて４−20ｍＡ
の電流に変換して送出する。つまり、計測分野等
においては、一般に４−20ｍＡの統一信号で扱わ
れることが多く、したがつてＦ／Ｖ変換回路８お
よびＶ／Ｉ変換伝送回路９を設けて、他の測定機
器またはパネル側装置との調整を図ろうとするも
のである。アナログ量をデイジタル変換して再び
アナログ量に変換するという、一見無駄な努力を
しているようであるが、物理量を測定する測定部
をデイジタル化することによつて従来のアナログ
回路が有していた測定精度の限界を向上させると
ともに、各種補正演算を容易にし、かつ電圧−電
流変換回路との間の絶縁を容易にしてノイズやサ
ージ等の影響を少なくするという効果を期待する
ものである。

なお、測定部から周波数信号を出力するように
したが、これをパルス巾変調（PWM）して出力
するようにしてもよく、その他のデイジタル信号
によつて出力するようにしてもよいものである。
また、電圧−電流（Ｖ／Ｉ）変換回路との間の絶
縁も電源回路を含めて行なうようにすれば、より
一層の効果を期待することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例の概要を示すブロツ
ク図、第２図はこの発明の実施例を詳細に示す回
路図、第３図は物理的な変位量を容量変化に変換
して検出する方法を説明するための原理図、第４
図は第２図の動作を説明するためのタイムチヤー
ト、第５図は容量検出部の他の実施例を示す回路
図、第６図は抵抗検出部の実施例を示す回路図、
第７図は周波数検出部の実施例を示す回路図、第
８図は電圧検出部の実施例を示す回路図である。符号説明、１……検出部、２……検出部選択回
路、３……周波数変換回路、４……カウンタ、５
……タイマー、６……基準クロツク発生回路、７
……μ−COM演算回路、８……周波数−電圧変
換回路、９……電圧−電流変換伝送回路、１０…
…キーボード、Ｃ，C₁，C₂，Cs……コンデンサ、
Ｒ，Rs，Rx，Rl，Rc，R₁，R₂……抵抗、Ｑ１
……フリツプフロツプ、SW１，SW２……アナ
ログスイツチ、CT１〜CH３……カウンタ、OP
１，OP２……演算増巾器、ME……測定部、CO
……変換部、９１……定電流源、９２……出力ト
ランジスタ、９２……差動増巾器、９４……フイ
ードバツク抵抗、９５……ツエナーダイオード、
９６……抵抗回路網、ES……直流電源。

Claims

【特許請求の範囲】１機械的な変位に応じて容量値が差動的に変化
する２つのコンデンサと、前記各コンデンサをそ
れぞれ時分割的に充電しかつ一定時間で放電する
充放電回路を持ち、該充放電に要する時間からそ
の容量に応じた周波数のパルス信号に変換する容
量−周波数変換手段と、該変換手段からのパルス
数を計数し、該計数値が所定の値に達したとき計
数出力を出す第１の計数手段と、前記各コンデン
サの充電または放電開始とともにクロツク信号源
からのクロツクパルスの計数を開始し、前記第１
計数手段からの計数出力によつて該クロツクパル
スの計数を停止する第２の計数手段と、前記第１
計数手段からの計数出力を受けて該第２計数手段
の計数結果を読取り、該結果にもとづき下記(1)式
の演算をして機械的変位量を求めるデイジタル演
算手段とからなる測定部と、直流電源を備え該電
源に接続された二線式の伝送ラインを介して前記
測定部からの測定出力を所定レベル範囲の電流信
号に変換して送出する変換部とを有し、前記測定
部の電源を該変換部から供給するようにしてなる
ことを特徴とする二線式測定装置。記（T₁−T₂）／（T₁＋T₂−Ｋ） ……(1) T₁；一方のコンデンサを測定したときの計数結
果 T₂；他方のコンデンサを測定したときの計数結
果Ｋ；定数２一方は容量値が機械的な変位に応じて変化
し、他方は容量値が固定の２つのコンデンサと、
前記各コンデンサをそれぞれ時分割的に充電しか
つ一定時間で放電する充放電回路を持ち、該充放
電に要する時間からその容量に応じた周波数のパ
ルス信号に変換する容量−周波数変換手段と、該
変換手段からのパルス数を計数し、該計数値が所
定の値に達したとき計数出力を出す第１の計数手
段と、前記各コンデンサの充電または放電開始と
ともにクロツク信号源からのクロツクパルスの計
数を開始し、前記第１計数手段からの計数出力に
よつて該クロツクパルスの計数を停止する第２の
計数手段と、前記第１計数手段からの計数出力を
受けて該第２計数手段の計数結果を読取り、該結
果にもとづき下記(1)式の演算をして機械的変位量
を求めるデイジタル演算手段とからなる測定部
と、直流電源を備え該電源に接続された二線式の
伝送ラインを介して前記測定部からの測定出力を
所定レベル範囲の電流信号に変換して送出する変
換部とを有し、前記測定部の電源を該変換部から
供給するようにしてなることを特徴とする二線式
測定装置。記（T₁−T₂）／（T₂−Ｋ） ……(1) T₁；一方のコンデンサを測定したときの計数結
果 T₂；他方のコンデンサを測定したときの計数結
果Ｋ；定数３機械的な変位に応じて抵抗値が差動的に変化
する２つの抵抗器と、前記各抵抗器を介して所定
のコンデンサをそれぞれ時分割的に充電しかつ一
定時間で放電する充放電回路を持ち、該充放電に
要する時間からその抵抗に応じた周波数のパルス
信号に変換する抵抗−周波数変換手段と、該変換
手段からのパルス数を計数し、該計数値が所定の
値に達したとき計数出力を出す第１の計数手段
と、前記各コンデンサの充電または放電開始とと
もにクロツク信号源からのクロツクパルスの計数
を開始し、前記第１計数手段からの計数出力によ
つて該クロツクパルスの計数を停止する第２の計
数手段と、前記第１計数手段からの計数出力を受
けて該第２計数手段の計数結果を読取り、該結果
にもとづき下記(1)式の演算をして機械的変位量を
求めるデイジタル演算手段とからなる測定部と、
直流電源を備え該電源に接続された二線式の伝送
ラインを介して前記測定部からの測定出力を所定
レベル範囲の電流信号に変換して送出する変換部
とを有し、前記測定部の電源を該変換部から供給
するようにしてなることを特徴とする二線式測定
装置。記（T₁−T₂）／（T₁＋T₂−Ｋ） ……(1) T₁；一方の抵抗器を測定したときの計数結果 T₂；他方の抵抗器を測定したときの計数結果Ｋ；定数４一方は抵抗値が機械的な変位に応じて変化
し、他方は抵抗値が固定の２つの抵抗器と、前記
各抵抗器を介して所定のコンデンサをそれぞれ時
分割的に充電しかつ一定時間で放電する充放電回
路を持ち、該充放電に要する時間からその抵抗に
応じた周波数のパルス信号に変換する抵抗−周波
数変換手段と、該変換手段からのパルス数を計数
し、該計数値が所定の値に達したとき計数出力を
出す第１の計数手段と、前記各コンデンサの充電
または放電開始とともにクロツク信号源からのク
ロツクパルスの計数を開始し、前記第１計数手段
からの計数出力によつて該クロツクパルスの計数
を停止する第２の計数手段と、前記第１計数手段
からの計数出力を受けて該第２計数手段の計数結
果を読取り、該結果にもとづき下記(1)式の演算を
して機械的変位量を求めるデイジタル演算手段と
からなる測定部と、直流電源を備え該電源に接続
された二線式の伝送ラインを介して前記測定部か
らの測定出力を所定レベル範囲の電流信号に変換
して送出する変換部とを有し、前記測定部の電源
を該変換部から供給するようにしてなることを特
徴とする二線式測定装置。記（T₁−Ｋ）／（T₂−Ｋ） ……(1) T₁；一方の抵抗器を測定したときの計数結果 T₂；他方の抵抗器を測定したときの計数結果Ｋ；定数５一方はライン抵抗を含み抵抗値が物理的な変
動に応じて変化し、他方は抵抗値が固定の２つの
抵抗器と、この２つの抵抗器および前記ライン抵
抗を介して所定のコンデンサをそれぞれ時分割的
に充電しかつ一定時間で放電する充放電回路を持
ち、該充放電に要する時間からその抵抗に応じた
周波数のパルス信号に変換する抵抗−周波数変換
手段と、該変換手段からのパルス数を計数し、該
計数値が所定の値に達したとき計数出力を出す第
１の計数手段と、前記各コンデンサの充電または
放電開始とともにクロツク信号源からのクロツク
パルスの計数を開始し、前記第１計数手段からの
計数出力によつて該クロツクパルスの計数を停止
する第２の計数手段と、前記第１計数手段からの
計数出力を受けて該第２計数手段の計数結果を読
取り、該結果にもとづき下記(1)式の演算をして物
理的変動量を求めるデイジタル演算手段とからな
る測定部と、直流電源を備え該電源に接続された
二線式の伝送ラインを介して前記測定部からの測
定出力を所定レベル範囲の電流信号に変換して送
出する変換部とを有し、前記測定部の電源を該変
換部から供給するようにしてなることを特徴とす
る二線式測定装置。記（T₁−T₂）／（T₃−Ｋ） ……(1) T₁；ライン抵抗を含む一方の抵抗器を測定した
ときの計数結果 T₂；ライン抵抗のみを測定したときの計数結果 T₃；他方の抵抗器を測定したときの計数結果Ｋ；定数