JPH0216448B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0216448B2 JPH0216448B2 JP56118417A JP11841781A JPH0216448B2 JP H0216448 B2 JPH0216448 B2 JP H0216448B2 JP 56118417 A JP56118417 A JP 56118417A JP 11841781 A JP11841781 A JP 11841781A JP H0216448 B2 JPH0216448 B2 JP H0216448B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- counting
- value
- result
- span
- capacitor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 53
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 20
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 101001125858 Homo sapiens Peptidase inhibitor 15 Proteins 0.000 description 1
- 102100029323 Peptidase inhibitor 15 Human genes 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は測定装置、さらに詳しくはゼロ点お
よびスパンの調整が可能なデイジタル式測定装置
に関するものである。
よびスパンの調整が可能なデイジタル式測定装置
に関するものである。
従来、測定機器の大部分のものがアナログ式で
あつて、ゼロ点およびスパンの調整のためのボリ
ユームを備えており、調整時には測定機器を見な
がらボリユームを操作するという方法がとられて
いる。しかしながら、このような方法は例えば、
入力が零のときのゼロ点の調整は比較的容易に行
なうことができるが、ゼロ点を調整した後スパン
調整を行なうと一般にゼロ点が変動する（相互干
渉が生じる）ため、調整が困難であるという欠点
があつた。
あつて、ゼロ点およびスパンの調整のためのボリ
ユームを備えており、調整時には測定機器を見な
がらボリユームを操作するという方法がとられて
いる。しかしながら、このような方法は例えば、
入力が零のときのゼロ点の調整は比較的容易に行
なうことができるが、ゼロ点を調整した後スパン
調整を行なうと一般にゼロ点が変動する（相互干
渉が生じる）ため、調整が困難であるという欠点
があつた。
この発明はこの点に鑑みなされたもので、ゼロ
点およびスパンの調整を容易に行なうことがで
き、かつ測定精度の高い測定装置を提供すること
を目的とするものである。
点およびスパンの調整を容易に行なうことがで
き、かつ測定精度の高い測定装置を提供すること
を目的とするものである。
上記の目的は、この発明によれば、機械的な変
位に応じて少なくともその容量値の一方が変化す
る２つの測定コンデンサと、前記各コンデンサを
充電し一定時間で放電する充放電回路をもち、該
充放電に要する時間からその容量に応じた周波数
のパルス信号に変換する容量−周波数変換手段
と、該変換手段からのパルス数を計数し、該計数
値が所定の値に達したとき計数出力を出す第１の
計数手段と、前記各コンデンサの充電または放電
開始とともにクロツク信号源からのクロツクパル
スの計数を開始し、前記第１の計数手段からの計
数出力によつて該クロツクパルスの計数を停止す
る第２の計数手段と、前記第１の計数手段からの
計数出力を受けて該第２の計数手段の計数結果を
読取り、該結果にもとづいて所定の演算を行なう
デイジタル演算手段と、ゼロ点およびスパンの測
定演算指令を発する操作手段と、該操作にもとづ
く測定演算結果を記憶する記憶手段とを設け、該
記憶内容にもとづいて測定値のゼロ点およびスパ
ン補正を行なうことにより達成される。
位に応じて少なくともその容量値の一方が変化す
る２つの測定コンデンサと、前記各コンデンサを
充電し一定時間で放電する充放電回路をもち、該
充放電に要する時間からその容量に応じた周波数
のパルス信号に変換する容量−周波数変換手段
と、該変換手段からのパルス数を計数し、該計数
値が所定の値に達したとき計数出力を出す第１の
計数手段と、前記各コンデンサの充電または放電
開始とともにクロツク信号源からのクロツクパル
スの計数を開始し、前記第１の計数手段からの計
数出力によつて該クロツクパルスの計数を停止す
る第２の計数手段と、前記第１の計数手段からの
計数出力を受けて該第２の計数手段の計数結果を
読取り、該結果にもとづいて所定の演算を行なう
デイジタル演算手段と、ゼロ点およびスパンの測
定演算指令を発する操作手段と、該操作にもとづ
く測定演算結果を記憶する記憶手段とを設け、該
記憶内容にもとづいて測定値のゼロ点およびスパ
ン補正を行なうことにより達成される。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
第１図はこの発明の実施例を概略的に示すブロ
ツク図、第２図はこの発明の実施例を詳細に示す
回路構成図、第３図は変位量を容量値に変換して
検出する検出原理を説明する原理図、第４図は第
２図の測定装置の動作を説明するタイムチヤー
ト、第５図は容量検出部の他の実施例を示す回路
図である。
ツク図、第２図はこの発明の実施例を詳細に示す
回路構成図、第３図は変位量を容量値に変換して
検出する検出原理を説明する原理図、第４図は第
２図の測定装置の動作を説明するタイムチヤー
ト、第５図は容量検出部の他の実施例を示す回路
図である。
第１図において１は検出部、２は検出部選択回
路、３は周波数変換回路、４はカウンタ、５はタ
イマー、６は基準クロツク発生回路、７はマイク
ロプロセツサ（以下、μ−COM演算回路ともい
う）、８は光伝送回路、９はバツテリを用いた電
源回路、１０は測定入力が０のときまたは100％
のときに、それぞれ押下される押釦を備えたキー
ボードである。
路、３は周波数変換回路、４はカウンタ、５はタ
イマー、６は基準クロツク発生回路、７はマイク
ロプロセツサ（以下、μ−COM演算回路ともい
う）、８は光伝送回路、９はバツテリを用いた電
源回路、１０は測定入力が０のときまたは100％
のときに、それぞれ押下される押釦を備えたキー
ボードである。
これらの各部は第２図に示されるように、検出
部１はコンデンサC1，C2によつて構成され、検
出部選択回路２はコンデンサC1，C2および測温
用のコンデンサCS、サーミスタRSの選択を行な
うＣ−MOS（相補形MOS）タイプのアナログス
イツチSW２，SW２１，SW２２より構成され、
周波数変換回路３はコンデンサC1，C2の充放電
の切替えおよびフリツプフロツプＱ１のクリアま
たはリセツトを行なうアナログスイツチSW１，
SW１１，SW１２と、コンデンサC1またはC2の
充電電圧が所定の電圧レベルを超えたときセツト
され、所定の時定数（抵抗Rf、コンデンサCf）に
よつて決まる一定時間後にリセツトされるフリツ
プフロツプＱ１（Ｄ型）とから構成されている。
部１はコンデンサC1，C2によつて構成され、検
出部選択回路２はコンデンサC1，C2および測温
用のコンデンサCS、サーミスタRSの選択を行な
うＣ−MOS（相補形MOS）タイプのアナログス
イツチSW２，SW２１，SW２２より構成され、
周波数変換回路３はコンデンサC1，C2の充放電
の切替えおよびフリツプフロツプＱ１のクリアま
たはリセツトを行なうアナログスイツチSW１，
SW１１，SW１２と、コンデンサC1またはC2の
充電電圧が所定の電圧レベルを超えたときセツト
され、所定の時定数（抵抗Rf、コンデンサCf）に
よつて決まる一定時間後にリセツトされるフリツ
プフロツプＱ１（Ｄ型）とから構成されている。
なお、従来の一般的なＤ型フリツプフロツプを
使用する場合は、その前後にスレツシユホールド
レベルを判別するための特別な回路（例えば、シ
ユミツト回路）が必要となるが、Ｃ−MOS形の
フリツプフロツプ回路を使用する場合はこのよう
な回路を必要とせず、その切り替わり電圧をその
ままスレツシユホールド電圧として使用すること
ができる。同様に、タイマー５は２段のカウンタ
CT２，CT３から構成され、μ−COM演算回路
７からのリセツト信号PO３の解除によつて基準
クロツク発生回路６から与えられるクロツク信号
の計数を開始し、カウンタCT１，４からのカウ
ントアツプ信号によつて計数を停止する。μ−
COM演算回路７は基準クロツク発生回路６から
のクロツク信号によつて駆動され種々の演算、制
御動作を行なう。例えば、検出部選択回路２のア
ナログスイツチSW２にモード選択信号PO１，
PO２を送出してコンデンサC1測定モード、コン
デンサC2測定モード、または温度測定モード
（抵抗Rs、コンデンサCsによる測定）の選択を行
ない、非測定時にはカウンタ４およびタイマー５
に対してリセツト信号PO３を与えてこれらのリ
セツトを行なうとともに、測定時には該リセツト
信号PO３を解除して計数動作を行わせ、カウン
タ４からのカウントアツプ信号を割込信号IRQと
して受け、タイマー５からの計数出力を端子PI
０〜PI１５を介して読取り、所定の演算処理を
行なう。μ−COM演算回路７には、管理室側の
上位計算機との間で光による情報の授受を行なう
ための光伝送回路８および該回路８における発光
ダイオードLEDの異常（点灯しきり）検出回路
１１、さらには省電力化を図るべく基準クロツク
発生回路６またはμ−COM演算回路７を間欠的
に駆動させるためのスタンバイモード回路１２等
が接続されているが、この発明は特に、測定誤差
を回避すべくゼロ点またはスパンの調整を行なう
ための指示を与える押ボタンPB１（ゼロ点調整
用）およびPB２（スパン調整用）を備えたキー
ボード１０を設けた点に特徴を有するものであ
る。なお、９は第１図または第２図に示される所
要の各部へ電源を供給するためのバツテリ電源回
路である。
使用する場合は、その前後にスレツシユホールド
レベルを判別するための特別な回路（例えば、シ
ユミツト回路）が必要となるが、Ｃ−MOS形の
フリツプフロツプ回路を使用する場合はこのよう
な回路を必要とせず、その切り替わり電圧をその
ままスレツシユホールド電圧として使用すること
ができる。同様に、タイマー５は２段のカウンタ
CT２，CT３から構成され、μ−COM演算回路
７からのリセツト信号PO３の解除によつて基準
クロツク発生回路６から与えられるクロツク信号
の計数を開始し、カウンタCT１，４からのカウ
ントアツプ信号によつて計数を停止する。μ−
COM演算回路７は基準クロツク発生回路６から
のクロツク信号によつて駆動され種々の演算、制
御動作を行なう。例えば、検出部選択回路２のア
ナログスイツチSW２にモード選択信号PO１，
PO２を送出してコンデンサC1測定モード、コン
デンサC2測定モード、または温度測定モード
（抵抗Rs、コンデンサCsによる測定）の選択を行
ない、非測定時にはカウンタ４およびタイマー５
に対してリセツト信号PO３を与えてこれらのリ
セツトを行なうとともに、測定時には該リセツト
信号PO３を解除して計数動作を行わせ、カウン
タ４からのカウントアツプ信号を割込信号IRQと
して受け、タイマー５からの計数出力を端子PI
０〜PI１５を介して読取り、所定の演算処理を
行なう。μ−COM演算回路７には、管理室側の
上位計算機との間で光による情報の授受を行なう
ための光伝送回路８および該回路８における発光
ダイオードLEDの異常（点灯しきり）検出回路
１１、さらには省電力化を図るべく基準クロツク
発生回路６またはμ−COM演算回路７を間欠的
に駆動させるためのスタンバイモード回路１２等
が接続されているが、この発明は特に、測定誤差
を回避すべくゼロ点またはスパンの調整を行なう
ための指示を与える押ボタンPB１（ゼロ点調整
用）およびPB２（スパン調整用）を備えたキー
ボード１０を設けた点に特徴を有するものであ
る。なお、９は第１図または第２図に示される所
要の各部へ電源を供給するためのバツテリ電源回
路である。
この実施例に示される測定装置は圧力等の機械
的な変位置を容量値に変換して検出し、該検出結
果をさらにデイジタル量に変換して測定するもの
であるから、ここでその検出原理について第３図
を参照して説明する。
的な変位置を容量値に変換して検出し、該検出結
果をさらにデイジタル量に変換して測定するもの
であるから、ここでその検出原理について第３図
を参照して説明する。
同図Ａには２つの固定電極ELF間に可動電極
ELVが配置され、該可動電極ELVは圧力等の機械
的な変位に応じて図の左右（矢印Ｒ参照）方向に
移動する。この場合、各電極間の容量CA1，CA2
は一方が増大すれば他方は減少する、つまり差動
的に変化する。ここで、各電極の面積をＳ、電極
間の誘電率をε、可動電極ELVと固定電極ELFと
の間隔をｄとし、例えば同図Ａの点線で示される
如く可動電極ELVがΔdだけ変位したときの容量
CA1，CA2は CA1＝εA／ｄ−Δd CA2＝εA／ｄ−Δd として求められる。ここで、これら容量の和およ
び差を考えると、 CA1＋CA2＝εA・2d／d2−Δd2 CA1−CA2＝εA・2Δd／d2−Δd2 となり、したがつてその比をとると、 CA1−CA2／CA1＋CA2＝Δd／ｄ が得られ、変位量Δdを容量値CA1−CA2／CA1＋
CA2によつて求めることができる。
ELVが配置され、該可動電極ELVは圧力等の機械
的な変位に応じて図の左右（矢印Ｒ参照）方向に
移動する。この場合、各電極間の容量CA1，CA2
は一方が増大すれば他方は減少する、つまり差動
的に変化する。ここで、各電極の面積をＳ、電極
間の誘電率をε、可動電極ELVと固定電極ELFと
の間隔をｄとし、例えば同図Ａの点線で示される
如く可動電極ELVがΔdだけ変位したときの容量
CA1，CA2は CA1＝εA／ｄ−Δd CA2＝εA／ｄ−Δd として求められる。ここで、これら容量の和およ
び差を考えると、 CA1＋CA2＝εA・2d／d2−Δd2 CA1−CA2＝εA・2Δd／d2−Δd2 となり、したがつてその比をとると、 CA1−CA2／CA1＋CA2＝Δd／ｄ が得られ、変位量Δdを容量値CA1−CA2／CA1＋
CA2によつて求めることができる。
同様にして、第３図Ｂでは２つの固定電極ELF
に対して可動電極ELVが図の如く配置され、外部
圧力等の変位によつて図の点線位置にΔdだけ変
位した場合は次のようになる。この場合、容量
CA1は固定、CA2は可変であつて、それぞれの値
は上記と同様にして CA1＝εA／ｄ、CA2＝εA／ｄ＋Δd と表わすことができる。そこで、これらの差を考
えると、 CA1−CA2＝εA・Δd／ｄ（ｄ＋Δd） であり、したがつてCA1−CA2とCA2との比をと
ると、 CA1−CA2／CA2＝Δd／ｄ となり、変位量Δdを静電容量値の変化として検
出することができる。これらの式からも明らかな
ように、変位量は静電容量のみの関数となるか
ら、電極間の誘電率や浮遊容量の影響を受けず、
このため容量によつて機械的な変位量を正確に検
出することが可能となる。
に対して可動電極ELVが図の如く配置され、外部
圧力等の変位によつて図の点線位置にΔdだけ変
位した場合は次のようになる。この場合、容量
CA1は固定、CA2は可変であつて、それぞれの値
は上記と同様にして CA1＝εA／ｄ、CA2＝εA／ｄ＋Δd と表わすことができる。そこで、これらの差を考
えると、 CA1−CA2＝εA・Δd／ｄ（ｄ＋Δd） であり、したがつてCA1−CA2とCA2との比をと
ると、 CA1−CA2／CA2＝Δd／ｄ となり、変位量Δdを静電容量値の変化として検
出することができる。これらの式からも明らかな
ように、変位量は静電容量のみの関数となるか
ら、電極間の誘電率や浮遊容量の影響を受けず、
このため容量によつて機械的な変位量を正確に検
出することが可能となる。
次に、このような検出原理にもとづく測定動作
について、主に第２図および第４図を参照して説
明する。
について、主に第２図および第４図を参照して説
明する。
初期状態においては、μ−COM演算回路７か
らはモード選択信号PO１，PO２は与えられず、
リセツト信号PO３によつてカウンタCT１，４お
よびタイマー５はリセツト状態にある。ここで、
第４図イの如きコンデンサC1の測定モード信号
が与えられ、第４図ロの如くリセツト信号PO３
が解除されると、コンデンサC1、スイツチSW２
１，SW１１、抵抗Ｒ、電源VDDなる径路が形成
されるので、コンデンサC1が第４図ハで示され
るように充電される。t1時間後にこの充電電圧が
フリツプフロツプＱ１のスレツシユホールド電圧
VTHを超えると、該フリツプフロツプＱ１がセツ
トされ、その出力端子Ｑより出力が得られる。こ
の出力は抵抗RfおよびコンデンサCfに与えられる
とともに、アナログスイツチSW１にも与えられ
る。その結果、スイツチSW１２が開放されて抵
抗RfとコンデンサCfによる充電回路が形成され
る。なお、このときスイツチSW１１が点線の位
置へ切替えられ、コンデンサC1の放電が行われ
る。コンデンサCfの充電電圧が第４図ホで示され
るように、所定時間tc後に所定の値になると、フ
リツプフロツプＱ１はクリアされ、その結果、フ
リツプフロツプＱ１からは第４図ニの如き一定幅
tcの出力パルスが得られる。なお、フリツプフロ
ツプＱ１のリセツトによつてアナログスイツチ
SW１もオフとなるので、スイツチSW１２は第
２図の如き状態に復帰し、コンデンサCfの放電回
路を形成する。上記の時間t1はコンデンサC1およ
び抵抗Ｒの大きさに比例するから、フリツプフロ
ツプＱ１の出力からはコンデンサC1の容量に比
例した周波数のパルス信号が得られることにな
る。このパルス信号はカウンタ４によつて計数さ
れ、所定数に達すると第４図ヘに示される如きパ
ルス（カウントUP出力）を発してタイマー５を
第４図トの如く計数停止させる。タイマー５は先
のリセツト信号PO３の解除とともにパルス発生
回路６からのクロツクパルスを計数しており、該
計数結果がカウンタ４からのカウントUP信号を
受けたμ−COM演算回路７により端子PI０〜PI
１５を介して読取られる。
らはモード選択信号PO１，PO２は与えられず、
リセツト信号PO３によつてカウンタCT１，４お
よびタイマー５はリセツト状態にある。ここで、
第４図イの如きコンデンサC1の測定モード信号
が与えられ、第４図ロの如くリセツト信号PO３
が解除されると、コンデンサC1、スイツチSW２
１，SW１１、抵抗Ｒ、電源VDDなる径路が形成
されるので、コンデンサC1が第４図ハで示され
るように充電される。t1時間後にこの充電電圧が
フリツプフロツプＱ１のスレツシユホールド電圧
VTHを超えると、該フリツプフロツプＱ１がセツ
トされ、その出力端子Ｑより出力が得られる。こ
の出力は抵抗RfおよびコンデンサCfに与えられる
とともに、アナログスイツチSW１にも与えられ
る。その結果、スイツチSW１２が開放されて抵
抗RfとコンデンサCfによる充電回路が形成され
る。なお、このときスイツチSW１１が点線の位
置へ切替えられ、コンデンサC1の放電が行われ
る。コンデンサCfの充電電圧が第４図ホで示され
るように、所定時間tc後に所定の値になると、フ
リツプフロツプＱ１はクリアされ、その結果、フ
リツプフロツプＱ１からは第４図ニの如き一定幅
tcの出力パルスが得られる。なお、フリツプフロ
ツプＱ１のリセツトによつてアナログスイツチ
SW１もオフとなるので、スイツチSW１２は第
２図の如き状態に復帰し、コンデンサCfの放電回
路を形成する。上記の時間t1はコンデンサC1およ
び抵抗Ｒの大きさに比例するから、フリツプフロ
ツプＱ１の出力からはコンデンサC1の容量に比
例した周波数のパルス信号が得られることにな
る。このパルス信号はカウンタ４によつて計数さ
れ、所定数に達すると第４図ヘに示される如きパ
ルス（カウントUP出力）を発してタイマー５を
第４図トの如く計数停止させる。タイマー５は先
のリセツト信号PO３の解除とともにパルス発生
回路６からのクロツクパルスを計数しており、該
計数結果がカウンタ４からのカウントUP信号を
受けたμ−COM演算回路７により端子PI０〜PI
１５を介して読取られる。
ここで、上記フリツプフロツプＱ１のスレツシ
ユホールド電圧をVTHとすれば、 VTH＝VDD（１−e-t1/RC1） として表わされ、したがつてコンデンサC1の充
電時間t1（第４図ニを参照）は、 t1＝−RC1loge（１−VTH／VDD） の如く表わされる。
ユホールド電圧をVTHとすれば、 VTH＝VDD（１−e-t1/RC1） として表わされ、したがつてコンデンサC1の充
電時間t1（第４図ニを参照）は、 t1＝−RC1loge（１−VTH／VDD） の如く表わされる。
また、上記の時間tcも同様にして
tc＝−RfCfloge（１−VTH／VDD）
として表わされる。なお、Rf，Cfの値は既知であ
り、したがつてtcは一定の値である。
り、したがつてtcは一定の値である。
したがつて、コンデンサC1の充、放電動作を
ｎ回カウントする迄の基準クロツク発生回路６か
らのクロツクパルスを数えることにより、すなわ
ちタイマー５からの出力によつてコンデンサC1
による充放電時間T1を求めることができる。こ
の充放電時間T1は第４図ニからも明らかなよう
に、充電t1はｎ回であるのに対して放電tcは（ｎ
−１）回であるから T1＝nt1＋（ｎ−１）tc …() として求めることができる。なお、このようにｎ
回カウントするのは、時間測定カウンタCT２，
CT３の分解能を上げるためであり、その数ｎは
基準クロツク発生回路６の出力周波数、抵抗Ｒの
抵抗値またはコンデンサC1の容量値等に応じて
適宜選択される。
ｎ回カウントする迄の基準クロツク発生回路６か
らのクロツクパルスを数えることにより、すなわ
ちタイマー５からの出力によつてコンデンサC1
による充放電時間T1を求めることができる。こ
の充放電時間T1は第４図ニからも明らかなよう
に、充電t1はｎ回であるのに対して放電tcは（ｎ
−１）回であるから T1＝nt1＋（ｎ−１）tc …() として求めることができる。なお、このようにｎ
回カウントするのは、時間測定カウンタCT２，
CT３の分解能を上げるためであり、その数ｎは
基準クロツク発生回路６の出力周波数、抵抗Ｒの
抵抗値またはコンデンサC1の容量値等に応じて
適宜選択される。
このようにして、コンデンサC1の充放電時間
T1を求めた後、μ−COM演算回路７は信号PO
１またはPO２によつてスイツチSW２１を切換
えてコンデンサC2の検出モードとし、コンデン
サC2の充放電時間T2を測定する。この場合の動
作態様は上記と全く同様であり、そのタイムチヤ
ートは第４図の右半分に示されている。なお、充
放電時間T2は()式と同様にして T2＝nt2＋（ｎ−１）tc …() となる。
T1を求めた後、μ−COM演算回路７は信号PO
１またはPO２によつてスイツチSW２１を切換
えてコンデンサC2の検出モードとし、コンデン
サC2の充放電時間T2を測定する。この場合の動
作態様は上記と全く同様であり、そのタイムチヤ
ートは第４図の右半分に示されている。なお、充
放電時間T2は()式と同様にして T2＝nt2＋（ｎ−１）tc …() となる。
μ−COM演算回路７では、上記()、()式よ
り次の如き演算を行なう。
り次の如き演算を行なう。
T1＋T2−２（ｎ−１）tc
＝−nR（C1＋C2）loge（１−VTH／VDD）
T1−T2＝−nR（C1−C2）loge（１−VTH／VDD）
T1−T2／T1＋T2−２（ｎ−１）tc＝C1−C2／C1＋C2…
() この式は先の原理図における説明からも明ら
かなように、変位に比例するから、μ−COM演
算回路７では上記の如き演算を行なうことによつ
てその変位を測定することができる。
() この式は先の原理図における説明からも明ら
かなように、変位に比例するから、μ−COM演
算回路７では上記の如き演算を行なうことによつ
てその変位を測定することができる。
なお、上記ではコンデンサC1，C2の容量を差
動的に変化させることにより物理的な変位量、例
えば差圧ΔPを測定するようにしたが、第５図に
示されるように、コンデンサの一方C2を固定と
し、他方C1を可変とするものについても同様に
適用しうることは、先の原理図の説明からも明ら
かである。ただし、この場合は上記の差圧ΔPの
かわりに圧力Ｐを求めることとなり、その演算式
は上記と同様にして次のように表わされる。
動的に変化させることにより物理的な変位量、例
えば差圧ΔPを測定するようにしたが、第５図に
示されるように、コンデンサの一方C2を固定と
し、他方C1を可変とするものについても同様に
適用しうることは、先の原理図の説明からも明ら
かである。ただし、この場合は上記の差圧ΔPの
かわりに圧力Ｐを求めることとなり、その演算式
は上記と同様にして次のように表わされる。
Ｐ＝C1−C2／C2＝T1−T2／T2−（ｎ−１）tc…()
上記の実施例においては、機械的な変位量を静
電容量値に変換して検出するようにしたが、これ
を抵抗、周波数または電圧に変換して検出するこ
とも可能である。
電容量値に変換して検出するようにしたが、これ
を抵抗、周波数または電圧に変換して検出するこ
とも可能である。
また、第２図の抵抗Rs、コンデンサCsは外部
温度の測定用として設けられ、この場合はスイツ
チSW２１にてコンデンサCsを選択し、スイツチ
SW２２を閉成して上記と同様にそのときの充電
時間を測定し、これを予め基準温度で計測した値
と比較することにより、外部温度を知ることがで
きる。
温度の測定用として設けられ、この場合はスイツ
チSW２１にてコンデンサCsを選択し、スイツチ
SW２２を閉成して上記と同様にそのときの充電
時間を測定し、これを予め基準温度で計測した値
と比較することにより、外部温度を知ることがで
きる。
第６〜８図は検出部の他の実施例を示す回路図
で、第６図は抵抗値に変換する場合、第７図は周
波数に変換する場合、そして第８図に電圧値に変
換して検出する場合をそれぞれ示すものである。
で、第６図は抵抗値に変換する場合、第７図は周
波数に変換する場合、そして第８図に電圧値に変
換して検出する場合をそれぞれ示すものである。
これらの図において、コンデンサＣの容量値お
よび抵抗Rcの抵抗値はともに一定であり、また
スイツチSW１１，SW２１およびフリツプフロ
ツプＱ１は第２図実施例に示されるものと同様の
ものである。
よび抵抗Rcの抵抗値はともに一定であり、また
スイツチSW１１，SW２１およびフリツプフロ
ツプＱ１は第２図実施例に示されるものと同様の
ものである。
第６図ａ〜ｃにおける検出原理はいずれも容量
による検出原理と全く同様であつて、充放電時間
が抵抗とコンデンサとの積に比例することを利用
して、ここでは抵抗値を検出するようにしたもの
である。すなわち、同図ａに示されるものはスイ
ツチSW２１をRx側に倒してその充放電時間T1を
測定（なお、測定されるのは厳密には充電時間だ
けである）し、次にRc側に倒して同様に充放電
時間T2を求め、 Rx／RC＝T1−（ｎ−１）tc／T2−（ｎ−１）tc なる演算によつてRxの抵抗値を求める。
による検出原理と全く同様であつて、充放電時間
が抵抗とコンデンサとの積に比例することを利用
して、ここでは抵抗値を検出するようにしたもの
である。すなわち、同図ａに示されるものはスイ
ツチSW２１をRx側に倒してその充放電時間T1を
測定（なお、測定されるのは厳密には充電時間だ
けである）し、次にRc側に倒して同様に充放電
時間T2を求め、 Rx／RC＝T1−（ｎ−１）tc／T2−（ｎ−１）tc なる演算によつてRxの抵抗値を求める。
同じく同図Ｃに示されるものは、先の実施例に
おけるコンデンサC1，C2を抵抗R1，R2におきか
えたものに相当するおら、その演算式も T1−T2／T1＋T2−２（ｎ−１）tc＝R1−R2／R1＋R2 の如く全く同様に表わされることになる また、同図ｂに示されるものはライン抵抗Rlが
変動する場合である。したがつて、スイツチSW
２１を順次切替えることによつてRx＋2Rl、2Rl
およびRcによるそれぞれの充放電時間T1，T2お
よびT3を求め、 T1−T2／T3−（ｎ−１）tc＝Rx／Rc なる演算式より抵抗値Rxを測定する。
おけるコンデンサC1，C2を抵抗R1，R2におきか
えたものに相当するおら、その演算式も T1−T2／T1＋T2−２（ｎ−１）tc＝R1−R2／R1＋R2 の如く全く同様に表わされることになる また、同図ｂに示されるものはライン抵抗Rlが
変動する場合である。したがつて、スイツチSW
２１を順次切替えることによつてRx＋2Rl、2Rl
およびRcによるそれぞれの充放電時間T1，T2お
よびT3を求め、 T1−T2／T3−（ｎ−１）tc＝Rx／Rc なる演算式より抵抗値Rxを測定する。
第７図においては、検出部にてすでに周波数に
変換されているから、第２図実施例の如き周波数
変換回路は不要となり、検出部からの出力は適宜
増幅されて直接カウンタへ導入される。この場
合、カウンタが所定数Ｎを計数する迄にどれだけ
の時間Ｔがかかるかを演算することによつてその
周波数（Ｎ／Ｔ）を求めることができる。
変換されているから、第２図実施例の如き周波数
変換回路は不要となり、検出部からの出力は適宜
増幅されて直接カウンタへ導入される。この場
合、カウンタが所定数Ｎを計数する迄にどれだけ
の時間Ｔがかかるかを演算することによつてその
周波数（Ｎ／Ｔ）を求めることができる。
第８図は電圧E1に変換して検出する場合であ
つて、コンデンサＣに一定の電流Ｉを流して充電
を行ない、該充電による電圧を演算増幅器OP２
の一方に与え、もう一方には演算増幅器OP１に
よつて増幅された入力電圧E1を導入し、該入力
電圧E1を充電電圧が超えたときフリツプフロツ
プＱ１をセツトするようにしたものである。コン
デンサＣによる充電は一定の態様で行われるのに
対し入力電圧レベルE1が変動するので、電圧値
に応じた時間信号を得ることができる。ここで、
スイツチSW２１が図示の状態にあるときの時間
測定出力をT2、図示とは反対側の状態に切替え
たときのそれをT1とすると、 T2−T1＝CX／Ｉ・E1 なる演算によつて電圧値E1を求めることができ
る。ここに、E1は測定電圧、ＩはコンデンサＣ
に与えられる電流、CXはコンデンサＣの容量値
である。
つて、コンデンサＣに一定の電流Ｉを流して充電
を行ない、該充電による電圧を演算増幅器OP２
の一方に与え、もう一方には演算増幅器OP１に
よつて増幅された入力電圧E1を導入し、該入力
電圧E1を充電電圧が超えたときフリツプフロツ
プＱ１をセツトするようにしたものである。コン
デンサＣによる充電は一定の態様で行われるのに
対し入力電圧レベルE1が変動するので、電圧値
に応じた時間信号を得ることができる。ここで、
スイツチSW２１が図示の状態にあるときの時間
測定出力をT2、図示とは反対側の状態に切替え
たときのそれをT1とすると、 T2−T1＝CX／Ｉ・E1 なる演算によつて電圧値E1を求めることができ
る。ここに、E1は測定電圧、ＩはコンデンサＣ
に与えられる電流、CXはコンデンサＣの容量値
である。
次に、この発明によるゼロ、スパン調整方法に
ついて説明する。
ついて説明する。
第２図においてPB１およびPB２は前述した如
く、それぞれゼロ点調整用およびスパン調整用押
ボタンである。ここで、測定入力が零であること
を確認して操作者がゼロ調整用押ボタンPB１を
押すと、該操作によつてμ−COM演算回路７に
指令が与えられ、該指令にもとづいてμ−COM
演算回路では上記の如き測定動作が開始され、そ
の測定結果がμ−COM演算回路７内の記憶回路
（図示なし）に記憶される。次いで、入力が100％
であることを確認して上記と同様の操作を行な
い、同じく記憶回路にそのときの演算結果を記憶
させる。例えば、ゼロ調整した点の値をΔd0／ｄ
（＝α）として記憶し、スパン調整した点の値を
Δd100／ｄ（＝β）として記憶すると、任意の値
Δd／ｄ（＝ｘ）に対する調整値は次式により求め
ることができる。
く、それぞれゼロ点調整用およびスパン調整用押
ボタンである。ここで、測定入力が零であること
を確認して操作者がゼロ調整用押ボタンPB１を
押すと、該操作によつてμ−COM演算回路７に
指令が与えられ、該指令にもとづいてμ−COM
演算回路では上記の如き測定動作が開始され、そ
の測定結果がμ−COM演算回路７内の記憶回路
（図示なし）に記憶される。次いで、入力が100％
であることを確認して上記と同様の操作を行な
い、同じく記憶回路にそのときの演算結果を記憶
させる。例えば、ゼロ調整した点の値をΔd0／ｄ
（＝α）として記憶し、スパン調整した点の値を
Δd100／ｄ（＝β）として記憶すると、任意の値
Δd／ｄ（＝ｘ）に対する調整値は次式により求め
ることができる。
１／β−α（ｘ−α）×100
以後は、これらの値い用いてその都度の演算結
果を補正する。なお、ここで用いられる記憶回路
はバツテリバツクアツプタイプのＣ−MOS（相補
形MOS）形のRAM（ランダムアクセスメモリ）
を使用するのが好適である。
果を補正する。なお、ここで用いられる記憶回路
はバツテリバツクアツプタイプのＣ−MOS（相補
形MOS）形のRAM（ランダムアクセスメモリ）
を使用するのが好適である。
以上のように、この発明によれば、測定装置に
デイジタル演算回路と記憶回路とを設け、押ボタ
ンの操作によつて測定入力が０および100％の時
点における演算結果をそれぞれ記憶させるだけで
あるから相互干渉がなく、そのためスパン調整時
にもゼロ点が移動する恐れもなく、したがつて操
作が容易であり、しかも正確である。
デイジタル演算回路と記憶回路とを設け、押ボタ
ンの操作によつて測定入力が０および100％の時
点における演算結果をそれぞれ記憶させるだけで
あるから相互干渉がなく、そのためスパン調整時
にもゼロ点が移動する恐れもなく、したがつて操
作が容易であり、しかも正確である。
第１図はこの発明の実施例の概略を示すブロツ
ク図、第２図はこの発明の実施例を詳細に示す回
路構成図、第３図は変位量を容量値に変換して検
出する原理を説明するための原理図、第４図は第
２図の動作を説明するためのタイムチヤート、第
５図は容量検出部の他の実施例を示す回路図、第
６〜８図は検出部の別の実施例を示す回路図であ
る。 符号説明 １……検出部、２……検出部選択回
路、３……周波数変換回路、４……カウンタ、５
……タイマー、６……基準クロツク発生回路、７
……μ−COM演算回路、８……光伝送回路、９
……バツテリ電源回路、１０……キーボード、１
１……LED異常検出回路、１２……スタンバイ
モード回路、PB１……ゼロ点調整用押ボタン、
PB２……スパン調整用押ボタン、C1，C2，CS…
…コンデンサ、Ｑ１……フリツプフロツプ、SW
１，SW２……アナログスイツチ、CT１〜CT３
……カウンタ。
ク図、第２図はこの発明の実施例を詳細に示す回
路構成図、第３図は変位量を容量値に変換して検
出する原理を説明するための原理図、第４図は第
２図の動作を説明するためのタイムチヤート、第
５図は容量検出部の他の実施例を示す回路図、第
６〜８図は検出部の別の実施例を示す回路図であ
る。 符号説明 １……検出部、２……検出部選択回
路、３……周波数変換回路、４……カウンタ、５
……タイマー、６……基準クロツク発生回路、７
……μ−COM演算回路、８……光伝送回路、９
……バツテリ電源回路、１０……キーボード、１
１……LED異常検出回路、１２……スタンバイ
モード回路、PB１……ゼロ点調整用押ボタン、
PB２……スパン調整用押ボタン、C1，C2，CS…
…コンデンサ、Ｑ１……フリツプフロツプ、SW
１，SW２……アナログスイツチ、CT１〜CT３
……カウンタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 機械的な変位に応じて容量値が差動的に変化
する２つのコンデンサと、 前記各コンデンサをそれぞれ時分割的に充電し
かつ一定時間で放電する充放電回路をもち、該充
放電に要する時間からその容量に応じた周波数の
パルス信号に変換する容量−周波数変換手段と、 該変換手段からのパルス数を計数し、該計数値
が所定の値に達したとき計数出力を出す第１の計
数手段と、 前記各コンデンサの充電または放電開始ととも
にクロツク信号源からのクロツクパルスの計数を
開始し、前記第１の計数手段からの計数出力によ
つて該クロツクパルスの計数を停止する第２の計
数手段と、 前記第１の計数手段からの計数出力を受けて該
第２の計数手段の計数結果を読取り、該結果にも
とづいて下記(1)式の演算を行なうデイジタル演算
手段と、 該デイジタル演算手段に対してゼロ点およびス
パンの演算指令を発する操作手段と、 該操作にもとづく演算結果を記憶する記憶手段
と、 を備え、該記憶内容にもとづき下記(2)式の演算を
して以後の測定値のゼロ点およびスパン補正を行
ない得るようにしてなることを特徴とするデイジ
タル式測定装置。 記 （T1−T2）／（T1＋T2−Ｋ） …(1) T1；一方のコンデンサを測定したときの計
数結果 T2；他方のコンデンサを測定したときの計
数結果 Ｋ；定数 100（ｘ−α）／（β−α） …(2) α；ゼロ調整した点の記憶値 β；スパン調整した点の記憶値 ｘ；測定値 ２ 一方の容量値が固定で、他方の容量値が機械
的な変位に応じて変化する２つのコンデンサと、 前記各コンデンサをそれぞれ時分割的に充電し
かつ一定時間で放電する充放電回路をもち、該充
放電に要する時間からその容量に応じた周波数の
パルス信号に変換する容量−周波数変換手段と、 該変換手段からのパルス数を計数し、該計数値
が所定の値に達したとき計数出力を出す第１の計
数手段と、 前記各コンデンサの充電または放電開始ととも
にクロツク信号源からのクロツクパルスの計数を
開始し、前記第１の計数手段からの計数出力によ
つて該クロツクパルスの計数を停止する第２の計
数手段と、 前記第１の計数手段からの計数出力を受けて該
第２の計数手段の計数結果を読取り、該結果にも
とづいて下記(1)式の演算を行なうデイジタル演算
手段と、 該デイジタル演算手段に対してゼロ点およびス
パンの演算指令を発する操作手段と、 該操作にもとづく演算結果を記憶する記憶手段
と、 を備え、該記憶内容にもとづき下記(2)式の演算を
して以後の測定値のゼロ点およびスパン補正を行
ない得るようにしてなることを特徴とするデイジ
タル式測定装置。 記 （T1−T2）／（T2−Ｋ） …(1) T1；一方のコンデンサを測定したときの計
数結果 T2；他方のコンデンサを測定したときの計
数結果 Ｋ；定数 100（ｘ−α）／（β−α） …(2) α；ゼロ調整した点の記憶値 β；スパン調整した点の記憶値 ｘ；測定値 ３ 機械的な変位に応じて抵抗値が差動的に変化
する２つの抵抗器と、 前記各抵抗器を介して所定のコンデンサをそれ
ぞれ時分割的に充電しかつ一定時間で放電する充
放電回路をもち、該充放電に要する時間からその
抵抗に応じた周波数のパルス信号に変換する抵抗
−周波数変換手段と、 該変換手段からのパルス数を計数し、該計数値
が所定の値に達したとき計数出力を出す第１の計
数手段と、 前記各コンデンサの充電または放電開始ととも
にクロツク信号源からのクロツクパルスの計数を
開始し、前記第１の計数手段からの計数出力によ
つて該クロツクパルスの計数を停止する第２の計
数手段と、 前記第１の計数手段からの計数出力を受けて該
第２の計数手段の計数結果を読取り、該結果にも
とづいて下記(1)式の演算を行なうデイジタル演算
手段と、 該デイジタル演算手段に対してゼロ点およびス
パンの演算指令を発する操作手段と、 該操作にもとづく演算結果を記憶する記憶手段
と、 を備え、該記憶内容にもとづき下記(2)式の演算を
して以後の測定値のゼロ点およびスパン補正を行
ない得るようにしてなることを特徴とするデイジ
タル式測定装置。 記 （T1−T2）／（T1＋T2−Ｋ） …(1) T1；一方の抵抗器を測定したときの計数結
果 T2；他方の抵抗器を測定したときの計数結
果 Ｋ；定数 100（ｘ−α）／（β−α） …(2) α；ゼロ調整した点の記憶値 β；スパン調整した点の記憶値 ｘ；測定値 ４ 一方の抵抗値が固定で、他方の抵抗値が機械
的な変位に応じて変化する２つの抵抗器と、 前記各抵抗器を介してコンデンサをそれぞれ時
分割的に充電しかつ一定時間で放電する充放電回
路をもち、該充放電に要する時間からその抵抗に
応じた周波数のパルス信号に変換する抵抗−周波
数変換手段と、 該変換手段からのパルス数を計数し、該計数値
が所定の値に達したとき計数出力を出す第１の計
数手段と、 前記各コンデンサの充電または放電開始ととも
にクロツク信号源からのクロツクパルスの計数を
開始し、前記第１の計数手段からの計数出力によ
つて該クロツクパルスの計数を停止する第２の計
数手段と、 前記第１の計数手段からの計数出力を受けて該
第２の計数手段の計数結果を読取り、該結果にも
とづいて下記(1)式の演算を行なうデイジタル演算
手段と、 該デイジタル演算手段に対してゼロ点およびス
パンの演算指令を発する操作手段と、 該操作にもとづく演算結果を記憶する記憶手段
と、 を備え、該記憶内容にもとづき下記(2)式の演算を
して以後の測定値のゼロ点およびスパン補正を行
ない得るようにしてなることを特徴とするデイジ
タル式測定装置。 記 （T1−Ｋ）／（T2−Ｋ） …(1) T1；一方の抵抗器を測定したときの計数結
果 T2；他方の抵抗器を測定したときの計数結
果 Ｋ；定数 100（ｘ−α）／（β−α） …(2) α；ゼロ調整した点の記憶値 β；スパン調整した点の記憶値 ｘ；測定値
Priority Applications (10)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56118417A JPS5819998A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | デイジタル式測定装置 |
| US06/402,377 US4531193A (en) | 1981-07-30 | 1982-07-27 | Measurement apparatus |
| AU86518/82A AU549860B2 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-28 | Measurement apparatus |
| CA000408285A CA1220835A (en) | 1981-07-30 | 1982-07-28 | Measurement apparatus |
| BR8204472A BR8204472A (pt) | 1981-07-30 | 1982-07-29 | Aparelho para medir uma quantidade fisica e fornecer dados de medicao correspondentes |
| DE8484114777T DE3279510D1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
| DE8282106917T DE3274495D1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
| EP82106917A EP0071912B1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
| DE19823229010 DE3229010A1 (de) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Digitale messeinrichtung fuer eine physikalische groesse |
| EP84114777A EP0159401B1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56118417A JPS5819998A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | デイジタル式測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5819998A JPS5819998A (ja) | 1983-02-05 |
| JPH0216448B2 true JPH0216448B2 (ja) | 1990-04-17 |
Family
ID=14736125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56118417A Granted JPS5819998A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | デイジタル式測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5819998A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010054291A (ja) * | 2008-08-27 | 2010-03-11 | Yokogawa Denshikiki Co Ltd | アナログ信号出力装置 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59138712U (ja) * | 1983-03-07 | 1984-09-17 | 旭光学工業株式会社 | 角度測定装置 |
| JPS6056215A (ja) * | 1983-09-07 | 1985-04-01 | Tokyo Boeki Kk | 測定・制御における検出器の検出値補正方法 |
| JPH0690756B2 (ja) * | 1985-04-26 | 1994-11-14 | ホーチキ株式会社 | 火災センサ |
| JP2588391B2 (ja) * | 1986-10-07 | 1997-03-05 | ユニパルス 株式会社 | デジタル指示計におけるゲインの初期較正方法 |
| JP2551444B2 (ja) * | 1988-01-14 | 1996-11-06 | 横河電機株式会社 | 記録計 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5282354A (en) * | 1975-12-29 | 1977-07-09 | Chino Works Ltd | Scaler |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5534238U (ja) * | 1978-08-25 | 1980-03-05 |
-
1981
- 1981-07-30 JP JP56118417A patent/JPS5819998A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5282354A (en) * | 1975-12-29 | 1977-07-09 | Chino Works Ltd | Scaler |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010054291A (ja) * | 2008-08-27 | 2010-03-11 | Yokogawa Denshikiki Co Ltd | アナログ信号出力装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5819998A (ja) | 1983-02-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0071912B1 (en) | Measurement apparatus | |
| CA1105997A (en) | Capacitance sensor | |
| US4816745A (en) | Method and arrangement for measuring the resistance ratio in a resistance half-bridge | |
| EP0186635A1 (en) | A method of measuring impedances, particularly low capacitances, by using one or more references | |
| JPH0216448B2 (ja) | ||
| JP2998989B2 (ja) | 電圧―デジタル変換器 | |
| JPH0522163B2 (ja) | ||
| EP3296709B1 (en) | Temperature-to-digital converter | |
| JPH0243235B2 (ja) | ||
| JPS6089149A (ja) | 測定情報の時分割多重伝送システム | |
| JPH0215116B2 (ja) | ||
| US11243237B2 (en) | Method for determining an electrical parameter and measurement arrangement for determining an electrical parameter | |
| JPS56164949A (en) | Multifunction detector | |
| JP2676959B2 (ja) | 圧力伝送器 | |
| JPH0243237B2 (ja) | ||
| Mohan et al. | Dual slope resistance to digital converter | |
| JPH0140400B2 (ja) | ||
| US4081801A (en) | Electronic measuring system with pulsed transducer | |
| JPS5927849B2 (ja) | デジタル表示秤の制御回路 | |
| JPH0228804B2 (ja) | ||
| JPH0376054B2 (ja) | ||
| JP2564961B2 (ja) | 過大入力検出機能付測定器 | |
| SU1084626A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры | |
| SU752370A1 (ru) | Логарифмический аналого-цифровой преобразователь | |
| JPH0782597B2 (ja) | 測定情報の時分割多重伝送システム |