JPH024079B2 - - Google Patents
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- JPH024079B2 JPH024079B2 JP59107671A JP10767184A JPH024079B2 JP H024079 B2 JPH024079 B2 JP H024079B2 JP 59107671 A JP59107671 A JP 59107671A JP 10767184 A JP10767184 A JP 10767184A JP H024079 B2 JPH024079 B2 JP H024079B2
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- Japan
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- transistor
- circuit
- emitter
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- signal
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Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 description 7
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 6
- 238000003491 array Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000005764 inhibitory process Effects 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/062—Differential amplifiers of non-latching type, e.g. comparators, long-tailed pairs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/24—Memory cell safety or protection circuits, e.g. arrangements for preventing inadvertent reading or writing; Status cells; Test cells
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高速感知増幅器に関するものであ
る。具体的にいえば、本発明はデイレクトリ・メ
モリ・アレイ・チツプで用いるのに適した、禁止
機能を有する感知増幅器に関するものである。
る。具体的にいえば、本発明はデイレクトリ・メ
モリ・アレイ・チツプで用いるのに適した、禁止
機能を有する感知増幅器に関するものである。
従来技術およびその問題点を明らかにするた
め、先ず、第3図を参照して、典型的なデイレク
トリ・メモリ・アレイ・チツプの構成を説明し、
次に第4図を参照して、第3図のデイレクトリ・
メモリ・アレイ・チツプで用いられている従来の
バイト選択回路の構成を説明し、最後に第5図を
参照して、本発明が改善しようとする、従来のバ
イト選択回路の具体的感知増幅回路構成を説明す
る。
め、先ず、第3図を参照して、典型的なデイレク
トリ・メモリ・アレイ・チツプの構成を説明し、
次に第4図を参照して、第3図のデイレクトリ・
メモリ・アレイ・チツプで用いられている従来の
バイト選択回路の構成を説明し、最後に第5図を
参照して、本発明が改善しようとする、従来のバ
イト選択回路の具体的感知増幅回路構成を説明す
る。
第3図は、典型的なデイレクトリ・チツプのブ
ロツク・ダイアグラムを示している。まず2つの
レジスタ11および12(レジスタAとB)のど
ちらかに入力されたデータは、書込み論理回路に
よつて、全体でメモリ・ブロツクを構成するアレ
イ0〜3のうちの選択された1つに導かれる。書
込み論理回路14からメモリ・ブロツク17の
様々なアレイへのデータの選択的供給は、書込み
選択回路13の制御下で行われる。図面に示され
ているように、各レジスタ11および12は、例
えば9ビツト幅にすることができる。したがつ
て、各アレイ0〜3も9ビツト幅である。アレイ
0〜3は、それぞれ32個の9ビツト・バイトのデ
ータを記憶する。データの特定バイトを記憶また
は読取るべきアレイ位置は、ワード・デコーダ1
6で示される。
ロツク・ダイアグラムを示している。まず2つの
レジスタ11および12(レジスタAとB)のど
ちらかに入力されたデータは、書込み論理回路に
よつて、全体でメモリ・ブロツクを構成するアレ
イ0〜3のうちの選択された1つに導かれる。書
込み論理回路14からメモリ・ブロツク17の
様々なアレイへのデータの選択的供給は、書込み
選択回路13の制御下で行われる。図面に示され
ているように、各レジスタ11および12は、例
えば9ビツト幅にすることができる。したがつ
て、各アレイ0〜3も9ビツト幅である。アレイ
0〜3は、それぞれ32個の9ビツト・バイトのデ
ータを記憶する。データの特定バイトを記憶また
は読取るべきアレイ位置は、ワード・デコーダ1
6で示される。
アレイ0〜3からの9ビツトの出力は、バイト
選択回路22の入力ポートに送られる。このバイ
ト選択回路22は、各アレイ0〜3に対する感知
増幅器回路ならびに、感知された信号を駆動し、
それを比較論理回路21および1組のデータ駆動
器24に印加するためのデータ駆動回路として働
く。さらに具体的に言えば、バイト選択回路22
の機能は、ワード・デコーダ16の出力によつて
指定された記憶セルの出力を感知し、対応する感
知されたビツト状態を直接表わすデータを比較論
理回路21に伝送し、またアレイ0〜3のうちの
1つだけの出力、具体的には読取りデコーダ18
の出力によつて指定されたアレイ0〜3のうちの
1つの出力に対応するデータ・ビツトDB0〜DB8
を、母線25によりデータ駆動器24に伝送する
ことがある。
選択回路22の入力ポートに送られる。このバイ
ト選択回路22は、各アレイ0〜3に対する感知
増幅器回路ならびに、感知された信号を駆動し、
それを比較論理回路21および1組のデータ駆動
器24に印加するためのデータ駆動回路として働
く。さらに具体的に言えば、バイト選択回路22
の機能は、ワード・デコーダ16の出力によつて
指定された記憶セルの出力を感知し、対応する感
知されたビツト状態を直接表わすデータを比較論
理回路21に伝送し、またアレイ0〜3のうちの
1つだけの出力、具体的には読取りデコーダ18
の出力によつて指定されたアレイ0〜3のうちの
1つの出力に対応するデータ・ビツトDB0〜DB8
を、母線25によりデータ駆動器24に伝送する
ことがある。
比較論理回路21は、感知されたバイト選択回
路22によつて伝送される、各アレイ0〜3から
の9ビツト・バイトを、比較入力回路19から母
線29に供給される比較入力データの単一9ビツ
ト(CD0〜CD8)バイトと比較する。各9ビツト
比較の結果を示す単一ビツトが、比較論理回路2
1によつて発生されて、比較駆動器27に印加さ
れ、比較駆動器27は母線8上に、対応する駆動
信号をもたらす。データ駆動器24は、出力母線
15上への出力として、バイト選択回路22の出
力または比較入力回路19からの母線29上の比
較入力データを選択する。この選択は、バイパス
選択回路23の出力にもとづいて行われ、バイパ
ス選択回路23はバイパス信号BPSの状態にも
とづいて選択を行う。
路22によつて伝送される、各アレイ0〜3から
の9ビツト・バイトを、比較入力回路19から母
線29に供給される比較入力データの単一9ビツ
ト(CD0〜CD8)バイトと比較する。各9ビツト
比較の結果を示す単一ビツトが、比較論理回路2
1によつて発生されて、比較駆動器27に印加さ
れ、比較駆動器27は母線8上に、対応する駆動
信号をもたらす。データ駆動器24は、出力母線
15上への出力として、バイト選択回路22の出
力または比較入力回路19からの母線29上の比
較入力データを選択する。この選択は、バイパス
選択回路23の出力にもとづいて行われ、バイパ
ス選択回路23はバイパス信号BPSの状態にも
とづいて選択を行う。
本発明が改善しようとする感知増幅回路が含ま
れているのは、バイト選択回路22である。ここ
で第4図のブロツク・ダイアグラムを参照する
と、(特願昭57−182212号に開示されているよう
な)従来のバイト選択回路22の構成が示されて
いる。第4図の回路は36個のビツト位置のうちの
1つに対する回路構成であるが、他のビツト位置
のための回路構成も基本的に同一である。破線の
ブロツク38は第1図のメモリ・ブロツク17の
一部分であり、破線のブロツク39は第1図のバ
イト選択回路22の一部分である。
れているのは、バイト選択回路22である。ここ
で第4図のブロツク・ダイアグラムを参照する
と、(特願昭57−182212号に開示されているよう
な)従来のバイト選択回路22の構成が示されて
いる。第4図の回路は36個のビツト位置のうちの
1つに対する回路構成であるが、他のビツト位置
のための回路構成も基本的に同一である。破線の
ブロツク38は第1図のメモリ・ブロツク17の
一部分であり、破線のブロツク39は第1図のバ
イト選択回路22の一部分である。
各アレイの各ビツト位置からの出力は、1記憶
セル当り2本のビツト線の形になつている。さら
に具体的に言えば、記憶セル31―0〜31Nが
感知中の場合、ビツト線B0nとB1nのうちの
1つが、感知増幅器32の方向に電流を運ぶ。す
なわち、線B0nとB1nの両方ではなくて一方
が電流を運び、対応する記憶セルがそれぞれ論理
0と論理1のどちらを含むかを示す。感知増幅器
32の出力、具体的には比較ビツトC0nとC1
nが、比較論理回路21(第3図)中の36個の回
路の1つである排他的OR回路33に印加され
る。排他的OR回路33は、COnおよびC1nの
相対的状態によつて示されるデータ・ビツトを、
母線29からの対応する比較入力ビツトと比較す
る。感知増幅器32の出力はまた、禁止論理回3
4の入力ポートに結合されている。禁止論理回路
34に印加される禁止信号の状態に応じて、C0
nとC1nのどちらが活動状態であるかによつて
決定される電圧レベルをもつ単一ビツト信号Dn
が、駆動回路36の入力に選択的に印加される。
すなわち、禁止信号が0状態のとき、禁止論理回
路34は、その出力ビツトDnの駆動器36への
伝送を禁止し、禁止信号が論理1状態の場合は、
禁止論理回路34はビツトDnを駆動回路36の
入力に電送させる。4バイトの各々の同じ順位の
ビツトに対する禁止論理回路34の出力は、駆動
器36の入力でワイヤドORされる。もちろん、
任意の時刻では、4つの同じ順位の禁止論理回路
34のうちの1つだけが、その出力ビツトを駆動
回路36に伝送できる。駆動回路36は、各出力
データ・ビツトDBnに対して2つの信号DB0n
とDB1nを発成し、その一方がビツトDBnの状
態を指示するよう活動化(高レベル状態に)され
る。
セル当り2本のビツト線の形になつている。さら
に具体的に言えば、記憶セル31―0〜31Nが
感知中の場合、ビツト線B0nとB1nのうちの
1つが、感知増幅器32の方向に電流を運ぶ。す
なわち、線B0nとB1nの両方ではなくて一方
が電流を運び、対応する記憶セルがそれぞれ論理
0と論理1のどちらを含むかを示す。感知増幅器
32の出力、具体的には比較ビツトC0nとC1
nが、比較論理回路21(第3図)中の36個の回
路の1つである排他的OR回路33に印加され
る。排他的OR回路33は、COnおよびC1nの
相対的状態によつて示されるデータ・ビツトを、
母線29からの対応する比較入力ビツトと比較す
る。感知増幅器32の出力はまた、禁止論理回3
4の入力ポートに結合されている。禁止論理回路
34に印加される禁止信号の状態に応じて、C0
nとC1nのどちらが活動状態であるかによつて
決定される電圧レベルをもつ単一ビツト信号Dn
が、駆動回路36の入力に選択的に印加される。
すなわち、禁止信号が0状態のとき、禁止論理回
路34は、その出力ビツトDnの駆動器36への
伝送を禁止し、禁止信号が論理1状態の場合は、
禁止論理回路34はビツトDnを駆動回路36の
入力に電送させる。4バイトの各々の同じ順位の
ビツトに対する禁止論理回路34の出力は、駆動
器36の入力でワイヤドORされる。もちろん、
任意の時刻では、4つの同じ順位の禁止論理回路
34のうちの1つだけが、その出力ビツトを駆動
回路36に伝送できる。駆動回路36は、各出力
データ・ビツトDBnに対して2つの信号DB0n
とDB1nを発成し、その一方がビツトDBnの状
態を指示するよう活動化(高レベル状態に)され
る。
次に、第5図を参照しながら、第4図のバイト
選択回路22の具体的回路構成を説明する。感知
増幅器32は、トランジスタ51と52によつて
形成される差動増幅器から構成され、その出力は
対応するエミツタ・フオロワ接続されたトランジ
スタ54と56によつて増幅されバツフアされ
る。トランジスタ53は、トランジスタ51と5
2のベースに対する基準電圧を与える。各記憶ア
レイの対応するビツトからの出力ビツト線B0n
およびB1nは、それぞれトランジスタ51およ
び52のエミツタに印加される。トランジスタ5
4および56のエミツタ出力で、それぞれ信号C
0nおよびC1nが発生される。これらの信号
は、第4図に示すように、排他的OR回路33に
直接印加される。またC0nとC1nは、禁止論
理回路34内の差動増幅器構成で接続されたトラ
ンジスタ57および58のベースに印加される。
電流源トランジスタ60から、電流スイツチ・ト
ランジスタ59を経てトランジスタ57と58の
共通接続エミツタに一定電流が供給される。トラ
ンジスタ60に対する基準電圧は、トランジスタ
62と63により供給される。
選択回路22の具体的回路構成を説明する。感知
増幅器32は、トランジスタ51と52によつて
形成される差動増幅器から構成され、その出力は
対応するエミツタ・フオロワ接続されたトランジ
スタ54と56によつて増幅されバツフアされ
る。トランジスタ53は、トランジスタ51と5
2のベースに対する基準電圧を与える。各記憶ア
レイの対応するビツトからの出力ビツト線B0n
およびB1nは、それぞれトランジスタ51およ
び52のエミツタに印加される。トランジスタ5
4および56のエミツタ出力で、それぞれ信号C
0nおよびC1nが発生される。これらの信号
は、第4図に示すように、排他的OR回路33に
直接印加される。またC0nとC1nは、禁止論
理回路34内の差動増幅器構成で接続されたトラ
ンジスタ57および58のベースに印加される。
電流源トランジスタ60から、電流スイツチ・ト
ランジスタ59を経てトランジスタ57と58の
共通接続エミツタに一定電流が供給される。トラ
ンジスタ60に対する基準電圧は、トランジスタ
62と63により供給される。
エミツタ・フオロワ結合されたトランジスタ6
1は、そのベースにトランジスタ58のコレクタ
からの出力を受け取る。それによつて、トランジ
スタ61のエミツタに信号Dnが発生される。電
流スイツチ・トランジスタ55は、トランジスタ
58のコレクタしたがつてトランジスタ61のベ
ースと電流源トランジスタ60のコレクタとの間
に接続されている。禁止信号は、トランジスタ5
5のベースに印加される。禁止信号が低論理状態
のとき、すなわち禁止信号が基準電圧VREFより
も負である場合、トランジスタ55はターン・オ
フされ、トランジスタ60の電流がトランジスタ
59に流れ、こうしてトランジスタ57と58に
よつて形成される差動増幅器回路を活動化する。
一方、禁止信号がVREFよりも正である場合、ト
ランジスタ55はターン・オフされ、それによつ
てトランジスタ59から電流をスイツチする。こ
れは、トランジスタ61を遮断する効果をもつ。
すなわち、禁止信号が低論理状態の場合のみ、信
号Dnが駆動回路36に通される。
1は、そのベースにトランジスタ58のコレクタ
からの出力を受け取る。それによつて、トランジ
スタ61のエミツタに信号Dnが発生される。電
流スイツチ・トランジスタ55は、トランジスタ
58のコレクタしたがつてトランジスタ61のベ
ースと電流源トランジスタ60のコレクタとの間
に接続されている。禁止信号は、トランジスタ5
5のベースに印加される。禁止信号が低論理状態
のとき、すなわち禁止信号が基準電圧VREFより
も負である場合、トランジスタ55はターン・オ
フされ、トランジスタ60の電流がトランジスタ
59に流れ、こうしてトランジスタ57と58に
よつて形成される差動増幅器回路を活動化する。
一方、禁止信号がVREFよりも正である場合、ト
ランジスタ55はターン・オフされ、それによつ
てトランジスタ59から電流をスイツチする。こ
れは、トランジスタ61を遮断する効果をもつ。
すなわち、禁止信号が低論理状態の場合のみ、信
号Dnが駆動回路36に通される。
駆動回路36は、トランジスタ64と66によ
つて形成される差動増幅器から構成されている。
禁止論理回路34のトランジスタ61のエミツタ
からのDn信号が、トランジスタ66のベースに
印加される。トランジスタ67,68,69,7
1およびそれに付随する抵抗からなる回路によつ
て発生される基準電圧が、トランジスタ64のベ
ースに印加される。D1nとD0nは、それぞれ
トランジスタ64と66のエミツタに発生され
る。
つて形成される差動増幅器から構成されている。
禁止論理回路34のトランジスタ61のエミツタ
からのDn信号が、トランジスタ66のベースに
印加される。トランジスタ67,68,69,7
1およびそれに付随する抵抗からなる回路によつ
て発生される基準電圧が、トランジスタ64のベ
ースに印加される。D1nとD0nは、それぞれ
トランジスタ64と66のエミツタに発生され
る。
第5図の回路は、第4図のバイト選択回路22
の所望の基本的な機能を実現できるが、多数の重
大な欠点をもつている。まず第一に、第3図をざ
つと見ただけでわかるように、この回路構成は全
く複雑であり、かなりのチツプ面積を必要とす
る。第2に、結果として、この回路を動作させる
ために必要な電力が大きくなる。第3に、感知増
幅器32と駆動回路36との間に禁止論理回路3
4が存在するために、出力C0n,C1nと出力
D0n,D1nとの間に時間差が生じる。
の所望の基本的な機能を実現できるが、多数の重
大な欠点をもつている。まず第一に、第3図をざ
つと見ただけでわかるように、この回路構成は全
く複雑であり、かなりのチツプ面積を必要とす
る。第2に、結果として、この回路を動作させる
ために必要な電力が大きくなる。第3に、感知増
幅器32と駆動回路36との間に禁止論理回路3
4が存在するために、出力C0n,C1nと出力
D0n,D1nとの間に時間差が生じる。
従つて、本発明の目的は、デイレクトリ・チツ
プにおけるバイト選択回路の所要の機能を実行す
るが、上記の欠点をもたない高速感知増幅回路を
提供することである。
プにおけるバイト選択回路の所要の機能を実行す
るが、上記の欠点をもたない高速感知増幅回路を
提供することである。
本発明は、ベースに基準電圧を受取りエミツタ
にメモリ・セル信号B0nまたはB1nを受取る
第1トランジスタ112または121と、この第
1トランジスタと共通ベース接続されエミツタに
上記メモリ・セル信号を受取る第2トランジスタ
102または122と、上記第1トランジスタの
コレクタに接続されたベースを有しエミツタに第
1出力信号C0nまたはC1nを発生する第3ト
ランジスタ109または117と、上記第2トラ
ンジスタのコレクタに接続されたベースを有しエ
ミツタに第2出力信号D0nまたはD1nを発生
する第4トランジスタ101または126と、禁
止制御信号に応答して上記第2トランジスタを導
通状態に強制し、上記第2トランジスタを上記メ
モリ・セル信号に対して不感にする禁止回路12
7,128,129とを含む、禁止機能を有する
感知増幅回路を提供するものである。
にメモリ・セル信号B0nまたはB1nを受取る
第1トランジスタ112または121と、この第
1トランジスタと共通ベース接続されエミツタに
上記メモリ・セル信号を受取る第2トランジスタ
102または122と、上記第1トランジスタの
コレクタに接続されたベースを有しエミツタに第
1出力信号C0nまたはC1nを発生する第3ト
ランジスタ109または117と、上記第2トラ
ンジスタのコレクタに接続されたベースを有しエ
ミツタに第2出力信号D0nまたはD1nを発生
する第4トランジスタ101または126と、禁
止制御信号に応答して上記第2トランジスタを導
通状態に強制し、上記第2トランジスタを上記メ
モリ・セル信号に対して不感にする禁止回路12
7,128,129とを含む、禁止機能を有する
感知増幅回路を提供するものである。
第2図は、本発明の感知増幅回路のブロツク・
ダイヤグラムを示している。破線のブロツク48
は第1図のメモリ・ブロツク17の一部分であ
り、破線のブロツク49は第1図のバイト選択回
路22の一部分である。本発明によれば、2つの
感知増幅器41と42が共に、記憶セルからの出
力B0nおよびB1nを受け取る。感知増幅器4
1の出力、すなわち2ビツト信号D0nとD1n
は4バイトの同じ順位のビツトのための対応する
感知増幅器41の出力とワイヤドORされ、出力
データ・ビツトDB0n、DB1nを与える。感
知増幅器42の出力、すなわち禁止されない出力
信号C0nとC1nは、排他的OR回路33に印
加される。
ダイヤグラムを示している。破線のブロツク48
は第1図のメモリ・ブロツク17の一部分であ
り、破線のブロツク49は第1図のバイト選択回
路22の一部分である。本発明によれば、2つの
感知増幅器41と42が共に、記憶セルからの出
力B0nおよびB1nを受け取る。感知増幅器4
1の出力、すなわち2ビツト信号D0nとD1n
は4バイトの同じ順位のビツトのための対応する
感知増幅器41の出力とワイヤドORされ、出力
データ・ビツトDB0n、DB1nを与える。感
知増幅器42の出力、すなわち禁止されない出力
信号C0nとC1nは、排他的OR回路33に印
加される。
次に、第1図の具体的回路図を参照すると、感
知された記憶セルからの低論理状態の出力線B0
nが、第1トランジスタ112のエミツタおよび
ダブルエミツタ・トランジスタ102の一方のエ
ミツタに印加される。同様に、記憶セルからの高
論理状態の出力ビツト線B1nが、トランジスタ
121のエミツタおよび第2のダブルエミツタ・
トランジスタ122の第1エミツタに印加され
る。バイアス電流が抵抗113と116を経て係
給される。基準電圧がノード131でトランジス
タ102,112,121,122のベースに印
加される。基準電圧を発生するための回路は、抵
抗110と115およびダイオード114を含ん
でいる。各トランジスタ102,112,12
1,122のコレクタは、対応する抵抗107,
108,118,125を介して、電圧Vccの正
電源端子に結合されている。エミツタ・フオロワ
を形成するトランジスタ101,109,11
7,126がそれぞれトランジスタ102,11
2,121,122のコレクタ出力をバツフアし
増幅する。具体的にいうと、常時利用可能な出力
C0nとC1nはそれぞれトランジスタ109と
117のエミツタに発生され、禁止可能な出力D
0nとD1nは、それぞれトランジスタ101と
126のエミツタに発生される。ダブルエミツ
タ・トランジスタ102と122の第2エミツタ
103および124は電流スイツチ・トランジス
タ128のコレクタに接続され、このトランジス
タ128のエミツタは定電流源129に接続され
る。トランジスタ128のベースは、制御信号
(書込み+バイパス)を受け取る。第2の電流ス
イツチ・トランジスタ127がVccと電流電源1
29の間に接続されている。トランジスタ127
のベースは禁止信号を受取る。禁止信号と(書込
み+バイパス)信号とが一緒になつて、禁止制御
信号を構成する。シヨツトキ・バリア・ダイオー
ド105,106,119,120はクランプ用
であり、従来と同じである。
知された記憶セルからの低論理状態の出力線B0
nが、第1トランジスタ112のエミツタおよび
ダブルエミツタ・トランジスタ102の一方のエ
ミツタに印加される。同様に、記憶セルからの高
論理状態の出力ビツト線B1nが、トランジスタ
121のエミツタおよび第2のダブルエミツタ・
トランジスタ122の第1エミツタに印加され
る。バイアス電流が抵抗113と116を経て係
給される。基準電圧がノード131でトランジス
タ102,112,121,122のベースに印
加される。基準電圧を発生するための回路は、抵
抗110と115およびダイオード114を含ん
でいる。各トランジスタ102,112,12
1,122のコレクタは、対応する抵抗107,
108,118,125を介して、電圧Vccの正
電源端子に結合されている。エミツタ・フオロワ
を形成するトランジスタ101,109,11
7,126がそれぞれトランジスタ102,11
2,121,122のコレクタ出力をバツフアし
増幅する。具体的にいうと、常時利用可能な出力
C0nとC1nはそれぞれトランジスタ109と
117のエミツタに発生され、禁止可能な出力D
0nとD1nは、それぞれトランジスタ101と
126のエミツタに発生される。ダブルエミツ
タ・トランジスタ102と122の第2エミツタ
103および124は電流スイツチ・トランジス
タ128のコレクタに接続され、このトランジス
タ128のエミツタは定電流源129に接続され
る。トランジスタ128のベースは、制御信号
(書込み+バイパス)を受け取る。第2の電流ス
イツチ・トランジスタ127がVccと電流電源1
29の間に接続されている。トランジスタ127
のベースは禁止信号を受取る。禁止信号と(書込
み+バイパス)信号とが一緒になつて、禁止制御
信号を構成する。シヨツトキ・バリア・ダイオー
ド105,106,119,120はクランプ用
であり、従来と同じである。
動作において、もしトランジタ128がター
ン・オフならば、すなわち(書込み+バイパス)
信号が低レベルであり、禁止信号が高レベルのと
きは、トランジスタ102と122の第2エミツ
タ103および124から電流が引き出されな
い。その場合、記憶セルが読み出し中のときは、
B0nとB1nのどちらか一方がその対応するト
ランジスタ対102と112または121と12
2を介して電流を引き出す。例えば、電流が線B
0n上を流れると仮定すると、この電流は、トラ
ンジスタ112のエミツタとトランジスタ102
のエミツタ104の間で等分される。従つて、ト
ランジスタ102および112のコレクタの電位
は負方向に引張られ、これによつて信号D0nと
C0nを低レベル状態にセツトする。B0nが電
流を運ぶ場合、B1nは電流を運ばない。すなわ
ち、トランジスタ121および122のコレクタ
はこのとき正のままであり、それによつて信号C
1nとD1nを高レベル状態にセツトする。もち
ろんB1nが電流を運び、B0nが電流を運ばな
い場合は、状況が逆になる。すなわち信号C1n
とD1nは低レベル状態となり、信号C0nとD
0nは高レベル状態になる。
ン・オフならば、すなわち(書込み+バイパス)
信号が低レベルであり、禁止信号が高レベルのと
きは、トランジスタ102と122の第2エミツ
タ103および124から電流が引き出されな
い。その場合、記憶セルが読み出し中のときは、
B0nとB1nのどちらか一方がその対応するト
ランジスタ対102と112または121と12
2を介して電流を引き出す。例えば、電流が線B
0n上を流れると仮定すると、この電流は、トラ
ンジスタ112のエミツタとトランジスタ102
のエミツタ104の間で等分される。従つて、ト
ランジスタ102および112のコレクタの電位
は負方向に引張られ、これによつて信号D0nと
C0nを低レベル状態にセツトする。B0nが電
流を運ぶ場合、B1nは電流を運ばない。すなわ
ち、トランジスタ121および122のコレクタ
はこのとき正のままであり、それによつて信号C
1nとD1nを高レベル状態にセツトする。もち
ろんB1nが電流を運び、B0nが電流を運ばな
い場合は、状況が逆になる。すなわち信号C1n
とD1nは低レベル状態となり、信号C0nとD
0nは高レベル状態になる。
出力D0nとD1nのデータ母線25への伝送
を禁止したい場合、(書込み+バイパス)信号を
高レベル状態に上げ、禁止信号を低レベル状態に
セツトすることによつて、トランジスタ128が
ターン・オンされる。これによつて電流がトラ
ンジスタ127からトランジスタ128に切り換
わる。トランジスタ128中を流れる電流はダブ
ルエミツタ・トランジスタ102および122の
エミツタ103および124から同等に引き出さ
れ、トランジスタ102および122を導通状態
に強制する。その効果は、これらのダブルエミツ
タ・トランジスタのコレクタをプルダウンし、ト
ランジスタ102および122をメモリ・セル信
号に対して不感にすることであり、そのために、
メモリ・セル・ビツト線B0nおよびB1nの状
態の如何にかかわらず、トランジスタ101と1
26がターン・オフされる。
を禁止したい場合、(書込み+バイパス)信号を
高レベル状態に上げ、禁止信号を低レベル状態に
セツトすることによつて、トランジスタ128が
ターン・オンされる。これによつて電流がトラ
ンジスタ127からトランジスタ128に切り換
わる。トランジスタ128中を流れる電流はダブ
ルエミツタ・トランジスタ102および122の
エミツタ103および124から同等に引き出さ
れ、トランジスタ102および122を導通状態
に強制する。その効果は、これらのダブルエミツ
タ・トランジスタのコレクタをプルダウンし、ト
ランジスタ102および122をメモリ・セル信
号に対して不感にすることであり、そのために、
メモリ・セル・ビツト線B0nおよびB1nの状
態の如何にかかわらず、トランジスタ101と1
26がターン・オフされる。
本発明にもとづく第5図の回路は、第3図の従
来技術の回路の全ての機能を実現し、しかも、上
記の各欠点をなくする。特に、第5図の回路は、
明らかに、第3図のそれよりもはるかに簡単であ
り、そして必要なチツプ面積がずつと小さく、従
来技術による構成よりも小さな電力しか必要とせ
ず、速度が大きい。また、メモリ・セル・ビツト
線B0nおよびB1nから出力線D0nおよびC
0n,C1nまでの夫々の経路がほぼ同じであ
り、したがつて禁止データ出力ポートD0n,D
1nと非禁止データ出力ポートC0n,C1nの
間にほとんど遅延差は生じない。
来技術の回路の全ての機能を実現し、しかも、上
記の各欠点をなくする。特に、第5図の回路は、
明らかに、第3図のそれよりもはるかに簡単であ
り、そして必要なチツプ面積がずつと小さく、従
来技術による構成よりも小さな電力しか必要とせ
ず、速度が大きい。また、メモリ・セル・ビツト
線B0nおよびB1nから出力線D0nおよびC
0n,C1nまでの夫々の経路がほぼ同じであ
り、したがつて禁止データ出力ポートD0n,D
1nと非禁止データ出力ポートC0n,C1nの
間にほとんど遅延差は生じない。
第1図は、本発明の感知増幅回路を示す図、第
2図は、本発明の感知増幅回路を含むバイト選択
回路の構成を示すブロツク・ダイヤグラム、第3
図は、本発明の感知増幅回路を使用しうるデイレ
クトリ・メモリ・チツプのブロツク・ダイヤグラ
ム、第4図は、従来のバイト選択回路の構成を示
すブロツク・ダイヤグラム、および第5図は、第
4図のバイト選択回路の回路図である。
2図は、本発明の感知増幅回路を含むバイト選択
回路の構成を示すブロツク・ダイヤグラム、第3
図は、本発明の感知増幅回路を使用しうるデイレ
クトリ・メモリ・チツプのブロツク・ダイヤグラ
ム、第4図は、従来のバイト選択回路の構成を示
すブロツク・ダイヤグラム、および第5図は、第
4図のバイト選択回路の回路図である。
Claims (1)
- 1 ベースに基準電圧を受取りエミツタにメモ
リ・セル信号を受取る第1トランジスタと、この
第1トランジスタと共通ベース接続されエミツタ
に上記メモリ・セル信号を受取る第2トランジス
タと、上記第1トランジスタのコレクタに接続さ
れたベースを有しエミツタに第1出力信号を発生
する第3トランジスタと、上記第2トランジスタ
のコレクタに接続されたベースを有しエミツタに
第2出力信号を発生する第4トランジスタと、禁
止制御信号に応答して上記第2トランジスタを導
通状態に強制し上記第2トランジスタを上記メモ
リ・セル信号に対して不感にする禁止回路とを含
む、禁止機能を有する感知増幅回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/509,676 US4570090A (en) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | High-speed sense amplifier circuit with inhibit capability |
| US509676 | 1995-07-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6015893A JPS6015893A (ja) | 1985-01-26 |
| JPH024079B2 true JPH024079B2 (ja) | 1990-01-25 |
Family
ID=24027642
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59107671A Granted JPS6015893A (ja) | 1983-06-30 | 1984-05-29 | 禁止機能を有する感知増幅回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4570090A (ja) |
| EP (1) | EP0131151B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6015893A (ja) |
| DE (1) | DE3484366D1 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2695752B1 (fr) * | 1992-09-16 | 1994-11-10 | Matra Mhs | Mémoire de programme à semi-conducteur protégée en lecture. |
| US6731488B2 (en) | 2002-04-01 | 2004-05-04 | International Business Machines Corporation | Dual emitter transistor with ESD protection |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3473149A (en) * | 1966-05-02 | 1969-10-14 | Sylvania Electric Prod | Memory drive circuitry |
| US3594590A (en) * | 1968-12-09 | 1971-07-20 | Us Navy | Memory sense amplifier |
| US3617772A (en) * | 1969-07-09 | 1971-11-02 | Ibm | Sense amplifier/bit driver for a memory cell |
| US3760194A (en) * | 1972-01-31 | 1973-09-18 | Advanced Mamory Systems | High speed sense amplifier |
| US3789243A (en) * | 1972-07-05 | 1974-01-29 | Ibm | Monolithic memory sense amplifier/bit driver having active bit/sense line pull-up |
| US4125877A (en) * | 1976-11-26 | 1978-11-14 | Motorola, Inc. | Dual port random access memory storage cell |
| US4099070A (en) * | 1976-11-26 | 1978-07-04 | Motorola, Inc. | Sense-write circuit for random access memory |
| US4193127A (en) * | 1979-01-02 | 1980-03-11 | International Business Machines Corporation | Simultaneous read/write cell |
| JPS5824874B2 (ja) * | 1979-02-07 | 1983-05-24 | 富士通株式会社 | センス回路 |
| US4287575A (en) * | 1979-12-28 | 1981-09-01 | International Business Machines Corporation | High speed high density, multi-port random access memory cell |
| JPS5880189A (ja) * | 1981-11-05 | 1983-05-14 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
| US4460984A (en) * | 1981-12-30 | 1984-07-17 | International Business Machines Corporation | Memory array with switchable upper and lower word lines |
-
1983
- 1983-06-30 US US06/509,676 patent/US4570090A/en not_active Expired - Fee Related
-
1984
- 1984-05-29 JP JP59107671A patent/JPS6015893A/ja active Granted
- 1984-06-05 EP EP84106379A patent/EP0131151B1/en not_active Expired
- 1984-06-05 DE DE8484106379T patent/DE3484366D1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0131151A3 (en) | 1988-08-03 |
| US4570090A (en) | 1986-02-11 |
| DE3484366D1 (de) | 1991-05-08 |
| EP0131151B1 (en) | 1991-04-03 |
| JPS6015893A (ja) | 1985-01-26 |
| EP0131151A2 (en) | 1985-01-16 |
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