JPH0240178B2 - Kutsusetsuryokusokuteihohotosonosochi - Google Patents

Kutsusetsuryokusokuteihohotosonosochi

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JPH0240178B2
JPH0240178B2 JP11232083A JP11232083A JPH0240178B2 JP H0240178 B2 JPH0240178 B2 JP H0240178B2 JP 11232083 A JP11232083 A JP 11232083A JP 11232083 A JP11232083 A JP 11232083A JP H0240178 B2 JPH0240178 B2 JP H0240178B2
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JP
Japan
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refractive power
lens
grid
screen
test lens
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JP11232083A
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JPS604841A (ja
Inventor
Sadayoshi Kamya
Hiroshi Uosato
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0228Testing optical properties by measuring refractive power

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、眼鏡レンズ等の屈折力を測定する
屈折力測定方法とその装置に関する。
従来、眼鏡レンズの屈折力を測定する場合、所
謂頂点屈折計と呼ばれるレンズメータが使用され
ている。この種のレンズメータは、一般に被検レ
ンズを光学系状に配置し、その光学系の光が通過
するレンズの1点の屈折力を測定する構造である
ことから、眼鏡レンズにおける多焦点レンズや累
進焦点レンズの屈折力を測定する場合、レンズの
屈折力が均一でなくレンズ全体の屈折力を測定す
る必要があることから、レンズの各点において何
回も屈折力を測定し、この測定値をグラフ上にプ
ロツトし、これらの測定点を線で結んで多焦点レ
ンズや累進焦点レンズの屈折力の測定を行なつて
いた。
したがつて、レンズメータを用いて多焦点レン
ズ等の局部的に変化する屈折力を全体的に2次元
分布として測定する場合には、測定作業が極めて
煩雑となり、時間もかかる欠点があつた。
この発明は、上記の点にかんがみ、各種眼鏡レ
ンズのレンズ全面の屈折力をモアレ縞を利用して
比較的簡単な構造の装置により短時間で容易に2
次元分布として測定し得る屈折力測定方法とその
装置を提供することを目的とする。
このために本発明は、所定の小間隔で多数の格
子を並行に配置した2枚の格子状スクリーンをわ
ずかな間隔をおいて重ね合わせ、この格子状スク
リーンの裏側から拡散光を全体に照射することに
よつて表面にモアレ縞を出現させ、格子状スクリ
ーンの表面に被検レンズを配置し、この被検レン
ズ上に現われるモアレ縞と前記元のモアレ縞との
変位角を測定し、この変位角に基づいて被検レン
ズの屈折力を決定するように構成した。
以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
第1図、第2図はモアレ縞を用いて被検レンズ
の屈折力を測定する原理説明図を示し、これによ
りその原理を説明すると、第1図において、G1
G2は極小幅Pの格子を多数設けた格子状スクリ
ーンで、所定の小間隔Sをおいて重ね合わせるよ
うに配置され、後方の格子状スクリーンG2の上
には被検レンズLが配置され、格子状スクリーン
G1,G2の裏側から拡散光を照射し、格子状スク
リーンG2から距離lだけ離れた位置で被検レン
ズLに現われるモアレ縞を観察する。格子状スク
リーンG2から被検レンズLまでの距離をa、格
子状スクリーンG1から被検レンズLまでの距離
をbとし、第2図のように、格子状スクリーン
G1とG2の角度をαだけ傾けた時、夫々の強度分
布の重ね合わせによつて光のモアレ縞Mが現われ
る。
このようにして現われるモアレ縞Mの基線に対
する傾きθ0は、 tanθ0=cosα−l/l+S/sinα ……(1) によつて表わすことができ、さらに、格子状スク
リーンG2の前面に被検レンズLを配置した時、
この被検レンズLに現われるモアレ縞の基線に対
する傾きθは、 tanθ=cosα−(1+aF)2/(1+aF)(1+bF)+
S/l/sinα ……(2) で与えられる(ここでFは被検レンズLの屈折
力)。なお、2つの格子状スクリーンの角度αは
一般に極めて小さいことから、sinαα、cosα
1と近似することができ、上記2つの式は、 tanθ0=S/(l+S)α ……(3) tanθ=S/l−(1+aF)SF/α(1+aF)(1+bF
)+αS/l……(4) と表わされる。
したがつて、被検レンズLによつて回転変位す
るモアレ縞の変位角度Δθは、 Δθ=θ−θ0 ……(5) であるから、モアレ縞の変位角度Δθがわかれば、
上記(3)、(4)、(5)式から被検レンズLの屈折力Fを
求めることができる。
第3図は屈折力測定装置の斜視図を、第4図は
同断面図を示し、1は短い筒状の本体で、本体1
内に蛍光灯などの光源2が設置され、その上に拡
散光をつくる透光性の拡散膜3(例えば紙)が張
設される。4と5は本体1の上部にその円形開口
部を覆うようにわずかな間隔で重ね合わせて配設
された格子状スクリーン板であり、この円形の格
子状スクリーン板4,5は透明板ガラス上に極め
て小さい間隔で多数の並行線を印刷して形成され
る。また、各格子状スクリーン板4,5は本体1
に対しその平面上で回転可能に取付けられ、さら
に、2枚の格子状スクリーン板4,5は極めて小
さい間隔をおいて並行に配設される。6は本体1
の側部に設けた格子状スクリーン板4,5を回転
させるためのノブで、格子状スクリーン板4と5
を相互に反対方向へ同時に回転させる機構に連結
される。よつて、ノブ6を回すことにより格子状
スクリーン板4,5は回転し、第2図に示すよう
な格子G1,G2の角度αを調節することができる。
本体1の上面円周部には角度を示す固定目盛7が
付され、さらに、固定目盛7の内側の格子状スク
リーン板4上には被検レンズLの上に現われるモ
アレ縞の回転変位角度を測るための目盛リング8
が回転自在に嵌め込まれ、この目盛リング8の中
央には測定用の指線9が張設されている。
次に屈折力測定方法を説明する。
上記構成の屈折力測定装置の光源2を点灯する
と、その格子状スクリーン板4上にモアレ縞Mが
現われる。このモアレ縞の基準線に対する角度θ0
は、上述の式(3)に示すように2枚の格子状スクリ
ーン板4と5の相互の角度αを変えることによつ
て変わり、ノブ6を回すことにより格子状スクリ
ーン板4,5の相互角度αは予め決定した所定の
小さい値に設定される。この状態で被検レンズL
をこの格子状スクリーン板4上の中央に載置する
と、上記の式(4)で示すように、被検レンズL上に
元のモアレ縞Mに対し角度θだけ変位したモアレ
縞M1が現われる。そこで、このモアレ縞M1と平
行に指線9を合わせるように目盛リング8を動か
し、この時の目盛リング8の目盛と本体1上の固
定目盛7を使つて元のモアレ縞Mに対するレンズ
上のモアレ縞M1の変位角Δθを測定し、予め計算
式から求めた変位角Δθとレンズの屈折力(デイ
オプター)のグラフ(第6図)から、被検レンズ
Lの屈折力を読み取ることができる。
なお、多焦点レンズを測定した場合、屈折力の
相違する箇所ではモアレ縞M1がその屈折力に応
じて変位し、この変位角をそれぞれ測定すること
により各部分の屈折力が直ちに判明する。また、
累進焦点レンズの屈折力をこの方法により測定す
ると、レンズの屈折力に応じてモアレ縞が連続的
に曲折している様子が観測でき、レンズの屈折力
がどの部分においてどの程度の率で変化している
かを測定することができる。
以上説明したように、この発明の屈折力測定方
法と装置によれば、2枚の格子状スクリーンに拡
散光を通すことによりモアレ縞をつくり、被検レ
ンズを通してこのモアレ縞を観測し、被検レンズ
上に現われるモアレ縞の元のモアレ縞に対する変
位角を測定してレンズの屈折力を測定することか
ら、被検レンズが多焦点レンズや累進焦点レンズ
の場合、従来のレンズメータのようにレンズの各
部を何回にもわたつて測定しなくても、短時間で
各部の屈折力を測定することができると共に、累
進焦点レンズでは、その屈折力の徐々に変化する
様子が正確に把握でき、屈折力の測定を容易に行
なうことができる。また、測定装置は従来のレン
ズメータ等に比べ極めて簡単な構造となり、各方
面で広く使用することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
図はこの発明の実施例を示し、第1図と第2図
は原理説明図、第3図は屈折力測定装置の斜視
図、第4図は同断面図、第5図はレンズ上に現わ
れるモアレ縞の説明図、第6図はモアレ縞の変位
角と屈折力の関係を示すグラフである。 1…本体、2…光源、3…拡散膜、4,5…格
子状スクリーン板、8…目盛リング。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 所定の小間隔で多数の格子を並行に配置した
    2枚の格子状スクリーンをわずかな間隔をおいて
    重ね合せ、該格子状スクリーンの裏側から拡散光
    を全体に照射することによつて表面にモアレ縞を
    出現させ、該格子状スクリーンの表面に被検レン
    ズを配置し、該被検レンズ上に現われるモアレ縞
    と前記元のモアレ縞との変位角を測定し、該変位
    角に基づいて被検レンズの屈折力を決定すること
    を特徴とする屈折力測定方法。 2 本体内に拡散光を照射する光源が配設され、
    該本体の上部には本体開口部を覆うように2枚の
    格子状スクリーンがわずかな間隔で重ね合わせて
    配設され、2枚の該格子状スクリーンはその平面
    内で相互に回転可能に配設され、被検レンズが配
    置される前記格子状スクリーンの上に該被検レン
    ズ上に現われるモアレ縞の変位角を測定する目盛
    リングを回転自在に設けたことを特徴とする屈折
    力測定装置。
JP11232083A 1983-06-22 1983-06-22 Kutsusetsuryokusokuteihohotosonosochi Expired - Lifetime JPH0240178B2 (ja)

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JPH068882U (ja) * 1992-07-10 1994-02-04 株式会社ブレスト工業研究所 配管支持金具

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JP2838391B2 (ja) * 1986-03-13 1998-12-16 株式会社トプコン レンズメーター
JP2779929B2 (ja) * 1986-03-13 1998-07-23 株式会社トプコン レンズメーター
DE10328145A1 (de) * 2003-06-21 2005-01-13 Technische Universität Carolo-Wilhelmina Zu Braunschweig Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung der Abbildungseigenschaften von transparenten Objekten
CN109799071B (zh) * 2019-01-11 2020-12-22 信利光电股份有限公司 一种金属网格触摸模组摩尔条纹测试装置及方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH068882U (ja) * 1992-07-10 1994-02-04 株式会社ブレスト工業研究所 配管支持金具

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