JPH0239413A - 固体電解コンデンサ - Google Patents
固体電解コンデンサInfo
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- JPH0239413A JPH0239413A JP63189096A JP18909688A JPH0239413A JP H0239413 A JPH0239413 A JP H0239413A JP 63189096 A JP63189096 A JP 63189096A JP 18909688 A JP18909688 A JP 18909688A JP H0239413 A JPH0239413 A JP H0239413A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
- H01G9/004—Details
- H01G9/022—Electrolytes; Absorbents
- H01G9/025—Solid electrolytes
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- Polyoxymethylene Polymers And Polymers With Carbon-To-Carbon Bonds (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は性能の良好な固体電解コンデンサに関する。
(従来の技術)
固体電解コンデンサは、アルミニウム、タンタル、二オ
フ等の表面に絶縁性の酸化皮膜か形成されるいわゆる弁
金属を陽極に用い、前記酸化皮膜をMat体層とし、こ
の上面に金属酸化物半導体や有機半導体を半導体層とし
て形成し、さらにその外面に陰極引出しのための導電体
層を設けて構成されている。
フ等の表面に絶縁性の酸化皮膜か形成されるいわゆる弁
金属を陽極に用い、前記酸化皮膜をMat体層とし、こ
の上面に金属酸化物半導体や有機半導体を半導体層とし
て形成し、さらにその外面に陰極引出しのための導電体
層を設けて構成されている。
半導体層に用いられる金属酸化物半導体としては、硝酸
マンガンを加熱変性させた二酸化マンガンかよく知られ
ている。
マンガンを加熱変性させた二酸化マンガンかよく知られ
ている。
半導体層としての電導性高分子化合物は、例えば特開昭
60−37114号公報や特開昭60−37115号公
報に記載されているように、二酸化マンガンに比べて電
気伝導度か高い。また、半導体層の形成過程ても二酸化
マンガンのように、硝酸マンガンを加熱して二酸化マン
ガンに反応させるなどの加熱処理か不要で常温前後の反
応温度でよい。このために、誘電体酸化皮膜の劣化が少
なく低損失で信頼度の高い固体電解コンデンサを得るこ
とができる。
60−37114号公報や特開昭60−37115号公
報に記載されているように、二酸化マンガンに比べて電
気伝導度か高い。また、半導体層の形成過程ても二酸化
マンガンのように、硝酸マンガンを加熱して二酸化マン
ガンに反応させるなどの加熱処理か不要で常温前後の反
応温度でよい。このために、誘電体酸化皮膜の劣化が少
なく低損失で信頼度の高い固体電解コンデンサを得るこ
とができる。
主導性高分子化合物を半導体層として誘電体酸化皮膜上
に形成する手段には、前記の特開昭60−37114号
公報や特開昭60−37115号公報に記載されている
ように、電導性高分子化合物を与える千ツマ−を溶解し
た電解液に陽極基体を浸漬して電解重合する方法かある
。
に形成する手段には、前記の特開昭60−37114号
公報や特開昭60−37115号公報に記載されている
ように、電導性高分子化合物を与える千ツマ−を溶解し
た電解液に陽極基体を浸漬して電解重合する方法かある
。
電導性高分子化合物を半導体層とすると、前述した金属
酸化物半導体や有機半導体等に比較して、緻密な層か形
成てき、導電体層との接続か良好であるか、信頼度の高
い安定した固体電解コンデンサを得るためには十分な厚
さの半導体層を形成することか必要であり、この形成に
長時間を有する欠点かあった。
酸化物半導体や有機半導体等に比較して、緻密な層か形
成てき、導電体層との接続か良好であるか、信頼度の高
い安定した固体電解コンデンサを得るためには十分な厚
さの半導体層を形成することか必要であり、この形成に
長時間を有する欠点かあった。
本発明は、上記の欠点を改良し、電導性高分子化合物半
導体の長所を生かし、特性劣化がなく、かつ製造容易な
固体電解コンデンサを提供することにある。
導体の長所を生かし、特性劣化がなく、かつ製造容易な
固体電解コンデンサを提供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明の固体電解コンデンサは、弁作用を有する金属か
らなる陽極基体の表面に、誘電体酸化皮膜層を形成し、
続いて電導性高分子化合物からなる第1の層と二酸化鉛
もしくは二酸化鉛と硫酸鉛を主成分とする第2の層との
植層体を形成して半導体層とし、さらにその上に導電体
層を形成している。
らなる陽極基体の表面に、誘電体酸化皮膜層を形成し、
続いて電導性高分子化合物からなる第1の層と二酸化鉛
もしくは二酸化鉛と硫酸鉛を主成分とする第2の層との
植層体を形成して半導体層とし、さらにその上に導電体
層を形成している。
即ち本発明は、半導体層を、電導性高分子化合物からな
る第1の層と二酸化鉛もしくは二酸化鉛と硫酸鉛からな
る第2の層とて形成するため、作製に長時間を要せず、
十分な厚さの半導体層を得ることかできる。
る第1の層と二酸化鉛もしくは二酸化鉛と硫酸鉛からな
る第2の層とて形成するため、作製に長時間を要せず、
十分な厚さの半導体層を得ることかできる。
第1図はこの発明の固体電解コンデンサの電極並びに半
導体層の構成を模式的に表わしたもので、アルミニウム
、タンタルなどの弁金属陽極基体lの表面に誘電体酸化
皮膜層2が形成されている。この上面に、まず一般式(
I)または(II )で表わされるくり返し単位を有す
る高分子化合物にドーパントをトープして得られる電導
性高分子化合物からなる第1の半導体層3か形成され、
さらにその上に、二酸化鉛もしくは二酸化鉛と硫酸鉛を
主成分とする第2の半導体層4が形成されている。そし
て、陰極引出しのためカーボン層および/または銀ペー
スト層などの導電体層5か形成されている。なお陽極基
体1および導電体層5には、各々外部引出しのためのり
−ト線(6a、6b)か取り付けられている。
導体層の構成を模式的に表わしたもので、アルミニウム
、タンタルなどの弁金属陽極基体lの表面に誘電体酸化
皮膜層2が形成されている。この上面に、まず一般式(
I)または(II )で表わされるくり返し単位を有す
る高分子化合物にドーパントをトープして得られる電導
性高分子化合物からなる第1の半導体層3か形成され、
さらにその上に、二酸化鉛もしくは二酸化鉛と硫酸鉛を
主成分とする第2の半導体層4が形成されている。そし
て、陰極引出しのためカーボン層および/または銀ペー
スト層などの導電体層5か形成されている。なお陽極基
体1および導電体層5には、各々外部引出しのためのり
−ト線(6a、6b)か取り付けられている。
本発明で一般式(I)および(II)で表わされるくり
返し単位を有する高分子化合物の代表例としては、ポリ
フェニレン、ポリフェニレンサルファイド、ポリフェニ
レンオキサイド、ポリフェニレンビニレン、ポリアニリ
ン、ポリ−N−メチルアニリン、ポリチオフェン、ポリ
ピロール、ポリフラン等があげられる。
返し単位を有する高分子化合物の代表例としては、ポリ
フェニレン、ポリフェニレンサルファイド、ポリフェニ
レンオキサイド、ポリフェニレンビニレン、ポリアニリ
ン、ポリ−N−メチルアニリン、ポリチオフェン、ポリ
ピロール、ポリフラン等があげられる。
これら高分子化合物の製造方法は特に限定されるものて
はないか、例えば、ポリフェニレンにっいては、J、
Chew、 phys、、 711506 (197
9)Bull、Cheffl、Soc、Japan、5
1 2091 (1978)J、 POIyol、
Sci、 Polym、 Chera、
Edi、、 12 357(1974) 、ポリフェ
ニレンサルファイドについては、J、 Appl、 P
olym、 Sci、、 202541 (1976
)、ポリフェニレンオキサイドについてはMakroi
olCheIll、、 126130 (1969)
、ポリフェニレンビニレンについては、J、 A、 C
,S、、 824δ69(1・g60)、ポリアニリン
については、特開昭61−64729号公報、ポリチオ
フェンについては、J、 Polym、 Sci。
はないか、例えば、ポリフェニレンにっいては、J、
Chew、 phys、、 711506 (197
9)Bull、Cheffl、Soc、Japan、5
1 2091 (1978)J、 POIyol、
Sci、 Polym、 Chera、
Edi、、 12 357(1974) 、ポリフェ
ニレンサルファイドについては、J、 Appl、 P
olym、 Sci、、 202541 (1976
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olCheIll、、 126130 (1969)
、ポリフェニレンビニレンについては、J、 A、 C
,S、、 824δ69(1・g60)、ポリアニリン
については、特開昭61−64729号公報、ポリチオ
フェンについては、J、 Polym、 Sci。
Polymn、 Lctt、 Ed、、 18
9 (+980) 、 J、 Electr
oanal、 Chem、、 135173 (198
2)、Makromol、 Chem。
9 (+980) 、 J、 Electr
oanal、 Chem、、 135173 (198
2)、Makromol、 Chem。
Rapid CoIun、、 2551 (+981)
、ポリピロールについては、J、 C,S、 Che
w、 Commun、、 854 (1979)及び
J、 Polym、 Sci、 Po1yI1.
Letter、 Ed、、 20187 (+
982)、ポリフランについては、J、 Electr
−oanal、 Chew、、 13517:l (
1982)等の方法によって製造することかできる。
、ポリピロールについては、J、 C,S、 Che
w、 Commun、、 854 (1979)及び
J、 Polym、 Sci、 Po1yI1.
Letter、 Ed、、 20187 (+
982)、ポリフランについては、J、 Electr
−oanal、 Chew、、 13517:l (
1982)等の方法によって製造することかできる。
また、これらの高分子化合物に12、 Br、、503
AsFs、 5bFSなどの電子受容体を化学的方法を
用いてトープすることによって、あるいはBP、−。
AsFs、 5bFSなどの電子受容体を化学的方法を
用いてトープすることによって、あるいはBP、−。
CIO,−、PF、−1AsFa−などのアニオンを電
気化学的方法を用いてドープすることによって電気伝導
度をto−’〜102102S’まで高めることかでき
る。
気化学的方法を用いてドープすることによって電気伝導
度をto−’〜102102S’まで高めることかでき
る。
本発明で一般式(I)、(TI )式で表わされるくり
返し単位を有する高分子化合物にドーパントをトープし
て得られる電導性高分子化合物を誘電体酸化皮膜層上に
形成する方法は、例えば高分子化合物を適当な溶媒に溶
解させて誘電体酸化皮膜に接触させ、しかる後ドーパン
トをドープする方法、高分子化合物を与える七ツマー成
分を窒素等の不活性ガスと共に誘電体酸化皮膜層に接触
させ、あらかじめ誘電体酸化皮膜層上に存在させておい
た触媒成分によって気相重合させ、しかる後ドーパント
をドープする方法、高分子化合物を与える七ツマー成分
を溶解した電解液中に陽極基体を浸漬させ、電解重合す
ることによって、重合とトーピンクを同時に行う方法等
がある。
返し単位を有する高分子化合物にドーパントをトープし
て得られる電導性高分子化合物を誘電体酸化皮膜層上に
形成する方法は、例えば高分子化合物を適当な溶媒に溶
解させて誘電体酸化皮膜に接触させ、しかる後ドーパン
トをドープする方法、高分子化合物を与える七ツマー成
分を窒素等の不活性ガスと共に誘電体酸化皮膜層に接触
させ、あらかじめ誘電体酸化皮膜層上に存在させておい
た触媒成分によって気相重合させ、しかる後ドーパント
をドープする方法、高分子化合物を与える七ツマー成分
を溶解した電解液中に陽極基体を浸漬させ、電解重合す
ることによって、重合とトーピンクを同時に行う方法等
がある。
次に、本発明において、前述した電導性高分子化合物か
らなる第1の半導体層の上に形成される二酸化鉛もしく
は二酸化鉛と硫酸鉛を主成分とする第2の半導体層の形
成方法は、例えば本発明者等が先に特開昭62−185
307号公報、特開昭6351621号公報等で開示し
た化学的析出法や電気化学的析出法等を適用することか
できる。
らなる第1の半導体層の上に形成される二酸化鉛もしく
は二酸化鉛と硫酸鉛を主成分とする第2の半導体層の形
成方法は、例えば本発明者等が先に特開昭62−185
307号公報、特開昭6351621号公報等で開示し
た化学的析出法や電気化学的析出法等を適用することか
できる。
本発明の固体電解コンデンサは、半導体層の形成を短時
間にしかも十分な厚さで得ることかできるため信頼度か
高い。
間にしかも十分な厚さで得ることかできるため信頼度か
高い。
なお、本発明ては半導体層の形成を、ft導性高分子に
よる第1の半導体層と、二酸化鉛または二酸化鉛と硫酸
鉛を主成分とする第2の半導体層の積層体でも、また第
1の半導体層と第2の半導体層の種類を前述した順番の
逆にしだものてもよい 以下、実施例、比較例を示して本発明をさらに説明する
。
よる第1の半導体層と、二酸化鉛または二酸化鉛と硫酸
鉛を主成分とする第2の半導体層の積層体でも、また第
1の半導体層と第2の半導体層の種類を前述した順番の
逆にしだものてもよい 以下、実施例、比較例を示して本発明をさらに説明する
。
実施例1
交流によって電気化学的にエッチンク処理したテープ状
(0,5cmX 1cm)のエツチングアルミ箔を多
数個用意し、これにタラ部を有する陽極り−トをかしめ
付けした。次いて電気化学的に処理して表面にアルミナ
の誘電体酸化皮膜層を形成した。一方、別に用意した(
C<Hq) 4NBF4を電解質とする0、1モルの
アセトニトリル溶液に0.05モルのアニリンを溶解し
た電解液に前述したエツチングアルミ箔を浸漬し電解重
合を行った。2時間後、酸化皮膜層上に形成された電導
性高分子層を水て充分洗浄し乾燥した。
(0,5cmX 1cm)のエツチングアルミ箔を多
数個用意し、これにタラ部を有する陽極り−トをかしめ
付けした。次いて電気化学的に処理して表面にアルミナ
の誘電体酸化皮膜層を形成した。一方、別に用意した(
C<Hq) 4NBF4を電解質とする0、1モルの
アセトニトリル溶液に0.05モルのアニリンを溶解し
た電解液に前述したエツチングアルミ箔を浸漬し電解重
合を行った。2時間後、酸化皮膜層上に形成された電導
性高分子層を水て充分洗浄し乾燥した。
続いて、酢酸鉛1モル水溶液にポリアニリンを電導性高
分子層とするエツチングアルミ箔を浸漬し、1時間通電
した。電導性高分子層の上に形成された二酸化鉛からな
る半導体層を水で充分洗浄し乾燥した。
分子層とするエツチングアルミ箔を浸漬し、1時間通電
した。電導性高分子層の上に形成された二酸化鉛からな
る半導体層を水で充分洗浄し乾燥した。
次に、半導体層まで形成されたエツチングアルミ箔をり
ん酸とりん酸アンモニウムを含んだ水溶液中て後化成し
た後、銀ペーストによって導電体層を形成し、樹脂封口
して固体電解コンデンサを作製した。
ん酸とりん酸アンモニウムを含んだ水溶液中て後化成し
た後、銀ペーストによって導電体層を形成し、樹脂封口
して固体電解コンデンサを作製した。
なお、本実施例で形成された半導体層の厚みはおおよそ
3x 10−’〜2X 10−’amであった。
3x 10−’〜2X 10−’amであった。
実施例2〜4
実施例1と同様の誘電体酸化皮膜層を有するエツチング
アルミ箔を使用し、実施例2ては実施例1のアニリンの
代りに0.05モルのチオフェンを、実施例3では0.
05モルのビロールを、実施例4では0.05モルのフ
ランを溶解した電解液を用いて電解重合を行い、実施例
1と同様の水洗浄と乾燥を行った。、続いて、これら各
々、ポリチオフェン、ポリピロール、ポリフランを電導
性高分子層とするエツチングアルミ箔を、酢酸鉛三水和
物2.4モル/文、過硫酸アンモニウム4モル/lの混
合液に浸漬し40°Cで1時間反応させた。電導性高分
子層の上に形成された二酸化鉛と硫酸鉛を主成分とする
半導体層を水で充分洗浄し、乾燥した。そして実施例1
と同様にして固体電解コンデンサを作製した。なお、半
導体層の厚みも実施例1と同様であった。
アルミ箔を使用し、実施例2ては実施例1のアニリンの
代りに0.05モルのチオフェンを、実施例3では0.
05モルのビロールを、実施例4では0.05モルのフ
ランを溶解した電解液を用いて電解重合を行い、実施例
1と同様の水洗浄と乾燥を行った。、続いて、これら各
々、ポリチオフェン、ポリピロール、ポリフランを電導
性高分子層とするエツチングアルミ箔を、酢酸鉛三水和
物2.4モル/文、過硫酸アンモニウム4モル/lの混
合液に浸漬し40°Cで1時間反応させた。電導性高分
子層の上に形成された二酸化鉛と硫酸鉛を主成分とする
半導体層を水で充分洗浄し、乾燥した。そして実施例1
と同様にして固体電解コンデンサを作製した。なお、半
導体層の厚みも実施例1と同様であった。
実施例5〜8
高分子化合物として実施例5ではポリフェニレンサルフ
ァイドのジフェニルエーテル溶液を、実施例6ではポリ
フェニレンオキサイドのDMF溶液を、実施例7てはポ
リフェニレンビニレンのDMF溶液を各々実施例1と同
様なエツチングアルミ箔の誘電体酸化皮膜層上に塗布し
乾燥した。
ァイドのジフェニルエーテル溶液を、実施例6ではポリ
フェニレンオキサイドのDMF溶液を、実施例7てはポ
リフェニレンビニレンのDMF溶液を各々実施例1と同
様なエツチングアルミ箔の誘電体酸化皮膜層上に塗布し
乾燥した。
そして802ガスをドープして電導性高分子層とした。
実施例8ては、ポリフェニレンを210°Cて溶融し、
実施例1と同様なエツチングアルミ箔の細孔中に入れた
後、AsF5ガスをトープして電導性高分子層を得た。
実施例1と同様なエツチングアルミ箔の細孔中に入れた
後、AsF5ガスをトープして電導性高分子層を得た。
続いて、電導性高分子層まて形成したエツチングアルミ
箔に、実施例2〜4と回しようにして二酸化鉛と硫酸鉛
を主成分とする半導体層を形成し、その上に導電体層を
形成した後、封口処理して固体電解コンデンサを作製し
た。
箔に、実施例2〜4と回しようにして二酸化鉛と硫酸鉛
を主成分とする半導体層を形成し、その上に導電体層を
形成した後、封口処理して固体電解コンデンサを作製し
た。
なお、本実施例で形成された半導体層の厚みは4X 1
0−’ 〜2x 10−’c+*であった。
0−’ 〜2x 10−’c+*であった。
実施例9〜10
実施例1と同様な誘電体酸化皮膜層を有するエツチング
アルミ箔を酢酸鉛三水和物2.4モル/見、過硫酸アン
モニウム4モル/lの混合液に浸漬して40℃で1時間
反応させた。そして生した二酸化鉛と硫酸鉛を主成分と
する半導体層を水で充分洗浄し乾燥した。
アルミ箔を酢酸鉛三水和物2.4モル/見、過硫酸アン
モニウム4モル/lの混合液に浸漬して40℃で1時間
反応させた。そして生した二酸化鉛と硫酸鉛を主成分と
する半導体層を水で充分洗浄し乾燥した。
続いて、(C4H9)4NBF4を電解質とする。、i
モルアセトニトリル溶液に実施例9ては0.05モルの
アニリン、実施例1Oでは0.05モルのビロールを各
々溶解した電解液にエツチングアルミ箔を浸漬し電解重
合を行った。そして2時間後に二酸化鉛と硫酸鉛を主成
分とする半導体層上に形成された電導性高分子層を水で
充分洗浄し乾燥した。その後、実施例1と同様にして導
電体層を形成し、封口処理して固体電解コンデンサを作
製した。
モルアセトニトリル溶液に実施例9ては0.05モルの
アニリン、実施例1Oでは0.05モルのビロールを各
々溶解した電解液にエツチングアルミ箔を浸漬し電解重
合を行った。そして2時間後に二酸化鉛と硫酸鉛を主成
分とする半導体層上に形成された電導性高分子層を水で
充分洗浄し乾燥した。その後、実施例1と同様にして導
電体層を形成し、封口処理して固体電解コンデンサを作
製した。
なお、実施例9〜lOで形成された半導体層の厚みはz
x to−5〜3x 10−’cmであった。
x to−5〜3x 10−’cmであった。
比較例1〜4
実施例1〜4において第1の半導体層の形成時間を3時
間とし、後の第2の半導体層を形成しなかった以外は、
実施例1〜4と同様にして固体電解コンデンサを作製し
た。比較例1〜4はそれぞれ実施例1〜4に対応してい
る。
間とし、後の第2の半導体層を形成しなかった以外は、
実施例1〜4と同様にして固体電解コンデンサを作製し
た。比較例1〜4はそれぞれ実施例1〜4に対応してい
る。
なお、比較例1〜4て形成された半導体層の厚みは5X
10−’〜7x 10−60mてあった。
10−’〜7x 10−60mてあった。
以上各実施例及び比較例で作製された固体電解コンデン
サ620点、計240点について電圧lOVでもれ電流
を測定し、0.5gA以下の個数を歩留りとした。その
結果を第1表に示した。
サ620点、計240点について電圧lOVでもれ電流
を測定し、0.5gA以下の個数を歩留りとした。その
結果を第1表に示した。
(以下余白)
第
表
からなるため短時間で充分な半導体層厚みを得ることか
でき、信頼性か高く、工業的に利用価値が高い。
でき、信頼性か高く、工業的に利用価値が高い。
第1図は、本発明の固体電解コンデンサの構造を示す模
式図である。 1・・・弁金属陽極基体 2・・・誘電体酸化皮膜層
3・・・第1の半導体層 4・・・第2の半導体層5
・・・導電体層 6a・・・陽極リード線6b
・・・陰極リート線 (発明の効果)
式図である。 1・・・弁金属陽極基体 2・・・誘電体酸化皮膜層
3・・・第1の半導体層 4・・・第2の半導体層5
・・・導電体層 6a・・・陽極リード線6b
・・・陰極リート線 (発明の効果)
Claims (2)
- (1)弁作用を有する金属からなる陽極基体の表面に、
誘電体酸化皮膜層、半導体層および導電体層を順次形成
してなる固体電解コンデンサにおいて、前記半導体層が
一般式(I)で表わされるくり返し単位を有する高分子
化合物にドーパントをドープして得られる電導性高分子
化合物からなる第1の層と、二酸化鉛もしくは二酸化鉛
と硫酸鉛を主成分とする第2の層との積層体であること
を特徴とする固体電解コンデンサ。 一般式(I) ▲数式、化学式、表等があります▼(I) (R^1、R^2、R^3、R^4は水素、アルキル基
またはアルコキシ基,X^1は直接結合、S、O、−C
H=CH−またはNR^7R^7は水素またはアルキル
基) - (2)弁作用を有する金属からなる陽極基体の表面に、
誘電体酸化皮膜層、半導体層および導電体層を順次形成
してなる固体電解コンデンサにおいて、前記半導体層が
一般式(II)で表わされるくり返し単位を有する高分子
化合物にドーパントをドープして得られる電導性高分子
化合物からなる第1の層と、二酸化鉛もしくは二酸化鉛
と硫酸鉛を主成分とする第2の層との積層体であること
を特徴とする固体電解コンデンサ。 一般式(II) ▲数式、化学式、表等があります▼(II) (R^5、R^6は水素、アルキル基またはアルコキシ
基X^2はS、OまたはNR^6R^6は水素またはア
ルキル基)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63189096A JP2632944B2 (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | 固体電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63189096A JP2632944B2 (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | 固体電解コンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0239413A true JPH0239413A (ja) | 1990-02-08 |
JP2632944B2 JP2632944B2 (ja) | 1997-07-23 |
Family
ID=16235278
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63189096A Expired - Lifetime JP2632944B2 (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | 固体電解コンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2632944B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7872858B2 (en) | 2007-07-09 | 2011-01-18 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing electrolytic capacitor and electrolytic capacitor |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5185457A (ja) * | 1975-01-24 | 1976-07-27 | Nippon Electric Co | |
JPS6037114A (ja) * | 1983-08-09 | 1985-02-26 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサ |
JPS6037115A (ja) * | 1983-08-09 | 1985-02-26 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサ |
-
1988
- 1988-07-28 JP JP63189096A patent/JP2632944B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5185457A (ja) * | 1975-01-24 | 1976-07-27 | Nippon Electric Co | |
JPS6037114A (ja) * | 1983-08-09 | 1985-02-26 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサ |
JPS6037115A (ja) * | 1983-08-09 | 1985-02-26 | 昭和電工株式会社 | 固体電解コンデンサ |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7872858B2 (en) | 2007-07-09 | 2011-01-18 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing electrolytic capacitor and electrolytic capacitor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2632944B2 (ja) | 1997-07-23 |
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