JPH02309695A - 多層回路基板 - Google Patents
多層回路基板Info
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- JPH02309695A JPH02309695A JP1130890A JP13089089A JPH02309695A JP H02309695 A JPH02309695 A JP H02309695A JP 1130890 A JP1130890 A JP 1130890A JP 13089089 A JP13089089 A JP 13089089A JP H02309695 A JPH02309695 A JP H02309695A
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Links
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 13
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Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、多層回路基板に関するもので、特に、抵抗
器部分を備える多層回路基板に関するものである。
器部分を備える多層回路基板に関するものである。
[従来の技術〕
電子機器の小型化を図るため、電子回路の高密度実装化
が急速に進められている。これに応えるべく、電子部品
の小型化、チップ化が進められているが、小型化に対し
ては、マウンタの精度などの問題から、自ずと限界があ
る。したがって、電子回路のさらなる高密度実装化にあ
たっては、たとえばセラミックからなる多層回路基板の
内部または表面に、コンデンサ、インダクタ、抵抗器な
どの受動部品を内蔵したり、表面から突出しないように
設けたりする手法をとるにまで至っている。
が急速に進められている。これに応えるべく、電子部品
の小型化、チップ化が進められているが、小型化に対し
ては、マウンタの精度などの問題から、自ずと限界があ
る。したがって、電子回路のさらなる高密度実装化にあ
たっては、たとえばセラミックからなる多層回路基板の
内部または表面に、コンデンサ、インダクタ、抵抗器な
どの受動部品を内蔵したり、表面から突出しないように
設けたりする手法をとるにまで至っている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、受動部品を基板に単に組込むだけでは、
得られた回路の歩留りが低くなってしまう。たとえば、
良品率99%の抵抗器を10個内蔵すると、歩留りは9
0%になり、100個内蔵すると、歩留りは50%近く
にまで低下してしまう。
得られた回路の歩留りが低くなってしまう。たとえば、
良品率99%の抵抗器を10個内蔵すると、歩留りは9
0%になり、100個内蔵すると、歩留りは50%近く
にまで低下してしまう。
そこで、この発明の目的は、高密度実装の要求に応える
ことができるとともに、歩留りの低下を防止できる、抵
抗器部分を備える多層回路基板を提供することである。
ことができるとともに、歩留りの低下を防止できる、抵
抗器部分を備える多層回路基板を提供することである。
[課題を解決するための手段]
この発明にかかる多層回路基板は、抵抗器部分を与える
ため、表面に露出した状態で形成された抵抗体を備える
。また、この抵抗体に対する電気接続部は、多層回路基
板の内部に形成される。
ため、表面に露出した状態で形成された抵抗体を備える
。また、この抵抗体に対する電気接続部は、多層回路基
板の内部に形成される。
[作用]
この発明にかかる多層回路基板において、表面に露出し
た状態で形成された抵抗体を、レーザビームなどにより
トリミングすることにより、抵抗体が与える抵抗値を、
多層回路基板を得た後で調整することができる。
た状態で形成された抵抗体を、レーザビームなどにより
トリミングすることにより、抵抗体が与える抵抗値を、
多層回路基板を得た後で調整することができる。
[発明の効果]
したがって、この発明によれば、多層回路基板が得られ
た後で、表面に露出している抵抗体をトリミングして、
抵抗値の調整を行なうことができるので、多層回路基板
の歩留りを向上させることができる。
た後で、表面に露出している抵抗体をトリミングして、
抵抗値の調整を行なうことができるので、多層回路基板
の歩留りを向上させることができる。
また、抵抗体に対する電気接続部が多層回路基板の内部
に形成されるので、このような多層回路基板は、高密度
実装の要求に応えることができる。
に形成されるので、このような多層回路基板は、高密度
実装の要求に応えることができる。
[実施例]
第1図には、この発明の一実施例にかかる多層回路基板
1の一部が断面図で示されている。
1の一部が断面図で示されている。
多層回路基板1は、複数のセラミック層2を備える。こ
のような多層回路基板1において、破線で囲むように、
たとえば2つの抵抗器部分3,4が形成されている。抵
抗器部分3,4は、それぞれ、多層回路基板1の表面に
露出した状態で形成された表面抵抗体5,6、ならびに
これら表面抵抗体5.6の各々に電気的に接続されバイ
アホール内に形成されたバイアホール抵抗体7,8およ
び9,10を備える。
のような多層回路基板1において、破線で囲むように、
たとえば2つの抵抗器部分3,4が形成されている。抵
抗器部分3,4は、それぞれ、多層回路基板1の表面に
露出した状態で形成された表面抵抗体5,6、ならびに
これら表面抵抗体5.6の各々に電気的に接続されバイ
アホール内に形成されたバイアホール抵抗体7,8およ
び9,10を備える。
バイアホール抵抗体7.8. 9. 10は、セラミッ
ク層2間に形成された配線部11. 12. 13.1
4にそれぞれ接続される。なお、各配線部11〜14は
、必ずしも異なる層に形成される必要はない。また、こ
れら配線部11,12.13゜14に接続される他の電
気要素については図示が省略されている。
ク層2間に形成された配線部11. 12. 13.1
4にそれぞれ接続される。なお、各配線部11〜14は
、必ずしも異なる層に形成される必要はない。また、こ
れら配線部11,12.13゜14に接続される他の電
気要素については図示が省略されている。
このような多層回路基板1を製造するにあたり、セラミ
ック層2のために、Ba0SA120a、5i02など
を主成分とし、中性雰囲気中、950℃で焼成できるセ
ラミックグリーンシートが用意される。このようなセラ
ミックグリーンシートに、必要な抵抗体5〜10および
配線部11〜14を与えるべく、抵抗体ペーストまたは
導電体ペーストを印刷等により形成する。抵抗体5〜1
0のための抵抗体ペーストとしては、たとえばホウ化ラ
ンタンを主成分とするものが用いられる。他方、配線部
11〜14のための導電体ペーストとしては、たとえば
銅を主成分とするものが用いられる。そして、上述のよ
うに得られたセラミックグリーンシートは、積層され、
次いで、一体に焼成される。
ック層2のために、Ba0SA120a、5i02など
を主成分とし、中性雰囲気中、950℃で焼成できるセ
ラミックグリーンシートが用意される。このようなセラ
ミックグリーンシートに、必要な抵抗体5〜10および
配線部11〜14を与えるべく、抵抗体ペーストまたは
導電体ペーストを印刷等により形成する。抵抗体5〜1
0のための抵抗体ペーストとしては、たとえばホウ化ラ
ンタンを主成分とするものが用いられる。他方、配線部
11〜14のための導電体ペーストとしては、たとえば
銅を主成分とするものが用いられる。そして、上述のよ
うに得られたセラミックグリーンシートは、積層され、
次いで、一体に焼成される。
このようにして得られた多層回路基板1において、たと
えば、配線部11.12の延長上の適当な部分で抵抗器
部分3によって与えられる抵抗値を測定しながら、レー
ザ、サンドブラストなどの方法により、表面に露出した
表面抵抗体5をトリミングすることにより、抵抗値の調
整を行なうことができる。同様に、抵抗器部分4におい
ても、配線部13.14の延長上の適当な部分で抵抗値
を測定しながら、表面にある表面抵抗体6をトリミング
することにより、その抵抗値を調整することができる。
えば、配線部11.12の延長上の適当な部分で抵抗器
部分3によって与えられる抵抗値を測定しながら、レー
ザ、サンドブラストなどの方法により、表面に露出した
表面抵抗体5をトリミングすることにより、抵抗値の調
整を行なうことができる。同様に、抵抗器部分4におい
ても、配線部13.14の延長上の適当な部分で抵抗値
を測定しながら、表面にある表面抵抗体6をトリミング
することにより、その抵抗値を調整することができる。
この発明によって可能とされる高密度実装について、第
2図および第3図を参照して説明する。
2図および第3図を参照して説明する。
これらの図面は、同一縮尺で描かれている。また、第2
図は、この発明の場合を示し、第3図は、通常のプリン
ト回路基板15上にチップ抵抗器16を搭裁した場合を
示している。いずれの場合においても、4つの抵抗器を
含んでいる。
図は、この発明の場合を示し、第3図は、通常のプリン
ト回路基板15上にチップ抵抗器16を搭裁した場合を
示している。いずれの場合においても、4つの抵抗器を
含んでいる。
第2図において、多層回路基板17には、4つの抵抗器
部分の少なくとも一部をそれぞれ形成するものであって
表面に露出している表面抵抗体18が図示されており、
これら表面抵抗体18の各々に関連してバイアホール1
9,20が図示されている。
部分の少なくとも一部をそれぞれ形成するものであって
表面に露出している表面抵抗体18が図示されており、
これら表面抵抗体18の各々に関連してバイアホール1
9,20が図示されている。
他方、第3図においては、プリント回路基板15上に、
ランド配線部21が形成され、これらランド配線部21
に電気的に接続された状態で、チップ抵抗体16が搭載
されている。
ランド配線部21が形成され、これらランド配線部21
に電気的に接続された状態で、チップ抵抗体16が搭載
されている。
第2図と第3図との対比かられかるように、この発明に
かかる多層回路基板17は、チップ抵抗器16をプリン
ト回路基板15上に搭裁した場合に比べて、その面積を
小さくすることができる。
かかる多層回路基板17は、チップ抵抗器16をプリン
ト回路基板15上に搭裁した場合に比べて、その面積を
小さくすることができる。
その理由は、まず、第3図に示したランド配線部21が
不要なためである。また、第3図に示すように、ディス
クリートなチップ抵抗器16を用いる場合、その取扱い
上、チップ抵抗器16自身にある程度の寸法が必要であ
り、また、これらチップ抵抗器16相互間の間隔につい
ても、ある程度の大きさが必要であるが、第2図に示す
ように、多層回路基板17に組入れた状態で表面抵抗体
18を含む抵抗器部分を形成すると、取扱い上の問題に
遭遇することはなく、多層回路基板17によって与えら
れる面積を効率良く抵抗体形成のための領域として用い
ることができるからである。また、第2図に示した多層
回路基板17によれば、抵抗器部分に必要とされる抵抗
体の一部を、バイアホール19,20内にも形成するこ
とができる。
不要なためである。また、第3図に示すように、ディス
クリートなチップ抵抗器16を用いる場合、その取扱い
上、チップ抵抗器16自身にある程度の寸法が必要であ
り、また、これらチップ抵抗器16相互間の間隔につい
ても、ある程度の大きさが必要であるが、第2図に示す
ように、多層回路基板17に組入れた状態で表面抵抗体
18を含む抵抗器部分を形成すると、取扱い上の問題に
遭遇することはなく、多層回路基板17によって与えら
れる面積を効率良く抵抗体形成のための領域として用い
ることができるからである。また、第2図に示した多層
回路基板17によれば、抵抗器部分に必要とされる抵抗
体の一部を、バイアホール19,20内にも形成するこ
とができる。
このことも、第2図に示した多層回路基板17が、第3
図に示したプリント回路基板15に比べて、面積をより
小さくできる理由となる。
図に示したプリント回路基板15に比べて、面積をより
小さくできる理由となる。
なお、前述した実施例では、セラミック層を構成するセ
ラミックとして、中性雰囲気で焼成可能なものを用い、
導電体として、銅を主成分とするものを用い、抵抗体し
て、ホウ化ランタンを主成分とするものを用いたが、セ
ラミックとして、酸化性雰囲気で焼成可能なものを用い
ながら、導電体として、銀または銀−パラジウムを主成
分とするものを用い、抵抗体として、酸化ルテニウム系
サーメットを主成分とするものを用いてもよい。
ラミックとして、中性雰囲気で焼成可能なものを用い、
導電体として、銅を主成分とするものを用い、抵抗体し
て、ホウ化ランタンを主成分とするものを用いたが、セ
ラミックとして、酸化性雰囲気で焼成可能なものを用い
ながら、導電体として、銀または銀−パラジウムを主成
分とするものを用い、抵抗体として、酸化ルテニウム系
サーメットを主成分とするものを用いてもよい。
さらに、このような材料は、具体的に例示したもののほ
か、他のものを用いることもできる。
か、他のものを用いることもできる。
また、第1図に示した多層回路基板1においては、バイ
アホールに抵抗体7〜1oを形成したが、これらバイア
ホールのすべてまたは一部に導電体を形成するようにし
てもよい。
アホールに抵抗体7〜1oを形成したが、これらバイア
ホールのすべてまたは一部に導電体を形成するようにし
てもよい。
第1図は、この発明の一実施例にががる多層回路基板1
の一部を示す断面図である。第2図および第3図は、こ
の発明の詳細な説明するための図解的平面図であって、
第2図は、この発明にががる多層回路基板17を示し、
第3図は、プリント回路基板15上にチップ抵抗器16
を搭載した場合を示している。 図において、1.17は多層回路基板、2はセラミック
層、3,4は抵抗器部分、5.6. 18は表面抵抗体
、7,8,9.10はバイアホール抵抗体、11,12
,13.14は配線部、19゜20はバイアホールであ
る。 tbz:ttb
の一部を示す断面図である。第2図および第3図は、こ
の発明の詳細な説明するための図解的平面図であって、
第2図は、この発明にががる多層回路基板17を示し、
第3図は、プリント回路基板15上にチップ抵抗器16
を搭載した場合を示している。 図において、1.17は多層回路基板、2はセラミック
層、3,4は抵抗器部分、5.6. 18は表面抵抗体
、7,8,9.10はバイアホール抵抗体、11,12
,13.14は配線部、19゜20はバイアホールであ
る。 tbz:ttb
Claims (1)
- 表面に露出した状態で形成された抵抗体を備え、前記
抵抗体に対する電気接続部が内部に形成された、多層回
路基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1130890A JPH02309695A (ja) | 1989-05-24 | 1989-05-24 | 多層回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1130890A JPH02309695A (ja) | 1989-05-24 | 1989-05-24 | 多層回路基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02309695A true JPH02309695A (ja) | 1990-12-25 |
Family
ID=15045101
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1130890A Pending JPH02309695A (ja) | 1989-05-24 | 1989-05-24 | 多層回路基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02309695A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5996791A (ja) * | 1982-11-25 | 1984-06-04 | 鳴海製陶株式会社 | 配線板及びその製造方法 |
JPS59132643A (ja) * | 1983-01-20 | 1984-07-30 | Nec Corp | 抵抗複合基板 |
JPS62291162A (ja) * | 1986-06-11 | 1987-12-17 | Nec Corp | 混成集積回路 |
-
1989
- 1989-05-24 JP JP1130890A patent/JPH02309695A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5996791A (ja) * | 1982-11-25 | 1984-06-04 | 鳴海製陶株式会社 | 配線板及びその製造方法 |
JPS59132643A (ja) * | 1983-01-20 | 1984-07-30 | Nec Corp | 抵抗複合基板 |
JPS62291162A (ja) * | 1986-06-11 | 1987-12-17 | Nec Corp | 混成集積回路 |
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