JPH02302070A - 混成集積回路装置 - Google Patents

混成集積回路装置

Info

Publication number
JPH02302070A
JPH02302070A JP1122356A JP12235689A JPH02302070A JP H02302070 A JPH02302070 A JP H02302070A JP 1122356 A JP1122356 A JP 1122356A JP 12235689 A JP12235689 A JP 12235689A JP H02302070 A JPH02302070 A JP H02302070A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
substrate
microcomputer
conductive path
hybrid integrated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1122356A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0680778B2 (ja
Inventor
Koji Nagahama
長浜 浩二
Akira Kazami
風見 明
Hisashi Shimizu
清水 永
Osamu Nakamoto
中本 修
Katsumi Okawa
克実 大川
Yasuhiro Koike
保広 小池
Masao Kaneko
正雄 金子
Seiwa Ueno
上野 聖和
Yasuo Saito
斎藤 保雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP1122356A priority Critical patent/JPH0680778B2/ja
Priority to US07/510,467 priority patent/US5285107A/en
Priority to EP90107414A priority patent/EP0393657B1/en
Priority to DE69031141T priority patent/DE69031141T2/de
Publication of JPH02302070A publication Critical patent/JPH02302070A/ja
Publication of JPH0680778B2 publication Critical patent/JPH0680778B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

Landscapes

  • Combinations Of Printed Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 くイ)産業上の利用分野 本発明は集積回路基板に樹脂封止型の不揮発性メモリ、
例えばEFROM(紫外線消去形プログラマブル・リー
ド・オンリ・メモリー)を実装してなるEPROM内蔵
型の混成集積回路装置に関する。
(ロ)従来の技術 紫外線を照射することによって既に書込まれた記憶情報
を消去し、再書込みが可能な紫外線照射窓を有するEP
ROM素子は、各種電子機器に好んで用いられている。
このEPROM素子は、制御用或は駆動用集積回路と共
に現在、その殆んどがプリント配線板に実装されており
、一旦書込んだ情報をその後書き直すために通常、着脱
容易なプリント配線板に実装されている。各種電子機器
で小型軽量化が要求される機器は、チップ・オン・ボー
ドと称される技法によってプリント配線板に半導体集積
回路(IC)チップが直接搭載され、所要の配線が施さ
れた後この配線部分を含んで前記ICチップが合成樹脂
によって被覆され、極めて小形軽量化が達成されている
一方紫外線照射窓を必要とするEPROMテップは、こ
の照射窓がネックとなり未だサーディツプ型パッケージ
に組込まれて製造され、プリント配線板に実装されてI
/上るため小型軽量化が図れない。
かかる従来のEPROM素子の実装構造を第13図に従
って説明すると、第13図は従来のEPROM素子の一
部断面を有する斜視図であって、主表面上に導電性配線
パターン(41)が形成されたガラス・エポキシ樹脂な
どから構成された絶縁性基板(42)のスルーホール(
43)にサーデイ・ノブ型パッケージに組込まれEPR
OM素子(44)が搭載されている。このEPROM素
子(44〉はヘッダー<45〉およびキャップ(46)
を有し、前記ヘッダー(45)はセラミック基材(47
)に外部導出リード(48)か低融点ガラス材で接着さ
れている。又このヘッダー(45)はガラスに金粉が多
量に混入したいわゆる金ペーストを焼結した素子搭載部
〈50〉が前記低融点ガラス材上或はセラミック基材(
47)上に接着されており、この素子搭載部(50)に
E P ROMチップ(51)が紫外線照射面を上にし
て装着され、このチップ(51)の電極と前記外部導出
リード<48)とが金属細線(52)によって接続され
ている。前記キャップ(46)は蓄部材であって、前記
EPROMチップ(51)の紫外線照射面と対向する部
分に窓(53)を有するセラミック基材(54)を含み
、このキャップ(46)は低融点ガラスによってヘッダ
ー(45)に配置されたEPROMチップ(51)を密
封している。この様にEPROMチップ〈51)を密封
したEPROM素子(44)は、前記絶縁性基板(42
)のスルーホール(43)に外部導出リード(48)を
挿通させ半田によって固定される。このスルーホールク
43)は導電性配線パターン(41)によって所要の配
線引回しが施され、前記絶縁性基板の端部に設けられた
雄型コネクタ端子部り55)から図示しない雌型コネク
タへと接続される。
さて、かかる従来のEPROM素子の実装構造は、EP
ROMチップ(51)に比ベパッケージ外形が極めて大
きく、平面占有率もさることながら三次元、つまり高さ
もチップの高きの数倍となり、薄型化に極めて不利であ
る。更にスルーホールく43)に外部導出リードを挿通
した後、半田などで固定する必要も生ずる。更に特筆す
べき大きな欠点は、絶縁性基板への実装に先立ってEP
ROM素子を一部パッケージに組立てることである。E
PROM素子は紫外線照射用の窓を有するが故、そのパ
ッケージは、セラミックスを基材としたサーディツプ型
パッケージに組立てられるが、このパッケージは低融点
ガラスにより封止される為、高温(400〜500℃)
シールとなり、EPROMチップの電極(アルミニウム
)と外部導出リードとを接続する金属細線を同種材料で
構成しないとアロイ化が起り配線抵抗の増加を来したり
、断線を生じたりする。この様な事態を回避する目的で
通常アルミニウム細線が用いられるが、このEPROM
チップはサブストレートを接地電位にする必要上、EP
ROMチップの接地電極を金ペーストで形成されたチッ
プ搭載部とワイヤ接続する。ここに於ても金ペースト中
の金或はおよび箔等の金属と前記アルミニウムとで二次
或は多元合金反応が進むことから、グランドダイスと呼
ばれる頭部にアルミニウムが被着されたシリコンIjX
片をEPROMチップと別個に前記金ペーストより成る
チップ搭載部に固着させ、このグランドダイス頭部とE
PROMチップの接地電極とを接続するという極めて煩
雑な作業を伴う等、従来の実装構造は、小型、軽量、低
価格のいずれも不満足なものである。
斯る問題を解決するために第14図に示したEPROM
実装構造がある。
以下に第14図に示したEPROM実装構造について説
明する。
主表面(60a)に導電性配線パターン(60b)が形
成されたガラス・エポキシ樹脂板などの絶縁性基板(6
0)は、EPROMチップ(61)を載置するチップ搭
載エリヤ(60c)を有し、前記配線パターン(60b
)は、このエリヤ近傍から主表面(60a)上を引回さ
れて図示しない雄型フネクタ端子部に接続されている。
前記エリヤ(60c)には、EPROMチップ(61)
が搭載され、このチップ(61)の表面電極と前記配線
パターン(60b)とが金属細線り62)により接続さ
れている。勿論金属細線(62)の1本は前記チップ(
61)のサブストレートと接続する為に、このチップ(
61)が搭載された配線パターン(60b)とワイヤリ
ングされている。前記EPROMチップ(61)の紫外
線照射面<61a)上には紫外線透過性樹脂(63) 
(例えば東し社製、型名TX−978)を介して、紫外
線透過性窓材(64)が固着されている。この窓材(6
4)は、石英、透明アルミナ等、公知の紫外線透過性材
料である。そして、前記窓材(64)の頂部面(64a
)は、EPROMチップクロ1)の紫外線照射面に光を
導入する面であるから、この頂部面(64a)を除いた
残余の窓材(64)部分と、金属細線(62)と、この
金属細線<62)と前記配線パターン(60b)との接
続部分とが合成樹脂(65) (例えば日東i工社製、
型名MP−10)で被覆されている。もし、絶縁性基板
(60)と、EPROMチップ(61)と窓材(64)
とを加えた総合厚さ寸法を更に低くする必要があれば、
前記基板(60)のチップ搭載エリヤ(60c)をザグ
リ穴としてこの基板〈60)の厚さの半分程度握れば良
い。又この様なザグリ穴と(7ておけば、合成樹!(6
5)の流れ止めダムが形成され湿気などの浸入に対して
有効に作用する。
第13図および第14図で示したEPROM実装構造は
特開昭60−83393号公報(HO5に1/18)に
記載されている。
(ハ)発明が解決しようとする課題 第14図で示したEPROM実装構造ではEFROMの
チップをプリント基板上にグイボンディングしているた
め、小型化となることはいうまでもない。しかしながら
、ここでいう小型化はあくまでEPROM自体のノ」1
型化である。即ち、第14r!lJからは明らかにされ
ていないがEFROMの周辺に固着されているマイクロ
コンピュータおよびその周辺回路素子はディスクリート
等の電子部品で構成されているために、EPROMを搭
載したプリント基板用の集積回路としてのシステム全体
を見た場合なんら小型化とはならず従来通りプリント基
板の大型化、即ちシステム全体が大型化になる問題があ
る。更に第14図に示したEPROM構造ではEFRO
Mのプログラムデータを消去する場合、プリント基板上
に紫外線を照射し消去した後、EPROMから延在され
た引回し線の導電パターン上にプローブ等の書込み用の
端子を当接して再書込みを行わなければならず、従来の
一般的なROMライターを使用することができずEFR
OMの再書込みという点で煩雑となる問題がある。
また、第13図に示したEPROM実装構造では消去後
の再書込みという点ではEPROMをプリント基板から
着脱することが可能であるために、一般的なROMライ
ターを用いての書込みが行えるために比較的容易に行え
る。しかしながら、第13図に示した実装構造において
も第13図と同様にEFROMの周辺の回路、即ち、マ
イクロコンピュータやその周辺LSI、IC等の回路素
子がディスクリート等の電子部品で構成されているため
、プリント基板の大型化、即ちシステム全体が大型化と
なりユーザが要求される軽薄短小のEPROM搭載の集
積回路を提供することができない大きな問題がある。
更に第13図および第14図で示したEPROM実装構
造では、上述した様にシステム全体が大型化になると共
にEFROMおよびその周辺の回路素子を互いに接続す
る導電パターンが露出されているため信頼性が低下する
問題がある。
更に第13図および第14図で示したEPROM実装構
造ではEFROMと、その周辺のマイクロコンピュータ
およびIC,LSI等の回路素子が露出されているため
、基板上面に凹凸が生じて取扱いにくく作業性が低下す
る問題がある。
(二〉課題を解決するための手段 本発明は上述した課題に鑑みて為されたものであり、一
方の基板上に樹脂封止型のEPROMを搭載すると共に
そのEFROMと接続されるマイクロコンピュータおよ
びその周辺の回路素子を搭載し、且つ、ケース材と両基
板とで形成された封止空間にマイクロコンピュータ及び
その周辺の回路素子全てが密封封止されEFROMのみ
がケース材の周辺の所定位置より突出した一方の基板上
に設けられた構造を有することを特徴とする。
従ってEPROMを搭載した混成集積回路を小型化に且
つEPROMの挿脱が自由自在に行えるEFROM内蔵
の混成集積回路装置を提供することができる。
(*)作用 この様に本発明に依れば、ケース材の周辺に拡張した一
方の基板上にEPROMを接続しているのでEPROM
の載置位置をケース材の周辺の任意に設定できるので、
内蔵するマイクロコンピュータとの電気的接続を考慮し
て、効率良くEPROMとマイクロコンピュータとを接
続することができ、信号線即ち導電路の引回し線を不要
にすることができる。
更にEFROMの隣接する基板の周辺に最も関連の深い
マイクロコンピュータを配置でき、EFROMとマイク
ロコンビコータ間のデータのやりとりを行うデータ線を
最短距離あるいは最小距離で実現でき、データ線の引回
しによる実装密度のロスを最小限に抑制することになり
、高密度の実装が行える。
更に本発明ではEFROM以外の全ての素子がチップ状
で且つケース材と両基板で形成された封止空間内に収納
されるため小型化でしかも取扱い性の優れた混成集積回
路装置を提供することができる。
(へ)実施例 以下に第1図乃至第12図に示した実施例に基づいて本
発明の混成集積回路装置を詳細に説明する。
第1図および第2図には、本発明の一実施例の混成集積
回路装置(1)が示されている。この混成集積回路装置
(1)は独立した電子部品として用いられコンピュータ
等の幅広い分野で機能を独立して有する集積回路として
用いられる。
この混成集積回路装置(1)は第1図および第2図に示
す様に、二枚の集積回路基板(2)(3)と、二枚の集
積回路基板(2)(3)上に形成された所望形状の導電
路(4)と、一方の基板り2)より延在しケース材り8
)より突出した突出基板(2a)上の導電路(4)と接
続された樹脂モールドされた不揮発性メモリー(5)と
、メモリー(5)からデータを供給され且つ一方の基板
(2〉上の導電路(4)と接続されたマイクロコンピュ
ータ(6)および一方あるいは他方の基板(3)上の導
電路り4)と接続されたその周辺回路素子(7)と、両
基板(2)(3)に一体化され且つ突出基板(2a〉を
露出するケース材(8)とをから構成されている。
二枚の集積回路基板<2)(3)はセラミックス、ガラ
スエポキシあるいは金属等の硬質基板が用いられ、本実
施例では放熱性および機械的強度に優れた金属基板を用
いるものとする。
金属基板としては例えば0.5〜i、omn厚のアルミ
ニウム基板を用いる。その基板(2)(3)の表面には
第3図に示す如く、周知の陽極酸化により酸化アルミニ
ウム膜(9)(アルマイト層)が形成され、その−主面
側に10〜70μ厚のポリイミド等のフレキシブル性を
有した絶縁樹脂層(10)が貼着される。更に絶縁樹脂
層(10)上には10〜70μ厚の銅箔(11)が絶縁
樹脂層(10)と同時にローラーあるいはホットプレス
等の手段により貼着されている。ところで二枚の基板(
2)(3)はフレキシブル性を有する絶縁樹脂層(9)
によって所定の間隔離間されて連結された状態になって
いる。
両基板(2)(3)の−主面上に設けられた銅箔(11
)表面上にはスクリーン印刷によって所望形状の導電路
を露出してレジストでマスクされ、貴金属(金、銀、白
金)メッキ層が銅箔(11)表面にメッキされる。然る
後、レジストを除去して貴金属メッキ層をマスクとして
銅箔(11)のエツチングを行い所望の導電路(4)が
形成される。ここでスクリーン印刷による導電路(4)
の細さは0.5−が限界であるため、極細配線パターン
を必要とするときは周知の写真蝕刻技術に依り約2μま
での極細導電路<4)の形成が可能となる。
一方の基板(2)より延在された突出基板(2a)の導
電路(4)上の所定の位置には樹脂モールドされた不揮
発性メモリー(5)とメモリー(5)からデータを供給
されるマイクロコンピュータ(6)とその周辺の回路素
子(7)が搭載され導電路り4)と接続されている。フ
ィルム状の樹脂層(9)で連結された他方の基板り3)
上にも回路素子(7)が搭載され導電路〈4)と接続さ
れている。導電路(4)は基板(2)(3)の略全面に
延在形成され、両基板(2)(3)の周端部に延在され
る導電路り4〉の先端部はリード固着パッドが形成され
、そのパッドには外部リード端子(12)(13)が固
着されている。その外部リード(12)(13)は取付
は基板に取付けるために略直角に折曲げ形成されている
。また両基板(2)<3)上に形成されている導電路(
4)はフレキシブル樹脂層(9)上に形成されているの
で二枚の基板(2)(3)を股がる様にパターニングさ
れ両基板(2)(3)の接続が所定の位置でしかも任意
に行えることができる。
不揮発性メモリー(5)としてE F ROM (Er
as−able Programable Read 
0nly Memory)が用いられる(以下不揮発性
メモリー(5)をEFROMという)。このEFROM
(5)は周知の如く、EFROM(5)のベレットに形
成されているフローティングゲートに蓄積されている電
子(プログラム・データ)を光を照射して励起させて未
記憶状態のベレットに戻し再書込みして利用できる素子
である。
一般的なEFROM(5)の構造は第5図および第6図
に示す様にDIP(デュアル・イン・ライン)型であり
、大別すると樹脂モールド型パッケージタイプとセラミ
ックス型パッケージタイプとがある。樹脂モールド型あ
るいはセラミックス型のいずれのタイプにおいてもベレ
ット(14)のメモリーを消去するために光を照射する
必要があるため、ベレット(14)の上面にあたる部分
はエネルギーの高い光(紫外線)を透過する透過部材(
15)が配置されている0本実施例ではDIP型のEP
ROM(5)であれば樹脂モールド型あるいはセラミッ
クス型のどちらのタイプのパッケージを用いてもよい、
この様なEPROM装置は特開昭53−74358号公
報および特開昭62−290160号公報に開示されて
いる。
本実施例ではEPROM(5)にはDIP型のEPRO
M装置を用いたが、EFROM(5)の型は基本的には
任意であり、例えばセラミック型あるいは樹脂モールド
型のLCC,PLCC等のパッケージでも用いることが
可能である。LCCおよびPLCC夫々のタイプのEP
ROM装置はその底面の四側辺に接続用の電極が設けら
れた構造である。LCCおよびPLCC型のEFROM
はDIP型のEFROMに比べて小型化になるが本実施
例では最っとも普及率の高いDIP型のEPROM装置
を用いて説明するが、より小型化のシステムを要求する
場合にはLCC、PLCC型のEPROM装置を用いれ
ばその効果は大である。また、LCC,PLCC型のE
FROMはDIP型と同様にソケットを介して基板上に
搭載される。
EFROM(5)のプログラム・データを選択して供給
されるマイクロコンピュータクロ)およびその周辺回路
素子(7)のIC,トランジスタ、チップ抵抗およびチ
ップコンデンサー等はチップ状態で所望の導電路(4)
上に半田付けあるいはAgベースト等のろう材によって
付着され、マイクロコンピュータ(6)および回路素子
(7)は近傍の導電路(4〉にボンディングされている
。更に導電路(4)間にはスクリーン印刷によるカーボ
ン抵抗体およびニッケルメッキによるニッケルメッキ抵
抗体が夫々抵抗素子として形成されている。
一方ケース材(8)は絶縁部材の熱可堕性樹脂から形成
され、第4図に示す如く、二枚の基板(2)(3)を所
定間隔離間して封止空間(15)を形成するために枠状
に形成されている。またケース材(8)の−側辺は両基
板(2)(3)を配置したときにフィルム樹脂層(10
)が容易に折曲げされる様に円弧状に形成されている。
ケース材(8)と二枚の基板(2)(3)との接着は接
着シートによって行われ、フィルム樹脂層(10)によ
って連結された両基板(2)(3)でケース材(8)を
挾む様に且つ搭載された回路素子(7)を対向させる様
にして固着される。このとき、両基板<2)(3)を連
結するフィルム樹脂層(10)は上述したケース材(8
)に設けられた円弧状部と当接されて折曲げされるため
に折曲げ部分の導電路(4)が折曲時に切断する恐れは
ない。樹脂層(10)の折曲げ部分には蓋体〈16)が
固着一体化される。蓋体(16)はケース材(8)と同
一材料で形成されその接着は上述した接着シート等の手
段で行われる。この結果、両基板(2)(3)とケース
材(8)間に所定の封止空間部〈15)が形成されるこ
とになる。更に本実施例のケース材(8)からは一方の
基板(2)から延在きれる突出基板(28)が露出し、
この突出基板(2a)はEPROM(5)が載置できる
大きさに形成されている。なおこの突出基板(2a)は
一方の基板り2)の4辺のどの位置にも設けられること
ができ、マイクロコンピュータクロ)との関係でその位
置が決定される。
一方の基板<2)から延在されケース材(8)から露出
した突出基板(2a)上にはソケット(17)の電極と
固着接続される複数の導電路〈4)の一端が形成され、
その導電路(4)の先端部にEFROM(5)を挿入す
るソケット(17)が固着される。ソケットク17〉が
固着された導電路(4)の他端はマイクロコンピュータ
(6)の近傍に効率よく引回しされチップ状のマイクロ
コンピュータ(6)とボンディングワイヤで電気に接続
される。
ここでEPROM(5)とマイクロコンピュータ(6)
との位置関係について述べる。第7図はEFROM(5
)とマイクロコンピュータ〈6)とを一方の基板(2)
上に配置したときの要部拡大図であり、EFROM(5
)とチップ状のマイクロコンピュータ(6)とは第7図
に示す如く、多数本の導電路(4)を介して接続される
ため、その導電路(4)の引回しを短くするためにEP
ROM(5)とマイクロコンピュータ(6)は夫々、隣
接する位置かあるいはできるだけ近傍に位置する様に配
置される。従ってE F ROM<5)とマイクロコン
ピュータ(6)との導電路り4)の引回しは最短距離で
形成でき基板上の実装面積を有効に使用することが゛で
きる。EPROM(5)とその近傍あるいは隣接した位
置に配置されたチップ状のマイクロコンピュータ(6)
は第7図(7)如<、マイクロコンピュータ(6)の近
傍に延在された導電路(4)の先端部とワイヤ線によっ
てボンディング接続されEFROM(S)と電気的に接
続される。
ところで、EFROM(5)はソケット(17)に挿入
されて一方の基板(2)の突出基板(2a)上に搭載さ
れることになり、EFROM(5)はケース材(8)に
隣接して配置される。このとき、EPROM〈5)の上
面と他方の基板(3)の上面とは略一致しノー状態であ
ることが好ましい。この結果、EPROM(5)だけが
露出し、他のマイクロコンピュータ(6)およびその周
辺の回路素子(7)は封止空間(15)内に配置される
ことになる。
上述の如く、EFROM<5)と接続されるマイクロコ
ンピュータ(6)およびその周辺の回路素子は両基板(
2)(3)とケース材(8)で形成された封止空間部(
15)に配置する様に設定されている。即ち、チップ状
の電子部品および印刷抵抗、メッキ抵抗等の抵抗素子の
全ての素子が封止空間部(15)内に設けられている。
ところで、EFROM(5)上には光を遮光するために
遮光用のシール材り17a)が貼着される。
本実施例でEFROM(5)のデータ消去を行う場合は
シール材(17a)を剥して紫外線を照射するかあるい
はソケット(17)からEPROM(5)を離脱して紫
外線を照射するケースがある。また、再書込みの場合は
E P ROM(5)をソケットから離脱して一般的な
ROMライターを使用して電気的に書込みを行い、書込
み後、ソケット(17)に挿入すればよい。
以下に本発明を用いたモデム用の混成集積回路装置の具
体例を示す。
先ス、モデム(MODEM)とはパーソナルコンピュー
タなどのデータ端末が扱うデジタル化されたデータを電
話回線を使って、お互に離れたところでデータ送受を行
うデータ通信のためにモデムが存在する。モデムの機能
はデジタル化されたデータを電話回線で使用できる周波
数を使って、データによる変調を行いアナログ信号にし
て電話回線に乗せることと、相手方から送られて来たデ
ータで変調されるアナログ信号を復調してデジタル化し
たデータに戻す機能を持つ。
第8図に示したブロック図に基づいてモデムを簡単に説
明する。
第8図は画集積回路基板(2)<3)上にモデムを搭載
したときのブロック図である。
モデムはパソコンより送信されたデータを内蔵するメモ
リー内に蓄積してそのデータを出力するDTEインター
フェース(21)と、DTEインターフェース(21)
より出力されたデータに基づいて所定の出力信号を出力
するマイクロコンピュータ(6)と、マイクロコンピュ
ータ(6)からアドレスされるデータを内蔵したE P
 ROM(5)と、マイクロコンピュータ(6)からの
出力信号を変復調しNCU(NETWORK  C0N
TR0L  UNIT)に出力する第1および第2の変
復調回路(22)り23)と、マイクロコンピュータ(
6)からの出力信号に応じて所望のDTMF信号(トー
ン信号)を発生するDTMF発生器〈24)とをから構
成されている。
DTEインターフェースは例えばSTC9610(セイ
コーエプソン)等のICより成り、第9図の如く、パソ
コンの出力信号を供給し、その出力信号を内蔵メモリー
内に蓄積してマイクロコンピュータクロ)へ出力する送
信メモリ一部(25〉と、マイクロコンピュータ(6)
からの出力信号が供給される信号を内蔵メモリー内に蓄
積してパソコンへ出力する受信メモリ一部(26)と、
送信メモリ一部(25)および受信メモリ一部(26)
を介して入出力される夫々の信号を切替える制御部(2
7)とからなす、パソコン(28)とマイクロコンピュ
ータ(6)トを接続するための所定の機能を有するもの
である。
マイクロコンピュータ(5)は例えば5TC9620(
セイコーエプソン)等のICより成り、第10図の如く
、DTEインターフェース(21)から出力される出力
信号を認識するコマンド認識部と、コマンド認識部によ
って認識された出力信号を解読するコマンド解読部と、
コマンド解読部で解読された信号に基づいてメモリ一部
のデータと比較し変復調回路へデータを供給するコマン
ド実行部と、コマンド解読部のデータとメモリ一部内の
データとの比較結果、誤ったデータがコマンド実行部に
供給された際にDTEインターフェース(21)に出力
信号を出力する応答コード生成部とからなる。
変復調回路(28)はマイクロコンピュータ(6)から
送信されるデジタル信号をアナログ信号に変換してNC
U部に送信する。また反対にNCU部から送信されたア
ナログ信号をデジタル信号に変換してマイクロコンピュ
ータ(6)へ送信するものであり、低速および中速夫々
のタイプの回路を備えている。第1の変復調回路(22
)は300bpsの低速変復調回路であり、第2の変復
調回路(23)は1200bpsの中速変復調回路であ
る。夫々の第1および第2の変復調回路(22)<23
)はマイクロコンピュータ(6)により、いずれか一方
の変復調回路が選択される。
DTMF発生器(24)はマイクロコンピュータ(6)
のコマンド実行部より出力されたデータをCOL、RO
W夫々の入力端子に入力することで所定のDTMF信号
を発生し送信AMP<29&)に出力して電話回線へ信
号を供給する。
EFROM(5)内にはモデムの各種のモードを設定す
るためのプログラムデータがメモリーされており、マイ
クロコンピュータ(6)のアドレスに基づいてマイクロ
コンピュータ(6)に供給される。
次にモデムの動作について簡単に説明する。
先ず、パソコン通信を開始するに当り、マイクロコンピ
ュータ(6〉からの読出し信号に基づいて制御スイッチ
(29d)が動作し、所定のアドレスデータがEFRO
M(5)に供給され、そのアドレスに基づいたEFRO
M(5)のプログラム・データがマイクロコンピュータ
(6)に供給され、通信を行う夫々のモデムの通信規格
(BELL/CCITT規格)、通信速度(300/1
200bpS)、データファーマットの一致、デツプス
イッチモードの切替等の各種のモードが一致しているか
が確認される。
各種のモードが一致しているとすると、パソコンに応答
側のモデムの電話番号をキー人力する。
その電話番号はパソコンとのインターフェース用のDT
Eインターフェース(21)に入力され、電話番号を解
読する為にマイクロコンピュータ(6)に転送される。
その解読した結果をDTMF発生器〈24)に送信し、
DTMF発生器(24)からDTMF信号が発信されそ
の信号は送信A M P (29a)、ライントランス
(29c)を介して一般電話回線へ転送される。
転送されたDTMF信号は応答側のモデムに対して呼出
し信号を送出し、応答側のモデムは呼出し信号を受信し
て自動着信する。すると応答側のモデムは接続手順の為
のアンサ−トーン起呼(m(7)モデムに対して送出す
る。
起呼側のモデムではライントランス(29c)、受信ア
ンプ(29b )を通り低速変復調回路(22)でその
アンサ−トーンが起呼側のモデムに対して所定のアンサ
−トーンであるか否かを検出する。所定のアンサ−トー
ンであれば通信状態に入る。
通信状態となると、起呼側のパソコンのキーボードから
の所定のキー人力信号に基づいてパソコンからのパラレ
ルデータをDTEインターフェース(21)に入力し、
そのデータをマイクロコンピュータ(6)に転送する。
ここでパラレルデータをシリアルデータに変換する。シ
リアルデータに変換されたデジタル信号は低速変復調回
路(22)に送信される。ここでデジタル信号はアナロ
グ信号に変換され、それに対応した通信規格に基づいて
周波数変調FSXされ、送信AMP(29)、ライント
ランス(32)を介して応答側のモデムに送信される。
一方、応答側のパソコンのキー人力信号によって送出し
た周波数変調のアナログ信号は起呼側のモデムに送出さ
れ、ライントランス(29c)、受信A M P (2
9b)を介して低速変復調回路(22)に入力される。
ここでアナログ信号はデジタル信号に変換されDTEイ
ンターフェース(21)に入力され、シリアルデジタル
信号からパラレルデジタル信号に変換されて起呼側のパ
ソコンに入力される。その結果起呼側ヘパソコンと応答
側のパソコンは全二重通信ができる様になりパソコン通
信が実現する。
第11図は第8図で示したモデム回路を本実施例で用い
た一方の基板(2)上に実装した場合の平面図であり、
実装される回路素子の図符号は同一符号とする。EPR
OM(5)とマイクロコンピュータ(6)との接続はパ
スラインで示す。尚、複数の回路素子を接続する導電路
は煩雑のため省略する。
第11図に示す如く、一方の基板(2)の対向する周端
部には外部リード端子(12)(13)が固着される複
数の固着用パッド(4a)が設けられている。固着パッ
ド(4a)から延在される導電路(4)上封止空間(1
5)の位置には複数の回路素子が、突出基板(2a)上
にはEFROM(5)を搭載するソケットク17)が固
着される。斯る一方の基板(2)上にはEPROM(5
)以外のマイクロコンピュータ(6)を含む複数の回路
素子(7)が固着されており、り21)はDTEインタ
ーフェース、(22)(23)は第1および第2の変復
調回路、(24)はDTMF発生回路、(29a)はE
FROM(5)を制御する制御スイッチ、<6)はマイ
クロコンピュータ、(7)はコンデンサー等のチップ部
品である。なお、他方の基板り3)にはポリイミド等の
フィルム樹脂層(10)を介して基板り2)より複数の
導電路(4)が延在されており、他方の基板(3)上に
はオプション用回路あるいはモデムに必要な一部の回路
が配置されている。
第11図に示す如く、マイクロコンピュータクロ)の近
傍あるいは隣接する一方の基板り2)より延在されケー
ス材(8)より露出した突出基板(2a)にEPROM
(5)が搭載されるソケット(17)が固着される。マ
イクロコンピュータ〈6)の近傍あるいは隣接する位置
にソケット(17)を固着することで、マイクロコンピ
ュータクロ)とEFROM(5)との信号線、即ち導電
路(4)の引回し線の距離を最短でしかも最小の距離で
引回すことができ、他の実装パターンを有効に使用でき
ると共に高密度実装が行える。このときソケット(17
)はケース材(8)から露出し一方の基板(2)の任意
の周端部に設けた突出基板(2a)に設けられる。尚、
一点鎖線で囲まれた領域は接着シートでケース材(8)
が固着きれる領域を示す。
第12図は第11図で示した一方の基板(2)上にケー
ス材(8)を固着したときのモデム用の混成集積回路装
置の完成品の平面図であり、ケース材(8)の周端辺の
突出基板(2a〉上にはEPROM(5)が露出された
状態となる。即ち、EFROM<5>以外の他の素子は
全てケース材(8)と側基板(2)(3)とで形成され
た封止空間(15)内に封止され且つEPROM(5)
(7)みが露出される(7)−’C’ E P ROM
(5)の挿脱が必要に応じて自由自在に行うことができ
る。
以上に詳述したモデム用の混成集積回路装置のE F 
ROM(5)には製品仕様の多様化に備え、仕向地、O
EM、自社販売等セットメーカ(ユーザ)が要望する仕
様変更に対して容易に対応することができる。即ち、E
FROM(5)以外の回路構成はあらかじめ各種の仕様
変更に対応する様に設計されていたが、特定のユーザの
仕様に基づいて混成集積回路を設計すると、他のユーザ
仕様と一致しないことがあった場合、従来では混成集積
回路自体の設計を見なおす必要があった。
しかし本発明の混成集積回路装置ではEFROM(5)
がソケット(17)を介して突出基板〈2a)上に搭載
され且つケース材(8)から露出された状態であるため
、EFROM(5)の離脱が行えるのでユーザ側でEF
ROMを選択して実装するだけで1つの混成集積回路装
置で多機種の混成集積回路装置の実現が行える。
斯る本発明に依れば、一方の基板(2)の所望位置に突
出基板(2a)を設け、その突出基板<2a)上の導電
路(4)にソケット(17)を介して樹脂モールドされ
たEFROM(5)を接続し、側基板(2)(3)とケ
ース材〈8)とで形成された封止空間(15)にマイク
ロコンピュータ(6)および他の回路素子<7)を固着
することにより、混成集積回路とEFROMとの一体化
した装置ができ且つ必要性に応じて容易にEPROMの
挿脱が行える大きな特徴を有する。
クト)発明の効果 以上に詳述した如く、本発明に依れば、第1に一方の基
板(2)の任意の周端辺に突出基板(2a)を設け、そ
の突出基板(2a)上の導電路(4)に樹脂モールドさ
れたEFROM(5)を接続しているので、E P R
OM(5)の載置位置の周辺の任意に選定できる利点を
有する。このため内蔵するマイクロコンピュータとの電
気的接続を考慮して、効率良< E、F ROM(5)
とマイクロコンピュータ(6)とを接続できデータ線の
引回しを不要にできる。更に詳述すると、EPROM(
5)の隣接する位置に最も関連の深いマイクロコンピュ
ータ(6)を配置でき、その結果EFROM(5)とマ
イクロコンピュータ(6)間のデータのやりとりを行う
データ線を最短距離あるいは最も設計容易なレイアウト
で実現でき、データ線の引回しによる実装密度のロスを
最小限に抑制できる。
第2に一方の基板(2)の周端部に般けた突出基板(2
a)にEFROM(5)を配置しているので、一体化し
た小型の混成集積回路装置として取り扱える利点を有す
る。更に両集積回路基板(2)(3)上の組込むマイク
ロコンピュータおよびその周辺回路素子の実装密度を向
上することにより、従来必要とされたプリント基板を廃
止でき、1つの小型化されたEFROM(5)を着脱自
在に内蔵する混成集積回路装置を実現できる。
第3に両集積回路基板(2)(3)として金属基板を用
いることにより、その放熱効果をプリント基板に比べて
大幅に向上でき、より実装密度の向上に寄与できる。ま
た導電路(4)として銅箔(11)を用いることにより
、導電路(4)の抵抗値を導電ペーストより大幅に低減
でき、実装きれる回路をプリント基板と同等以上に拡張
できる。
第4にEFROM(5)として市販きれているデュアル
インライン型あるいはLCC型を用いることができるの
で、混成集積回路装置へのEFROM(5)の実装が極
めて容易に実現できる利点を有する。
第5にEPROM(5)と接続されるマイクロコンピュ
ータおよびその周辺回路素子(6)はケース材(8)と
両集積回路基板(2)(3)とで形成される封止空間(
15)にダイ形状あるいはチップ形状で組み込まれるの
で、従来のプリント基板の様に樹脂モールドしたものに
比較して極めて占有面積が小さくなり、実装密度の大幅
に向上できる利点を有する。
第6にケース材(8)と両集積回路基板(2)(3)の
周端を実質的に一致させることにより、両集積回路基板
(2)(3)のほぼ全面を封止空間(15)として利用
でき、実装密度の向上と相まって極めてコンパクトな混
成集積回路装置を実現できる。
第7に一方の基板(2)に突出基板(2a)上にソケッ
ト(17)を設けることにより、E P ROM(5)
の着脱を自在に行え、EFROM(5)の交換や消去お
よび再書込みを自由に行える利点を有する。
第8に他方の基板(3)とEPROM(5)の上面を一
致させることにより、平坦な上面を有する混成集積回路
装置を実現できる利点を有する。
第9に両集積回路基板(2)(3)の−辺あるいは相対
向する辺から外部リード(12)(13)を導出でき、
極めて多ピンの混成集積回路装置を実現できる利点を有
する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本実施例を示す斜視図、第2図は第1図のI−
I断面図、第3図は本実施例で用いる基板の断面図、第
4図は本実施例で用いるケース材を示す斜視図、第5図
は本実施例で用いるEFROMの斜視図、第6図は第5
図の断面図、第7図は基板上のEFROM周辺を示す要
部拡大斜視図、第8図は本実施例で用いたモデムを示す
ブロック図、第9図は第8図で示したモデムのDTEイ
ンターフェースを示すブロック図、第10図は第8図で
示したモデムのマイクロコンピュータを示すブロック図
、第11図は第8図で示したブロック図を基板上に実装
したときの平面図、第12図は第11図に示した基板上
にケース材を固着したときの平面図、第13図および第
14図は従来のEFROM実装構造を示す断固図である
。 (1)・・・混成集積回路装置、 (2)(3)・・・
集積回路基板、 (2a)・・・突出基板、 (4)・
・・導電路、 り5)・・・EFROM、  (6)・
・・マイクロコンピュータ、(7)・・・回路素子、 
(8)・・・ケース材、 (17)・・・ソケット。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)二枚の相対向して配置された集積回路基板と、 前記基板の対向する主面に形成された所望のパターンを
    有する導電路と、 前記導電路に接続された樹脂モールドされた不揮発性メ
    モリーと、 前記メモリーからデータを供給され且つ前記基板上の導
    電路と接続されたマイクロコンピュータおよびその周辺
    回路素子と、 前記基板間に一体化されたケース材とを具備し、 前記ケース材より突出した一方の前記基板上の前記導電
    路に前記不揮発性メモリーを接続し、前記両基板と前記
    ケース材で形成された封止空間に前記マイクロコンピュ
    ータおよびその周辺回路素子を配置したことを特徴とす
    る混成集積回路装置。
  2. (2)前記集積回路基板として表面を絶縁した金属基板
    を用いたことを特徴とする請求項1記載の混成集積回路
    装置。
  3. (3)前記導電路としで銅箔を用いたことを特徴とする
    請求項1記載の混成集積回路装置。
  4. (4)前記マイクロコンピュータは前記導電路上にダイ
    形状で組み込まれることを特徴とする請求項1記載の混
    成集積回路装置。
  5. (5)前記周辺回路素子としてチップ抵抗、チップコン
    デンサーを用いることを特徴とする請求項1記載の混成
    集積回路装置。
  6. (6)前記ケース材の周端部を前記両基板の周端部とほ
    ぼ一致させたことを特徴とする請求項1記載の混成集積
    回路装置。
  7. (7)前記ケース材より突出した前記一方の基板上に前
    記導電路と接続されたソケットを設け、前記ソケットに
    前記下揮発性メモリーを挿入することを特徴とする請求
    項1記載の混成集積回路装置。
  8. (8)前記不揮発性メモリーの上面と前記他方の基板の
    上面とを実質的に一致させたことを特徴とする請求項7
    記載の混成集積回路装置。
  9. (9)前記不揮発メモリーはデュアルインライン型ある
    いはLCC型樹脂モールドされていることを特徴とする
    請求項1記載の混成集積回路装置。
JP1122356A 1989-04-20 1989-05-16 混成集積回路装置 Expired - Lifetime JPH0680778B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1122356A JPH0680778B2 (ja) 1989-05-16 1989-05-16 混成集積回路装置
US07/510,467 US5285107A (en) 1989-04-20 1990-04-18 Hybrid integrated circuit device
EP90107414A EP0393657B1 (en) 1989-04-20 1990-04-19 Hybrid integrated circuit device
DE69031141T DE69031141T2 (de) 1989-04-20 1990-04-19 Integrierte Hybridschaltungsanordnung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1122356A JPH0680778B2 (ja) 1989-05-16 1989-05-16 混成集積回路装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02302070A true JPH02302070A (ja) 1990-12-14
JPH0680778B2 JPH0680778B2 (ja) 1994-10-12

Family

ID=14833880

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1122356A Expired - Lifetime JPH0680778B2 (ja) 1989-04-20 1989-05-16 混成集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0680778B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0680778B2 (ja) 1994-10-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02302070A (ja) 混成集積回路装置
JPH02298061A (ja) 混成集積回路装置
JPH02303061A (ja) 混成集積回路装置
JPH02299252A (ja) 混成集積回路装置
JPH02298060A (ja) 混成集積回路装置
JPH02299255A (ja) 混成集積回路装置
JPH02303151A (ja) 混成集積回路装置
JPH0680765B2 (ja) 混成集積回路装置
JPH02298064A (ja) 混成集積回路装置
JPH02299257A (ja) 混成集積回路装置
JPH0680764B2 (ja) 混成集積回路装置
JPH02298063A (ja) 混成集積回路装置
JPH02278860A (ja) 混成集積回路装置
JPH02303060A (ja) 混成集積回路装置
JPH02299254A (ja) 混成集積回路装置
JPH02303150A (ja) 混成集積回路装置
JPH02305457A (ja) 混成集積回路装置
JPH02298062A (ja) 混成集積回路装置
JPH02299256A (ja) 混成集積回路装置
JPH02303062A (ja) 混成集積回路装置
JPH02299253A (ja) 混成集積回路装置
JPH02278869A (ja) 混成集積回路装置
JPH0680787B2 (ja) 混成集積回路装置
JPH02302071A (ja) 混成集積回路装置
JPH0680766B2 (ja) 混成集積回路装置