JPH02298252A - プラスチック基板へのMgF↓2成膜方法 - Google Patents

プラスチック基板へのMgF↓2成膜方法

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Publication number
JPH02298252A
JPH02298252A JP11799089A JP11799089A JPH02298252A JP H02298252 A JPH02298252 A JP H02298252A JP 11799089 A JP11799089 A JP 11799089A JP 11799089 A JP11799089 A JP 11799089A JP H02298252 A JPH02298252 A JP H02298252A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plastic substrate
film
mgf2
vapor
vacuum
Prior art date
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Pending
Application number
JP11799089A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiaki Oimizu
利明 生水
Nobuaki Mitamura
宣明 三田村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP11799089A priority Critical patent/JPH02298252A/ja
Publication of JPH02298252A publication Critical patent/JPH02298252A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はプラスチック基板へのMgF、成膜方法に関す
るものである。
[従来の技術] 近年、レンズ、ミラー、プリズム等の光学部品の素材と
して無機ガラスに代えて、プラスチックが多く用いられ
るようになってきている。
その主な理由は、軽量かつ低コストにて製作でき、しか
も形状の自由度が大きいという利点があるからである。
また、かかる利点を有することから、最近では光学部品
以外の各種部品にも幅広く、利用されつつある。
ところが、これらプラスチック素材にて構成した部品は
、ガラス素材や金属素材に比して耐擦傷性が劣るために
、何らかの表面処理を施さなければ実用上問題が多い、
特にプラスチックを光学部品の素材として使用する場合
には、光学ガラスの場合と同様に光学薄膜を形成する必
要がある。
しかしながら光学ガラスの場合には光学ガラスを加熱し
て蒸着(ハード・コート)させることができるので、光
学ガラスと光学′a膜との密着性、耐擦傷性が良好とな
るが、プラスチックの場合には、常温で蒸着させなけれ
ばならず、そのためにプラスチック基板に対する薄膜の
密着性、耐擦傷性が悪くなり、耐久性が劣るという問題
点があった。
そこで、上記問題点を解消するために蒸着材料の点から
は、プラスチック基板と接する層にSIOを用いる構成
が特公昭53−306号公報において公知とされている
。また反射防止機能を持たせるためにはSiO単層では
不充分であり、その上に数層の蒸着物質を積層して、所
望の特性を得ている。さらに、有機物質をプライマーコ
ートとしてスピンコード、ディップコートの手法を用い
て形成し、その上に誘電体膜を蒸着する方法が提案され
ている。
その他の手法としては、蒸着する前にプラスチック基板
にプラズマ処理を施し表面改質を行い膜の密着性、耐久
性を向上させる方法が特開昭63−20073号公報に
おいて開示されている。
[発明が解決しようとする問題点] 上記従来のプラスチック基板への成膜方法では、基板と
接する層に310をもってくると、通常反射防止膜とし
て使用する場合sioの屈折率がプラスチック基板より
高く、slo単層では、反射防止機能を有しない、その
ためにさらにその上に色々な物質を蒸着しなければなら
ず、コスト面でも不利になるし、特性上のバラツキも大
きくなる。
さらにSIO自体が非常に不安定な材料であり、−II
に経時変化により、膜の屈折率が大きく変化し、光学特
性が変動していくことが知られている。
また、SiOは蒸着時の色々なパラメーター、たとえば
蒸着レート、蒸着時真空度の違いによっても屈折率が大
きく変化し、膜の吸収も生じてくる。このことは光学部
品としては非常に好ましくないことである。
プライマー・コート等の有機材料を使用した前処理法に
おいては、液の管理や作業環境等に充分注意を払わなけ
れば良い再現性を得ることができず、さらに蒸着前に複
雑な工程が入ることから、コスト面、歩留まり面でも不
利となる欠点がある。
基板表面をプラズマ処理する方法においては、チャンバ
ー内の汚れによって逆に汚染されるおそれがあるために
良好な手段とはいえない。
本発明は上記従来技術の問題点に鑑みて開発されたもの
であって、プラスチック基板に対して良好な密着性、耐
久性を有し、ガラス基板に対するMgF、ハード・コー
トと同等の性能を有するMgF、膜をプラスチック基板
へ成膜する方法を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明に係るプラスチック基板へのMgF。
蒸着方法は、プラスチック基板に真空蒸着法にて成膜を
行う方法において、蒸着前、蒸着中真空度をl X 1
0−6Torrより高真空に保ち、蒸着を行うものであ
り、かかる方法によれば、プラスチック基板表面の残留
水分や不純物の量が通常真空蒸着が行われるlO−′〜
l O−5Torr代に比べて非常に少なくなり、膜と
基板との密着性が向上される。さらに高真空で蒸着され
たMgF、膜は、常温低真空(10−’ 〜10−’T
orr)で蒸着された膜がアモルファス状態であるのに
対して、結晶化が進み、膜の硬度も高まり、ハード・コ
ートした膜と同等な耐擦傷性を有する。
[実施例1 以下本発明MgF、成膜方法を実施例により具体的に説
明する。
φ15 PMMA製プラスチック基板をチャンバー径φ
560mmの真空蒸着装置に500ケセツトして、10
007!/sの排気能力を有するターボ分子ポンプと、
30001/sの排気能力を存するクライオ・ポンプの
2台で蒸着室を排気する。
しかる後、下記表1の各実施例および比較例に示される
到達真空度及び蒸着時真空度並びにその他の条件により
MgFf単層コートをプラスチック基板に蒸1着を行い
、膜の密着性、耐擦傷性、および耐久性を下記の各方法
により確認した。尚各条件によるMgF、成膜は電子ビ
ーム蒸着を用い、光学膜厚で100〜200nmの蒸着
を行った。
膜の密着性;蒸着した基板にセロテープを密着させて、
テープを基板表面から垂直に一気に剥がし、膜の剥離状
態を確認。
膜の耐擦傷性:蒸着した基板上にφ1/8inc−11
のアルミナ・ボール圧子を25gの加圧で20回往復運
動させ、傷の有無又は傷が付いた時何回目の往復運動で
傷がIすいたかを確認。
耐久性二室温〜−30℃〜室温〜7Q’C〜室温をそれ
ぞれ1時間放置するサイクルをIOサイクル繰り返した
後と、室温45°C,?W度95%の環境に300時間
放置した後に、膜の密着性、耐擦傷性およびクランクの
状態を確認。
尚、表1中、比較例1の場合における密着性、耐擦傷性
および耐久性の各点については全数のうち一部にものに
問題が発生したのであるが、下記に各点について具体的
に示す。
密着性:全基板の約20%に膜剥離 耐擦傷性=3〜5往復で傷が発生 耐久性:初期に問題のしたものは発生 [発明の効果] 以上の説明から明らかなように本発明方法によれば、こ
れまでプラスチック基板では、膜の密着性、耐擦傷性等
に問題があり実用化が困難とされていたプラスチック基
板へのMgFz蒸着が可能となった。
特に常温、高真空でプラスチック基板に蒸着したMgF
、膜はガラス基板にハード・コートした膜と同等の光学
性能、耐久性を有する。
また、M g F 2膜は屈折率の経時変化がほとんど
なく、長期間にわたって、安定した反射防止膜として使
用可能である。
特許出願人  オリンパス光学工業株式会社代理人弁理
士   奈   良     武平成2年3月30日 1、事件の表示 平成 1年 特許願 第117990号λ発明の名称 プラスチック基板のMgF、成膜方法 3、補正をする者 事件との関係  特 許 出 願 人 任 所 東京都渋谷区幡ケ谷2丁目43番2号名 称 
(037)  オリンパス光学工業株式会社代表者  
下  山  敏  部 4、代理人〒105 6、補正の内容 (1)  明細書第8頁に記載した[表IJを別紙の通
り補正する。
7、添付書類の目録 (1)別紙       1通 以    上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プラスチック基板にMgF_2を蒸着する成膜方
    法において、真空度を1×10^−^6Torrより高
    真空に保ちつつ前記プラスチック基板にMgF_2を蒸
    着することを特徴とするプラスチック基板へのMgF_
    2成膜方法。
JP11799089A 1989-05-11 1989-05-11 プラスチック基板へのMgF↓2成膜方法 Pending JPH02298252A (ja)

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JP11799089A JPH02298252A (ja) 1989-05-11 1989-05-11 プラスチック基板へのMgF↓2成膜方法

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JP11799089A JPH02298252A (ja) 1989-05-11 1989-05-11 プラスチック基板へのMgF↓2成膜方法

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Publication Number Publication Date
JPH02298252A true JPH02298252A (ja) 1990-12-10

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ID=14725299

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JP11799089A Pending JPH02298252A (ja) 1989-05-11 1989-05-11 プラスチック基板へのMgF↓2成膜方法

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JP (1) JPH02298252A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4752507B2 (ja) * 2003-12-24 2011-08-17 コニカミノルタホールディングス株式会社 透明プラスチックフィルム、および有機el素子

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4752507B2 (ja) * 2003-12-24 2011-08-17 コニカミノルタホールディングス株式会社 透明プラスチックフィルム、および有機el素子

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