JPH022967A - ブロービング装置 - Google Patents

ブロービング装置

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Publication number
JPH022967A
JPH022967A JP63149675A JP14967588A JPH022967A JP H022967 A JPH022967 A JP H022967A JP 63149675 A JP63149675 A JP 63149675A JP 14967588 A JP14967588 A JP 14967588A JP H022967 A JPH022967 A JP H022967A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
integrated circuit
semiconductor integrated
wiring
chip
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Pending
Application number
JP63149675A
Other languages
English (en)
Inventor
Masakatsu Higake
樋掛 昌勝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH022967A publication Critical patent/JPH022967A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302Contactless testing
    • G01R31/315Contactless testing by inductive methods

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路チップ内部の観測装置に関し、
特に磁気誘導作用を利用した非接触形の10−ビング装
置に関する。
〔b′6来の技術〕 従来、この種の非接触形ブロービング装置としては、走
査式電子顕微鏡による電子ビームテスト方式及び光電子
を利用するレーザ照射方式のものがある。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の非接触形ブロービング装置において、電
子ビームテスト方式は電子顕微鏡、を、またレーザ照射
方式はレーザ装置を有するため、極めて複雑、大形、高
価となる欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のプロ−ビング装置は少なくとも1回巻の巻線を
有する微小コイルと、このコイルからの(r5 弓を増
幅する増幅器と、前記コイル及び被測定半導体集積回路
チップのいずれかを移動する機構とをf+iiiえ、披
測定半導体集績回路チップを非接触で10−ビングする
構成である。
〔実施例〕
次に3、本発明について図面を参照して説明する。
本発明の一実施例を示す第1図及び第2図を参照すると
、1は微小コイルであり、底辺を被測定半導体集積回路
チップ5の配線に平行に近接させる、この微小コイル1
は増幅器3に接続される。
増幅器3の出力はオシロスコープ4に入力され、微小コ
イル1とナツプ5の配線との間の磁気誘導作用により、
微小コイル1に誘起した信号が観測される。取1寸板2
は微小コイル1を保持する透明板である。1皮測定のチ
ップ5はx、y、z方向に移動及び回転可能なステージ
11に搭載される。
m微鏡12は位置合わせに利用される。本体13は微小
コイル1の取付板2及びステージ11を搭載及び支持す
る。なお、微小コイル1は微小なものとするため、半導
体集積回路のパターン形成技(イ:iを利用して収1寸
板2の上に平面的に形成される。
なお、は小コイル1をステージ11に載置して移動させ
ても同様に実施できる。
〔発明の効宋〕
以上説明したように本発明によれば、微小コイルを信号
検出に利用することにより、小形、安価で操作の容易な
非接触形の10−ビング装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1しj及び第2図は本発明の一実施例を示す図である
。 1・・・微小コイル、2・・・取付板、3・・・増幅器
、4・・・オシロスコープ、5・・・半導体集積回路チ
ップ、11・・・ステージ、12・・・顕tE!l鏡、
13・・・本体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 少なくとも1回巻の巻線を有する微小コイルと、このコ
    イルからの信号を増幅する増幅器と、前記コイル及び被
    測定半導体集積回路チップのいずれかを移動する機構と
    を備え、被測定半導体集積回路チップを非接触でプロー
    ビングすることを特徴とするプロービング装置。
JP63149675A 1988-06-17 1988-06-17 ブロービング装置 Pending JPH022967A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006035644A1 (ja) * 2004-09-30 2006-04-06 Keio University 電子回路試験装置
JP2007079687A (ja) * 2005-09-12 2007-03-29 Omron Corp Rfidタグの検査方法
WO2010073441A1 (ja) 2008-12-26 2010-07-01 シャープ株式会社 同期装置、受信装置、同期方法、及び受信方法
US10612992B2 (en) 2017-11-03 2020-04-07 Lockheed Martin Corporation Strain gauge detection and orientation system

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006035644A1 (ja) * 2004-09-30 2006-04-06 Keio University 電子回路試験装置
US8648614B2 (en) 2004-09-30 2014-02-11 Keio University Electronic circuit testing apparatus
JP2007079687A (ja) * 2005-09-12 2007-03-29 Omron Corp Rfidタグの検査方法
WO2010073441A1 (ja) 2008-12-26 2010-07-01 シャープ株式会社 同期装置、受信装置、同期方法、及び受信方法
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