JPH022946A - 液晶電極基板の通電検出装置 - Google Patents
液晶電極基板の通電検出装置Info
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- JPH022946A JPH022946A JP63150544A JP15054488A JPH022946A JP H022946 A JPH022946 A JP H022946A JP 63150544 A JP63150544 A JP 63150544A JP 15054488 A JP15054488 A JP 15054488A JP H022946 A JPH022946 A JP H022946A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 32
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 12
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract 6
- 239000011295 pitch Substances 0.000 abstract 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 235000019441 ethanol Nutrition 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ、産業上の利用分野
本発明は液晶デイスプレィ用電極基板などにおける電子
回路線の通電検出方法の改良に関する。
回路線の通電検出方法の改良に関する。
Ｂ、従来の技術
液晶デイスプレィは２枚の電極基板間に液晶を封入した
液晶セルを一対の偏向板で挟み、裏面に光反射板をとり
つけてなり、電極間に電圧をかけ、液晶分子の配列組織
を制御し、液晶の光学的特性の変化を利用してデイスプ
レィ装置等に応用するようにしたものである。そして、
前記電極基板は透明ガラスに複数の透明電極が並列被着
されて電子回路線を形成している。しかして、電極基板
は製造の段階で電子回路線に非導通（オーブン）個所や
隣接線間の導通（リーク）が生じるため、これをチエツ
クする必要がある。しかも、−最に電極基板は電子回路
線が、一方側端部と他方側端部とで不同ピッチとなった
ものが多い。
液晶セルを一対の偏向板で挟み、裏面に光反射板をとり
つけてなり、電極間に電圧をかけ、液晶分子の配列組織
を制御し、液晶の光学的特性の変化を利用してデイスプ
レィ装置等に応用するようにしたものである。そして、
前記電極基板は透明ガラスに複数の透明電極が並列被着
されて電子回路線を形成している。しかして、電極基板
は製造の段階で電子回路線に非導通（オーブン）個所や
隣接線間の導通（リーク）が生じるため、これをチエツ
クする必要がある。しかも、−最に電極基板は電子回路
線が、一方側端部と他方側端部とで不同ピッチとなった
ものが多い。
従って、上記チエツクのための従来の装置では、電子回
路線の両端に電源端子を介して通電チエ・ツクするにあ
たり、一方側電極端子として電子回路線に直交する方向
に長い導電性ゴム体を用い、全回路線に対して同時接触
させるようにしていた。
路線の両端に電源端子を介して通電チエ・ツクするにあ
たり、一方側電極端子として電子回路線に直交する方向
に長い導電性ゴム体を用い、全回路線に対して同時接触
させるようにしていた。
Ｃ１発明が解決しようとする課題
上記装置によると、電極基板のガラス面にゴムあとが残
ったり、ゴム体と接触しない電子回路線が生じる。非接
触回路線をなくするためにはゴム体を上から強圧させる
必要があり、そのためガラス自体が破損する事態も生じ
ていた。
ったり、ゴム体と接触しない電子回路線が生じる。非接
触回路線をなくするためにはゴム体を上から強圧させる
必要があり、そのためガラス自体が破損する事態も生じ
ていた。
本発明は上記課題を解決し、電子回路線へ軽く接触させ
るだけで通電可能な一方電極端子を備え、オープンやリ
ーク個所のチエツクを容易にできる通電検出方法を提供
することを目的とする。
るだけで通電可能な一方電極端子を備え、オープンやリ
ーク個所のチエツクを容易にできる通電検出方法を提供
することを目的とする。
０６課題を解決するための手段
上記目的を達成するため本発明の構成は次の通りとする
。即ち、本発明の第１構成は、基板に蒸着された複数の
並列された電子回路線の一方端部を導電性液体を介して
直流電源回路に接続し、他方端部を前記直流電源に接続
された検針を走査し、前記直流回路に現れる電気値から
前記回路線の導通状態を検知することである。
。即ち、本発明の第１構成は、基板に蒸着された複数の
並列された電子回路線の一方端部を導電性液体を介して
直流電源回路に接続し、他方端部を前記直流電源に接続
された検針を走査し、前記直流回路に現れる電気値から
前記回路線の導通状態を検知することである。
また第２構成は、前記回路線の一方端部を導電性液体タ
ンク内に浸漬することである。
ンク内に浸漬することである。
そして更に第３ｔｌＩ成は、前記回路線の一方端部に導
電性液体を含んだ吸液部材を接触させることである。
電性液体を含んだ吸液部材を接触させることである。
Ｅ０作用
一方電極端子と他方電極端子とは、走査台の移動走査に
ともない、同一電子回路に同時に接触して両端部に対し
て確実に通電し、該電子回路の電気値の変化を読みとる
ことにより通電検出される。
ともない、同一電子回路に同時に接触して両端部に対し
て確実に通電し、該電子回路の電気値の変化を読みとる
ことにより通電検出される。
Ｆ、実施例
以下、本発明の実施態様を図面に示す一実施例にもとづ
いて説明する。
いて説明する。
第１図に示すごとく、本装置は、大略的に、平行に敷設
された２本のレール１．１上を走査台送り部３の作動に
よって移動可能とされた走査台２と、該走査台に検針起
倒部６を介して取付けられた検針ヘッド４と、該ヘッド
に装着された検針５と、給電端子保持部２０を介して取
付けられた給電端子１０と、それに接続された給液部３
０とを有する。
された２本のレール１．１上を走査台送り部３の作動に
よって移動可能とされた走査台２と、該走査台に検針起
倒部６を介して取付けられた検針ヘッド４と、該ヘッド
に装着された検針５と、給電端子保持部２０を介して取
付けられた給電端子１０と、それに接続された給液部３
０とを有する。
しかして、前記走査台２は２本のレール１．１上に装架
された平板体からなり、スライドベアリング２ａを介し
てレール１上を移動可能とされる。
された平板体からなり、スライドベアリング２ａを介し
てレール１上を移動可能とされる。
走査台送り部３は、前記走査台２の下面に垂設されたナ
ツト部材３ａと、それに螺合してレール１に平行で図示
外の駆動源により回転するボールねじ棒３ｂとからなる
。
ツト部材３ａと、それに螺合してレール１に平行で図示
外の駆動源により回転するボールねじ棒３ｂとからなる
。
検針へラド４は、後記検針起倒部６のアームに後方（第
１図の左方向） （走査台２の進行方向の前方および後
方を本装置の前方および後方とする）に向いて固定され
た本体４ａと、該本体の上部から後向きに突設された固
定アーム４ｂと、本体の下部に枢支され、前記固定アー
ムに対して接近離反可能とされた揺動アーム４Ｃとから
なる。そして、検針４は前記揺動アーム４Ｃを貫挿し稍
前方へ倒れた状態で固定されるとともに、固定ばね７を
経て固定アーム４ｂに遊嵌合され、上部に螺着されたナ
ツト５ａによって抜は止めされ、出側導電線（図示せず
）が接続されて他方電極端子となる。
１図の左方向） （走査台２の進行方向の前方および後
方を本装置の前方および後方とする）に向いて固定され
た本体４ａと、該本体の上部から後向きに突設された固
定アーム４ｂと、本体の下部に枢支され、前記固定アー
ムに対して接近離反可能とされた揺動アーム４Ｃとから
なる。そして、検針４は前記揺動アーム４Ｃを貫挿し稍
前方へ倒れた状態で固定されるとともに、固定ばね７を
経て固定アーム４ｂに遊嵌合され、上部に螺着されたナ
ツト５ａによって抜は止めされ、出側導電線（図示せず
）が接続されて他方電極端子となる。
検針起倒部６は走査台２の後側上面に立設されて固定さ
れた第１ブラケツト６ａと、該第１ブラゲツトに下部水
平軸が枢支されたブロック状アーム６ｂと、走査台２の
前側上面に立設された第２ブラケッｌ−６ｃと、該第２
ブラケツトに取付けられ、ビス１−ン棒先端を前記アー
ム６ｂの上部に結着された空気ピストンシリンダ機構か
らなる駆動源６ｄとからなる。該検針起倒部６はその駆
動源６ｄの作動によりアーム６ｂを前後に揺動させ、検
針５を前後方向に起倒させる。
れた第１ブラケツト６ａと、該第１ブラゲツトに下部水
平軸が枢支されたブロック状アーム６ｂと、走査台２の
前側上面に立設された第２ブラケッｌ−６ｃと、該第２
ブラケツトに取付けられ、ビス１−ン棒先端を前記アー
ム６ｂの上部に結着された空気ピストンシリンダ機構か
らなる駆動源６ｄとからなる。該検針起倒部６はその駆
動源６ｄの作動によりアーム６ｂを前後に揺動させ、検
針５を前後方向に起倒させる。
次に給電端子１０は前記走査台２の移動方向に長い平面
視矩形状をなし、入側導電線Ｂが接続された電極板１１
、該電極板を包む吸液部材１２および該吸液部材を上方
から掴む把持部１３とを有し、一方電極端子となってい
る。
視矩形状をなし、入側導電線Ｂが接続された電極板１１
、該電極板を包む吸液部材１２および該吸液部材を上方
から掴む把持部１３とを有し、一方電極端子となってい
る。
前記給電端子１０は、前記走査台２の一方側に立設され
た支柱２１から下向きに取付けられて昇降源２２となっ
た空気ピストンシリンダ機構のピストン棒先端に前記把
持部１３が固着されていて、上下に調整可能とされる。
た支柱２１から下向きに取付けられて昇降源２２となっ
た空気ピストンシリンダ機構のピストン棒先端に前記把
持部１３が固着されていて、上下に調整可能とされる。
これら検針５と給電端子１０とは同−電子回路上に同時
接触する位置に設けられる。
接触する位置に設けられる。
また、給電端子１０の上方にはタンク３１と可撓管３２
とからなる給液部３０が設置され、可撓管３２は前記把
持＃１３の上板部分を貫通し、前記吸液部材１２と接す
る把持部内面に開口している。吸液部材１２にはフェル
トが用いられ、磨耗せず、しかも導電性液体を吸収する
ことにより高い導電性を発揮する。
とからなる給液部３０が設置され、可撓管３２は前記把
持＃１３の上板部分を貫通し、前記吸液部材１２と接す
る把持部内面に開口している。吸液部材１２にはフェル
トが用いられ、磨耗せず、しかも導電性液体を吸収する
ことにより高い導電性を発揮する。
給電端子１０の把持部１３において、前記吸液部材１２
と接する内面に電極板１１の長さ方向を主体とした導電
性液体分配溝が設けられれば、更に吸液部材の導電性の
均一化が計られる。
と接する内面に電極板１１の長さ方向を主体とした導電
性液体分配溝が設けられれば、更に吸液部材の導電性の
均一化が計られる。
上記検出装置の使用態様は次の通りとする。電極基板Ａ
は第１図示の如く、電子回路線側を上に向け、かつ、該
回路線Ａ１がレール１に対して直角となるよう両側レー
ル間におかれる。
は第１図示の如く、電子回路線側を上に向け、かつ、該
回路線Ａ１がレール１に対して直角となるよう両側レー
ル間におかれる。
走査台２を後方に引き寄せ、前記昇降駆動源２２を作動
させて前記給電端子１０がその下面で基板Ａを軽く加圧
する程度に接触させる。タンク３１にはエチルアルコー
ルまたは水が収容される。
させて前記給電端子１０がその下面で基板Ａを軽く加圧
する程度に接触させる。タンク３１にはエチルアルコー
ルまたは水が収容される。
一方、検針５は、駆動源６ｄが作動されることにより揺
動され、その先端が基板Ａの上面に軽く接触するような
角度に保される。この状態でボールねじ棒３ｂが回され
て走査台２が前方へ移動されると、給電端子１０は複数
の電子回路線Ａに跨って基板Ａ上を摺接しながら、また
、検針５は１木兄の電子回路線Ａ１と接触し、基板Ａ上
の起伏に従って、ばね７の弾発力によりその傾斜角度を
微妙に変化させながらそれぞれの回路線Ａ１を横切って
移動走査する。走査中、検針５と給電端子１０とは、電
子回路のピッチが電極基板Ａの他方側端部と一方側端部
とが異なっていても同一電子回路に確実に同時接触する
。
動され、その先端が基板Ａの上面に軽く接触するような
角度に保される。この状態でボールねじ棒３ｂが回され
て走査台２が前方へ移動されると、給電端子１０は複数
の電子回路線Ａに跨って基板Ａ上を摺接しながら、また
、検針５は１木兄の電子回路線Ａ１と接触し、基板Ａ上
の起伏に従って、ばね７の弾発力によりその傾斜角度を
微妙に変化させながらそれぞれの回路線Ａ１を横切って
移動走査する。走査中、検針５と給電端子１０とは、電
子回路のピッチが電極基板Ａの他方側端部と一方側端部
とが異なっていても同一電子回路に確実に同時接触する
。
上記走査台２の移動により、もし電子回路線Ａ１の途中
に非導通（オープン）個所があると、同一回路線の両端
部間に電圧がかかることになり（又はリーク個所がある
と極めて低い電圧がかかる）、この電圧の変化を図示外
の判定器にて読みとり、異常の有無が検知される。
に非導通（オープン）個所があると、同一回路線の両端
部間に電圧がかかることになり（又はリーク個所がある
と極めて低い電圧がかかる）、この電圧の変化を図示外
の判定器にて読みとり、異常の有無が検知される。
第３図は他の実施Ｒ様を示し、給液部４０が本タンク４
１と、該タンク内への液量を一定に保たせるための補助
タンク４１ａと、可撓性出口を備えた第１管４２ａと鎖
管の下部を覆って接続された第２管４２ａとに分割され
た管４２と、前記第１管４２ａの出口の大きさを加減す
るための偏心ロールからなる流量調整絞り弁４３とを備
えている。
１と、該タンク内への液量を一定に保たせるための補助
タンク４１ａと、可撓性出口を備えた第１管４２ａと鎖
管の下部を覆って接続された第２管４２ａとに分割され
た管４２と、前記第１管４２ａの出口の大きさを加減す
るための偏心ロールからなる流量調整絞り弁４３とを備
えている。
該実施例によると、吸液部材１２への導電性液体の供給
量が常時一定とされ、導電性能が一定に保たれる。
量が常時一定とされ、導電性能が一定に保たれる。
また第４図に示される実施例は、液体定量吐出弁５１を
用いて、圧縮空気により中間タンク５２への液体供給量
を規定し、吸液部材を一定の液体含有状態に保つもので
ある。
用いて、圧縮空気により中間タンク５２への液体供給量
を規定し、吸液部材を一定の液体含有状態に保つもので
ある。
これらの実施例は導電性液体を常時補給したが、第５図
に示されるように把持部６３を、基板Ａと接触する面お
よび入側導電線の挿入口を除いた部分を包被した形状と
し、吸液部材６２に予め導電性液体を浸透させておく形
式のものも用いられる。
に示されるように把持部６３を、基板Ａと接触する面お
よび入側導電線の挿入口を除いた部分を包被した形状と
し、吸液部材６２に予め導電性液体を浸透させておく形
式のものも用いられる。
また、電子回路線の一方端部を導電性液体タンク内に浸
漬してもよい。
漬してもよい。
エチルアルコール等の揮発性液体を用いると、それが早
期に揮発消失するので、検出作業が終了して直ちに次工
程の作業が可能となる。
期に揮発消失するので、検出作業が終了して直ちに次工
程の作業が可能となる。
Ｇ１発明の効果
本発明の第１Ｉ成によると、一方電極端子は大きな荷重
を加えなくても、確実に各電子回路線に接触するので、
従来のようにガラス面に接触あとが残ったり、またガラ
ス自体を破損させることが防がれる。
を加えなくても、確実に各電子回路線に接触するので、
従来のようにガラス面に接触あとが残ったり、またガラ
ス自体を破損させることが防がれる。
また、第２構成により、装置が極めて部組となる。
更に第３ｔｆ４成により導電性液体が少なくてすむ、
第１図は本発明の一実施例を示す斜視図、第２図は一方
電極端子の側面視縦断面図、第３図は池の実施例の正面
視要部断面図、第４図は第３実施例の正面視要部断面図
、第５図は第４実施例を示す側面視要部断面図である。 Ａ・・基板、ＡＩ・・・電子回路線、Ｂ・導電線、１・
・・レール ２・・・走査台 ２ａ・・・スライドベアリング ３・・走査台送り部 ３ａ・・・ナツト部材 ３ｂ・・ボールねじ棒 ４・・・検針ヘッド ４ａ・・本体 ４ｂ・・・固定アーム ４Ｃ・・・揺動アーム ５・・・検針 ５ａ・・ナンド ６・・検針起倒部 ６ａ・第１ブラケント ６ｂ・・アーム ６ｃ・・・第２ブラケット ６ｄ・・・駆動源 ７・・ばね １０・・・給電端子 １１・・・電極板 １２・・・吸液部材 １３・・・把持部 ２０・・・給電端子保持部 ２１・・・支柱 ２２・・・昇降駆動源 ３０・・・給液部 ３１・・・タンク ３２・・・管 ４０．５０・・・給液部
電極端子の側面視縦断面図、第３図は池の実施例の正面
視要部断面図、第４図は第３実施例の正面視要部断面図
、第５図は第４実施例を示す側面視要部断面図である。 Ａ・・基板、ＡＩ・・・電子回路線、Ｂ・導電線、１・
・・レール ２・・・走査台 ２ａ・・・スライドベアリング ３・・走査台送り部 ３ａ・・・ナツト部材 ３ｂ・・ボールねじ棒 ４・・・検針ヘッド ４ａ・・本体 ４ｂ・・・固定アーム ４Ｃ・・・揺動アーム ５・・・検針 ５ａ・・ナンド ６・・検針起倒部 ６ａ・第１ブラケント ６ｂ・・アーム ６ｃ・・・第２ブラケット ６ｄ・・・駆動源 ７・・ばね １０・・・給電端子 １１・・・電極板 １２・・・吸液部材 １３・・・把持部 ２０・・・給電端子保持部 ２１・・・支柱 ２２・・・昇降駆動源 ３０・・・給液部 ３１・・・タンク ３２・・・管 ４０．５０・・・給液部
Claims (3)
- （１）基板に蒸着された複数の並列された電子回路線の
一方端部を導電性液体を介して直流電源回路に接続し、
他方端部を前記直流電源に接続された検針を走査し、前
記直流回路に現れる電気値から前記回路線の導通状態を
検知することを特徴とする電子回路線の通電検出方法。 - （２）前記回路線の一方端部を導電性液体タンク内に浸
漬することを特徴とする請求項１記載の電子回路線の通
電検出方法。 - （３）前記回路線の一方端部に導電性液体を含んだ吸液
部材を接触させることを特徴とする請求項１記載の電子
回路線の通電検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63150544A JPH0619404B2 (ja) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | 液晶電極基板の通電検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63150544A JPH0619404B2 (ja) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | 液晶電極基板の通電検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH022946A true JPH022946A (ja) | 1990-01-08 |
| JPH0619404B2 JPH0619404B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=15499190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63150544A Expired - Lifetime JPH0619404B2 (ja) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | 液晶電極基板の通電検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619404B2 (ja) |
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| JPH06249903A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-09 | Miyoshi Denshi Kk | 配線基板の検査方法およびその装置 |
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-
1988
- 1988-06-17 JP JP63150544A patent/JPH0619404B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| JPH0619404B2 (ja) | 1994-03-16 |
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