JPH0228917B2 - Senjosochi - Google Patents

Senjosochi

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JPH0228917B2
JPH0228917B2 JP25271385A JP25271385A JPH0228917B2 JP H0228917 B2 JPH0228917 B2 JP H0228917B2 JP 25271385 A JP25271385 A JP 25271385A JP 25271385 A JP25271385 A JP 25271385A JP H0228917 B2 JPH0228917 B2 JP H0228917B2
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cleaning
flux
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cleaning liquid
light
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JP25271385A
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Mitsugi Shirai
Kanji Ishige
Hideaki Sasaki
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は洗浄装置、特にはんだ付後のプリント
基板の洗浄を行うのに好適な洗浄装置に関するも
のである。
〔発明の背景〕
プリント基板の組立工程では、通常基板に部品
をはんだ付する作業が実施されるが、本工程では
はんだ付品質を確保するためにフラツクスが使用
される。プリント基板にこの様なフラツクスが残
つていると、腐食、電気的接触特性不良等の問題
が生じるので、一般にはんだ付け後のプリント基
板に対して洗浄作業が実施される。
洗浄作業ではこの様なフラツクスを効率的に除
去するため、フラツクス及び被洗浄物の形状、材
質に適応した洗浄液、洗浄工法が選定される。洗
浄品質を確保するためには、この様な洗浄工法の
選定と共に洗浄液の洗浄度が非常に大きな要因と
なる。一定量の洗浄液で洗浄をくり返すことによ
り、洗浄液中にフラツクスが溶解され、洗浄液中
のフラツクス濃度が増大する。
この様に汚れた洗浄液で洗浄したものは、洗浄
特性そのものがそこなわれると共に、本来清浄な
表面も逆汚染されるので、高品質な洗浄特性を得
るためには清浄な液で洗浄するということが重要
な課題となる。
洗浄液中のフラツクス濃度はコネクターの様に
電気的接触部を有する部品は、0.01重量%以下に
する必要があり、これ以上の濃度では接触不良が
発生する。第6図は接触不良発生率と洗浄液中の
フラツクス濃度との関係を示すもので、洗浄の最
終段階で必要なフラツクス濃度が0.01重量%以下
であることがわかる。
この様に洗浄液中のフラツクス濃度を低濃度に
管理するためには、 (i) 設定した蒸留量が常に得られること、 (ii) 洗浄槽をできるだけ多槽化すること、 (iii) 洗浄液中のフラツクス濃度を常にモニター管
理すること、 が有効である。
従来装置については、この様な蒸留量管理およ
びフラツクス濃度管理が充分行われることなく、
経験的な管理法に依存していたため、結果として
プリント基板は、洗浄品質のバラツキを免れなか
つた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、洗浄液中のフラツクス濃度を
モニター管理するフラツクス濃度計を提供するこ
とにある。
〔発明の概要〕
本発明は、フラツクスの付着した被洗浄物を洗
浄液によつて洗浄する洗浄槽と、少なくとも1つ
の洗浄槽を通過して洗浄によつて汚染された洗浄
液を入力し清浄な洗浄液を出力する蒸留機とを有
する洗浄装置を前提とする。
本発明は、蒸留機の出力である清浄な洗浄液の
サンプルをとり込む第一の容器と、いずれかの洗
浄槽を通過した後の汚染された洗浄液のサンプル
をとり込む第2の容器とを有するフラツクス濃度
計である。第1および第2の容器ともに少なくと
も一部は透明であり、光を透過させることができ
る。このフラツクス濃度計は、特定領域の波長を
もつ光を照射する第1および第2の照射手段と、
第1の容器を通過した後の第1の照射手段の照射
する光の光量を検出する第1の光度計と、第1の
容器および第2の容器を通過した後の第2の照射
手段の照射する光の光量を検出する第2の光度計
と、第1の光度計の検出する光の透過率と第2の
光度計の検出する光の透過率とを比較し、その結
果フラツクスによる透過率を求める制御手段とを
有することを特徴とする。
〔発明の実施例〕
次に本発明の実施例について図面を用いて詳細
に説明する。
第4図は本発明の一実施例に関連するプリント
基板用洗浄装置の構成を断面で示したものであ
る。本装置はプリント基板11をスプレー洗浄す
るための第1洗浄槽1および第2洗浄槽2、漬浸
洗浄を行うための第3洗浄槽3と、洗浄した液を
回収するための第1〜第3回収タンク4〜6、洗
浄した排液を回収タンクに選択的に流すための第
1フラツププレート7および第2フラツププレー
ト8、基板を保持搬送するための上部基板保持ハ
ンガー13、下部基板保持ハンガ12、洗浄槽中
の基板をスプレー洗浄するためのスプレーノズル
10、スプレーノズルを摺動させるための摺動ヘ
ツド14、並びにスプレー中に洗浄液が飛散する
ことを防止するための開閉シヤツター15より構
成される。
なお搬入コンベヤー19は、本洗浄装置までプ
リント基板11を搬送するコンベヤー、排出コン
ベヤー20は、洗浄後のプリント基板11を搬送
するコンベヤーである。
また上部ハンガーアーム18はプリント基板1
1を洗浄槽から洗浄槽へと移動させるための搬送
機構である。第3洗浄槽3と第1〜第3回収タン
ク4〜6には洗浄液16が貯えられあるいは回収
される。
第5図は本実施例の洗浄液16のフローを示し
たもので、第4図に示したもの以外にフラツクス
の混入した洗浄液を清浄化するための蒸留機2
8、蒸留された液を貯蔵するための第1〜第4貯
液タンク22〜25、蒸留量をモニターするため
のフローメータ26及び最終洗浄槽である第3洗
浄槽3の洗浄液中のフラツクス濃度をモニターす
るためのフラツクス濃度計27により構成され
る。第5図の第1洗浄槽と第2洗浄槽においてそ
れぞれ「1回目洗浄」と「2回目洗浄」とあるの
は、各々の洗浄槽で行われる2つの工程とそのと
き使用される洗浄液のフローを示している。なお
第5図における矢印はすべて洗浄液の流れとその
方向を示している。
次に第5図を用いて本実施例において洗浄液の
流れとその管理方法について説明する。
蒸留機28により蒸留された清浄な洗浄液は一
たん第4貯液タンク25に貯蔵された後フローメ
ータ26を通つて第3洗浄槽3に入る。第3洗浄
槽3からオーバーフローした液は第3貯液タンク
24に流れこみ、第3貯液タンク24からオーバ
ーフローした液は第2貯液タンク23に流れ込
み、以下第2貯液タンク23から第1貯液タンク
22へとオーバーフローし、洗浄液中のフラツク
ス濃度を次第に増しながら再び蒸留機28にもど
る。
前述した様にプリント基板11が電気的に問題
のない清浄面を得るためには洗浄液中のフラツク
ス濃度は0.01重量%以下にする必要があり、本実
施例では最終洗浄工程である第3洗浄槽3のフラ
ツクス濃度を上記濃度以下にする必要がある。
洗浄液中のフラツクス濃度を一定濃度以下に保
つためには投入するフラツクス量に対して、常に
一定の蒸留量が確保されることが必要となる。フ
ローメータ26はこの目的のための第4貯液タン
ク25と第3洗浄槽3間に設置されているもの
で、一定の流量以下でアラームが発せられ、装置
が停止する。
第1図は第3洗浄槽3の洗浄液中のフラツクス
濃度をモニターするためのフラツクス濃度計27
の構造を示したものである。フラツクス濃度計2
7は、特性領域の波長を持つ光を発光するための
発光器29aと発光器29b、各ステータスの洗
浄液にこの光を通過させるため洗浄液をプールす
るためのセル30a、セル30b、セル30c、
セル中の洗浄液を通過した光の光量を検出するた
めの光度計31aと光度計31b、これら2つの
光度計からの情報を判定、コントロールするため
のコントロールユニツト32および洗浄液を循環
させるためのマイクロポンプ(図示せず)より構
成され、発光器29aに対してはセル30a、及
び光度計31aが対応し、発光器29bに対して
は、セル30b、セル30c及び光度計31bが
対応した位置に設置される。
第1図において、矢印をもつた実線は洗浄液の
流れを示し、太い矢印は光の流れを示し、矢印を
もつた破線は制御情報の流れを示す。
次に第1図、第2図および第3図を用いて本実
施例のフラツクス濃度計27の機能を説明する。
一般に物質はその物質固有に特定の波長の光を
吸収する性質をもつている。セル30aでは蒸留
され、第4貯液タンク25に貯蔵されていた清浄
な洗浄液が流れており、発光器29aにより発生
した光はこの液を通過して光度計31aに検出さ
れる。第2図はこの様にして光度計31aに入力
された光の透過率特性を示したものでa1、a2、
a3の波長で本セルを通過した液特有の吸収が生
じている。本セルを流れる液は蒸留された液が流
れており、フラツクスは混入されておらず、a1、
a2、a3の吸収特性は洗浄液と洗浄液に添加され
ている分解防止剤等の特性が表われていると考え
られる。
一方、発光器29bにより発生した光はセル3
0aと同じ液が流れるセル30bと最終洗浄槽で
ある第3洗浄槽3より来る若干のフラツクスが混
入された洗浄液が流れるセル30cを通過して光
度計31bに入力させる。この時の吸収特性は第
3図に示すごとく蒸留した洗浄液が持つ吸収特性
a1、a2、a3に加えて第3洗浄槽3の洗浄液が持
つ特性、すなわちフラツクスの濃度に応じた特性
b1、b2が追加される。ユニツトコントロール3
2では上述した様な2つの光度計により検出され
る通過率特性を比較する。すなわち第3図の透過
特性より第2図の透過特性を除去すると第3図の
斜線で示したエリアがフラツクス特有の吸収特性
として検出され、本特性値の大小を計量すること
により、洗浄液中のフラツクス濃度をモニターす
ることができる。
一般に洗浄液中には、洗浄液が分解し、酸等に
変化することを防止するために、数%の分解防止
剤が混入されているが、本分解防止剤は洗浄液の
蒸留再製をくりかえしていく間に化学変化により
濃度が変化する。一方この様な分解防止剤にも固
有の光吸収特性があり、従つて0.01%程度のフラ
ツクス濃度を精度よく検出するためにはこの様な
分解防止剤の濃度変化の影響が非常に重要なフア
クターとなる。
本フラツクス濃度計27ではこの様な分解防止
剤とモニターしたいフラツクスの吸収特性の分離
を可能としたもので、このため比較用の洗浄液は
新液ではなくモニターしたい洗浄槽(本実施例で
は第3洗浄槽3)の洗浄液と分解防止剤の分解レ
ベルについては同レベルである蒸留後の洗浄液を
用いることにより上述した誤差を最小限にするこ
とができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、フラツクス濃度を常にモニタ
ー管理できるフラツクス濃度計が得られるので、
洗浄液を常に清浄に保つことができるという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すフラツクス濃
度計の構成を示す図、第2図および第3図はフラ
ツクス濃度計において得られる光の波長と透過率
との関係を示す図、第4図は本発明に関連する洗
浄装置(例)の断面図、第5図は第1図に示す洗
浄装置中を流れる洗浄液のフロー図、第6図は洗
浄液中のフラツクス濃度と接触不良率との関係を
示す図である。 27……フラツクス濃度計、29a,29b…
…発光器、30a,30b,30c……セル、3
1a,31b……光度計、32……コントロール
ユニツト。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 フラツクスの付着した被洗浄物を洗浄液によ
    つて洗浄する洗浄槽と、少なくとも1つの該洗浄
    槽を通過して洗浄によつて汚染された洗浄液を入
    力し清浄な洗浄液を出力する蒸留機とを有する洗
    浄装置において、特定領域の波長をもつ光を照射
    する第1および第2の照射手段と、前記清浄な洗
    浄液のサンプルをとり込む透明部分を有する少な
    くとも1つの第1の容器と、いずれかの前記洗浄
    槽を通過した後の汚染された洗浄液のサンプルを
    とり込む透明部分を有する第2の容器と、第1の
    容器を通過した後の第1の照射手段の照射する光
    の光量を検出する第1の光度計と、第1の容器お
    よび第2の容器を通過した後の第2の照射手段の
    照射する光の光量を検出する第2の光度計と、第
    1の光度計の検出する光の透過率と第2の光度計
    の検出する光の透過率とを比較し、その結果前記
    フラツクスによる透過率を求める制御手段とを有
    するフラツクス濃度計を設けたことを特徴とする
    洗浄装置。
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JPS61179594A JPS61179594A (ja) 1986-08-12
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