JPH02288230A - 半導体基板の洗浄装置 - Google Patents
半導体基板の洗浄装置Info
- Publication number
- JPH02288230A JPH02288230A JP11023289A JP11023289A JPH02288230A JP H02288230 A JPH02288230 A JP H02288230A JP 11023289 A JP11023289 A JP 11023289A JP 11023289 A JP11023289 A JP 11023289A JP H02288230 A JPH02288230 A JP H02288230A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- bubbles
- nozzle
- water flow
- dust
- Prior art date
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- Pending
Links
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Landscapes
- Nozzles (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体基板の洗浄装置に関する。
従来、半導体基板(以下ウェハーという)の洗浄装置は
、水をつけたローラーブラシ式のものや、ジェット水流
を吹きつけるノズルを有するものがあり、それぞれブラ
シやジェット水流によりウェハーの表面を洗浄するよう
に構成されていた。
、水をつけたローラーブラシ式のものや、ジェット水流
を吹きつけるノズルを有するものがあり、それぞれブラ
シやジェット水流によりウェハーの表面を洗浄するよう
に構成されていた。
上述した従来の半導体基板の水洗装置では、ローラーブ
ラシでこすった場合、ごみは落ちるが、ウェハーパター
ンの段部にごみがつまったり、ローラーブラシのかすが
逆にパターンにつくという欠点がある。又ジェット水流
を吹きつける場合は、静電気によるウェハー内素子の破
壊や、段部に傷をつける欠点がある。
ラシでこすった場合、ごみは落ちるが、ウェハーパター
ンの段部にごみがつまったり、ローラーブラシのかすが
逆にパターンにつくという欠点がある。又ジェット水流
を吹きつける場合は、静電気によるウェハー内素子の破
壊や、段部に傷をつける欠点がある。
本発明の半導体基板の洗浄装置は、気泡を混在させた高
圧水流を噴出させるためのノズルを備えているものであ
る。
圧水流を噴出させるためのノズルを備えているものであ
る。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の断面図である。
ウェハー1はカバー3内で吸引によりウェハーのホルダ
ー4に吸着されている。ホルダー4はベルト5によりモ
ーター6に接続されウェハー1に回転を与える。そして
特にウェハー1上に設けられたノズル2には、矢印Aの
水流と、矢印Bの窒化ガスの流れにより、ノズル2の出
口で気泡混在の高圧水流Cとなり、回転しているウェハ
ー1に吹きつけられる。ウェハー1上で水の中の気泡が
ぶつかってはじける時の力で、ウェハー1上のごみ等を
はじき飛ばすことができる。又いくつかの泡が集まって
大きな泡を形成するときその表面にごみを吸着し除去す
る。
ー4に吸着されている。ホルダー4はベルト5によりモ
ーター6に接続されウェハー1に回転を与える。そして
特にウェハー1上に設けられたノズル2には、矢印Aの
水流と、矢印Bの窒化ガスの流れにより、ノズル2の出
口で気泡混在の高圧水流Cとなり、回転しているウェハ
ー1に吹きつけられる。ウェハー1上で水の中の気泡が
ぶつかってはじける時の力で、ウェハー1上のごみ等を
はじき飛ばすことができる。又いくつかの泡が集まって
大きな泡を形成するときその表面にごみを吸着し除去す
る。
また、純水中に気泡を混在させる為に純水の比抵抗値が
下がり、ウェハー1の表面上で発生する静電気圧が低く
なるため静電破壊を防止することができる。なお窒素ガ
スの代りにCO2ガス等をもちいることができる。
下がり、ウェハー1の表面上で発生する静電気圧が低く
なるため静電破壊を防止することができる。なお窒素ガ
スの代りにCO2ガス等をもちいることができる。
第2図は本発明の第2の実施例の断面図である。
ウェハー1はホルダー4のつめの部分で保持されている
。ホルダー4の底部は水が通るように開口がもうけられ
ており、ベルト5を通してモーター6と接続されウェハ
ー1に回転を伝える。そして、気泡を混在させた高圧水
流を噴出させるためのノズル2,2Aはウェハー1の上
下に設置されている。
。ホルダー4の底部は水が通るように開口がもうけられ
ており、ベルト5を通してモーター6と接続されウェハ
ー1に回転を伝える。そして、気泡を混在させた高圧水
流を噴出させるためのノズル2,2Aはウェハー1の上
下に設置されている。
この第2の実施例では2本のノズル2,2Aがある為、
ウェハー1の表裏面を同時に洗浄できる利点がある。
ウェハー1の表裏面を同時に洗浄できる利点がある。
以上説明したように本発明は、気泡を混合させた高圧水
流を噴出されるためのノズルを設けることにより、ウェ
ハーのパターンにごみを付着させることなく、しかも静
電気によるウェハー内素子の破壊や段部に傷をつけるこ
となく、ウェハーを洗浄できるという効果がある。
流を噴出されるためのノズルを設けることにより、ウェ
ハーのパターンにごみを付着させることなく、しかも静
電気によるウェハー内素子の破壊や段部に傷をつけるこ
となく、ウェハーを洗浄できるという効果がある。
第1図及び第2図は本発明の第1及び第2の実施例の断
面図である。
面図である。
Claims (1)
- 気泡を混在させた高圧水流を噴出させるためのノズルを
備えたことを特徴とする半導体基板の洗浄装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11023289A JPH02288230A (ja) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | 半導体基板の洗浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11023289A JPH02288230A (ja) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | 半導体基板の洗浄装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02288230A true JPH02288230A (ja) | 1990-11-28 |
Family
ID=14530445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11023289A Pending JPH02288230A (ja) | 1989-04-27 | 1989-04-27 | 半導体基板の洗浄装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02288230A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0487638U (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-30 | ||
US7600522B2 (en) | 2003-05-22 | 2009-10-13 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Substrate treatment method and substrate treatment apparatus |
-
1989
- 1989-04-27 JP JP11023289A patent/JPH02288230A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0487638U (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-30 | ||
US7600522B2 (en) | 2003-05-22 | 2009-10-13 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Substrate treatment method and substrate treatment apparatus |
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