JPH02288220A - レジスト塗布装置 - Google Patents

レジスト塗布装置

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Publication number
JPH02288220A
JPH02288220A JP11021689A JP11021689A JPH02288220A JP H02288220 A JPH02288220 A JP H02288220A JP 11021689 A JP11021689 A JP 11021689A JP 11021689 A JP11021689 A JP 11021689A JP H02288220 A JPH02288220 A JP H02288220A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pressure
cup
resist
wafer
resist solution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11021689A
Other languages
English (en)
Inventor
Harutaka Koshida
越田 治孝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH02288220A publication Critical patent/JPH02288220A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置の製造工程で用いられるレジスト塗
布装置に関する。
〔従来の技術〕
従来のレジスト塗布装置は第3図に示すように、半導体
基板(以下ウェハーという)1を保持するスピンチャッ
ク3と、このスピンチャック3の周囲を覆うカップ4と
から主に構成されており、レジスト溶液を滴下、ノズル
2よりウェハー1上に滴下する場合はカップ4の下部に
接続された排気ホース5内の排気用弁6を閉じる構造と
なっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のレジスト塗布装置においては、レジスト
溶液をウェハー上に滴下する際に、カップに付属する排
気用弁を閉じるだけなので、カップ内の圧力とウェハー
上に滴下されたレジスト溶液から蒸発する溶剤の蒸気圧
が一定になるまでレジスト溶液から溶剤が蒸発し、レジ
スト溶液の粘度がレジスト溶液の表面付近で高まり、レ
ジスト溶液に粘度の不均一さが生じる。
このため、レジスト溶液を滴下させた後にウェハーを回
転させた場合、ウェハー面内でレジスト膜の膜厚にばら
つきが生じ、フォトリソグラフィによりウェハー上にパ
ターンを形成する場合パターン精度が悪化し、半導体装
置の歩留りが低下するという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のレジスト塗布装置は、半導体基板を保持するス
ピンチャックと、該スピンチャックの周囲を覆うように
設けられたカップとを有するレジスト塗布装置において
、前記カップ内の圧力を高めるための手段を設けたもの
である。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を用いて説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の断面図である。
第1図においてレジスト塗布装置は、ウェハー1を保持
しモータにより回転するスピンチャック3と、このスピ
ンチャック3の周囲を覆うように設けられたカップ4と
、このカップ4の上部に接続され、カップ4内の圧力を
高めるための加圧機(図示せず)に接続された加圧ホー
ス7とから主に構成されている。
このように構成された第1の実施例によれば、滴下ノズ
ル2によりレジスト溶液をウェハー上に滴下する際に加
圧用ポース7の加圧用弁8を開いて加圧空気の流れ9を
生じさせ、カップ4内の圧力を上昇させることができる
。従って、滴下されたレジスト溶液からの溶剤の蒸発が
おさえられるので、レジスト溶液の粘度の均一性が保た
れ、ウェハー1を回転させた場合に、ウェハー面内での
レジスト膜の膜厚のばらつきはなくなる。
第2図は本発明の第2の実施例の断面図であり、加圧ホ
ース7の途中にレジストの溶剤であるエチルセルソルブ
アセテート(以下ECAと記す)10の入った容器12
を設けたものである。
レジストを滴下する際に加圧に用いる気体としてECA
を含むキャリアガスとすることにより、カップ4内の加
圧でレジスト溶液がらの溶剤の蒸発がおさえられ、第4
図に示すようにレジスト膜の膜厚のばらつきは第1の実
施例より小さくなる。
更に粘度の不均一になったレジスト溶液が滴下されても
、レジスト溶液内で粘度の高い所の溶剤の含有量は低い
ために溶剤の蒸気圧は低く、キャリアガスにより運ばれ
るECAガスの圧力が、レジスト溶液の粘度の低い部分
の蒸気圧と平衡に達する時に、ECAガスの圧力はレジ
スト溶液の蒸気圧の低い箇所よりも高くなる。このとき
、ECAガスの圧力がレジスト溶液の粘度の高い所の蒸
気圧と平衡する様に、ECAガスがレジストの粘度の高
い所に混合され、レジスト溶液には粘度の高い箇所がな
くなる。このため、粘度の均一性の良くないレジスト溶
液をウェハー上に滴下し、回転させても、ウェハー面内
でレジスト膜の膜厚のばらつきは少くなるという利点を
有する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、レジスト塗布装置に、カ
ップ内の圧力を高めるための手段を設けることにより、
ウェハー上に形成されるレジスト膜のウェハー面内での
厚さのばらつきを小さくできるという効果がある。従っ
てパターン精度が上るため半導体装置の歩留りは向上す
る。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は、本発明の第1及び第2の実施例の
断面図、第3図は従来のレジスト塗布装置の一例の断面
図、第4図は本発明の実施例を用いた場合のカップ内圧
力とレジスト膜厚のばらつきとの関係を示す図である。 1・・・ウェハー、2・・・滴下ノズル、3・・・スピ
ンチャック、4・・・カップ、5・・・排気ホース、6
・・・排気用弁、7・・・加圧ホース、8・・・加圧用
弁、9・・・加圧空気の流れ、10・・・ECA、11
・・・ECAを含むキャリアガスの流れ、12・・・容
器。 代理人 弁理士  内 原  音 肩 図 気 霞 測 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体基板を保持するスピンチャックと、該スピンチャ
    ックの周囲を覆うように設けられたカップとを有するレ
    ジスト塗布装置において、前記カップ内の圧力を高める
    ための手段を設けたことを特徴とするレジスト塗布装置
JP11021689A 1989-04-27 1989-04-27 レジスト塗布装置 Pending JPH02288220A (ja)

Priority Applications (1)

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JP11021689A JPH02288220A (ja) 1989-04-27 1989-04-27 レジスト塗布装置

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JPH02288220A true JPH02288220A (ja) 1990-11-28

Family

ID=14530015

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JP11021689A Pending JPH02288220A (ja) 1989-04-27 1989-04-27 レジスト塗布装置

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