JPH0228169B2 - - Google Patents

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JPH0228169B2
JPH0228169B2 JP57104735A JP10473582A JPH0228169B2 JP H0228169 B2 JPH0228169 B2 JP H0228169B2 JP 57104735 A JP57104735 A JP 57104735A JP 10473582 A JP10473582 A JP 10473582A JP H0228169 B2 JPH0228169 B2 JP H0228169B2
Authority
JP
Japan
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data
mask
comparison
area
input data
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP57104735A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58222343A (ja
Inventor
Takuya Kishino
Shinya Tanno
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS58222343A publication Critical patent/JPS58222343A/ja
Publication of JPH0228169B2 publication Critical patent/JPH0228169B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、データ処理システムにおいて機器あ
るいはプログラムをテストするため、同一テスト
データ源を用いて単一あるいは複数の機器でテス
トを繰り返し実施するような場合における、多数
の同種の入力データを基準データと比較し、異同
を自動判定する方式に関し、特に入力データ中に
判定には無関係な、あるいは除外することが好都
合な日時等の管理データや変数が含まれるとき、
それらを判定処理においてマスクし、本来の判定
対象データのみについての判定ができるようにし
た自動判定方式に関する。
技術の背景 一般にOSなどのプログラムテスト等において
は、大量のテスト結果データが出力されることが
多いが、従来は、そのほとんどが目視で正否判定
されており、テスト実施者にとつて大きな労力上
の負担となつていた。
他方、出力データの正否判定を自動化する汎用
システムを考える場合、出力画面の全データがテ
ストデータであればよいが、第1図に示すよう
に、通常はテストを実施した日付、、時間等の、
テストの都度必ず変更されるデータ部分が含まれ
ているために、このようなテスト結果データと基
準データとを画面の逐次的走査による1対1異同
チエツクを行なつた場合、常に不一致の判定結果
となり、必要とするデータ部分についての判定情
報が得られない。また、テストデータやプログラ
ムに単純な部分修正があつた場合にも同様な問題
が起る。
この問題を解決するためには、出力画面上で、
テスト対象とするデータの領域を、その都度指定
すればよいが、その作業は面倒であり、実際上不
可能に近い場合もある。
発明の目的および構成 本発明は上述した問題を解決するため、異同判
定を除外するデータ部分をマスクするための簡単
で効果的な手段を提供することにあり、そのため
の構成として、入力データと、該入力データに対
する異同判定基準となる基準データとを比較し
て、入力データの異同を判定するシステムにおい
て、入力データと基準データとの対応部分を順次
的に比較する比較部と、入力データ中の予め指定
された領域を比較対象から除外するようマスクす
るマスク処理部とをそなえ、上記基準データは、
行毎にマスクすべきデータ領域の存在を表示する
マスク行表示領域を有してそこに当該行内のマス
クデータ領域を表示するために使用するマスクマ
ークを登録し、かつ該マスクマークを用いて当該
行内のマスクデータ領域を埋めることにより、上
記マスク処理部に対してマスク情報を与えるよう
に構成され、マスク処理部は上記マスク情報に基
づいて比較部の比較動作を制御し、マスクデータ
領域についての入力データの比較判定をマスクさ
せることを特徴とするものである。
発明の実施例 以下に、本発明を実施例にしたがつて説明す
る。
第2図は、本発明に基づくマスクを有する基準
データの1実施例を示し、出力リストの画面イメ
ージで表わしたものである。
同図において、1は出力リスト画面、2はマス
ク行表示欄、3はデータ表示欄、4はマスクマー
ク、5はマスク対象データ領域を示す。
マスク行表示欄2は、各行毎にマスク対象デー
タ領域の有無を表示するために使用され、マスク
対象域5を有する各行位置にはマスクマーク4が
記入される。マスクマークマーク4は、図では例
示的にX,Yが使用されているが、各対応行中の
データに使用されていない文字であればどのよう
なものであつてもよい。マスク行表示欄2に記入
された文字は、その行において使用されるマス
ク・マーの種類を定義したものとして取扱われ
る。
したがつて、データ表示欄3内のマスク対象デ
ータ領域5には、必ずその行のマスク行表示欄に
ある文字が記入されなければならない。それによ
り、後述される比較判定部は、マスク処理を行な
う際に、まずマスク行表示欄の文字を参照し、次
に同行のデータ中に同一文字を検出したとき、そ
の位置での比較処理を省略あるいは比較結果を無
効にすることができる。
第3図は、本発明による実施例システムの概略
的な説明図である。同図において、6はテスト
系、7はテスト結果データフアイル、8は基準デ
ータフアイル、9はテスト判定処理装置、10は
比較部、11はマスク処理部、12は判定結果デ
ータフアイル、13は出力リスト、14は目視チ
エツク処理、15はマスクデータ作成処理、16
はマスクデータ入力処理を示す。
はじめに、図示されていないテスト系6におい
て、OSなどのプログラムテストや機器テストが
実行され、テスト結果データフアイル7が作成さ
れる。他方、判定基準となる基準データフアイル
8を予め作成しておく。
テスト判定処理装置9は、フアイル7,8か
ら、テスト結果データと基準データとを読出し、、
順次対応させて同一性をチエツクする。比較部1
0は対応する各行について、順次の文字同士を比
較し、その異同を判定する。判定結果は、判定結
果データフアイル12に格納する。
マスク処理部11は、その比較部10の比較判
定動作中、第2図で説明した基準データ中のマス
ク行表示欄2を参照し、マスクマークを検出した
とき、比較をとばす制御を行なうが、ここでは、
初回のテスト判定処理であるため、マスクマーク
はどの行にも記入されていない。
フアイル7,8の全データについて以上のよう
なテスト判定処理が終了すると、判定結果データ
フアイル12に格納されている判定結果を印字出
力し、出力リスト13を作成する。
テストを実施した作業者は、出力リスト、すな
わちテスト結果データフアイル7を基準データフ
アイル8と照合した結果のチエツクリストについ
て、目視チエツク処理14を行ない、もしも相違
点があつた場合には、その分析を行なつて、その
相違が日時のような、テスト内容とは無関係なデ
ータ、あるいはテスト条件の相違から、基準デー
タとの相違を看過してよいデータなどについて
は、次回からテスト判定処理からはずすため第2
図に示すようなマスクデータを作成する処理15
を行ない、それを入力して基準データフアイル8
を更新する。
次回に、テスト系6からの同種のテスト結果デ
ータについて、再び判定処理を行なう場合には、
前回の判定処理において、許容すべき相違点は、
基準データフアイル8について、全てマスクされ
ているため、テスト系6にエラーが生じていない
限り、残りのデータは一致する筈である。もし、
そのエラーが生じていた場合には、その相違部分
が比較部10により検出され、判定結果データフ
アイル12に書込まれ、出力リスト13において
表示される。
今回得られた出力リストについても、前回同
様、目視チエツク処理され、検出された相違点の
分析が行なわれる。そしてもし、必要であれば、
再度マスク処理の手続きをとることができる。
以上のようにして、基準データフアイル8は、
テスト判定処理装置9に対して、常に、必要とさ
れる範囲の基準データのみを提供し、誤つた異同
判定結果を生じないようにする。
第4図は、上述したテスト判定処理装置9の制
御手順を示すフロー図である。テスト結果データ
および基準データについて、各行i毎に、基準デ
ータ中のマスク行表示欄を調べ、マスクマークが
あるときには、同行内のマスクマーク存在桁位置
を除いて比較するように制御し、これを各行につ
いて連続的に実行するようにしている。
発明の効果 以上述べたように、本発明によれば、テスト結
果データの各行ごとに基準データのマスク行表示
欄を参照し、マスクマークがあるときは、その行
のデータ表示欄にある同じマスクマークの記入桁
位置を比較対象から外すように制御が行われるた
め、テスト結果データのチエツクの要、不要を行
ごとに、あるいは行中の文字位置ごとに指定する
ことができる。特に本発明では、マスクマークと
して任意の文字を使用することが許されるため、
データ表示欄中の基準データの文字と競合しない
マスクマークの文字を行ごとに適切に選択するこ
とができ、マスクマークの文字として基準データ
中に出現することが起こり得ないような特殊な文
字を固定的に割り当てる必要をなくして、利用上
の柔柔軟性を著しく高めることが可能である。し
たがつて、テスト結果データの判定に要する作業
者の負担が著しく軽減され、さらに従来にくらべ
て、より適確な異同チエツクを可能にするととも
に、判定結果のフイードツクが容易にかつ効率的
に行なうことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図はデータ異同判定における日時データ等
の影響の説明図、第2図は本実施例における基準
データの構成説明図、第3図は本実施例方式のシ
ステム構成図、第4図は第3図に示したシステム
の制御フロー図である。 同図中、1は画面イメージで示す基準データ、
2はマスク行表示欄、3はデータ表示欄、4はマ
スクマーク、5はマスク対象データ領域、7はテ
スト結果データフアイル、8は基準データフアイ
ル、10は比較部、11はマスク処理部、12は
判定結果データフアイル、13は出力リストを表
わしている。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 入力データと、該入力データに対する異同判
    定基準となる基準データとを比較して、入力デー
    タの異同を判定するシステムにおいて、入力デー
    タと基準データとの対応部分を順次的に比較する
    比較部と、入力データ中の予め指定された領域を
    比較対象から除外するようマスクするマスク処理
    部とをそなえ、上記基準データは、行毎にマスク
    すべきデータ領域の存在を表示するマスク行表示
    領域を有してそこに当該行内のマスクデータ領域
    を表示するために使用するマスクマークを登録
    し、かつ該マスクマークを用いて当該行内のマス
    クデータ領域を埋めることにより、上記マスク処
    理部に対してマスク情報を与えるように構成さ
    れ、マスク処理部は上記マスク情報に基づいて比
    較部の比較動作を制御し、マスクデータ領域につ
    いての入力データの比較判定をマスクさせること
    を特徴とするデータ異同自動判定方式。
JP57104735A 1982-06-18 1982-06-18 デ−タ異同自動判定方式 Granted JPS58222343A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57104735A JPS58222343A (ja) 1982-06-18 1982-06-18 デ−タ異同自動判定方式

Applications Claiming Priority (1)

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JP57104735A JPS58222343A (ja) 1982-06-18 1982-06-18 デ−タ異同自動判定方式

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JPS58222343A JPS58222343A (ja) 1983-12-24
JPH0228169B2 true JPH0228169B2 (ja) 1990-06-21

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JP57104735A Granted JPS58222343A (ja) 1982-06-18 1982-06-18 デ−タ異同自動判定方式

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6312040A (ja) * 1986-07-03 1988-01-19 Nec Corp 数値計算評価方式
JPH01244551A (ja) * 1988-03-25 1989-09-28 Nec Corp ソフトウェア仕様検証方式
JP2009134406A (ja) * 2007-11-29 2009-06-18 Nomura Research Institute Ltd コンピュータプログラムの実行結果を検証するためのテスト装置及び方法

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JPS58222343A (ja) 1983-12-24

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