JPH02277373A - 画像処理装置 - Google Patents

画像処理装置

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JPH02277373A
JPH02277373A JP1097468A JP9746889A JPH02277373A JP H02277373 A JPH02277373 A JP H02277373A JP 1097468 A JP1097468 A JP 1097468A JP 9746889 A JP9746889 A JP 9746889A JP H02277373 A JPH02277373 A JP H02277373A
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JP
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circuit
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JP1097468A
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Takako Satou
多加子 佐藤
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は画像処理装置に係り、特に非矩形の原稿の画像
処理に好適な画像処理装置に関する。
〔従来の技術〕
カラー複写機では、原稿を押さえるプラテンカバーの内
面を所定の着色部材で形成し、このプラテンカバーを照
光装置で照光し、プラテンカバーからの反射光をイメー
ジセンサで検出し、このイメージセンサの検出データに
基づいて、原稿領域とプラテンカバーのみの領域とを判
別して原稿の複写処理を行っている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述の従来の装置では、矩形の原稿を対象として原稿領
域とプラテンカバーのみの領域(非原稿領域)との判別
を行うので、円形や菱形など非矩形の原稿の複写を行う
と、原稿範囲外にプラテンカバーが複写されてしまう。
また、プラテンカバーにBk以外の色彩のごみが付着し
ていると、そのごみの位置が原稿であると誤判断するこ
とがある。
本発明の目的は、非矩形の原稿の原稿領域と非原稿領域
との判定を精度よく行い、プラテンカバーにごみが付着
していても誤判定を行わない画像処理装置を提供するこ
とにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、イメージセンサで検出した検出データを所
定の闇値と比較して原稿領域画素の判定をする画素判定
手段と、この画素判定手段による原稿領域画素の検出が
所定回連続することを確認して、原稿の輪郭座標を演算
する座標演算手段と、上記輪郭座標に基づいて上記原稿
からの画像形成処理を行う画像形成処理手段とを設ける
ことにより達成される。
〔作用〕
画素判定手段によってイメージセンサで検出された検出
データが予め設定された闇値と比較され、原稿領域画素
の判定が行われる。そして、画素判定手段によって原稿
領域画素の検出が所定回連続して行われたことが確認さ
れると、座標演算手段によって原稿の輪郭座標が演算さ
れる。
この座標演算手段で演算された輪郭座標に基づいて、画
像形成処理手段による画像形成処理が行われ、例えば非
原領域がイレースされて高品質の画像が形成される。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図はデジタルカラー複写機に本発明の一実施例を適
用した場合の全体構成を示すブロック図であり、1はス
キャナI/F部、2はRGBフィルタ、3は変倍部、4
はクリエイト部、5はRGBγ処理部、6は色変換部、
7はUCR部である。
また、8はCyMYeBkr処理部、9はCyMYeB
kフィルタ、10はデイザ処理部、11はメモリコント
ロール部、12は原稿検知処理部、13はCPU、14
は操作部である。
同図において、R,G、  Bの濃度データがスキャナ
I/F部1に入力され、このスキャナIlF部1に、R
GBフィルタ2.変倍部3.クリエイト部4.RGBγ
処理部5及び色変換部6が、この順序で互いに直列に接
続されている。
スキャナI/F部1から出力される濃度データは、RO
Bフィルタ2でR,G、  Bそれぞれの濃度データに
分光され、変倍部3.クリエイト部4でそれぞれ変倍処
理及びクリエイト処理が行われた後に、RGB7処理部
5でγ処理された階調特性の補正が行われ、さらに色変
換部6で色変換が行われるようになっている。
色変換部6に対して、UCR部?、Cy、M。
Ye、Bk7処理部8.Cy、M、Ye、Bkフィルタ
9.原稿検知処理部12.デイザ処理部10及びメモリ
コントロール部11が、この順序で互いに直列に接続さ
れている。
色変換部6で、R,G、  Bの濃度データがCy。
M、Ye、Bkの濃度データに色変換され、UCR部7
でCy、M、Yeの3色からグレイを取り除き小量のB
kと置換するUCRが行われ、cyMYeBkr処理部
8でT処理されて階調特性の補正が行われるようになっ
ている。そして、Cy。
M、Ye、Bkγ処理部8で階調特性の補正が行われた
濃度データが、Cy、M、Ye、Bkフィルタ9で分光
され、原稿検知処理部12に入力されて輪郭座標演算等
の処理が行われ、さらにデイザ処理部10で画素ごとに
それぞれの闇値で2値化されてメモリコントロール部1
1に入力されるようになっている。
原稿検知処理部12にはCPU13が接続され、このC
PU13には操作部14が接続されている。
第2図(a)(b)は本実施例における濃度データの検
出動作の説明図で、SYe、SM、SCy、SBkは、
それぞれYe濃度データセンサ、M濃度データセンサ、
Cy1度データセンセンBki度データセンサ、5DY
eは検知用データセンサである。
同図(a)(b)に示すように、純粋なYe1度データ
を検知用のデータとして使用し、Ye、M、Cyの3色
でBkを表現している。
第3図は原稿検知処理部12の構成を示す回路図であり
、同図において21はD型フリップフロップ21aとA
ND回路21b1〜21b6とよりなる検出用データ出
力回路、22は原稿領域画素検出用の比較器、23はD
型フリップフ口ップ23 a 〜23 c、  OR回
路23d、カウンタ23e及び比較器23fよりなる第
1のX方向画素判定回路、24はD型フリップフロップ
24a〜24c、NAND回路24d及びAND回路2
4eよりなる第2のX方向画素判定回路、25ばD型フ
リップフロップ25a、25bよりなるY座標設定回路
、26はXアドレスカウンタ、27はYアドレスカウン
タ、39.40は反転回路である。
また、28は反転回路、29はAND回路、30は画素
連続確認回路30aとシフトレジスタ30bとよりなる
第1のX方向画素判定回路、31はシフト回路31a、
差分回路31b、比較器31C及び画素連続確認回路3
1dよりなる第2のX方向画素判定回路、35はセレク
タ35a、D型フリップフロップ35b、比較器35c
、セレクタ35d及びD型フリップフロップ35eより
なるX座標設定回路、36.37及び38は反転回路、
13はCPU、14aは分周クロック作成回路である。
第3図に示すように、検出用データ出力回路21の出力
端子は比較器22のP端子に接続され、比較器22の出
力端子が、第1のX方向画素判定回路23のD型フリッ
プフロップ23aのD端子に接続され、第1のX方向画
素判定回路23の比較器23fの出力端子が、第2のX
方向画素判定回路24のD型フリップフロップ24aの
D端子に接続されている。
第2のX方向画素判定回路24のAND回路24eの出
力端子が、Y座標設定回路25のD型フリップフロップ
25aのクロック端子に接続され、Y座標設定回路25
のD型フリップフロップ25bの出力端子が、CPU1
3に接続されている。
また、Yアドレスカウンタ27の出力端子が、上記り型
フリップフロップ25aのD端子に接続され、Y方向有
効領域信号(YE)が反転回路40を介して上記り型フ
リップフロップ25bのクロック端子に接続されている
上記比較器22のQ端子に闇値信号S1が入力され、第
1のX方向画素判定回路23には画素クロックPCが入
力され、第2のX方向画素判定回路24にはラインクロ
ックLCが入力され、画素クロックPCが分周クロック
作成回路14aの入力端子に接続され、分周クロック作
成回路14aとCPU13とが互いに接続されている。
一方、比較器22の出力端子が、反転回路28を介して
AND回路29の一方の入力端子に接続され、X方向有
効領域信号XEがAND回路29の他方の入力端子に接
続され、AND回路29の出力端子が、第1のX方向画
素判定回路30の画素連続確認回路30aの入力端子に
接続されている。
第4図(a)は画素連続確認回路30aの構成を示す回
路図であり、30a1〜30a、はD型フリップフロッ
プ、30 a 、oはAND回路である。
第4図(a)に示すように、画素連続確認回路30aは
、D型フリップフロップ30a+〜30a9及びAND
回路30a+oで構成され、D型フリップフロップ30
a1〜30a、が互いに直列に接続され、AND回路2
9の出力端子が、D型フリップフロップ30a、のD端
子とAND回路30a1の入力端子とに接続され、それ
ぞれのD型フリップフロップ30a1〜30a、、の出
力端子がAND回路30a、、の入力端子に接続され°
ζいる。
そして、このAND回路30a、、の出力端子が、シフ
トレジスタ30bの入力端子に接続されている。
第4図(b)はシフトレジスタ30bの構成を示す回路
図で、30b1〜30b+oはD型フリップフロップで
あり、D型フリップフロップ30b  〜30b1゜が
互いに直列に接続されてシフトレジスタ30bが構成さ
れている。
第4図(e)は最小X座標抽出回路の構成を示す回路図
で、30cはAND回路、30dはD型フリップフロッ
プ、30eはAND回路、30f!!D型フリツプフロ
ツプである。
第4図(e)において、第3図の画素連続確認回路30
aの出力端子がAND回路30cの入力端子に接続され
、D型フリップフロップ30fのD端子にXアドレスカ
ウンタ26の出力端子が接続されている。最小xX座標
抽出回路においては、最初に原稿領域画素が10画素続
いて検出されると、現在画素の9画素前のX座標を最小
X座標として抽出するような構成となっている。
また、検出用データ出力回路21の出力端子が、第2の
X方向画素判定回路31のシフト回路31aの入力端子
及び差分回路31bのB端子に接続されている。
第4図(C)はシフト回路31aの構成を示す回路図で
、31a1〜31a+oはフリップフロップであり、シ
フト回路31aはフリップフロップ31a、〜31a+
oが、互いに直列に接続されて構成されている。
第4図(d)は第2のX方向画素判定回路31の画素連
続確認回路31dの構成を示す回路図で、31d、〜3
1d、はD型フリップフロップ、31dl◎はAND回
路であり、同図に示すように、画素連続確認回路31d
の入力端子はD型フリップフロップ31d1のD端子と
AND回路31d、の入力端子に接続され、各り型フリ
ップフロップ31d1〜31d、は互いに直列に接続さ
れ、各出力端子がそれぞれAND回路31dl。の入力
端子に接続されている。
この画素連続確認回路31dの出力端子と、上述のシフ
トレジスタ30bの出力端子とが、OR回路34の入力
端子に接続され、OR回路34の出力端子が、X座標設
定回路35のセレクタ35aの選択端子に入力され、こ
のセレクタ35aのA端子には、Xアドレスカウンタ2
6の出力端子が接続されている。
第1のX方向画素判定回路30及び第2のX方向画素判
定回路31には、分周クロック作成回路14aの出力端
子が接続され、第2のX方向画素判定回路31の比較器
31cのQ端子には、闇値信号S2が入力されている。
また、X座標設定回路35のD型フリップフロップ35
eのクロック端子には、X方向有効領域信号XEが反転
回路37を介して入力されている。
次に、本実施例の動作を説明する。
本実施例においては、プラテンカバーの内面をYe(黄
)の着色部材で形成し、プラテンカバー冊 を照光装置で照光し、プラテンカバーからの反射光がイ
メージセンサで検出される。そしてイメージセンサの検
出データに基づいて、検出用データ出力回路21からは
、純粋なYeの濃度データ(例えば赤色を表現するため
のYe酸成分どは除いた濃度データ)とBkの濃度デー
タを加え合わせたデータで、誤差がないと想定すると常
に階調数63を出力していると考えられるデータが出力
される。
原稿輪郭の検出動作はプレスキャン時に行われるが、最
初にY方向の検出動作について説明する。
このY方向の検出動作は、原稿が矩形型の場合に行われ
る。
検出用データ出力回路21からの上述の検出用データは
、比較器22で閾値信号S1と比較される。この闇値信
号S1は、プラテンカバーが原稿の厚みによって開いた
状態のままコピーが行われた時の着色部材からのYe濃
度データの変化に対応出来るように予め所定値に設定さ
れている。
従って、比較器22の出力が“H゛であるとプラテンカ
バーの検出データ、比較器22の出力がL°”であると
原稿の検出データであると判定する。
連続4画素中にプラテンカバーの検出データが1つでも
存在すれば、カウンタ23eが計数を行い、その計数値
が設定計数値C6を越えると、比較器23fから第2の
X方向画素判定回路24に原稿領域外画素信号が入力さ
れる。
そこで、X方向画素判定回路24においては、連続4ラ
インの測定で前の3ラインでは、比較器23fから原稿
領域外画素信号が出力されず(原稿領域画素信号が出力
されていると考える)、4番目のラインで原稿領域外画
素信号が出力されると、AND回路24eの出力信号が
H”となる。
AND回路24eの出力信号がパH゛となると、X座標
設定回路25のD型フリップフロップ25aに、その時
のX座標がYアドレスカウンタ2フから書込まれ、プレ
スキャンの終了時に[)型フリップフロップ25bから
読出されて、CPU]3に書込まれる。このX座標は、
矩形型原稿のY方向の境界値を示すものである。
非矩形型原稿に対しては、通常はこのY方向の検出動作
は行われない。
次にX方向の検出動作について説明する。
AND回路29の出力信号は、原稿領域の画素が入力す
ると“H”°となり原稿領域画素信号を出力し、第1の
X方向画素判定回路30の画素連続確認回路30a及び
シフトレジスタ30bでは、原稿領域画素信号が10画
素連続して発生したことを確認する。
一方、第2のX方向画素判定回路31T::は、現在の
画素Aとその10画素前の画素との差を取り、その値が
闇値(例えば20)以上であること(IA−B 1≧2
0)を確認している。実施例では、シフト回路31aの
出力として得られる10画素前の画素信号と、現在の画
素信号とが比較器31Cで比較され、上述の闇値信号S
1と同様な条件下に設定される闇値信号32以上である
ことが確認されると、比較器31cの出力信号が”H”
となる。
比較器31cの出力信号は画素連続確認回路31dに入
力され、比較器31cの出力信号が10回連続して入力
されると、画素連続確認回路31dの出力信号が“H+
+となる。
このようにして、第1のX方向画素判定回路30と第2
のX方向画素判定回路31の少なくとも一方で、原稿領
域画素信号が連続して発生したことが確認されると、O
R回路34の出力信号が“H”となる。
上述のシフトレジスタ30bは、第1のX方向画素判定
回路30と第2のX方向画素判定回路31での、判定動
作時の画素ずれを補正している。
プラテンカバー全体に原稿がある場合には、第2のX方
向画素判定回路31では差分が零で原稿がないと判断す
るが、第1のX方向画素判定回路30によると原稿が検
出される。また、コントラストの小さい原稿の場合には
、第2のX方向画素判定回路31を使用した方が高検出
精度が得られる。
従って、第1及び第2のX方向画素判定回路30G 31を併用することて、誤検出が避けられ高精度の検出
が可能となる。
OR回路34の出力信号ごとに、Xアドレスカウンタ2
6からのX座標が取り込まれ、D型フリップフロップ3
5bを介し比較器35cで、大きな座標値への書き換え
が行われ、ラインごとに原稿のX座標の最大値Wが、D
型フリップフロップ35bから出力されCPU13に書
き込まれる。
また、各ラインごとに更新された最大のX座標が、セレ
クタ35d及びD型フリップフロップによってプレスキ
ャン終了時に、読出されてCPU13に書込まれる。こ
の原稿全体に対しての最大のX座標は、原稿が矩形型の
場合に使用される。
一方、画素連続確認回路30aに接続されるすでに述べ
た最小X座標抽出回路からは、各ラインごとに原稿のX
座標の最小値■が、D型フリップフロップ30[から出
力されCPU13に書き込まれる。
このように、原稿の各ラインごとのX座標の最小値及び
第大値が演算されるので、原稿の輪郭が得られ、原稿領
域外に対してイレース処理など各種の処理が行われる。
分周クロック作成回路14aによって画素クロックPC
を制御することが可能で、例えばCPU13から2bi
tの信号を分周クロック作成回路14aに入力し、1,
2,4.8分周のいずれかを選択して出力さゼる。この
ようにして、プラテンカバーにごみが付着していたり、
汚れがある時、或いは原稿内にY成分が多い時には8分
周クロックを使用することにより、判定画素を間引いて
誤検出を防止することが出来る。
第5図は本実施例において画像形成処理を行う画像形成
処理回路の構成を示す回路図であり、50はD型フリッ
プフロップ、51a〜51fはAND回路、52.53
は比較器、54はAND回路である。
D型フリップフロップ50から出力される各色の濃度デ
ータは、各ラインごとにX座標の最小値と最大値間に存
在するもののみが取り出され、取り出された濃度データ
に基づいて複写処理が行わ] 8 れ、X座標の最小値より小さい領域とX座標の最大値よ
り大きい領域に対しては、イレース処理が行われる。
以」二のように、実施例によると非矩形型原稿を使用し
た場合でも、原稿領域外にプラテンカバーが複写される
ことがない。
また、プラテンカバーにごみが付着したり、プラテンカ
バーが汚れていても、原稿領域画素の連続性を確認した
判定を行うので、精度のよい輪郭座標が得られ、高品質
の画像処理が行われる。
〔発明の効果〕
以上詳細に説明したように、本発明のよれば、プラテン
カバーにごみが付着したり、プラテンカバーが汚れてい
ても、誤検出を行わずに原稿の輪郭座標を精度よく検出
して画像形成処理が行われ、原稿が非矩形型であっても
高品質の画像処理が行われる。
【図面の簡単な説明】
第1図はディジタルカラー複写機に本発明を適用した一
実施例の全体構成を示すブロック図、第2図は濃度デー
タの検出動作の説明図、第3同は第1図の実施例の要部
構成の回路図、第4図は第3図の細部構成の回路図、第
5図は画像形成処理回路の一実施例の構成を示す回路図
である。 13−−−−CP U、21−−−−−検出用データ出
力回路、22−−−−−一比較器、23− 第1のX方
向画素判定回路、24−−−−−第2のX方向画素判定
回路、25−−−−Y座標設定回路、26−−−−−X
アドレスカウンタ、27−−−−−−−Yアドレスカウ
ンタ、30第1のX方向画素判定回路、31−−−−第
2のX方向画素判定回路、35−−−−−− X座標設
定回路。 γ O の +1’l W)  r′nrt−、のりも2−I+−)
j J

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 原稿を押え付けるプラテンカバーの内面を所定の着色部
    材で形成し、上記プラテンカバーを照光装置で照光して
    上記プラテンカバーからの反射光をイメージセンサで検
    出し、このイメージセンサの検出データに基づいて上記
    原稿と上記プラテンカバーとを判別する判別手段を具備
    する画像処理装置において、上記イメージセンサで検出
    した検出データを所定の閾値と比較して原稿領域画素の
    判定をする画素判定手段と、この画素判定手段による原
    稿領域画素の検出が所定回連続することを確認して上記
    原稿の輪郭座標を演算する座標演算手段と、上記輪郭座
    標に基づいて上記原稿からの画像形成処理を行う画像形
    成処理手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
JP1097468A 1989-04-19 1989-04-19 画像処理装置 Pending JPH02277373A (ja)

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