JPH02277314A - Mos output circuit device - Google Patents

Mos output circuit device

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JPH02277314A
JPH02277314A JP1099702A JP9970289A JPH02277314A JP H02277314 A JPH02277314 A JP H02277314A JP 1099702 A JP1099702 A JP 1099702A JP 9970289 A JP9970289 A JP 9970289A JP H02277314 A JPH02277314 A JP H02277314A
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JP
Japan
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transistor
signal
mos transistor
channel mos
channel
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Application number
JP1099702A
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Japanese (ja)
Inventor
Kiyokazu Nishi
清和 西
Hiromitsu Chihara
千原 弘光
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To reduce radiation noise by increasing a time constant of a leading and a trailing of a gate signal given to a MOS transistor(TR) when the cut-off state of the MOS TR is changed to the conductive state. CONSTITUTION:The time constant of the trailing of an output signal of a logic gate circuit 4a is determined by setting the ON-resistance of an N-channel MOS TR to be 42a larger than the ON-resistance of a P-channel MOS TR 41a. Moreover, the time constant of the trailing is increased sufficiently larger than the leading and trailing time constants of an input signal I4 with the effect of charge/discharge of a capacitor C4a. Moreover, the leading time constant of an output signal of a logic gate circuit 4b is increased sufficiently larger than the leading and trailing of the input signal I4. Thus, radiation noise is suppressed lower.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、受信機等の低いノイズレベルが要求される
装置内の半導体集積回路の出力回路として使用されるM
OS出力回路装置に関するものである。
Detailed Description of the Invention [Industrial Field of Application] The present invention is directed to an M-type circuit that is used as an output circuit of a semiconductor integrated circuit in a device such as a receiver that requires a low noise level.
The present invention relates to an OS output circuit device.

(従来の技術〕 第10図に従来のC−MOS出力回路装置の回路図を示
す。第10図において、10は信号入力端子、11は論
理ゲート回路である。12は、電Hv。にソース端子を
接続した出力段のPチャンネルMOSI−ランジスタで
ある。13は、1)チャンネルMOSトランジスタ12
のトレイン端子にドレイン端子を接続し、Pチャンネル
MOSI・ランジスタI2のデーl一端子にゲート端子
を共通に接続し、ソース端子を接地したNチャンネルM
OSトランジスタである。I4は、Pチャンネル間O3
トランジスタ12のトレイン端子およびNチャンネルM
OSトランジスタ13のドレイン端子の接続点に設けた
信号入力端子である。
(Prior Art) Fig. 10 shows a circuit diagram of a conventional C-MOS output circuit device. In Fig. 10, 10 is a signal input terminal, 11 is a logic gate circuit, and 12 is a source for the voltage Hv. This is a P-channel MOS transistor in the output stage whose terminals are connected. 13 is a channel MOS transistor 12
The drain terminal is connected to the train terminal of the P-channel MOSI transistor I2, the gate terminal is commonly connected to the data terminal of the P-channel MOSI transistor I2, and the source terminal is grounded.
It is an OS transistor. I4 is O3 between P channels
Train terminal of transistor 12 and N-channel M
This is a signal input terminal provided at the connection point of the drain terminal of the OS transistor 13.

C1は、Pチャンネル間O3トランジスタ12のドレイ
ン端子およびNチャンネルMOS)ランジ人夕13のド
レイン端子の接続点とアースとの間に回路素子として実
際に接続される容量および浮遊的に存在する容量を合成
した容量を示ず。
C1 represents the capacitance actually connected as a circuit element and the capacitance existing floatingly between the connection point of the drain terminal of the P-channel O3 transistor 12 and the drain terminal of the N-channel MOS transistor 13 and the ground. Combined capacity not shown.

このC−MOS出力回路装置においては、2値の入力信
号11が信号入力端子】0から論理り−−ト回路11に
入力され、論理ゲート回路11の出力信号がゲート信号
としてPチャンネルMOS+−ランジスタ12およびN
チャンネルMOSトランジスタ13の共通接続したゲー
ト端子に加えられる。この結果、PチャンネルMO5)
ランジスク12のドレイン端子およびNチャンネルMO
Sトランジスタ13のドレイン端子の接続点に設けられ
た信号出力端子14に出力信号01が現れることになる
In this C-MOS output circuit device, a binary input signal 11 is input from the signal input terminal 0 to a logic gate circuit 11, and the output signal of the logic gate circuit 11 is used as a gate signal to output a P-channel MOS+- transistor. 12 and N
It is applied to the commonly connected gate terminals of channel MOS transistors 13. As a result, P channel MO5)
Drain terminal of Ranjisk 12 and N-channel MO
An output signal 01 appears at the signal output terminal 14 provided at the connection point of the drain terminal of the S transistor 13.

今、信号入力端子10から入力信号11が論理ゲート回
路11に加えられることによって、論理ゲート回路11
の出力信号、すなわちPチャンネルMOSトランジスタ
12およびNチャンネルMOSトランジスタ13へ与え
られるゲート信号の波形が第11図に示すようになった
とすると、PチャンネルMOSトランジスタ12および
NチャンネルMOSトランジスタ13からなるC−MO
Sゲート回路は、インバータ回路を構成するので、信号
出力端子14に現れる出力信号O1の波形は、第12図
に示すように、第11図の波形を反転したものとなる。
Now, by applying the input signal 11 from the signal input terminal 10 to the logic gate circuit 11, the logic gate circuit 11
Assuming that the waveform of the output signal of , that is, the gate signal applied to P-channel MOS transistor 12 and N-channel MOS transistor 13 becomes as shown in FIG. M.O.
Since the S gate circuit constitutes an inverter circuit, the waveform of the output signal O1 appearing at the signal output terminal 14 is the inverted waveform of FIG. 11, as shown in FIG. 12.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、上記第10図のC−MOS出力回路装置
では、ゲート信号の反転による出力信号01の変化時、
すなわちPチャンネルMOS+−ランジスタ12および
NチャンネルMOSトランジスタ13のオンオフ状態が
反転する時に、PチャンネルMOSトランジスタ12の
ドレイン端子およびNチャンネルMOSトランジスタ1
3のドレイン端子の接続点に存在する容量CIの充電あ
るいは放電が行われる。
However, in the C-MOS output circuit device shown in FIG. 10, when the output signal 01 changes due to the inversion of the gate signal,
That is, when the on/off states of P-channel MOS+- transistor 12 and N-channel MOS transistor 13 are reversed, the drain terminal of P-channel MOS transistor 12 and the N-channel MOS transistor 1
The capacitor CI present at the connection point of the drain terminal No. 3 is charged or discharged.

このときの充電電流あるいは放電電流は、Pチャンネル
MOS+・ランジスタ12およびNチャンネルMOSト
ランジスタ13のうちオンとなった方を通して急峻に流
れることになる。この結果、この急峻な充放電電流が流
れることによって大きな放射雑音が誘起され、低雑音が
要求される機器では大きな問題となる。
At this time, the charging current or discharging current flows steeply through whichever of the P-channel MOS+ transistor 12 and the N-channel MOS transistor 13 is turned on. As a result, a large amount of radiation noise is induced due to the flow of this steep charging/discharging current, which becomes a major problem in devices that require low noise.

一方、出力段のPチャンネルMOSI−ランジスタ12
およびNチャンネルMOSトランジスタ13のオン抵抗
を高く設定すれば、PチャンネルMOSトランジスタ1
2およびNチャンネルMOSトランジスタ13のオン時
において、PチャンネルMOSトランジスタ12および
NチャンネルMOSトランジスタ13をそれぞれ通して
流れる容量C1の充電電流および放電電流のピーク値を
低く抑えることができる。
On the other hand, the output stage P-channel MOSI transistor 12
If the on-resistance of the N-channel MOS transistor 13 is set high, the P-channel MOS transistor 1
When the second and N-channel MOS transistors 13 are on, the peak values of the charging current and discharging current of the capacitor C1 flowing through the P-channel MOS transistor 12 and the N-channel MOS transistor 13, respectively, can be suppressed to a low level.

しかし、PチャンネルMOSトランジスタ12およびN
チャンネルMOSI−ランジスタ13のオン抵抗を高く
設定することは、PチャンネルMOSトランジスタ12
およびNチャンネルMOSトランジスタ13のドライブ
能力の低下につながり、好ましいものではない。
However, P channel MOS transistor 12 and N
Setting the on-resistance of the channel MOSI transistor 13 high means that the P-channel MOS transistor 12
This also leads to a decrease in the drive ability of the N-channel MOS transistor 13, which is not preferable.

したがって、この発明の目的は、MOSトランジスタの
ドライブ能力を低下させることなく、放射雑音を低く抑
えることができるMOS出力回路装置を提供することで
ある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a MOS output circuit device that can suppress radiation noise to a low level without reducing the drive ability of a MOS transistor.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

この発明のMOS出力回路装置は、出力段のMOSトラ
ンジスタのゲート端子と信号入力端子との間に設ける論
理ゲート回路をつぎのように構成したものである。すな
わち、この論理ゲート回路は、MOSトランジスタに与
えるゲート信号の立ち上がりおよび立ち下がりのうちM
 OS l−ランジスタを遮断状態から導通状態へ変化
させる方の時定数を信号入力端子に加えられる入力信号
の立ち上がりおよび立ち下がりの時定数より十分に大き
くする。
In the MOS output circuit device of the present invention, a logic gate circuit provided between the gate terminal of an output stage MOS transistor and a signal input terminal is configured as follows. In other words, this logic gate circuit handles M out of the rising and falling edges of the gate signal applied to the MOS transistor.
The time constant for changing the OS l-transistor from the cutoff state to the conduction state is made sufficiently larger than the time constant for the rise and fall of the input signal applied to the signal input terminal.

〔作   用〕[For production]

この発明の構成によれば、入力信号が反転して出力段の
MOSトランジスタが遮断状態から導通状態へ移行する
ときに、MOSトランジスタが遮断状態が導通状態へ移
行した瞬間およびその直後はMOSトランジスタのオン
抵抗が高く、その後時間の経過とともにオン抵抗が徐々
に下降していき、定常状態でのMOSトランジスタのオ
ン抵抗は十分に低いものとなる。
According to the configuration of the present invention, when the input signal is inverted and the MOS transistor in the output stage changes from the cut-off state to the conduction state, the MOS transistor is turned off at the moment when the cut-off state changes to the conduction state and immediately after that. The on-resistance is high, and then gradually decreases over time, and the on-resistance of the MOS transistor in a steady state becomes sufficiently low.

この結果、M’O3トランジスタが導通した直後に、M
OSトランジスタを通してMOS+−ランジスタに接続
された容量に充電電流あるいは放電電流が流れる際にそ
の充電電流あるいは放電電流のピーク値を低く抑えるこ
七ができる。したがって、MOSトランジスタを流れる
充電電流あるいは放電電流による放射雑音を十分に低く
抑えることができる。
As a result, immediately after the M'O3 transistor becomes conductive, M
When charging or discharging current flows through the OS transistor to the capacitor connected to the MOS+- transistor, the peak value of the charging or discharging current can be suppressed to a low level. Therefore, radiation noise due to charging current or discharging current flowing through the MOS transistor can be suppressed to a sufficiently low level.

しかも、人力信号の反転後ある程度時間が経過すれば、
論理ゲート回路の出力信号も安定し、この安定状態では
、MOSトランジスタのオン抵抗が十分に低くなってい
るため、出力段のMOSトランジスタのドライブ能力と
して十分なものを確保することができる。
Moreover, if a certain amount of time has passed after the reversal of the human signal,
The output signal of the logic gate circuit is also stable, and in this stable state, the on-resistance of the MOS transistor is sufficiently low, so that a sufficient drive capability of the MOS transistor in the output stage can be ensured.

MOSトランジスタへ加えるゲート信号の立ち上がりま
たは立ち下がりの時定数を大きくするには、論理ゲート
回路が例えばMOSトランジスタで構成されている場合
、そのMOSI−ランジスタのオン抵抗を大きく設定す
ることで実現できる。
Increasing the time constant of the rise or fall of a gate signal applied to a MOS transistor can be achieved by setting a large on-resistance of the MOSI transistor when the logic gate circuit is composed of, for example, a MOS transistor.

これは、論理ゲート回路のMOSトランジスタのオン抵
抗を大きくすると、そのMOS+−ランジスタに接続さ
れた容量への充放電に時間を要し、論理ゲート回路の出
力信号の立ち上がりまたは立ら下がりが遅れるからであ
る。
This is because when the on-resistance of the MOS transistor in the logic gate circuit is increased, it takes time to charge and discharge the capacitor connected to the MOS+- transistor, which delays the rise or fall of the output signal of the logic gate circuit. It is.

〔実 施 例〕〔Example〕

以下、この発明の実施例を図面を参照しながら説明する
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図にこの発明の一実施例のC−MOS出力回路装置
の回路図を示す。第1図において、40は信号入力端子
、4aおよび4bは、それぞれ信号反転用のインバータ
を構成するC−MOSゲート回路構成の論理ゲート回路
である。
FIG. 1 shows a circuit diagram of a C-MOS output circuit device according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, 40 is a signal input terminal, and 4a and 4b are logic gate circuits each having a C-MOS gate circuit configuration and forming an inverter for signal inversion.

41 aは電源VDDにソース端子を接続したPチャン
ネル間O3トランジスタである。42aは、Pチャンネ
ルMOSI−ランジスタ41aのドレイン端子にドレイ
ン端子を接続し、PチャンネルMOSトランジスタ41
aのゲート端子にゲート端子を共通に接続し、ソース端
子を接地したNチャンネルMOSトランジスタである。
41a is a P-channel O3 transistor whose source terminal is connected to the power supply VDD. 42a has a drain terminal connected to the drain terminal of the P-channel MOS transistor 41a, and the P-channel MOS transistor 41
This is an N-channel MOS transistor whose gate terminal is commonly connected to the gate terminal of a, and whose source terminal is grounded.

これらPチャンネル間O3トランジスタ41aおよびN
チャンネルMOSトランジスタ42aは、上記論理ゲー
ト回路4aを構成するものである。この場合、Nチャン
ネルMOS+−ランジスク42aのオン抵抗をPチャン
ネル間O3トランジスタ41aのオン抵抗より大きく設
定することにより、論理ゲート回路4aの出力信号の立
ち下がり(PチャンネルMOSトランジスタ43を遮断
状態から導通状態へ変化させる方)の時定数を信号入力
入力端子4゜に加えられる入力信号I4の立ち上がりお
よび立ち下がりの時定数より十分に大きくしている。
Between these P-channel O3 transistors 41a and N
The channel MOS transistor 42a constitutes the logic gate circuit 4a. In this case, by setting the on-resistance of the N-channel MOS + - transistor 42a larger than the on-resistance of the P-channel inter-O3 transistor 41a, the fall of the output signal of the logic gate circuit 4a (the P-channel MOS transistor 43 is turned on from the cut-off state). The time constant of the input signal I4 applied to the signal input terminal 4° is made sufficiently larger than the time constant of the rise and fall of the input signal I4 applied to the signal input terminal 4°.

41bは電源VDDにソース端子を接続したPチャンネ
ルMOSトランジスタである。42bは、Pチャンネル
間O3トランジスタ41bのドレイン端子にドレイン端
子を接続し、Pチャンネル間O3トランジスタ41bの
ゲート端子にゲート端子を共通に接続し、ソース端子を
接地したNチャンネルMOSI−ランジスタである。こ
れらPチャンネル間O3トランジスタ41bおよびNチ
ャンネルMOSトランジスタ42bは、上記論理ゲート
回路4bを構成するものである。この場合、Pチャンネ
ル間O3トランジスタ41bのオン抵抗をNチャンネル
MOSトランジスタ42bのオン抵抗より大きく設定す
ることにより、論理ゲート回路4bの出力信号の立ち上
がり (NチャンネルMOSトランジスタ44を遮断状
態から導通状態へ変化させる方)の時定数を信号人力入
力端子40に加えられる入力信号I4の立ち」二かりお
よび立ち下がりの時定数より十分に大きくしている。
41b is a P-channel MOS transistor whose source terminal is connected to the power supply VDD. 42b is an N-channel MOSI transistor whose drain terminal is connected to the drain terminal of the P-channel O3 transistor 41b, whose gate terminal is commonly connected to the gate terminal of the P-channel O3 transistor 41b, and whose source terminal is grounded. These P-channel inter-O3 transistor 41b and N-channel MOS transistor 42b constitute the logic gate circuit 4b. In this case, by setting the on-resistance of the P-channel inter-O3 transistor 41b to be larger than the on-resistance of the N-channel MOS transistor 42b, the output signal of the logic gate circuit 4b rises (the N-channel MOS transistor 44 changes from the cutoff state to the conduction state). The time constant of the input signal I4 applied to the signal input terminal 40 is made sufficiently larger than the time constant of the rising edge and the falling edge of the input signal I4 applied to the signal input terminal 40.

C4fiは論理ゲート回路4aの出力端子、すなわちP
チャンネルMOSI−ランジスタ4.1 aのドレイン
端子およびNチャンネルMOSトランジスタ42aのト
レイン端子の接続点とアースとの間に存在する容量であ
り、C1,は論理ゲート回路4bの出力端子、すなわち
PチャンZ、ルMOSI−ランジスタ41bのドレイン
端子およびNチャンネルMOSトランジスタ42bのド
レイン端子の接続点とアースとの間に存在する容量であ
る。これらの容量C,,、C4,は、それぞれ配線容量
等の浮遊容量および回路に実際に接続された容量を合成
したものを示している。
C4fi is the output terminal of the logic gate circuit 4a, that is, P
C1 is the capacitance existing between the connection point of the drain terminal of the channel MOSI transistor 4.1a and the train terminal of the N-channel MOS transistor 42a and the ground, and C1 is the capacitance existing between the output terminal of the logic gate circuit 4b, that is, the P channel Z , is the capacitance existing between the ground and the connection point of the drain terminal of MOSI transistor 41b and the drain terminal of N-channel MOS transistor 42b. These capacitances C, . . . , C4 each represent a combination of stray capacitances such as wiring capacitances and capacitances actually connected to the circuit.

43は、電源vnaにソース端子を接続した出力段のP
チャンネルMos+・ランジスクである。44は、Pチ
ャンネル間O3トランジスタ43のドレイン端子にドレ
イン端子を接続し、PチャンネルMOSトランジスタ4
3のゲート端子にゲート端子を共通に接続し、ソース端
子を接地したNチャンネルMOSI−ランジスタである
。これらPチャンネルMOSトランジスタ43およびN
チャンネルMOSトランジスタ44は、信号反転のイン
パークとして機能するC−MOSゲート回路を構成する
43 is P of the output stage whose source terminal is connected to the power supply vna.
Channel Mos+ Ranjisk. 44 connects the drain terminal to the drain terminal of the P-channel inter-O3 transistor 43, and connects the P-channel MOS transistor 4
It is an N-channel MOSI-transistor whose gate terminal is commonly connected to the gate terminal of the transistor No. 3 and whose source terminal is grounded. These P channel MOS transistors 43 and N
The channel MOS transistor 44 constitutes a C-MOS gate circuit that functions as an impark for signal inversion.

45はPチャンネルMOSトランジスタ43のドレイン
端子とNチャンネルMOSI−ランジスタ44のドレイ
ン端子との接続点に設けた信号出力端子である。
Reference numeral 45 denotes a signal output terminal provided at the connection point between the drain terminal of the P-channel MOS transistor 43 and the drain terminal of the N-channel MOS transistor 44.

C4は、PチャンネルMOSトランジスタ43のドレイ
ン端子およびNチャンネル間O3トランジスタ44のド
レイン端子の接続点とアースとの間に回路素子として実
際に接続される容量および浮遊的に存在する容量を合成
した容量を示す。
C4 is a capacitance that is a combination of a capacitance actually connected as a circuit element and a floating capacitance between the connection point of the drain terminal of the P-channel MOS transistor 43 and the drain terminal of the N-channel O3 transistor 44 and the ground. shows.

以上のように構成されたC−MOS出力回路装置につい
て、以下にその動作を説明する。
The operation of the C-MOS output circuit device configured as described above will be explained below.

このC−MOS出力回路装置においては、2値の入力信
号I4が信号入力端子40から論理ゲート回路4a、4
bにそれぞれ入力され、論理ゲート回路4aの出力信号
がゲート信号として出力段のPチャンネルMOSトラン
ジスタ43のゲート端子に加えられ、また論理ゲート回
路4bの出力信号がゲート信号として出力段のNチャン
ネル間O3トランジスタ44のゲート端子に加えられる
In this C-MOS output circuit device, a binary input signal I4 is input from a signal input terminal 40 to logic gate circuits 4a and 4.
The output signal of the logic gate circuit 4a is applied as a gate signal to the gate terminal of the P-channel MOS transistor 43 in the output stage, and the output signal of the logic gate circuit 4b is applied as a gate signal between the N channels of the output stage. It is applied to the gate terminal of O3 transistor 44.

この結果、PチャンネルMOS+−ランジスタ43のド
レイン端子およびNチャンネルMOSトランジスタ44
のドレイン端子の接続点に設けられた信号出力端子45
に出力信号04が現れることになる。
As a result, the drain terminal of the P-channel MOS+- transistor 43 and the N-channel MOS transistor 44
A signal output terminal 45 provided at the connection point of the drain terminal of
Output signal 04 will appear at .

この場合、入力信号■4は、まず論理ゲート回路4aの
PチャンネルMOS+・ランジスタ41aおよびNチャ
ンネル間O3トランジスタ42aの共通接続したゲート
端子にゲート信号として加えられ、同時に論理ゲート回
路4bのPチャンネルMOSトランジスタ41bおよび
NチャンネルMOSトランジスタ42bの共通接続した
ゲート端子にゲート信号として加えられ、論理ゲート回
路4a、4bの出力信号として、入力信号I4を反転し
たものが得られる。
In this case, the input signal 4 is first applied as a gate signal to the commonly connected gate terminals of the P-channel MOS+ transistor 41a and the N-channel O3 transistor 42a of the logic gate circuit 4a, and simultaneously the P-channel MOS+ transistor 41a of the logic gate circuit 4b. It is applied as a gate signal to the commonly connected gate terminals of transistor 41b and N-channel MOS transistor 42b, and an inverted version of input signal I4 is obtained as the output signal of logic gate circuits 4a and 4b.

ところで、論理ゲート回路4aの出力信号の立ち下がり
の時定数は、Nチャンネル間O3トランジスタ42aの
オン抵抗をPチャンネルMOSトランジスタ41aのオ
ン抵抗より大きく設定していることと容量C4aの充放
電の影響とにより、立ち下がりの時定数が入力信号I4
の立ち上がりおよび立ち下がりの時定数より十分に大き
くなっている。一方、論理ゲート回路4aの出力信号の
立ち上がりの時定数は、入力信号I4の立ち上がりおよ
び立ち下がりの時定数と同程度になっている。
By the way, the time constant of the fall of the output signal of the logic gate circuit 4a is determined by the fact that the on-resistance of the N-channel O3 transistor 42a is set larger than the on-resistance of the P-channel MOS transistor 41a, and the influence of charging and discharging of the capacitor C4a. Therefore, the falling time constant of the input signal I4
is sufficiently larger than the rise and fall time constants of . On the other hand, the time constant of the rise of the output signal of the logic gate circuit 4a is approximately the same as the time constant of the rise and fall of the input signal I4.

また、論理ゲート回路4bの出力信号の立ち上がりの時
定数は、PチャンネルMOSトランジスタ41bのオン
抵抗をNチャンネル間O3トランジスタ42bのオン抵
抗より太き(設定していることと容量cabの充放電の
影響とにより、立ち上がりの時定数が入力信号■4の立
ち上がりおよび立ち下がりの時定数より十分に大きくな
っている。
In addition, the time constant for the rise of the output signal of the logic gate circuit 4b is determined by the fact that the on-resistance of the P-channel MOS transistor 41b is set to be thicker than the on-resistance of the N-channel O3 transistor 42b, and that the charging and discharging of the capacitor cab is Due to this influence, the rising time constant is sufficiently larger than the rising and falling time constants of input signal 4.

一方、論理ゲート回路4bの出力信号の立ち下がりの時
定数は、人力信号I4の立ち上がりおよび立ち下がりの
時定数と同程度になっている。
On the other hand, the time constant of the fall of the output signal of the logic gate circuit 4b is approximately the same as the time constant of the rise and fall of the human input signal I4.

ここで、第2図ないし第9図を参照してC−MOS出力
回路装置の動作を詳しく説明する。
Here, the operation of the C-MOS output circuit device will be explained in detail with reference to FIGS. 2 to 9.

まず、信号入力端子40に加えられる入力信号I4が第
2図に示すように零から■、。まで立ち−Lがる場合に
ついて考える。第2図のような入力信号I4が論理ゲー
ト回路4aに加えられたとすると、論理ゲート回路4a
の出ツノ信号は、Nチャンネル間O3トランジスタ42
aのオン抵抗を大きく設定して立ち下がりの時定数を大
きく設定しているため、第3図に示すように、VIII
+から零まで第2図の立ち上がりよりもかなり遅れて立
ち下がることになる。なお、第3図において、VTPは
PチャンネルMOSトランジスタ43の闇値電圧である
First, the input signal I4 applied to the signal input terminal 40 changes from zero to ■, as shown in FIG. Consider the case of standing up to -L. If the input signal I4 as shown in FIG. 2 is applied to the logic gate circuit 4a, the logic gate circuit 4a
The output horn signal is from the N-channel O3 transistor 42.
Since the on-resistance of a is set large and the falling time constant is set large, as shown in Figure 3, VIII
The voltage falls from + to zero much later than the rise in Figure 2. Note that in FIG. 3, VTP is the dark value voltage of the P-channel MOS transistor 43.

この論理ゲート回路4aの出力信号をゲート信号として
入力するPチャンネルMOSトランジスタ43の抵抗値
は、ゲート信号が第3図のように変化することに応答し
て、第4図に示すように無限大(oO)から定常時の十
分に小さいオン抵抗RPTまて徐々に下降することにな
る。
In response to the gate signal changing as shown in FIG. 3, the resistance value of the P-channel MOS transistor 43, which receives the output signal of the logic gate circuit 4a as a gate signal, increases to infinity as shown in FIG. The on-resistance RPT gradually decreases from (oO) to a sufficiently small on-resistance RPT during steady state.

したがって、PチャンネルMOSトランジスタ43か遮
断状態から導通状態へ移行する際に、PチャンネルMO
Sトランジスタ43を通して容量C4へ流入する充電電
流は、PチャンネルMOS1−ランジスク43のオン抵
抗が定常時のオン抵抗RPTより大きい状態の時に流れ
ることとなる。このため、上記PチャンネルMOSトラ
ンジスタ43を流れる充電電流の波形は第5図に示すよ
うになり、そのピーク値I peakは十分に低く抑え
られることになる。容量C4への充電電流が十分に流れ
終わって、PチャンネルMOSトランジスタ43が定常
状態になったときは、PチャンネルMOSトランジスタ
43のオン抵抗は十分に小さくなっているので、ドライ
ブ能力は従来例と同じたけ確保することができる。
Therefore, when the P-channel MOS transistor 43 transitions from the cutoff state to the conduction state, the P-channel MOS transistor 43
A charging current flows into the capacitor C4 through the S transistor 43 when the on-resistance of the P-channel MOS1-randisk 43 is larger than the on-resistance RPT in the steady state. Therefore, the waveform of the charging current flowing through the P-channel MOS transistor 43 becomes as shown in FIG. 5, and its peak value I peak is kept sufficiently low. When the charging current to the capacitor C4 has finished flowing sufficiently and the P-channel MOS transistor 43 is in a steady state, the on-resistance of the P-channel MOS transistor 43 has become sufficiently small, so the drive capability is the same as that of the conventional example. You can secure the same amount.

なお、このとき、入力信号■4は、論理ゲート回路4b
を介してNチャンネルMOSトランジスタ44にも加え
られる。この結果、論理ゲート回路4bの出力信号が早
い時定数で立ち下がり、したがってNチャンネルMo3
+−ランジスタ44が遅れなく導通状態から遮断状態へ
移行する。
Note that at this time, the input signal ■4 is input to the logic gate circuit 4b.
It is also applied to the N-channel MOS transistor 44 via. As a result, the output signal of the logic gate circuit 4b falls with a fast time constant, and therefore the N-channel Mo3
The +- transistor 44 shifts from the conductive state to the cut-off state without delay.

つぎに、信号入力端子40に加えられる入力信号I4が
第6図に示すようにVD、から零まで立ち下がる場合に
ついて考える。第6図のような入力信号I4が論理ゲー
ト回路4bに加えられたとすると、論理ゲート回路4b
の出力信号は、PチャンネルMOSトランジスタ41b
のオン抵抗を大きく設定して立ち」二がりの時定数を大
きく設定しているため、第7図に示すように、零からV
DDまで第6図の立ち下がりよりもかなり遅れて立ち上
がることになる。なお、第3図において、VTNはNチ
ャンネルMo3トランジスタ44の闇値電圧である。
Next, consider the case where the input signal I4 applied to the signal input terminal 40 falls from VD to zero as shown in FIG. If the input signal I4 as shown in FIG. 6 is applied to the logic gate circuit 4b, the logic gate circuit 4b
The output signal of P channel MOS transistor 41b
Since the on-resistance is set large and the time constant of rising and falling is set large, as shown in Figure 7, the voltage from zero to V
The rise up to DD will be much later than the fall in Fig. 6. Note that in FIG. 3, VTN is the dark value voltage of the N-channel Mo3 transistor 44.

この論理ゲート回路4bの出力信号をゲート信号として
入力するNチャンネルMo3トランジスタ44の抵抗値
は、ゲート信号が第7図のように変化することに応答し
て、第8図に示すように無限大(oo)から定常時の十
分に小さいオン抵抗RNTまで徐々に下降することにな
る。
In response to the gate signal changing as shown in FIG. 7, the resistance value of the N-channel Mo3 transistor 44, which receives the output signal of the logic gate circuit 4b as a gate signal, increases to infinity as shown in FIG. The on-resistance RNT gradually decreases from (oo) to a sufficiently small on-resistance RNT in steady state.

したがって、NチャンネルMOSトランジスタ44が遮
断状態から導通状態へ移行する際に、容量C4からNチ
ャンネルMOSトランジスタ44に流入する放電電流は
、NチャンネルMo3トランジスタ44のオン抵抗が定
常時のオン抵抗RNTより大きい状態の時に流れること
となる。このため、上記NチャンネルMOSトランジス
タ44を流れる充電電流の波形は第9Mに示すようにな
り、そのピーク値1 pcak′は十分に低く抑えられ
ることになる。容量C4への放電電流が十分に流れ終わ
って、NチャンネルMOSトランジスタ44が定常状態
になったときは、NチャンネルMo3トランジスタ44
のオン抵抗は十分に小さくなっているので、ドライブ能
力は従来例と同しだけ確保することができる。
Therefore, when the N-channel MOS transistor 44 transitions from the cutoff state to the conduction state, the discharge current flowing into the N-channel MOS transistor 44 from the capacitor C4 is larger than the on-resistance RNT in the steady state. It will flow when it is in a large state. Therefore, the waveform of the charging current flowing through the N-channel MOS transistor 44 becomes as shown in the 9th M, and its peak value 1 pcak' is kept sufficiently low. When the discharge current to the capacitor C4 has finished flowing sufficiently and the N-channel MOS transistor 44 is in a steady state, the N-channel Mo3 transistor 44
Since the on-resistance of is sufficiently small, the drive capacity can be maintained at the same level as the conventional example.

なお、このとき、入力信号I4は、論理ゲート回路4a
を介してPチャンネルMOSトランジスタ43にも加え
られる。この結果、論理ゲート回路4aの出力信号が早
い時定数で立ち下がり、したがってPチャンネルMos
+−ランジスク43が遅れなく導通状態から遮断状態へ
移行する。
Note that at this time, the input signal I4 is input to the logic gate circuit 4a.
It is also applied to P-channel MOS transistor 43 via. As a result, the output signal of the logic gate circuit 4a falls with a fast time constant, so that the P-channel Mos
The +- run disk 43 shifts from the conductive state to the cut-off state without delay.

なお、上記実施例は、C−MOS出力回路装置について
説明したが、PチャンネルMOS+−ランジスタのみか
らなるP−MOS出力回路装置およびNチャンネルMo
3+−ランジスタのみからなるN−MOS出力回路装置
においても、出力段のMo3トランジスタを遮断状態か
ら導通状態へ移行させるゲート信号の立ち上がりまたは
立ち下がりの時定数を大きくすることにより、C−MO
S出力回路装置の場合と同様の効果が得られる。
In the above embodiment, a C-MOS output circuit device was explained, but a P-MOS output circuit device consisting of only P-channel MOS+- transistors and an N-channel Mo
Even in an N-MOS output circuit device consisting of only 3+- transistors, the C-MOS
The same effect as in the case of the S output circuit device can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発明のMOS出力回路装置によれば、論理ゲート回
路による波形処理によって、Mo3+・ランジスタに与
えるゲート信号の立ち上がりおよび立ち下がりのうちM
OSトランジスタを遮断状態から導通状態へ変化さゼる
方の時定数を十分に大きくする構成であるので、Mo3
トランジスタが導通した直後に、Mo3+−ランジスタ
を通してMOSトランジスタに接続された容量に充電電
流あ】 7 るいは放電電流が流れる際にその充電電流あるいは放電
電流のピーク値を低く抑えることができ、MOSトラン
ジスタを流れる充電電流あるいは放電電流による放射雑
音を十分に低く抑えることができる。
According to the MOS output circuit device of the present invention, by waveform processing by the logic gate circuit, M out of the rising and falling edges of the gate signal applied to the Mo3+ transistor is
Since the configuration is such that the time constant for changing the OS transistor from a cutoff state to a conduction state is sufficiently large, Mo3
Immediately after the transistor becomes conductive, there is a charging current in the capacitor connected to the MOS transistor through the Mo3+- transistor. The radiation noise caused by the charging current or discharging current flowing through can be suppressed to a sufficiently low level.

しかも、入力信号の反転後ある程度時間が経過すれば、
論理ゲート回路の出力信号も安定し、この安定状態では
、MOSトランジスタのオン抵抗が十分に低くなってい
るため、出力段のMOSトランジスタのドライブ能力と
して十分なものを確保することができる。
Moreover, if a certain amount of time passes after the input signal is inverted,
The output signal of the logic gate circuit is also stable, and in this stable state, the on-resistance of the MOS transistor is sufficiently low, so that a sufficient drive capability of the MOS transistor in the output stage can be ensured.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例のC−MOS出力回路装置
の構成を示す回路図、第2図は入力信号の立ち上がり部
分を示すタイムチャート、第3図は第1図における出力
段のPチャンネルのMOSトランジスタのゲート端子に
加えられるゲート信号のタイムチャート、第4図は第1
図における出力段のPチャンネルのMOSトランジスタ
の抵抗値を変化を示すタイムチャート、第5図は第1図
における出力段のPチャンネルのMOSトランジスタに
流れる電流の変化を示すタイムチャー1・、第6図は入
力信号の立ち下がり部分を示すタイムチャート、第7図
は第1図における出力段のNチャンネルのMOSI−ラ
ンジスタのゲート端子に加えられるゲート信号のタイム
チャーI・、第8図は第1図における出力段のNチャン
ネルのMOS+−ランジスタの抵抗値を変化を示すタイ
ムチャー1・、第9図は第1図における出力段のNチャ
ンネルのMOSトランジスタに流れる電流の変化を示す
タイムチャート、第10図は従来のC−MOS出力回路
装置の構成を示す回路図、第11図は第10図のMOS
出力回路装置におりる論理ゲート回路の出力信号のタイ
ムチャート、第12図は第10図のMOS出力回路装置
の出力信号のタイムチャートである。 40・・・信号入力端子、4a、4b・・・論理ゲート
回路、43・・・PチャンネルMOSI−ランジスタ、
44・・・NチャンネルMOSトランジスタ、45・・
・信号出力端子、C4・・・容量 第 図 明翳4− 第 図
FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of a C-MOS output circuit device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a time chart showing the rising edge of an input signal, and FIG. 3 is a P of the output stage in FIG. Figure 4 is a time chart of the gate signal applied to the gate terminal of the channel MOS transistor.
Figure 5 is a time chart showing changes in the resistance value of the P-channel MOS transistor in the output stage in Figure 1. The figure is a time chart showing the falling part of the input signal, Figure 7 is the time chart I of the gate signal applied to the gate terminal of the N-channel MOSI-transistor in the output stage in Figure 1, and Figure 8 is the time chart of the gate signal I. Figure 9 is a time chart 1 showing changes in the resistance value of the N-channel MOS+- transistor in the output stage in the figure. Figure 10 is a circuit diagram showing the configuration of a conventional C-MOS output circuit device, and Figure 11 is the MOS shown in Figure 10.
FIG. 12 is a time chart of the output signal of the logic gate circuit going to the output circuit device. FIG. 12 is a time chart of the output signal of the MOS output circuit device of FIG. 40... Signal input terminal, 4a, 4b... Logic gate circuit, 43... P channel MOSI-transistor,
44...N-channel MOS transistor, 45...
・Signal output terminal, C4... Capacity diagram 4- diagram

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 出力段のMOSトランジスタと、このMOSトランジス
タのゲート端子と信号入力端子との間に設けられて前記
MOSトランジスタに与えるゲート信号の立ち上がりお
よび立ち下がりのうち前記MOSトランジスタを遮断状
態から導通状態へ変化させる方の時定数を前記信号入力
端子に加えられる入力信号の立ち上がりおよび立ち下が
りの時定数より十分に大きくする論理ゲート回路とを備
えたMOS出力回路装置。
A gate signal provided between an output stage MOS transistor, a gate terminal of the MOS transistor, and a signal input terminal, and changes the MOS transistor from a cutoff state to a conduction state during the rising and falling edges of a gate signal applied to the MOS transistor. a logic gate circuit whose time constant is sufficiently larger than the time constants of rising and falling edges of an input signal applied to the signal input terminal.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008198033A (en) * 2007-02-15 2008-08-28 Sanyo Electric Co Ltd Adjusting circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008198033A (en) * 2007-02-15 2008-08-28 Sanyo Electric Co Ltd Adjusting circuit

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