JPH0329411A - Delay circuit - Google Patents

Delay circuit

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JPH0329411A
JPH0329411A JP1163314A JP16331489A JPH0329411A JP H0329411 A JPH0329411 A JP H0329411A JP 1163314 A JP1163314 A JP 1163314A JP 16331489 A JP16331489 A JP 16331489A JP H0329411 A JPH0329411 A JP H0329411A
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JP
Japan
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delay time
inverter circuit
mos transistor
delay
stage
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JP1163314A
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Yukiya Miura
幸也 三浦
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NEC Corp
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NEC Corp
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  • Pulse Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To suppress the relative change in a delay time and to facilitate the design of the delay circuit with a desired delay time by using different inverter circuits deciding the delay times of the delay time respectively. CONSTITUTION:An inverter circuit deciding a delay time TPLH and an inverter circuit deciding a delay time TPHL are different from each other. Thus, an output terminal of the inverter circuit of the 3rd stage not participating in the delay time TPLH is quickly discharged at the leading of an input signal and an output terminal of the inverter circuit of the 1st stage not participating in the delay time TPHL is quickly charged at the trailing of the input signal. Thus, the inverters of the 1st and 3rd stages are charged from or discharged to the reference voltage. Thus, even when the power voltage, the temperature or the threshold voltage of a transistor(TR) is changed, the delay times TPLH, TPHL are not relatively changed and the delay times TPLH, TPHL are set individually with the different inverters, then the delay time is designed easily.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はCMOS半導体集積回路により構成される遅延
回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a delay circuit constructed from a CMOS semiconductor integrated circuit.

[従来の技術コ 従来から、この種の遅延回路として第3図に示?回路が
知られている。
[Conventional technology] This type of delay circuit is conventionally shown in Fig. 3. circuit is known.

第3図に示すように、正電源VDDと接地GNDとの間
に相1111対接続されたPチャネル型MOSトランジ
スタP.及びNチャネル型MOSトランジスタN.は入
力段のCMOSインバータ回路Illを構成している。
As shown in FIG. 3, P channel type MOS transistors P. and an N-channel MOS transistor N. constitutes an input stage CMOS inverter circuit Ill.

このCMOSインバータ回路I.■は入力端子INを介
して入力された信号を反転させて出力部Aに出力する。
This CMOS inverter circuit I. (2) inverts the signal input via the input terminal IN and outputs it to the output section A;

このCMOSインバータ回路I IIの出力部Aと接地
GNDとの間にはコンデンサC1が接続されている。こ
のコンデンサCIの容量とPチャネル型MOSトランジ
スタP1■及びNチャネル型MOSトランジスタN1■
のオン抵抗とにより決まる時定数により、CMOSイン
バータ回路I IIの出力信号の遅延時間が決定される
。また、電源V。Dと接地GNDとの間に直列に接続さ
れたPチャネル型MOSトランジスタP14及びNチャ
ネル型MOSトランジスタN14は、出力段のCMOS
インバータ回路工.■を構成している。このCMOSイ
ンバータ回路工、■は出力部Aの電位が所定のスレッシ
ロルド電圧に達し?ときにその出力を反転させ、出力端
子OUTを介して出力する。更に、電源V DDと出力
部Aとの間にはPチャネル型MOSトランジスタP1■
及びP■3が直列に接続されている。また、出力部Aと
接地GNDとの間にはNチャネル型MOSトランジスタ
Nl2及びNl3が直列に接続されている。そして、M
OSトランジスタPI■及びN1。のゲート電極は、入
力端子INに共通接続され、MOSトランジスタP13
及びNl3のゲート電極は、出力端子OUTに共通接続
されている。
A capacitor C1 is connected between the output section A of this CMOS inverter circuit III and the ground GND. The capacitance of this capacitor CI and the P-channel type MOS transistor P1■ and the N-channel type MOS transistor N1■
The delay time of the output signal of the CMOS inverter circuit III is determined by the time constant determined by the on-resistance of the CMOS inverter circuit III. Also, the power supply V. A P channel type MOS transistor P14 and an N channel type MOS transistor N14 connected in series between D and the ground GND are output stage CMOS transistors.
Inverter circuit engineer. ■Constitutes. In this CMOS inverter circuit engineer, does the potential of output part A reach the predetermined threshold voltage? At times, the output is inverted and output via the output terminal OUT. Furthermore, a P-channel MOS transistor P1 is connected between the power supply VDD and the output section A.
and P3 are connected in series. Further, N-channel type MOS transistors Nl2 and Nl3 are connected in series between the output section A and the ground GND. And M
OS transistors PI■ and N1. The gate electrodes of the MOS transistor P13 are commonly connected to the input terminal IN, and the gate electrodes of the MOS transistor P13
The gate electrodes of Nl3 and Nl3 are commonly connected to the output terminal OUT.

このように構成された従来の遅延回路では、入力端子I
Nを介して入力される入力信号が接地電位に変化すると
、Pチャネル型MOSトランジスタPllを介してコン
デンサC1が充電される。これにより、出力部Aの電位
が上昇する。出力部Aの電位がNチャネル型MOSトラ
ンジスタNI4のスレッシロルド電圧に達すると、CM
OSインバータ回路I1■の出力は接地レベルに反転す
る。この時間の遅れが立下り時の遅延時間(TPIIL
)となる。CMOSインバータ回路I12の出力が接地
?ベルになると、Pチャネル型MOSトランジスタPl
3がオンする。トランジスタP1。は既にオン状態であ
るから、この瞬間よりPチャネル型MOSトランジスタ
P+++P1■,PI:lを介してコンデンサCIが急
速に充電され、山力部Aは重源V。0レベルに立上る。
In the conventional delay circuit configured in this way, the input terminal I
When the input signal input through N changes to the ground potential, capacitor C1 is charged through P-channel type MOS transistor Pll. As a result, the potential of the output section A increases. When the potential of the output section A reaches the threshold voltage of the N-channel MOS transistor NI4, the CM
The output of the OS inverter circuit I1■ is inverted to the ground level. This time delay is the falling delay time (TPIIL)
). Is the output of CMOS inverter circuit I12 grounded? When the bell is reached, the P channel type MOS transistor Pl
3 turns on. Transistor P1. Since is already in the on state, from this moment on, the capacitor CI is rapidly charged via the P channel type MOS transistors P+++P1 and PI:l, and the power source A becomes the heavy source V. Rise to 0 level.

一方、入力y:tli−F−I Nを介して入力される
入力信号が電源電位V。0に変化すると、Nチャネル型
MOSトランジスタN1■がオンして、コンデンサCI
の蓄桔電荷は、MOSトランジスタNllを介して放電
される。これにより出力部Aの電位が下降する。出力部
Aの電位がPチャネル型MOSトランジスタpt4のス
レッショルド電圧に達すると、CMOSインバータ回路
I12の出力は電源レベルに反転する。この時間の遅れ
が立上り時の遅延時間(Tpz.u)となる。CMOS
インバータ回路I.■の出力が電源電圧レベルになると
、Nチャネノレ型MOSトランジスタNIGがオンする
。トランジスタN.■は既にオン状態であるから、この
瞬間よりNチャネル型MOSトランジスタNIIIN+
■,N1Gを介してコンデンサC1の電荷が急速に放電
され、出力部Aは接地レベルに立下る。
On the other hand, the input signal input via the input y:tli-F-IN is at the power supply potential V. When it changes to 0, the N-channel MOS transistor N1 is turned on and the capacitor CI
The stored charge is discharged through the MOS transistor Nll. As a result, the potential of the output section A decreases. When the potential of the output section A reaches the threshold voltage of the P-channel MOS transistor pt4, the output of the CMOS inverter circuit I12 is inverted to the power supply level. This time delay becomes the delay time at rise (Tpz.u). CMOS
Inverter circuit I. When the output (2) reaches the power supply voltage level, the N-channel MOS transistor NIG is turned on. Transistor N. Since ■ is already in the on state, from this moment on, the N-channel MOS transistor NIIIN+
(2) The charge in the capacitor C1 is rapidly discharged via N1G, and the output section A falls to the ground level.

このように、上記遅延回路の遅延時間は、Pチャネル型
MOSトランジスタP.又はNチャネル型MOSトラン
ジスタN+tのオン抵抗とコンデンサCjの容量との時
定数により決定される。
In this way, the delay time of the delay circuit is determined by the delay time of the P-channel MOS transistor P. Alternatively, it is determined by the time constant of the on-resistance of the N-channel MOS transistor N+t and the capacitance of the capacitor Cj.

[発明が解決しようとする課題コ しかしながら、上述した従来の遅延回路においては、電
源電圧、温度又はスレッショルド電圧に変動が起こった
場合に、コンデンサC1に対する充電不足又は放電不足
が発生して入力信号の遅延時間TPLIIと遅延時間T
putとが相対的に大きく変化し、これにより、入力波
形に対する出力波形のデューティ比に変化が生じるとい
う問題点がある。また、遅延時間T PIIL I T
 ptoを一つのインバータ回路によって決定している
ため、所望する遅延時間の遅延回路の設計が困難である
という問題点がある。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional delay circuit described above, when a change occurs in the power supply voltage, temperature, or threshold voltage, insufficient charging or discharging of the capacitor C1 occurs, causing the input signal to change. Delay time TPLII and delay time T
There is a problem that there is a relatively large change in the output waveform, which causes a change in the duty ratio of the output waveform with respect to the input waveform. Also, the delay time T PIIL I T
Since pto is determined by one inverter circuit, there is a problem in that it is difficult to design a delay circuit with a desired delay time.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
立上り時及び立下り時の遅延時間の相対変化が少なく、
所望する遅延時間を容易に設定することができる遅延回
路を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such problems, and includes:
There is little relative change in delay time at rise and fall,
It is an object of the present invention to provide a delay circuit that can easily set a desired delay time.

[課題を解決するための手段コ 本発明に係る遅延回路は、正電源と負電源との間にPチ
ャネル型MOSトランジスタ及びNチャネル型MOSト
ランジスタが相補対接続されてなるインバータ回路が4
段縦続接続されて構成され、第1段のインバータ回路は
、そのPチャネル型MOSトランジスタがそのNチャネ
ル型MOSトランジスタに比して小さいオン抵抗を有し
、第3段のインバータ回路は、そのNチャネル型MOS
LランジスタがそのPチャネノレ型MOSトランジスタ
に比して小さいオン抵抗を有することを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] The delay circuit according to the present invention includes four inverter circuits each having a complementary pair of P-channel MOS transistors and N-channel MOS transistors connected between a positive power source and a negative power source.
The inverter circuit of the first stage has a smaller on-resistance than the N-channel MOS transistor, and the inverter circuit of the third stage has a smaller on-resistance than that of the N-channel MOS transistor. Channel type MOS
The L transistor is characterized in that it has a smaller on-resistance than its P-channel MOS transistor.

[作用コ 本発明においては、入力信号がハイレベルになると、第
1段のインバータ回路のNチャネル型MOSトランジス
タがオンする。この第1段のNチャネル型MOSトラン
ジスタは駆動能力が小さい?め、その出力信号の立下り
に比較的長い時問を要する。この時間が立上り時の遅延
時間TPL■となる。従って、TpL■はこの第1段の
Nチャネル型MOSトランジスタの駆動能力により決定
される。この信号は第2段乃至第4段のインバータ回路
で順次反耘されて、出力端子OUTを介して出力される
[Operations] In the present invention, when the input signal becomes high level, the N-channel MOS transistor of the first stage inverter circuit is turned on. Does this first-stage N-channel MOS transistor have low driving capability? Therefore, it takes a relatively long time for the output signal to fall. This time becomes the delay time TPL■ at the time of rising. Therefore, TpL■ is determined by the driving ability of this first stage N-channel type MOS transistor. This signal is sequentially inverted by the second to fourth stage inverter circuits and output via the output terminal OUT.

また、入力信号がローレベルになると、第3段のインバ
ータ回路にはローレベルの信号が入力される。そうする
と、第3段のインバータ回路のPチャネル型MOSトラ
ンジスタがオンする。この第3段のインバータ回路のP
チャネル型MOSトランジスタは駆動能力が小さいため
、その出力信号の立上りに比較的長い時間を要する。こ
の時間が立下り時の遅延時問TPIILとなる。従って
、TPIILはこの第3段のPチャネル型MOSトラン
ジスタの駆動能力により決定される。この信号は第4段
のインバータ回路で反転されて、出力姻子OUTを介し
て出力される。
Furthermore, when the input signal becomes low level, the low level signal is input to the third stage inverter circuit. Then, the P-channel type MOS transistor of the third stage inverter circuit is turned on. P of this third stage inverter circuit
Since the channel type MOS transistor has a small driving capability, it takes a relatively long time for its output signal to rise. This time becomes the delay time TPIIL at the time of falling. Therefore, TPIIL is determined by the driving ability of this third stage P-channel type MOS transistor. This signal is inverted by the fourth stage inverter circuit and output via the output terminal OUT.

このように、本発明においては、遅延時間? pLI1
を決定するインバータ回路と、遅延時間TPIILを決
定するインバータ回路とが異なる。このため、入力信号
の立上りの際には、遅延時間T’pt.■に関与しない
第3段のインバータ回路の出力端は速やかに放電され、
入力信号の立下りの際には、遅延時間TIIIILに関
与しない第1段のインバータ回路の出力端は速やかに充
電される。従って、第1段及び第3段のインバータ回路
は、共に基準電位からの放電及び充電を行うので、電源
電圧、温度又はトランジスタのスレッシθルド電圧が変
化した場合でも、遅延時間TPLN及びT’pnz.が
相対的に変化することがない。また、遅延時間TPLI
IとTPIILとを異なるインバータによって夫々独立
に設定できるので、遅延時間の設計が容易になる。
In this way, in the present invention, the delay time? pLI1
The inverter circuit that determines the delay time TPIIL is different from the inverter circuit that determines the delay time TPIIL. Therefore, when the input signal rises, the delay time T'pt. The output terminal of the third stage inverter circuit that is not involved in ■ is immediately discharged,
When the input signal falls, the output terminal of the first stage inverter circuit, which is not involved in the delay time TIIIL, is quickly charged. Therefore, since both the first and third stage inverter circuits discharge and charge from the reference potential, even if the power supply voltage, temperature, or threshold voltage of the transistor changes, the delay times TPLN and T'pnz .. does not change relatively. Also, the delay time TPLI
Since I and TPIIL can be set independently using different inverters, it is easy to design the delay time.

[実施例コ 次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する 第1図は本発明の実施例に係る遅延回路を示す回路図で
ある。
Embodiment Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a circuit diagram showing a delay circuit according to an embodiment of the present invention.

第1図に示すように、この遅延回路は、入力端子INと
出力端子OUTとの間に4つのCMOSインバータ回路
I.,I。+  I3+  14が縦続接続されて構成
されている。
As shown in FIG. 1, this delay circuit includes four CMOS inverter circuits I. ,I. +I3+14 are connected in cascade.

CMOSインバータ回路I.乃至I4は夫々電源V。D
と接地GNDとの間に相浦対接続されたPチャネル型M
OSトランジスタP1及びNチャネル型MOSトランジ
スタN.1Pチャネル型MOSトランジスタP2及びN
チャネル型MOSトランジスタN2、Pチャネノレ型M
OSトランジスタP3及びNチャネル型MOSトランジ
スタN,並びにPチャネル型MOSトランジスタP4及
びNチャネル型MOSトランジスタN4により構成され
ている。
CMOS inverter circuit I. thru I4 are respective power supplies V. D
P-channel type M connected to Aiura pair between and ground GND
OS transistor P1 and N-channel MOS transistor N. 1P channel type MOS transistor P2 and N
Channel type MOS transistor N2, P channel type M
It is composed of an OS transistor P3 and an N-channel type MOS transistor N, as well as a P-channel type MOS transistor P4 and an N-channel type MOS transistor N4.

また、Pチャネル型MOSトランジスタP+は、Nチャ
ネル型MOSトランジスタNlに比して、そのオン抵抗
が小さく、つまり駆動能力が高く設定されている。Nチ
ャネル型MOSトランジスタN3はPチャネル型MOS
トランジスタP3に比して、そのオン抵抗が小さく、つ
まり駆動能力が高く設定されている。Pチャネル型MO
SトランジスタP2l P4及びNチャネル型MOSト
ランジスタN..N4の駆動能力は略等しく設定されて
いる。
Furthermore, the P-channel MOS transistor P+ has a smaller on-resistance, that is, is set to have a higher driving capability, than the N-channel MOS transistor Nl. N-channel type MOS transistor N3 is P-channel type MOS
Compared to the transistor P3, its on-resistance is set to be lower, that is, its driving ability is set higher. P channel type MO
S transistor P2l P4 and N channel type MOS transistor N. .. The driving capabilities of N4 are set to be approximately equal.

このようにIvi成された遅延回路においては、入力端
子INに人力された入力信号がハイレベルになると、第
1段のCMOSインバータ回路1.のNチャネル型MO
SトランジスタNlがオンする。
In the Ivi-configured delay circuit as described above, when the input signal input to the input terminal IN becomes high level, the first stage CMOS inverter circuit 1. N-channel MO
S transistor Nl is turned on.

Nチャネル型MOSトランジスタN1は駆動能力が小さ
いため、その出力信号の立下りに比較的長い時間を要す
る。
Since the N-channel type MOS transistor N1 has a small driving capability, it takes a relatively long time for its output signal to fall.

しかし、CMOSインバータ回路I,の出力レベルが次
段のCMOSインバータ回路I2の入力スレッシaルド
レベルを超えると、次段以降のCMOSインバータ回路
I2.I3,I4は急速にその出力状態を変化させる。
However, when the output level of the CMOS inverter circuit I, exceeds the input threshold level of the next-stage CMOS inverter circuit I2, the next-stage CMOS inverter circuit I2. I3 and I4 rapidly change their output states.

従って、この立上り時の遅延時間TPLI1は第1段の
CMOSインバータ回路I,の出力変化の時間により決
定される。
Therefore, the delay time TPLI1 at the time of rising is determined by the time of output change of the first stage CMOS inverter circuit I.

また、入力信号がローレベルになると、第1段及び第2
段のCMOSインバータ回路I,,I2は急速にその出
力状態を変化させ、第3段のCMOSインバータ回路I
3のPチャネル型MOSトランジスタP3がオンする。
Also, when the input signal becomes low level, the first stage and second stage
The CMOS inverter circuits I, I2 of the stages rapidly change their output states, and the CMOS inverter circuits I, I2 of the third stage rapidly change their output states.
No. 3 P-channel type MOS transistor P3 is turned on.

しかし、Pチャネル型MOSI−ランジスタP3は駆動
能力が小さいため、その出力信号の立上りに比較的長い
時間を要する。従って、遅延時間TPIILは第3段の
CMOSインバータ回路I3により決定される。
However, since the P-channel MOSI transistor P3 has a small driving capability, it takes a relatively long time for its output signal to rise. Therefore, the delay time TPIIL is determined by the third stage CMOS inverter circuit I3.

第2図は本発明の実施例に係る遅延回路の動作をシミュ
レーシロンした結果を示すグラフ図であり、測定点は第
1図中のCMOSインバータ回路r.,I..IIの出
力端である節点a+  b+  Cと入力端子IN及び
出力端子OUTである。横軸には経過時間、縦軸には電
圧を示す。第2図から明らかなように、入力信号がロー
レベルからハイレベルに変わるとき、遅延時間TPLI
1は節点aの電圧、即ち、CMOSインバータ回路I,
により決定されている。また、入力信号がハイレペルか
らローレベルに変わるとき、遅延時間T PHLは節点
Cの電圧、即ち、CMOSインバータ回路I3により決
定されている。
FIG. 2 is a graph showing the results of simulating the operation of the delay circuit according to the embodiment of the present invention, and the measurement points are the CMOS inverter circuit r. ,I. .. These are the nodes a+ b+ C which are the output terminals of II, the input terminal IN, and the output terminal OUT. The horizontal axis shows elapsed time, and the vertical axis shows voltage. As is clear from Fig. 2, when the input signal changes from low level to high level, the delay time TPLI
1 is the voltage at node a, that is, the CMOS inverter circuit I,
It is determined by Furthermore, when the input signal changes from high level to low level, the delay time T PHL is determined by the voltage at node C, that is, by the CMOS inverter circuit I3.

?た、節点aへの充電及び節点Cからの放電は急速に行
われるので、節点al  Cは常に基準となる電位(V
oD,GND)から放電及び充電される。
? In addition, since charging to node a and discharging from node C occur rapidly, node alC is always at the reference potential (V
oD, GND).

このため、電源電圧、温度又はトランジスタのスレッシ
ョルド電圧が変動した場合でも、遅延時間T PLII
 I T pIILの相対変化が少なく、デューティ比
の変動を防止することができる。
Therefore, even if the power supply voltage, temperature, or transistor threshold voltage fluctuates, the delay time T PLII
There is little relative change in I T pIIL, and fluctuations in the duty ratio can be prevented.

更に、遅延時間T PLIIとT PIILとを夫々C
MOSインバータ回路Il,I3によって個別に設定で
きるので、遅延時間の設計が容易になる。また、CMO
Sインバータ回路I2又はCMOSインバ・ータ回路I
4により遅延時間T PLII I T potの両者
を決定することも可能である。
Furthermore, the delay times T PLII and T PIIL are respectively C
Since the delay time can be set individually using the MOS inverter circuits Il and I3, it becomes easy to design the delay time. Also, CMO
S inverter circuit I2 or CMOS inverter circuit I
It is also possible to determine both the delay times T PLII I T pot using 4.

[発明の効果コ 以上説明したように本発明によれば、遅延回路の遅延時
間TPL■及びT PIILを決定するインバータ回路
が異なっている。これにより、所望する遅延時間の遅延
回路を設計することが容易である。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, the inverter circuits that determine the delay times TPL and TPIIL of the delay circuit are different. This makes it easy to design a delay circuit with a desired delay time.

また、遅延時間の電源電圧、温度又はトランジスタのス
レッシaルド電圧に変動が生じても、遅延?間のT P
to及びTpot.が相対的に変化することを抑制する
ことができるため、デューティ比の変動を防止すること
できる。
Also, even if there is a variation in the power supply voltage, temperature, or transistor threshold voltage during the delay time, the delay may be delayed. T between
to and Tpot. Since it is possible to suppress relative changes in the duty ratio, fluctuations in the duty ratio can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の実施例に係る遅延回路を示す回路図、
第2図はその遅延回路のシミュレーション結果を示すグ
ラフ図、第3図は従来の遅延回路を示す回路図である。 If,I2,I。+  I41  1+s+  I+■
; CMOSインバータ回路、P+t  P21  P
31  P41P +1+  P 121  P Il
l  P 14 : Pチャネル型MOSトランジスタ
、N r + N2 r N3 + N4 + N l
l+N1■+ N ,3+ N 14 1 Nチャネル
型MOSトランジスタ、C1 ;コンデンサ、IN;入
力端子、OUT;出力端子
FIG. 1 is a circuit diagram showing a delay circuit according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a graph diagram showing simulation results of the delay circuit, and FIG. 3 is a circuit diagram showing a conventional delay circuit. If, I2, I. + I41 1+s+ I+■
; CMOS inverter circuit, P+t P21 P
31 P41P +1+ P 121 P Il
l P14: P-channel MOS transistor, N r + N2 r N3 + N4 + N l
l+N1■+N,3+N14 1 N-channel MOS transistor, C1; capacitor, IN: input terminal, OUT: output terminal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)正電源と負電源との間にPチャネル型MOSトラ
ンジスタ及びNチャネル型MOSトランジスタが相補対
接続されてなるインバータ回路が4段縦続接続されて構
成され、第1段のインバータ回路は、そのPチャネル型
MOSトランジスタがそのNチャネル型MOSトランジ
スタに比して小さいオン抵抗を有し、第3段のインバー
タ回路は、そのNチャネル型MOSトランジスタがその
Pチャネル型MOSトランジスタに比して小さいオン抵
抗を有することを特徴とする遅延回路。
(1) Four stages of inverter circuits each having a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor connected in complementary pairs are connected in cascade between a positive power source and a negative power source, and the first stage inverter circuit is as follows: The P-channel MOS transistor has a smaller on-resistance than the N-channel MOS transistor, and in the third stage inverter circuit, the N-channel MOS transistor has a smaller on-resistance than the P-channel MOS transistor. A delay circuit characterized by having an on-resistance.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5453709A (en) * 1993-07-20 1995-09-26 Sharp Kabushiki Kaisha Constant CMOS delay circuit
US6300813B1 (en) 1998-10-07 2001-10-09 Nec Corporation Delay circuit

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