JPH02273445A - 走査型電子顕微鏡 - Google Patents

走査型電子顕微鏡

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JPH02273445A
JPH02273445A JP1094967A JP9496789A JPH02273445A JP H02273445 A JPH02273445 A JP H02273445A JP 1094967 A JP1094967 A JP 1094967A JP 9496789 A JP9496789 A JP 9496789A JP H02273445 A JPH02273445 A JP H02273445A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は走査型電子顕微鏡に関するものであり、特に試
料室低圧力の気体を導入する走査型電子顕微鏡(以下、
ESEMという)に関するものである。
〔従来の技術] 従来のESEMは、圧力制限アパーチャによって電子銃
室と試料室とを分離し、電子銃室は高真空に保ち、試料
室には酸素や窒素等の低圧力の気体を導入している。そ
して、電子銃室には電子銃、集束装置、偏向装置を設け
、電子銃から放出された電子線を集束、偏向させて圧力
制限アパーチャから試料室に導入し、試料室内に設けた
ターゲット(試料)を照射している。ターゲットから発
生した2次電子は、電極にて捕獲されるが、ターゲット
と電極との間に介在する気体の分子が2次電子によりイ
オン化され、一種の増幅作用が行われる。(例えば気体
として酸素を用いた場合、0□→−C−→04+0+2
 e−) 電極は2次電子を効率的に捕獲するように、ターゲy 
l・に対して適当な正電圧が印加され、電極に流れる電
流は電流増幅器□等を通って検出される。
以上説明したようなESEMは、例えば、アメリカ特許
節4,785,1.82明細書に記載されている二 〔発明が解決しようとする課題〕 しかしながら、2次電子検出用の電極が圧力制限アパー
チャとターゲットの間にある従来の構成では、1次電子
が低圧力の気体により散乱され、電子線の径が大きくな
ってしまう。
一方、気体で散乱されないままターゲットまで到達する
電子線は、径が小さいままターゲットに入射するため、
この電子線のみが細いプローブとして価値がある。この
非散乱電子線は気体の圧力増加、電子の走る距離が長く
なると強度が小さくなる、という問題点がある。
すなわち、気体で散乱されないでターゲラ1−に入射す
る電子の量は、気体の圧力Pと、1次電子が気体中を走
る距離D(圧力制限アパーチャとターゲットの距離)と
の積P−Dに依存している。
従って、1次電子の散乱で失う景を小さく抑えようとす
れば、圧力制限アパーチャからターゲットまでの距離り
を短くするか、気体の圧力Pを小さくする必要がある。
他方、ターゲットからの2次電子が気体と衝突して気体
をイオン化させることにより、効率良く2次電子を増幅
させるためには、P−D’  (ただし、D゛は2次電
子がターゲットを出てから電極に捕獲されるまでに進む
距離)に最適値がある。
従って、1次電子に対する上述の条件と2次電子に対す
る上述の条件とは、圧力制限アパーチャとターゲットの
間に2次電子検出用の電極を置く限り(D=D’ )、
共に満足させることは難しい。
そこで、2次電子検出用の電極を対物レンズの外側に配
設することが考えられる。このように構成すれば、圧力
制限アパーチャとターゲットとの距離を短くしたり、両
者の間の気体の圧力を小さくしても、電極の位置は比較
的自由に決定できるので、例えば圧力の小さい気体でも
所望の増幅効果の得られる位置に電極を配設することも
可能となる。
しかしながら、電極を対物レンズの外側に配設する構成
では、スペースを確保するため、対物I/ンズの上極と
下極との間の開き角を小さくする必要があり、磁束が上
極と下極との間で漏れ、大きいアンペアターン(AT)
のコイルを用意しなければならないと共に、磁極が飽和
する可能性が大きくなる。
そこで本発明は、1次電子を散乱で失うことなく2次電
子増幅を有効に行なうと共に、小型の電子顕微鏡を得る
ことを目的とする。
〔課題を解決する為の手段] 本発明は、電子銃からの電子線を圧力制限アパーチャを
通して低圧力の気体中にあるターゲットに照射して走査
し、前記ターゲットからの2次電子を2次電子検出器で
検出する電子光学系、を有する走査型電子顕微鏡におい
て、前記電子光学系の対物レンズを上極をボーア径の比
較的小さい磁極として構成すると共に、前記対物レンズ
の下極をボーア径の比較的大きい磁極として構成し、前
記上極と前記下極との端部の間に前記2次電子検出器の
少なくとも一部を配設したことを特徴とする走査型電子
顕微鏡である。
また前記2次電子検出器は、前記電子光学系の軸を中心
としたリング状の電極を、前記軸方向へずらせて複数配
設して構成され、それぞれの電極を前記ターゲットに対
して正の等電位としたことを特徴とする走査型電子顕微
鏡である。
さらに、前記電極は、前記上極の先端近傍と前記下極の
先端近傍とに少なくともそれぞれ1つずつ設けられ、そ
れぞれの電極と磁極との間には放電防止用の絶縁膜を介
在せしめたことを特徴とする走査型電子顕微鏡である。
さらにまた、電子銃からの電子線を圧力制限アパーチャ
を通して低圧力の気体中にあるターゲットに照射して走
査し、前記ターゲットからの2次電子を2次電子検出器
で検出する電子光学系、を有する走査型電子顕微鏡にお
いて、前記2次電子検出器として前記ターゲットに対し
て正の電位を与えられた電極を用い、前記電極による等
電位面の方向が前記電子光学系の対物レンズによる磁界
の方向のほぼ平行となるように前記電極を配設したこと
を特徴とする走査型電子顕微鏡である。
〔作用〕
本発明では、対物レンズの下極のボーア径(穴径)は比
較的大きく、上極のボーア径(穴径)は比較的小さいた
め、これらの磁極が作る磁極分布はこのレンズの焦点距
離と同程度となり、極端に強励磁で磁極を飽和させるこ
とはなく、また極端に弱励磁で球面収差係数を大きくさ
せることはない。なお、この場合さらに、上極を電子光
学系の軸と小さい角度を持つ円錐形とし、下極を電子光
学系の軸と直交する平面内にすることによって、上極と
下極のボーア径部以外での距離をかなり大きく取れるよ
うになり、無駄な磁束が漏れることがなくなる。
いずれにしても、このようなレンズ磁極構造のため、両
磁極の間に広い空間が確保できるので、検出器電極ある
いはシンチレータ等の検出器を設けることができる。
また、2次電子検出器を電子光学系の軸を中心とするリ
ング状の複数の電極から構成し、これら複数の電極の各
々は電子光学系の軸とターゲットとの交点位置からほぼ
等距離の位置にあるように径と位置とが選択されると共
に、相互に接続され、ターゲットに対して正電位を与え
て構成することにより、2次電子が電極の近傍を多重走
行し易くなるため、気体に衝突する機会が増加し、効率
的に増幅作用が行なえる。
また、電極と磁極との間に放電防止用の絶縁膜を介在せ
しめたので、電極に比較的大きな正の電位を与えても、
磁極との間で放電の生ずることもない。
さらに、ターゲットに対して正の電位を与えられた電極
を対物レンズによる磁界中に配設することにより、ター
ゲットからの2次電子が電界で加速されると速度を持つ
ため、対物レンズによる磁界によって螺旋運動させられ
る。2次電子は、もし気体分子と衝突しなければ、ずっ
と磁束に捕捉された状態で螺旋運動しながら磁界に沿っ
て往復運動する。しかしながら、低圧力の気体が存在す
るため、2次電子は気体分子と衝突して、気体分子をイ
オン化すると共に、エネルギーを失うため、その磁界か
らは解放され、電極による電界に引っ張られて電極によ
り近い場所まで移動し、エネルギーを得て再びそこの磁
界に捕捉され、磁界に沿った往復運動を行なう。このよ
うに、2次電子は磁界に沿って往復運動をしつつ徐々に
電極に近づいて行き、ついには電極に捕獲される。
〔実施例] 第1図は本発明の第1実施例の電子光学系を示す図であ
る。
電子銃1を出た電子線は、排気管2aを介して不図示の
ポンプにより排気され高真空に維持された電子銃室2を
進み、コンデンサレンズ3及び対物レンズ11で必要な
径に絞られ、ターゲット16に照射される。ターゲット
16に照射される電子線は偏向器4a、4bにより2次
元的に走査される。電子銃室2の先端には圧力制限アパ
ーチャ12が形成され、ターゲットの置かれた試料室1
7が連結している。
試料室17には低圧力の気体(酸素、窒素等)が不図示
の導入管、バルブ等を介して導入されるが、圧力制限ア
パーチャ12がらターゲット16までの間に検出器等が
ないため、それらの間の距離を短く設定することができ
、電子銃1がら出た電子(1次電子)が低圧力の気体と
衝突することによる散乱電子の量は、気体の圧力が小さ
いこともあって、十分小さ(できる。
対物レンズ11は、電子光学系の軸!に対して小さい角
度ψを存し、かっボーア径(穴径)の比較的小さい磁極
である上極8と、ボーア径の比較的大きい磁極である下
極9とを有する。
電極14a、1.4 b、電子光学系の軸2を中心とす
るリング状に形成されており、電極14aは放電防止シ
ート15 aを介して」二極8先端に近接して配設され
、電極1.4 bは放電防止シート15bを介して下極
9先端に近接して配設されている。
そして、電極14a、14bは、電子光学系の軸!とタ
ーゲット16との交点位置からほぼ等距離の位置に置か
れているため、電極14aの径に比し電極14bの径が
大きくなっている。これら電極14a、1.4 bは互
いに連結されて電気的に一体になっていると共に、ター
ゲット16に対して正の電位が与えられている。
1次電子がターゲット16に衝突することによって、タ
ーゲット16から放出された2次電子ば、電極14’a
、14bの方向に引かれるが、電極14a、14bが2
つの方向にあるため、ずくに電極14a、14bには入
らず、2つの電極1.4 a、14bによる電界の方向
と2次電子の有するエネルギーとの関係で、符号13で
示したように電極14a、14bを結んだ面にほぼ直交
する方向で往復運動し、気体と衝突してエネルギーが小
さくなってから電極14a、14bに捕獲される。
従って、圧力制限アパーチャ12とターゲット16の間
隔を短くしたにもかかわらず、2次電子の走行距離を短
くすることがなく、むしろ2次電子の往復運動により走
行距離を長くできるので、2次電子が気体と衝突する機
会が増え、気体分子のイオン化による十分な増幅作用を
得ることができる。この場合、さらに細かく見れば、2
次電子は磁場中を運動することになるので、実際の電子
の軌道は電界のみによる符号13の軌道のまわりを螺旋
運動しながらすすむことになり、実際には走行距離がよ
り長くなっている。
なお、2次電子が気体と衝突して作る電子、イオンベア
の数は、2次電子が失うエネルギーに比例するので、電
極14a、1.4bには大きい電圧が印加できた方が存
利なため(エネルギーは電極14a、14bに印加され
る電圧の大きさに依存している)、電極14a、14b
は円形断面の金属線を同軸円形に整形して作ることが好
ましい。
そして、ターゲット16、磁極8.9等はアース電位に
設定されているので、電極14a、14bと近接してい
る磁極8.9と電極14a、14bとの間で放電が生じ
る可能性があるが、薄い絶縁膜のシート15 a、15
bがこれらの放電を防止している。
また、上述の磁極8.9の構造により、2つの磁極8.
9の間には広い空間が確保されるので、シンチレータ5
やライトガイド6を配設することもできる。なお、ライ
トガイド6に結合した符号7の部材はフォトマルである
さらに、符号10は電子光学系の軸!を中心とした円筒
状に設けられた真空シールを示しているが、真空シール
10の内径を対物レンズ11による制約の範囲内で最大
の大きさになせば、2次電子の軌道を遠くまで延ばすこ
とも可能で、−往復の軌道長を大きくできる。
第2図は本発明の第2実施例の要部を示す図であって、
対物レンズの先端部分を拡大して示した図であり、第1
図と同符号のものは同一機能の部材を示している。
第2図の実施例が第1図の実施例と大きく異なる点は、
第2図の実施例が電極14a、14bに関してターゲッ
ト16の反対側に先窄まりの金属部品(等電位面を順次
先細りにする部材)20を付加したことにある。
この金属部品20は、磁極8.9、圧力制限アパーチャ
部材120、ターゲット16等と同様にアース電位にな
っており、電極14a、14bから離れた位置での等電
位面は、第2図に示したように金属部品20の内側に沿
うように延びていき、その結果、第2図に点線19で示
した如く、電極14a、14bを結ぶ面のほぼ中心を通
り、金属部品20の最奥部に向かってポテンシャルの尾
根ができる。また、電極14a、14bに関してターゲ
ット16側にも、圧力制限アパーチャ部材120とター
ゲノl□ 16とによってあたかも金属部品20を設け
たのと同じような効果が得られる結果、電子光学系の軸
lとターゲット16とのほぼ交点位置に向かってポテン
シャルの尾根19ができる。
従って、ターゲット16から出た2次電子は、ポテンシ
ャルの尾根に集まる傾向を示し、軌道が拡がらないので
、多重走行し易くなり、2次電子を有効に電極14.a
、14bに捕獲させることができる。その結果、電極1
4a、14bから得られる検出電流が太きくS/Hの良
好な信号が得られる。
なお、以上の説明では、リング状の2つの電極を電気的
に連結して検出器を構成したが、リング状の複数の電極
を用いてもよく、また、1つの電極を螺旋状に設けても
良いし、さらに、軸中心の円周上の一部に設けた電極で
もよい。
第3図は本発明の第3実施例の要部を示す図であって、
対物レンズの先端部分を拡大して示した図であり、第1
図と同符号のものは同一機能の部材を示している。
第3図の実施例が第1図の実施例と大きく異なる点は、
第3図の実施例がターゲット16に対して正の電位を与
えられた電極30a、30bを有する。電極30a、3
0bは、電子の捕捉面を有し、この捕捉面を対物レンズ
による磁界の方向と平行になるように配設することによ
り、電極30a、30bによる等電位面の方向は対物レ
ンズ(上側磁極8と下側磁極9が図示されている)によ
る次回の方向と平行となる。
その結果、ターゲット16から出た2次電子(e−)は
、電界に引っ張られて電極30a、30bの方向へ進む
が、2次電子は電界で加速されると速度を持つため、対
物レンズ(磁極8.9)による磁界(図には欠伸の破線
で示した)によって螺旋運動させられる。2次電子はも
し気体分子と衝突しなければ、ずっと磁束に捕捉された
状態で螺旋運動しながら磁界に沿って往復運動する。
しかしながら、2次電子の運動空間には低圧力の気体が
存在するため、2次電子は気体分子と衝突して気体分子
をイオン化する(02 +e−→0゛+0+2e” )
と共に、エネルギーを失うため、捕捉されていた磁界か
ら解放され、電極30a、30bによる電界に引っ張ら
れて電極30a、30bにより近い場所まで移動し、エ
ネルギーを得て再びそこの磁界に捕捉され、磁界に沿っ
た往復運動を行なう。このように、2次電子は磁界に沿
って往復運動をしつつ徐々に電極30a、30bに近づ
いていき、ついには電極30a、30bに捕捉される。
2次電子が気体分子に衝突することにより、気体分子が
イオン化されて生じた電子も同」二の動作によって電極
30a、30bに捕捉される。すなわち、2次電子は磁
界の強さと、電界の強さと、気体の圧力とで定まる距離
移動してから、はとんどエネルギーを失った状態で電極
30a、30bに捕捉される。
その結果、2次電子と気体分子との衝突の機会は増大し
、効率の良い増幅が行なえる。
また、気体の圧力が低(なると2次電子は気体分子と衝
突する確率が減少するが、第3図の構成では、2次電子
が螺旋を描きながら往復運動する回数が増えるのみで、
最終的に電極に捕捉されるときは、はぼ同じエネルギー
になっているので、気体に与えるエネルギーは圧力が低
下する前とほぼ等しくなり、圧力が低下する前と同程度
のイオン−電子対が得られ、増幅効率はそれほど変動し
ない。逆に気体の圧力が高(なると2次電子は気体分子
と衝突する確率が増加するので、2次電子の往復運動の
回数は減少するが、気体に与えるエネルギーは圧力が高
くなる前とほぼ等しく、その結果、圧力が低下する前と
同程度のイオン−電子対が得られ、増幅効率はそれほど
変動しない。
なお、第3図では、電極30a、30bを180度対向
位置に設けた例を上げたが、方向圧を無くすために、図
と直交する180度対向位置にさらに電極を設けてもよ
く、さらに、電子光学系の軸!を中心としたリング状に
設けてもよい。
また、以上の実施例では電極30a、30bによる等電
位面の方向が対物レンズによる磁界の方向と平行になる
ように電極30a、30bを配設したが、等電位面の方
向の磁界の方向とが平行な場合には、最も効率が良いが
、電極の位置は、磁界に捕らえられながら、徐々に電極
に近づいていくような作用を電子に与える範囲内のほぼ
平行な位置まで拡張して考えることができる。
さらに、対物レンズの上極と下極とのボーア径がほぼ等
しいような場合には、磁界が下極の下側にも生じるので
、電極を下極の下側の磁界中に置くこともできる。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、1次電子を散乱で失
うことな(2次電子増幅を有効に行ないうるばかりでな
く以下のような効果がある。
(イ)対物レンズの上極のボーア径が小さいため、電子
光学系の軸」二の磁場の分布の半値幅を小さくでき、小
さい焦点距離の対物レンズが実現できる。
(ロ)レンズ上極と下極の間に広い空間ができるので、
この内部に2次電子検出器を無理なく設けられる。
(ハ)レンズの上極と下極の開き角を大きくできるので
、両極間の磁束の漏れが少なくなり、薄い磁極でも飽和
が生じない。また磁束を有効に軸上に集められるので、
励磁コイルのATを小さくできる。
(ニ)2次電子が磁場中で螺旋軌道を取るため、気体と
衝突する確率が増え、大きい検出電流が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例の電子光学系を示す図、第
2図は本発明の第2実施例の電子光学系の要部を示す図
、第3図は本発明の第3実施例の電子光学系の要部を示
す図、である。 〔主要部分の符号の説明〕 8・・・対物レンズの上極、 9・・・対物レンズの下極、 14a、14b、30a、30 b ・・・電極20・
・・金属部品。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)電子銃からの電子線を圧力制限アパーチャを通し
    て低圧力の気体中にあるターゲットに照射して走査し、
    前記ターゲットからの2次電子を2次電子検出器で検出
    する電子光学系、を有する走査型電子顕微鏡において、 前記電子光学系の対物レンズの上極をボーア径の比較的
    小さい磁極として構成すると共に、前記対物レンズの下
    極をボーア径の比較的大きい磁極として構成し、前記上
    極と前記下極との端部の間に前記2次電子検出器の少な
    くとも一部を配設したことを特徴とする走査型電子顕微
    鏡。
  2. (2)前記2次電子検出器は、前記電子光学系の軸を中
    心としたりリング状の電極を、前記軸方向へずらせて複
    数配設して構成され、それぞれの電極を前記ターゲット
    に対して正の等電位としたことを特徴とする請求項(1
    )記載の走査型電子顕微鏡。
  3. (3)前記電極は、前記上極の先端近傍と前記下極の先
    端近傍とに少なくともそれぞれ1つずつ設けられ、それ
    ぞれの電極と磁極との間には放電防止用の絶縁膜を介在
    せしめたことを特徴とする請求項(2)記載の走査型電
    子顕微鏡。
  4. (4)電子銃からの電子線を圧力制限アパーチャを通し
    て低圧力の気体中にあるターゲットに照射して走査し、
    前記ターゲットからの2次電子を2次電子検出器で検出
    する電子光学系、を有する走査型電子顕微鏡において、 前記2次電子検出器として前記ターゲットに対して正の
    電位を与えられた電極を用い、前記電極による等電位面
    の方向が前記電子光学系の対物レンズによる磁界の方向
    とほぼ平行となるように前記電極を配設したことを特徴
    とする走査型電子顕微鏡。
JP1094967A 1989-04-14 1989-04-14 走査型電子顕微鏡 Expired - Lifetime JP2787084B2 (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999030345A1 (en) * 1997-12-08 1999-06-17 Philips Electron Optics B.V. Environmental sem with a magnetic field for improved secondary electron detection
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