JPH02270083A - 図形ぬりつぶし方法 - Google Patents

図形ぬりつぶし方法

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JPH02270083A
JPH02270083A JP1092296A JP9229689A JPH02270083A JP H02270083 A JPH02270083 A JP H02270083A JP 1092296 A JP1092296 A JP 1092296A JP 9229689 A JP9229689 A JP 9229689A JP H02270083 A JPH02270083 A JP H02270083A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、図形生成装置において二次元画像メモリに記
憶された閉・線図形の内部をぬりつぶす図形ぬりつぶし
方法に関する。
〔従来の技術〕
四角形、三角形、星型などの多角形を構成する閉・線図
形の頂点座標値をコンピュータ等の上位装置から受は取
ることにより、二次元画像メモリ上の上記各頂点座標値
に相当する画素および頂点座標値間をつなぐ線上に存在
する画素を有為画素(例えば白黒画像では黒画素)に書
き換えて閉・線図形を二次元画像メモリ上に生成し、こ
れをCRT等のTV走査型表示装置の画面に表示すると
いった図形生成装置が、従来から知られている。
このような閉・線図形は、その内部をぬりつぶして表示
した方が表示内容が鮮明になる等、好ましい場合があり
、従来は、次のようにして図形のぬりつぶしを行ってい
た。
例えば、二次元画像メモリ上に第8図に示すような頂点
a、b、c、dを持つ閉・線図形が生成された場合、画
像の走査方向をX軸の土方向とすると、まず頂点aと頂
点すとをつなぐ線分abおよび頂点Cと頂点dとをつな
ぐ線分cdの式を求め、線分abと各走査線との交点を
ぬりつぶし開始点、その走査線と線分cdとの交点をぬ
りつぶし終了点として記憶し、各走査線においてぬりつ
ぶし開始点からぬりつぶし終了点までの間の画素を有為
画素に書き換えることで同図の領域Aの部分をぬりつぶ
す。その後、同様にして領域Bの部分をぬりつぶす。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来は上述したようにして閉・線図形のぬりつぶしを行
っていたが、次のような問題点があった。
(1)生成すべき閉・線図形に関して与えられる頂点座
標値から閉・線図形を構成する線分の式を求めなければ
ならず、また必要に応じて閉・線図形を複数の領域に分
割する必要がある。従って、形状が複雑になると処理時
間が著しく増大する。
(2)二次元画像メモリの1画面分の領域に独立した複
数の閉・線図形が生成されている場合、1つの走査線が
複数の閉・線図形を横切ることになる。
他方、ぬりつぶし開始点、終了点を保持する手段は通常
1組しかないので、全ての閉・線図形を一括して処理し
得ず、各々の閉・線図形毎にぬりっぶし処理を行うこと
から、ぬりつぶしに時間がかかる。
本発明はこのような従来の問題点を解決したものであり
、その目的は、各々独立した複数の閉・線図形を一括し
てぬりつぶすことができ、然も形状が複雑になっても、
それほど処理時間が増大しない図形ぬりつぶし方法を提
供することにある。
〔課題を解決するための手段] 本発明は上記の目的を達成するために、二次元画像メモ
リに記憶された閉・線図形の内部をぬりつぶす方法にお
いて、 (1)前記間・線図形の各頂点が山谷部分に相当するか
否かを調べて山谷部分に相当する頂点を前記二次元画像
メモリから消去した後、細線化処理を施す工程、 (2)前記二次元画像メモリを所定方向に走査し、同一
走査線上における奇数番目の有為画素から偶数番目の有
為画素までの画素を有為画素に書き換える工程を有して
いる。
〔作用〕
一般に、頂点や水平部分を持たない線図形(極めて簡単
な例では垂直な2本の平行線からなる図形)の場合、二
次元画像メモリに幾つそのような図形があっても、工程
(2)のみで−括してぬりつぶすことができる。しかし
、頂点および水平部分を有しない閉・線図形はないので
、工程(2)だけでは処理し得ない、そこで、本発明で
は、工程(2)の言わば前処理として、工程(1)を行
う。
この工程(1)では、先ず閉・線図形の各頂点が山谷部
分に相当するか否を調べる。ここで山谷部分とは簡略化
して言えば、閉・線図形を構成している各頂点のうち、
前後の頂点に比べて上方(走査線と垂直な方向)に突出
している点(山)および下方に突出している点(谷)で
ある0例えば、三角形〉の左上の頂点が(山)部分に相
当し、左下の頂点が(谷)部分に相当する。また、三角
形Δの上の頂点が(山)部分に相当し、底辺が(谷)部
分に相当する。
工程(1)では、山谷部分に相当すると判定された頂点
は二次元画像メモリから消去される。これにより、工程
(2)において偶数番目の有為画素がない為に頂点以降
の全画素がぬりつぶされたり、或いは別の閉・線図形の
有為画素間を誤ってぬりつぶすこと等がなくなる。
次に工程(1)では、細線化処理が施される。ここで細
線化処理とは、同一走査線上に連続して2画素以上の有
為画素が存在する場合、1つの有為画素を残して他を無
為画素に書き換えることである。
これにより、1つの閉・線図形と各走査線との交点の数
は2個となり、水平部分の影響なく工程(2)において
ぬりつぶし処理が適切に行えることになる。
〔実施例〕 次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
第1図(a)〜(e)は、本発明の図形ぬりつぶし方法
を用いて二次元画像メモリP上に生成された閉・線図形
をぬりつぶす際の各時点の二次元画像メモリの内容例を
、第2図は一時的に使用する補助の二次元画像メモリQ
の内容例をそれぞれ示し、白丸は無為画素(以下、白画
素と称す)、黒丸は有為画素(以下、黒画素と称す)で
ある。以下の説明では二次元画像メモリP、  Q上の
各画素酸いはその座標値を識別するためにX座標値=x
、Y座標値=yにある画素あるいはその座標値をP (
x。
y)、Q(x、y)と呼ぶことにする。
本実施例の図形ぬりつぶし方法は、次の工程を含んでい
る。
(1)二次元画像メモリP上の各々の閉・線図形の各頂
点が山谷部分に相当するか否かを調べて山谷部分に相当
する頂点を二次元画像メモリから消去すると共に、補助
の二次元画像メモリQに退避した後、細線化処理を施す
工程。
(2)二次元画像メモリPをX軸方向に走査し、同一走
査線上における奇数番目の黒画素から偶数番目の黒画素
までの画素を黒画素に書き換える工程。
(3)二次元画像メモリPの内容と補助の二次元画像メ
モリQの内容とを合成する工程。
以下、各工程毎に説明する。
r工程(1)J  (第1図(a) 〜(C)及び第2
図参照)第1図(alは、図形生成装置の上位装置から
、頂点座標として、 P (1,4)、P (15)、P (3,7)P(5
,5)、P (5,2)、P (4,1)が与えられる
ことにより、図形生成装置で自動的に生成した閉・線図
形Aと、同じく頂点座標として、 P  (7,2)、  P  (7,3)、  P  
(11,7)P  (127)、  P  (12,6
)、  P  (13,5)P  (14,5) 、 
 P  (14,2) 、  P  (9,2)P(8
,1) が与えられることにより、自動的に生成した閉・線図形
Bとを含む二次元画像メモリPの内容を示している。
図形生成装置は、先ず、上記の各頂点座標を参照して山
谷検出、山谷消去・退避処理を行う。この山谷検出の具
体的な処理方法は後に詳述するとして、ここで結果だけ
を示すと、以下の頂点が山谷部分であると検出される。
閉・線図形Aに関して; P  (3,7)、P  (4,1) 閉・線図形Bに関して; P (11,7)、  P (12,7)、  P (
8,1)そして、続く山谷消去により上記の山谷部分の
頂点が二次元画像メモリPから消去され、二次元画像メ
モリの内容は第1図(a)から第1図Φ)の状態に変わ
る。また、山谷退避処理により、上記の山谷部分の頂点
が第2図に示すように補助の二次元画像メモリQに退避
される。
次に図形生成装置は、第1図(b)の状態の二次元画像
メモリPに対し細線化処理を加える。この細線化処理(
具体的な方法は後述する)が行われることにより、二次
元画像メモリPの内容は第1図(C)のように変化する
。即ち、同一走査線上で連続する2個の黒画素P (1
3,5)、  P (14,5)から成る黒画素列と、
6個の黒画素P (9,2)。
P (10,2)、  P (11,2)、  P (
12,2)、  P(13,2)、  P (14,2
)から成る黒画素列とが細線化され、最右端の1個の黒
画素P(14,5)。
P (14,2)を除く他の黒画素が全て白画素に書き
換えられる。
以上で工程(])が終了する。
r工程(2)J  (第1図(C)、 (d)参照)工
程(2)では、図形生成装置は、二次元画像メモリPを
X軸方向に走査し、同一走査線上における奇数番目の黒
画素から偶数番目の黒画素までの画素を黒画素に書き換
える。例えば、第1図(C)のY座標値=2の走査線に
おいては、1番目の黒画素はP (3,2)、  2番
目の黒画素はP (5,2)なので、その間の画素P 
(4,2)が黒画素に書き換えられ、3番目の黒画素は
P (7,2)、  4番目の黒画素はP (14,2
)なので、その間の画素P (8,2)、 P (9,
2)、 P (10,2)。
P (11,2) 、  P (12,2) 、  P
 (13,2)が黒画素に書き換えられる。他の走査線
についても同様に行われる。この結果、二次元画像メモ
リPの内容は第1図(C)から第1図(d)のように変
化する。
これでぬりつぶし処理が終了する。
r工程(3)J  (第1図(d)、 (e)および第
2図参照)工程(3)では、図形生成装置は、二次元画
像メモリPの内容と補助の二次元画像メモリQの内容と
を合成する。つまり、補助の二次元画像メモリQに退避
されていた第2図の山谷部分の頂点を第1図(ci)の
ぬりつぶし処理を終えた二次元画像メモリPに戻すこと
により、第1図(e)に示すように、閉・線図形の内部
が黒画素でぬりつぶされた図形を得るものである。
なお、本発明の他の実施例として、別の二次元画像メモ
リに第1図(a)の状態を保存しておき、第1図(a)
の黒画素と同じ位置の第1図(d)の黒画素を白画素に
置き換えることにより、ぬりつぶし部分のみの画像を得
るようにしても良い。こうすれば、輪郭部分と色を違え
てぬりつぶすこと等が可能である。
次に、本発明の図形ぬりつぶし方法を実施する図形生成
装置の一実施例について説明する。
第3図は図形生成装置の一実施例の要部プロ・ンク図で
あり、閉・線図形およびぬりつぶし後の図形を記憶する
二次元画像メモリ1と、補助の二次元画像メモリ2と、
図示しない上位装置から閉・線図形の頂点座標を入力す
ることにより二次元画像メモリ1上に閉 線図形を生成
する公知の線図形生成回路3と、工程(1)の一部およ
び全体的な制御を担い第4図に示すような処理を行うマ
イクロプロセンサ(MPU)、メモリ等を含むMPU回
路4と、上位装置から送られてきた各間・線図形の頂点
座標を保持するメモリ5と、工程(1)の細線化処理を
担う細線化回路6と、工程(2)のぬりつぶし処理を担
うぬりつぶし回路7と、工程(3)の合成処理を担う合
成回路8と、二次元画像メモリ1゜補助の二次元画像メ
モリ2を走査する為のアドレスを発生するスキャン回路
9と、MPU回路4または線図形生成回路3からの指定
に従ってMPU回路4.線図形生成回路3.細線化回路
6.ぬりつぶし回路7および合成回路8の出力データの
1つを選択して二次元画像メモリ1の書き込みデータと
するセレクタ10と、MPU回路4または線図形生成回
路3からの指定に従ってMPU回路4゜線図形生成回路
3およびスキャン回路9の出力アドレスの1つを選択し
て二次元画像メモリ1に加えるセレクタ12と、MPU
回路4からの指定に従ってMPU回路4およびスキャン
回路9の出力アドレスの1つを選択して補助の二次元画
像メモリ2に加えるセレクタ13と、二次元画像メモリ
1から読み出されたデータをM P U回路41図示し
ないCRT等の表示装置、細線化回路6.ぬりつぶし回
路7および合成回路8の内のMPU回路4から指定され
た相手に送出するセレクタI4と、ゲート15.16と
で構成されている。
第5図は細線化回路6の+i構成例示す要部ブロック図
であり、セレクタ14の出力を1画素分保持するシフト
レジスタ61と、シフトレジスタ61の出力が白画素を
示し且つセレクタ14の出力が黒画素を示すときに黒画
素を示すデータを出力し、それ以外は白画素を示すデー
タを出力するゲート62とで構成されている。
第6図はぬりつぶし回路7の構成例を示す要部ブロック
図であり、フリップフロップ71と、このフリップフロ
ップ71の出力とセレクタ14の出力との論理和を出力
するオアゲート72と、フリップフロップ71の出力と
セレクタ14の出力との論理積を出力するアンドゲート
73とを含み、フリップフロップ71はオアゲート72
の出力が黒画素を示すときにセットされて黒画素相当の
データを出力し、アンドゲート73の出力が黒画素相当
のときりセントされて白画素相当のデータを出力するも
のである。
第7図は合成回路8の構成例を示す要部ブロック図であ
り、セレクタ14の出力と補助の二次元画像メモリ2の
出力との論理和を出力するオアゲート81を含んでいる
次に、第3図ないし第7図を参照して、本実施例の図形
処理装置の動作を説明する。
第3図において、図示しない上位装置から描画すべき閉
・線図形の頂点座標が送られてくると、それらは線図形
生成回路3に入力されると共にメモリ5に記憶される。
線図形生成回路3は、セレクタ10.12を自分自身側
に切り換え、セレクタ12を介してアドレスを、セレク
タ10を介してデータをそれぞれ二次元画像メモリ1に
加えることにより、上位装置から与えられた1つの閉・
線図形の頂点座標に応じた閉・線図形を二次元画像メモ
リ1上に生成する。線図形生成回路3は上位装置から複
数の閉・線図形の情報が与えられた場合、各間・線図形
について同様の動作を行う。これにより、二次元画像メ
モリ1は例えば第1図(a)に示した状態となる。線図
形生成回路3は全ての閉・線図形の生成処理を終えると
、その旨をMPU回路4に通知する。
MPU回路4は上記の通知に応答して、セレクタ10,
12.14を自分自身側に切り換えて二次元画像メモリ
1をアクセスできるようにし、第4図に示す処理を開始
する。先ず、処理5l−316の山谷検出を行う。ここ
で、lはメモリ5に記憶された1つの閉・線図形に含ま
れる個々の頂点座標を仮に識別する為の変数、jは制御
変数であり、yi、)’i。j、V+=とはi番目、i
+j番目。
i−1番目の頂点座標のY座標値を意味している。
この山谷検出処理を第1図(a)を参照して具体的に説
明すると次の通りである。
メモリ5に閉・線図形Aにかかる頂点座標が、P (1
,4)、  P (1,5)、・・・、P(4,1)の
順に格納されており、その先頭より1番目、2番目、・
・・、6番目とすると、先ず、閉・線図形Aにかかる1
番目の頂点座標P(1,4)と1つ前の頂点座標(1番
目については最終番目のもの)P(4,1)とのY座標
値が比較され(S4)、結果はYESなので処理S5側
へ進み、1番目の頂点座標P(1,4)と1つ先の頂点
座標P(1゜5)とが比較される(S7)。結果はNO
であり、且つ処理S8の結果もNoなので、現在注目し
ている頂点座標P(1,4)は山谷部分でないとされ、
処理S14で1が歩進され、注目点を次の頂点座標に移
す。次に注目する頂点座標P (1,5)も同様に山谷
部分でないとされる。次に注目する頂点座標P (3,
7)については、1つ前の頂点座+!IP (1,5)
よりY座標値が大きく (処理S4でYES)且つ1つ
先の頂点座標P (5,5)よりY座標値が大きくなる
(処理S7でYES)。
よって、頂点座標P (3,7)は山谷部分(この゛場
合、山部分)であると判定される。また、頂点座標P(
4,1)については、1つ前の頂点座標P (5,2)
よりY座標値が小さく(処理S4゜S9で共にNo)、
1つ先の頂点座標P (1,4)よりY座標値が小さい
(処理SL2でYES)。
この結果、頂点座標P(4,1)は山谷部分(この場合
、谷部分)であると判定される。
MPU回路4は処理S7あるいは処理S12で山谷部分
と判定した頂点座標については、処理S17.318の
頂点消去・退避処理を行う。即ち、第1図(b)に示し
たように山谷部分の頂点を二次元画像メモリ1から消去
しく処理517)、それを補助の二次元画像メモリ2に
第2図に示したように退避する(処理318)。
MPU回路4はメモリ5に記憶された1つの閉・線図形
についての山谷検出、頂点消去・退避処理を終えると(
処理S15でYES 、但しnは頂点の個数)、処理S
16で全ての閉・線図形についての同種の処理を終えた
か否かを判定し、終えていなければ未処理の閉・線図形
についての山谷検出、頂点消去・退避処理を行う。この
結果、第1図(a)の場合、次の閉・線図形Bについて
の処理が行われ、その結果、二次元画像メモリ1の内容
は第1図(b)に示すものとなる。なお、閉・線図形B
の頂点座標P (11,7)にかかる山谷検出において
は、1つの前の頂点座標P (7,3)よりY座標値が
大きく(処理S4でYES)、1つ先の頂点座標p (
12,7)のY座標値と等しいと判定され(処理S7で
No、処理S8でYES)、この結果、処理S6でjが
一つ歩進され、さらに1つ先の頂点座標P (12,6
)と比較され(処理S7)、この結果がYESとなるの
で山谷部分(この場合、山部分)と判定される。同様に
して頂点座1.iP (12,7)も山谷部分と判定さ
れるものである。
この後、MPU回路4は、細線化処理S19゜ぬりつぶ
し処理5209合成処理S21を順次に制御する。以下
、個別に説明する。
「細緑化処理1 MPU回路4は、セレクタ10.14を細線化回路6側
に、セレクタ12をスキャン回路9側に切り換え、スキ
ャン回路9および細線化回路6を起動する。スキャン回
路9は起動されると、二次元画像メモリ1のアドレスを
逆方向に順次に発生する。即ち、第1図ら)において、
画素P(15,1)。
P(14,1)、・・・、  P (15,2) 、・
・・、  P (15゜7)、  P (14,7)、
  P (1,7)の順で走査していく。二次元画像メ
モリ1から読み出された画素データは、セレクタ14を
介して細線化回路6に入力される。第5図を参照すると
、細線化回路6においては、セレクタ14から加わる画
素データはシフトレジスタ6Iおよびゲート62に入力
され、ゲート62の出力がセレクタ1oを介して二次元
画像メモリ1の同一アドレスに書き戻される。この結果
、画素P (14,5) 、  P (13,5)の如
く黒画素が連続して読み出されると、黒画素P (14
,5)の読み出し時点ではシフトレジスタ61は直前の
白画素P (15,5)を保持している為にその出力は
白画素相当となり、ゲート62の出力は黒画素相当とな
って第1図(C)の如く画素P(14,5)は黒画素の
ままとなる。しかし、次の黒画素P (13,5)の読
み出し時点ではシフトレジスタ61は黒画素P (14
,5)を保持しているのでゲート62の出力は白画素相
当になり、第1図(C)の如く画素P (13,5)は
黒画素から白画素に書き換えられる。同様にして、黒画
素の連続する画素P (14,2)〜P (9,2)が
処理され、第1図(C)の如く画素P (14,2)の
みが黒画素として残される。
rぬりつぶし処理」 スキャン回路9が二次元画像メモリ1を1回走査し終え
ると、細線化処理が完了したことになるので、次にMP
U回路4はセレクタ14をぬりつふし回路7側に切り換
えると共にスキャン回路9およびぬりつぶし回路7を起
動する。スキャン回路9は起動されると、二次元画像メ
モリ1のアドレスを順方向に順次に発生する。即ち、第
1図(C)において、画素P (1,7)、P (2,
7)、・・・。
P (15,7)、  P (1,6)、・・・、P 
(1,1)。
・・・、  P (15,1)の順で走査していく。二
次元画像メモリ1から読み出された画素データはセレク
タ14を介してぬりつぶし回路7に人力される。
第6図を参照すると、ぬりつぶし回路7において、セレ
クタ14からの画素データはオアゲート72およびアン
ドゲート73に入力され、オアゲート72の出力がセレ
クタ10を介して二次元画像メモリ1の元のアドレスに
書き戻される。また、オアゲート72の出力が黒画素相
当のときにフリップフロップ71がセットされ、その出
力がアンドゲート73およびオアゲート72に入力され
る。
またアンドゲート73の出力が黒画素相当のときにフリ
ップフロップ71がリセットされる。
この結果、第1図(C)において、画素P (2,6)
の読み出し時点でオアゲート72の出力が黒画素相当に
なって第1図(d)の如く画素P (2,6)が黒画素
のままにされると共にその時点でフリップフロップ71
がセットされオアゲート72に黒画素相当の出力がフリ
ップフロップ71から加えられる。従って、次の白画素
P (3,6)の読み出し時点ではセレクタ14からの
出力にかかわらずオアゲート72から黒画素相当の出力
が得られ、第1図(dlに示す如く白画素P (3,6
)が黒画素に変更される。次の黒画素P (4,6)の
読み出し時点でもオアゲート72の出力が黒画素相当に
なるので、元の黒画素P (4,6)は黒画素のままと
なり、その時点でアンドゲート73の出力が黒画素相当
になってフリップフロップ71がリセットされる。従っ
て、次の白画素P(5,6)の読み出し時点ではセレク
タ14の出力およびフリップフロップ71の出力が共に
白画素相当になり、白画素P (5,6)は白画素のま
まになる。以上のような動作が二次元画像メモリlの全
範囲にわたって行われることにより、二次元画像メモリ
1の内容は第1図(d)に示すものとなり、ぬりつぶし
が完了する。
r合成処理1 次にMPU回路4は、セレクタ13を補助の二次元画像
メモリ2側に切り換えると共にセレクタ10.14を合
成回路8側に切り換え、スキャン回i9および合成回路
8を起動する。スキャン回路9は起動されると、二次元
画像メモリ1のアドレスを順方向に順次に発生する。こ
のとき、そのアドレスはセレクタ13を介して補助の二
次元画像メモリ2にも加えられ、第2図に示したような
内容が読み出される。二次元画像メモリ1から読み出さ
れた画素データはセレクタ14を介して合成回路8に入
力され、補助の二次元画像メモリ2から読み出された画
素データも合成回路8に人力される。第7図を参照する
と、合成回路8においては、セレクタI4を介して読み
出された二次元画像メモリ1の画素データと補助の二次
元画像メモリ2から読み出された同一アドレスの画像デ
ータとの論理和かオアゲート81でとられ、その出力が
セレクタ10を介して二次元画像メモリ1の元の場所に
書き戻される。この結果、二次元画像メモリ1の内容は
第1図(Q)に示すものとなる。即ち、輪郭部分を含め
たぬりつぶし図形が完成する。
第3図の図形生成装置は、前処理の工程(1)の−部を
MPU回路4で行っているが、それらもハードウェア回
路で実現できることは勿論のことである。また、工程(
1)〜工程(3)の全てをソフトウェア処理によって実
現することもできる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の図形ぬりつぶし方法にお
いては、二次元画像メモリを所定方向に走査し、同一走
査線上における奇数番目の有為画素から偶数番目の有為
画素までの画素を有為画素に置き換える工程(2)の前
処理として、その工程(2)が適切に行えるように、前
記閉・線図形の各頂点が山谷部分に相当するか否かを調
べて山谷部分に相当する頂点を前記二次元画像メモリか
ら消去した後、細線化処理を施す工程(1)を行うもの
であり、閉・線図形の形状が複雑になっても、或いはぬ
りつぶすべき閉・線図形が多数あっても、前工程(1)
の処理時間が増大するだけで実際のぬりつぶしを行う工
程(2)の処理時間に影響はなく、全体としてぬりつぶ
し処理の高速化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の図形ぬりつぶし方法を用いて二次元画
像メモリ上に生成された閉・線図形をぬりつぶす際の各
時点の二次元画像メモリの内容例を示す図、 第2図は一時的に使用する補助の二次元画像メモリの内
容例を示す図、 第3図は本発明の方法を実施する図形生成装置の一実施
例の要部ブロック図、 第4図はMPU回路4の処理例の流れ図、第5図は細線
化回路6の構成例を示す図、第6図はぬりつぶし回路7
の構成例を示す図、第7図は合成回路8の構成例を示す
図および、第8図は従来方法の説明図である。 図において、 1・・・二次元画像メモリ 2・・・補助の二次元画像メモリ 3・・・線図形生成回路 4・・・MPU回路 5・・・メモリ 6・・・細線化回路 7・・・ぬりつぶし回路 8・・・合成回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 二次元画像メモリに記憶された閉・線図形の内部をぬり
    つぶす方法において、 (1)前記閉・線図形の各頂点が山谷部分に相当するか
    否かを調べて山谷部分に相当する頂点を前記二次元画像
    メモリから消去した後、細線化処理を施す工程、 (2)前記二次元画像メモリを所定方向に走査し、同一
    走査線上における奇数番目の有為画素から偶数番目の有
    為画素までの画素を有為画素に書き換える工程、 を含むことを特徴とする図形ぬりつぶし方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010127762A (ja) * 2008-11-27 2010-06-10 Yokohama Rubber Co Ltd:The タイヤ接地解析装置、タイヤ接地解析方法およびタイヤ接地解析プログラム

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