JPH02267989A - セラミック回路基板およびその製造方法 - Google Patents

セラミック回路基板およびその製造方法

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JPH02267989A
JPH02267989A JP8950589A JP8950589A JPH02267989A JP H02267989 A JPH02267989 A JP H02267989A JP 8950589 A JP8950589 A JP 8950589A JP 8950589 A JP8950589 A JP 8950589A JP H02267989 A JPH02267989 A JP H02267989A
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JP
Japan
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ceramic circuit
thin film
circuit board
holes
film conductor
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JP8950589A
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English (en)
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Yuji Umeda
勇治 梅田
Hitoshi Yoshida
均 吉田
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NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、LSIペアチップ、受動素子等の電子部品が
配設されるセラミック回路基板およびその製造方法に関
する。
[従来の技術] 近時、電子回路が形成される回路基板にあっては、抗折
強度、熱拡散率、さらにアナログ/デジタル混成回路化
に伴う高周波数およびパルス伝送特性に係る誘電率等の
優位性の深化からセラミック回路基板が多用される。
この種のセラミック回路基板およびその製造方法では、
グリーンシートにレーザパンチングマシーンあるいは金
型プレス等を用いて所定位置に複数の貫通孔が形成され
た後、スクリーン印刷等で貫通孔に導体ペーストを充填
せしめて接続導体(以後、必要に応じてスルーホールと
記載する)が形成される。この後、前記接続導体に電気
的に接続される導体パターン(配線パターン)を形成し
、且つ焼成を行い、さらにメツキ処理、薄膜導体の形成
等を行いセラミック回路基板を完成するのが一般的であ
る。
[発明が解決しようとする課題] 然しなから、上記の従来の技術に係るセラミック回路基
板およびその製造方法においては、貫通孔の形成加工に
レーザパンチング、金型プレス等を用いるため、スルー
ホールの穴径を100μm以下に形成することは現状の
技術においては困難である。また、接続導体として導体
ペーストが採用される。そのため、スクリーン印刷によ
る導体ペーストの充填の際に接続導体に気泡状空間が形
成され易い。このため、良好な導通を維持するためには
微細、すなわち、小径の接続導体の形成が比較的困難と
なる。また薄膜パターンの形成のための研磨が行われる
際に、前記気泡状空間、すなわち、導体の欠落部分が表
面に露呈して、例えば、エツチング液の浸透を生起し、
薄膜パターンの形成に不都合を伴う夫々の欠点を露呈し
ている。
本発明は係る点に鑑みてなされたものであって、金属線
あるいは金属部材を用いてより微細な接続導体を形成せ
しめ、且つ表面粗さをより改善し、これにより薄膜の導
体パターンの配設の自由度が向上すると共に、その製造
工程が簡素化し、また、均一な品質が得られ、且つ多量
生産が可能となるセラミック回路基板およびその製造方
法を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 前記の課題を解決するために、本発明はセラミック基体
の一方の面および他方の面が所定の表面粗さをもって形
成されると共に金属部材が貫通して形成される複数の接
続導体と、当該複数の接続導体に接続されて前記一方の
面および他方の面上に形成される複数の厚膜および/ま
たは薄膜の導体パターンとを具備することを特徴とする
また、本発明は金属線を挟持した複数のグリーンシート
が積層されてグリーンシート積層体が形成されると共に
、当該グリーンシート積層体を金属線の長手方向に直交
して所定の厚さに切離せしめ、且つ切離されたグリーン
シートを焼結し、次いで、焼結された基板の表面を微細
研磨を行い、さらに前記研磨されたグリーンシートに厚
膜および/または薄膜の導体パターンを形成することを
特徴とする。
さらに、本発明はグリーンシートの所定位置に複数の貫
通孔が形成された後、金属部材を前記貫通孔に挿通せし
めると共に焼結し、次いで、前記焼結された基板の表面
を微細研磨を行い、さらに前記研磨されたグリーンシー
トに厚膜および/または薄膜の導体パターンを形成する
ことを特徴とする。
[作用] 本発明に係るセラミック回路基板およびその製造方法に
おいては、金属線あるいは金属部材を用いることにより
微細な接続導体が形成され、さらに作製された複数のグ
リーンシートに、スルーホールの接続導体となる金属線
を載置して、比較的低い温度および圧力で接合した後、
金属線の長手方向に直交してスライス状に切離し、ある
いは夫々のグリーンシートに複数の貫通孔を形成し、当
該貫通孔に金属部材を挿通せしめて接続導体を形成して
焼成を行い、且つその表面粗さを薄膜導体パターンが形
成可能な程度としている。これにより、微細且つ薄膜の
導体パターンの配設の自由度が向上すると共に、その製
造工程が簡素化し、また、均一な品質が得られ、且つ多
量生産が可能となる。
[実施例] 次に、本発明に係るセラミック回路基板およびその製造
方法の実施例を添付の図面を参照して以下詳細に説明す
る。なお、文中および図面において、共通の構成要素に
は共通の参照符号を付し、その重複した説明は省略する
。また、理解を容易にするため、先ず、セラミック回路
基板の製造方法を説明し、次に、製造されたセラミック
回路基板を説明する。
第1図に示される例は、工程(a)において、以下に示
される組成およびアクリルバインダ、可塑材等をもって
作製した、200枚の未焼結の基体であるグリーンシー
トG、 、G、乃至G。
をアルミナポットによりスラリ化し、且つドクタブレー
ド法を用いて均一な厚さ、例えば、500μmに形成し
、この後、金型による打ち抜きにおいて、60X60 
(mm)に切断する。さらにスルーホール(接続導体)
となる、例えば、直径50μmのCu 、Au SAg
 、Ag−Pa等のいずれか、または組み合わせに係る
金属線り3、L、、H3、L、、H3、H6乃至Lnを
グリーンシートG2乃至G0に載置する。
グリーンシートG1乃至G、の組成 アルミナ       30 wt% ホウケイ酸ガラス   40 wt% 石英ガラス      30両t% 次に、工程ら)において、100℃で且つ200kg/
 CrB’でプレスしてグリーンシートG、 、G2乃
至G。を厚さ60mmに形成してグリーンシート積層体
Gaを作製する。
次に、工程(C)において、グリーンシート積層体Ga
を金属線り、 、L、 、L、 、L、 、H3、H6
乃至り。の長手方向に直交して所定寸法、例えば、厚さ
500μmにスライスする。その際、例えば、ダイヤモ
ンドカッターを用いてグI) −ンシー)16a、16
b等に切離する。さらに、切離されたグリーンシーH6
aS16b等を前記温度および圧力より高い値、例えば
、窒素雰囲気中、最高1000℃をもって焼結せしめる
また、工程(d)において、焼成された表面粗さ0.5
μmRa程度の基板17a、17b等の表面を微細研磨
、例えば、ダイヤモンド粒研磨において、表面粗さ0.
05μmRaに形成せしめる。なお1、以降においては
基板17bのみで説明する。
この場合、図示されるように、基板17bの基体が収縮
し、金属線が表面より突出するが、表面の微細研磨にお
いて同時に削除して均一面に形成する。さらに、前記研
磨された基板17bに所定の回路を構成すべく薄膜導体
パターン18a、18b、18c等が形成されてセラミ
ック回路基板を完成する。
なお、他の実施例として、下記の組成であるコージュラ
イト結晶ガラス100重量部と、さらにアクリルバイン
ダ、トルエン、分散剤をアルミナポットによりスラリ化
し、且つドクタブレード法を用いて均一なグリーンシー
トG1、G、乃至G。を作製した。しかも金属線L1、
H2、H3、H4、H6、H6乃至Lnに直径50μm
のAu線を採用し、また空気雰囲気中で、最高950℃
において焼成せしめ、さらに研磨により表面粗さ0.0
2μmRaに形成することも可能であることがft1K
忍された。
他のグリーンシー) G +乃至Ghの組成5i02 
     48wt% Aβ203      33wt% Mg0        12 wt% B20a         5ivt%TlO22wt
% 次に、第2図を参照して、セラミック回路基板の製造方
法の他の実施例を説明する。この例では、工程(f)に
おいて、以下に示される組成およびアクリルバインダ、
可塑材等をもって作製した未焼結の基体であるグリーン
シート20をアルミナポットによりスリラ化し、さらに
ドクタブレード法を用いて均一な厚さ、例えば、250
μmに形成した後、金型による打ち抜きにおいて、例え
ば、60X60 (aun)に切断する。
グリーンシート20の組成 アルミナ       30 wt% ホウケイ酸ガラス   4o wt% 石英ガラス      30 wt% 次に、工程((至)において、グリーンシート20にレ
ザーパンチング、あるいは金型プレス等を用いて、例え
ば、直径100μmの貫通孔22a、22bを形成する
さらに、工程(社)において、前記貫通孔22a122
bにAgの金属部材24a、24bを自動機を用いて挿
通せしめる。
また、工程(i)において、前記グリーンシート20を
空気雰囲気中、最高850℃をもって焼結し、さらに焼
結された表面粗さ0.5μmRa程度の基板21の表面
を微細研磨、例えば、ダイヤモンド粒研磨を行って、表
面粗さ0.05μmRaに形成せしめる。
この場合、図示されるように、基板210表面より突出
した金属部材24a、24bが微細研磨において同時に
均−面に形成される。この後、研磨された基板21に所
定の回路を構成すべく薄膜導体パターンを形成してセラ
ミック回路基板が形成される。
以上のようなセラミック回路基板の製造方法においでは
均一な品質が得られ、且つ多量生産が可能になると共に
、製造工程が簡素化される。
次に、上記のセラミック回路基板の製造方法によって作
製されたセラミック回路基板の一例を第3図に示す。こ
の例は基板30の一方および他方の面31a、31bの
貫通孔32a、32bおよび32cに、前記した金属線
あるいは金属部材でなる直径50μm以下の接続導体3
4a、34bおよび34cが配設されている。さらに、
一方の面31aには接続導体34a、34bおよび34
cと導通゛する導体パターン36a、36bおよび36
cが形成されている。さらに他方の面31bには接続導
体34a、341よび34cと導通する導体パターン3
8a138bおよび38cが形成され、これにより一方
および他方のm31a、31bに、所謂、スルーホール
の回路が形成される。
以上のように構成されることにより、金属線あるいは金
属部材を用いた微細な接続導体が形成され、且つ表面粗
さをより改善せしめ、これにより薄膜の導体パターンの
配設の自由度が向上する。
[発明の効果] 以上のように、本発明のセラミック回路基板およびその
製造方法によれば、金属線あるいは金属部材を用いるこ
とにより微細な接続導体が形成され、さらに作製された
複数のグリーンシートにスルーホールの接続導体となる
金属線を載置して積層し金属線の長手方向に直交してス
ライス状に切離し、あるいは夫々のグリーンシートに複
数の貫通孔を形成し、当該貫通孔に金属部材を挿通せし
めて接続導体を形成して焼成を行い且つ表面粗さを薄膜
導体パターンが形成可能に形成している。これにより微
細且つ薄膜の導体パターンの配設の自由度が向上すると
共に、その製造工程が簡素化し、また、均一な品質が得
られ、且つ多量生産が可能となる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るセラミック回路基板の製造方法の
概略工程図、 第2図は本発明に係るセラミック回路基板の製造方法の
他の実施例を示す概略工程図、第3図は本発明に係るセ
ラミック回路基板の概略構成を示す斜視図である。 G1〜G、、・・・グリーンシート L1〜L7・・・金属線 Ga・・・グリーンシート積層体 18a−18b・・・導体パターン 20・・・グリーンシート   22a、22b・・・
貫通孔24a、24b・・・金属部材  30・・・グ
リーンシート32a〜32c・・・貫通孔   34a
〜34c・・・接続導体36 a 〜36 c 、 3
8 a 〜38 c−・・導体パターン特許出願人  
日本碍子株式会社 4b 4a

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)セラミック基体の一方の面および他方の面が所定
    の表面粗さをもって形成されると共に金属部材が貫通し
    て形成される複数の接続導体と、当該複数の接続導体に
    接続されて前記一方の面および他方の面上に形成される
    複数の厚膜および/または薄膜の導体パターンとを具備
    することを特徴とするセラミック回路基板。
  2. (2)請求項1記載のセラミック回路基板において、金
    属部材は、銅、金、銀のいずれかまたは組み合わせが採
    用されることを特徴とするセラミック回路基板。
  3. (3)金属線を挟持した複数のグリーンシートが積層さ
    れてグリーンシート積層体が形成されると共に、当該グ
    リーンシート積層体を金属線の長手方向に直交して所定
    の厚さに切離せしめ、且つ切離されたグリーンシートを
    焼結し、次いで、焼結された基板の表面を微細研磨を行
    い、さらに前記研磨された基板に厚膜および/または薄
    膜の導体パターンを形成することを特徴とするセラミッ
    ク回路基板の製造方法。
  4. (4)グリーンシートの所定位置に複数の貫通孔が形成
    された後、金属部材を前記貫通孔に挿通せしめると共に
    焼結し、次いで、前記焼結された基板の表面を微細研磨
    を行い、さらに前記研磨された基板に厚膜および/また
    は薄膜の導体パターンを形成することを特徴とするセラ
    ミック回路基板の製造方法。
  5. (5)請求項3および4記載のセラミック回路基板の製
    造方法において、金属線および金属部材は、銅、金、銀
    のいずれかまたは組み合わせが採用されることを特徴と
    するセラミック回路基板の製造方法。
  6. (6)請求項3および4記載のセラミック回路基板の製
    造方法において、薄膜の導体パターンはフォトリソグラ
    フィ技術で形成されることを特徴とするセラミック回路
    基板の製造方法。
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