JPH02257934A - 核磁気共鳴を用いた検査方法及び装置 - Google Patents
核磁気共鳴を用いた検査方法及び装置Info
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- JPH02257934A JPH02257934A JP1078229A JP7822989A JPH02257934A JP H02257934 A JPH02257934 A JP H02257934A JP 1078229 A JP1078229 A JP 1078229A JP 7822989 A JP7822989 A JP 7822989A JP H02257934 A JPH02257934 A JP H02257934A
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、核磁気共鳴（以下、ｒＮＭＲＪという）を用
いた検査対象内の水素あるいはリンなどの分布を映像化
する装置及び方法に係り、特に、検査対象のもつ透磁率
、化学シフトの値を決定しその分布を画像化するのに好
適な、ＮＭＲを用いた検査方法及び装置に関する。
いた検査対象内の水素あるいはリンなどの分布を映像化
する装置及び方法に係り、特に、検査対象のもつ透磁率
、化学シフトの値を決定しその分布を画像化するのに好
適な、ＮＭＲを用いた検査方法及び装置に関する。
従来、生体を検査対象とした透磁率分布の画像表示方法
については、ジャーナル・オブ・マグネ゛チック・レゾ
ナンス、第７０巻（１９８６年）第１６３頁から第１６
８頁（Ｊ 、 Ｍａｇｎ、Ｒａ５ｏｎ、ｖｏｌ。
については、ジャーナル・オブ・マグネ゛チック・レゾ
ナンス、第７０巻（１９８６年）第１６３頁から第１６
８頁（Ｊ 、 Ｍａｇｎ、Ｒａ５ｏｎ、ｖｏｌ。
７０、（１９８６）ＰＰ１６３−１６８）におい慮
て論じられている。
上記方法は、ＮＭＲを用いた検査装置より得られる再構
成画像の位相情報を画像表示し１画像源度の濃淡で、相
対的な透磁率の大小を調べる方法である。
成画像の位相情報を画像表示し１画像源度の濃淡で、相
対的な透磁率の大小を調べる方法である。
〔発明が解決しようとするｉｌｌＭ）
上記従来技術は、透磁率分布を画像表示しているものの
、実際には、透磁率分布に起因する磁束密度変化と化学
シフトによる再構成画像の位相分布を表示しているだけ
であり、透磁率分布に起因シフトによる位相とを区別し
ていないため透磁率および化学シフトの絶対値を決定で
きないという問題点があった。
、実際には、透磁率分布に起因する磁束密度変化と化学
シフトによる再構成画像の位相分布を表示しているだけ
であり、透磁率分布に起因シフトによる位相とを区別し
ていないため透磁率および化学シフトの絶対値を決定で
きないという問題点があった。
本発明は、透磁率分布に起因する磁束密度変化のみを抽
出すること、この抽出した情報を用いて化学シフトのみ
の影響による情報を含んだ画像を得ること、透磁率や化
学シフトの絶対値およびその分布を求める方法および装
置を提供することを目的とする。
出すること、この抽出した情報を用いて化学シフトのみ
の影響による情報を含んだ画像を得ること、透磁率や化
学シフトの絶対値およびその分布を求める方法および装
置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明においてはまず通常の
スピンエコーシーケンスに対して特定の時間差をもたせ
たタイミングでＮＭＲ信号を検出するシーケンスにより
、検査対象ならびに−様な化学シフトおよび透磁率をも
つ物質で満たされた基準試料を用いて測定を行ない、再
構成画像の位相情報として透磁率分布に起因する磁束密
度変化を抽出する。
スピンエコーシーケンスに対して特定の時間差をもたせ
たタイミングでＮＭＲ信号を検出するシーケンスにより
、検査対象ならびに−様な化学シフトおよび透磁率をも
つ物質で満たされた基準試料を用いて測定を行ない、再
構成画像の位相情報として透磁率分布に起因する磁束密
度変化を抽出する。
化学シフトのみの影響による情報を含んだ画像を得るた
めには、上記特定の時間差とは異なる時間差により測定
された再構成画像より、上記位相情報を用いて透磁率分
布に起因する磁束密度変化の影響を除去する。
めには、上記特定の時間差とは異なる時間差により測定
された再構成画像より、上記位相情報を用いて透磁率分
布に起因する磁束密度変化の影響を除去する。
透磁率や化学シフトの絶対値を求めるためには透磁率あ
るいは化学シフトが既知の物質を用いて上記の測定を行
なう。
るいは化学シフトが既知の物質を用いて上記の測定を行
なう。
透磁率分布、化学シフト分布、透磁率分布に起因する磁
束密度変化の分布を画像表示するためには、これらの値
に比例した濃度で画像を表示する。
束密度変化の分布を画像表示するためには、これらの値
に比例した濃度で画像を表示する。
一般に、検査対象内の磁束密度分布（２次元で考える。
）の不均−Ｅ（ｘｐｙ）は、検査対象外部より印加した
静磁場の不均一をＥｓｔＣｘｅ ｙ）、検査対象の透磁
率分布に起因する磁束密度変化をＥｐｅｒ（Ｘｙ ｙ）
とすると１式（１）で示すことができる。
静磁場の不均一をＥｓｔＣｘｅ ｙ）、検査対象の透磁
率分布に起因する磁束密度変化をＥｐｅｒ（Ｘｙ ｙ）
とすると１式（１）で示すことができる。
Ｅ（ｘ、 ｙ）＝Ｅｓｃ（ｘ、 ｙ）＋Ｅｐ＠ｒＣｘ＋
ｙ） −（１）検査対象として、化学シフトσｌ、
およびσ２（単位は［ＰＰｍ１）の２種類の物質よりな
る物体を考える。この物体を第１図のシーケンスで測定
したときに得られる再構成画像Ｓ（ｘ＋ｙ）は式％式％ ここで、ρＬは化学シフトσ！をもつ物質の密度。
ｙ） −（１）検査対象として、化学シフトσｌ、
およびσ２（単位は［ＰＰｍ１）の２種類の物質よりな
る物体を考える。この物体を第１図のシーケンスで測定
したときに得られる再構成画像Ｓ（ｘ＋ｙ）は式％式％ ここで、ρＬは化学シフトσ！をもつ物質の密度。
ρ２は化学シフトσ２をもつ物質の密度、γは磁気回転
比、θａは座標に依存しない一定位相でθＣは式（３）
で表わせる。ここでＢｏは印加静磁場の空間θＣ＝γ（
（Ｆｌ−σｘ）ＢｏＴ −（３）的な平
均値である。
比、θａは座標に依存しない一定位相でθＣは式（３）
で表わせる。ここでＢｏは印加静磁場の空間θＣ＝γ（
（Ｆｌ−σｘ）ＢｏＴ −（３）的な平
均値である。
式（３）でθｃ＝２ｎとなるようにすなわち式（４）の
ようにＴを選んだとすると、式（２）は式（５）のよう
になる。
ようにＴを選んだとすると、式（２）は式（５）のよう
になる。
５Ｃｘｖ ｙ＞＝（ｐｌｃｘｅ ｙ）＋ρｚ（ｘｐ ｙ
））ｘａｘｐ（−ｊｙ（Ｅｓｔ（ｘｔ ）’）＋Ｅｐｅ
ｒ（Ｘ＋ ｙ）＋σ工〕Ｔ怠■＋ｊθ亀
・・・（５）つぎに化学
シフトσ工で満たされた−様な基準試料を式（４）で示
すＴで測定をする。この場合の再構成画像Ｓ ｒ （ｘ
ｙ ｙ ）は式（６）で示すことができる。
））ｘａｘｐ（−ｊｙ（Ｅｓｔ（ｘｔ ）’）＋Ｅｐｅ
ｒ（Ｘ＋ ｙ）＋σ工〕Ｔ怠■＋ｊθ亀
・・・（５）つぎに化学
シフトσ工で満たされた−様な基準試料を式（４）で示
すＴで測定をする。この場合の再構成画像Ｓ ｒ （ｘ
ｙ ｙ ）は式（６）で示すことができる。
５ｒ（ｘｐ ｙ）＝ｐｚ（ｘ＋ ｙ）ｅｘｐ（−ｊｙ（
Ｅｓｔ（ｘｐ ｙ）＋ｃｒｚ〕Ｔｚｎ＋ｊθｒ）
・・・（６）ここでθｒは座標
に依存しない一定位相である。
Ｅｓｔ（ｘｐ ｙ）＋ｃｒｚ〕Ｔｚｎ＋ｊθｒ）
・・・（６）ここでθｒは座標
に依存しない一定位相である。
式（５） 、 （６）より、（Ｓ （ｘ ＋ ｙ）／
ｌ Ｓ （ｘ ｅ ｙ月）Ｘ（Ｓ、申（ｘｔ ｙ）／ｌ
５ｒ（ｘｐ ｙ）Ｉ）を計算すると、式（７）のように
なる。
ｌ Ｓ （ｘ ｅ ｙ月）Ｘ（Ｓ、申（ｘｔ ｙ）／ｌ
５ｒ（ｘｐ ｙ）Ｉ）を計算すると、式（７）のように
なる。
Ｒ（：ｃ、 ｙ）＝ｅｘｐ（ｊγＥｐ＠ｒ（ｘ、 ｙ）
Ｔｚｒｌ＋、ｊ（θ龜−θ、））−（７）式（７）でＥ
ｐａｒｃｘｅ ｙ）＝Ｏなる座標におけるＲ（ｘ、ｙ）
より、θ轟−θｒが除去でき式（８）のようになり、Ｒ
（ｘ、ｙ）の各座標における位相角θＲ（ｘ＋ｙ）より
、透磁率分布に起因する磁束密Ｒ（ｘ、 ｙ）＝ａｘｐ
（ｊ ７Ｅｐｅｒ（ｘ、 ｙ）Ｔｚｌ’１）−（８）度
変化の値ＥｐｅｒＣＫｅ ｙ）が式（９）のように求め
られる。
Ｔｚｒｌ＋、ｊ（θ龜−θ、））−（７）式（７）でＥ
ｐａｒｃｘｅ ｙ）＝Ｏなる座標におけるＲ（ｘ、ｙ）
より、θ轟−θｒが除去でき式（８）のようになり、Ｒ
（ｘ、ｙ）の各座標における位相角θＲ（ｘ＋ｙ）より
、透磁率分布に起因する磁束密Ｒ（ｘ、 ｙ）＝ａｘｐ
（ｊ ７Ｅｐｅｒ（ｘ、 ｙ）Ｔｚｌ’１）−（８）度
変化の値ＥｐｅｒＣＫｅ ｙ）が式（９）のように求め
られる。
化学シフトのみの影響による情報を含んだ画像を得るた
めには、Ｔ≠ｎＴｚｎ（ｎ＝１．２．３−）で検査対象
ならびに基準試料を測定した画像５Ｃｘｒ ｙＬ ５ｒ
（ｘ、ｙ）と１式（９）で得られるＥｐｅｒ（Ｘ＋ ｙ
）より１次の処理を行なう、この処理で得られる画像Ｔ
（ｘ、ｙ）より化学シフトのみＴ（ｘ、ｙ）＝（Ｓ（ｘ
＋ ｙ）ＸＳｒ傘（ｘ ＋ ｙ）／ Ｓ ｒ（ｘ
＋ ｙ））Ｘｅｘｐ（＋ｊ ７Ｅｐ＊ｒ（Ｘｙ ）’
）Ｔ）＝（ρｘｃＸｅ ｙ）＋ｐｘＣｘｐ ｙ）ｅｘｐ
（ｊθＣ））Ｘｅｘｐ（ｊ（θ亀−ｏｒ））
・・・（ｌＯ）の影響を含んだ画像Ｃ（ｘｅｙ）
が得られる。
めには、Ｔ≠ｎＴｚｎ（ｎ＝１．２．３−）で検査対象
ならびに基準試料を測定した画像５Ｃｘｒ ｙＬ ５ｒ
（ｘ、ｙ）と１式（９）で得られるＥｐｅｒ（Ｘ＋ ｙ
）より１次の処理を行なう、この処理で得られる画像Ｔ
（ｘ、ｙ）より化学シフトのみＴ（ｘ、ｙ）＝（Ｓ（ｘ
＋ ｙ）ＸＳｒ傘（ｘ ＋ ｙ）／ Ｓ ｒ（ｘ
＋ ｙ））Ｘｅｘｐ（＋ｊ ７Ｅｐ＊ｒ（Ｘｙ ）’
）Ｔ）＝（ρｘｃＸｅ ｙ）＋ｐｘＣｘｐ ｙ）ｅｘｐ
（ｊθＣ））Ｘｅｘｐ（ｊ（θ亀−ｏｒ））
・・・（ｌＯ）の影響を含んだ画像Ｃ（ｘｅｙ）
が得られる。
ＣＣｘ＊ ｙ）＝ｐｘＣｘ＊ ｙ）＋ｐｚＣｘｖ ｙ）
ｅｘｐ（ｊθｃ） ・：Ｃｎ）もし、化学シフトσｌが
既知でσ２が未知の場合、式（１１）よりθＣが得られ
れば、式（３）よりσ２が次の式（１２）のように決定
できる。
ｅｘｐ（ｊθｃ） ・：Ｃｎ）もし、化学シフトσｌが
既知でσ２が未知の場合、式（１１）よりθＣが得られ
れば、式（３）よりσ２が次の式（１２）のように決定
できる。
ａｚ＝ａｘ−θＣ／γＢｏＴ −（１２
）透磁率の分布およびその値を決定するためには式（９
）で得られたＥｐｅｒ（ｘ、ｙ）を用いる。
）透磁率の分布およびその値を決定するためには式（９
）で得られたＥｐｅｒ（ｘ、ｙ）を用いる。
Ｅｐｓｒ（Ｘ、 ｙ）は、検査対象の３次元的な透磁率
分布および静磁場の印加力向により決定される値である
から、３次元的な電磁気学的計算により、透磁率分布μ
（ｘ＋ｙ）は決定できる。ただし、あらかじめある座標
点におけるμ（ｘｅｙ）を知っておく必要がある。
分布および静磁場の印加力向により決定される値である
から、３次元的な電磁気学的計算により、透磁率分布μ
（ｘ＋ｙ）は決定できる。ただし、あらかじめある座標
点におけるμ（ｘｅｙ）を知っておく必要がある。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第２図は本発明の一実施例であるＮＭＲを用いた検査装
置の構成を示す図である。制御装置１は以下の各手段に
対し１種々の命令を一定のタイミングで出力する。高周
波パルス発生器２は出力は、増幅器３で増幅されコイル
４を励振する。コイル４で受信された信号成分は、増幅
器５を通り、検波器６で検波後、信号処理装置７で画像
に変換される。２方向およびそれに直角な方向の傾斜磁
場の発生は、それぞれコイル８，９．１０で行い。
置の構成を示す図である。制御装置１は以下の各手段に
対し１種々の命令を一定のタイミングで出力する。高周
波パルス発生器２は出力は、増幅器３で増幅されコイル
４を励振する。コイル４で受信された信号成分は、増幅
器５を通り、検波器６で検波後、信号処理装置７で画像
に変換される。２方向およびそれに直角な方向の傾斜磁
場の発生は、それぞれコイル８，９．１０で行い。
これらのコイルはそれぞれ傾斜磁場発生器１１゜１２．
１３により駆動される。静磁場の発生はコイル１４で行
い、コイル１４は１１Ｍ１５により駆動される。コイル
１０はコイル９と同じ構成であり、コイル１０はコイル
９に対してＺ軸の回りに９０”回転させたもので、互い
に直交する傾斜磁場を発生する。
１３により駆動される。静磁場の発生はコイル１４で行
い、コイル１４は１１Ｍ１５により駆動される。コイル
１０はコイル９と同じ構成であり、コイル１０はコイル
９に対してＺ軸の回りに９０”回転させたもので、互い
に直交する傾斜磁場を発生する。
検査対象１６はベツド１７上に置かれ、ベツド１７は支
持台１８上を移動する。
持台１８上を移動する。
いま、第３図のような外部磁場Ｂｅ方向に十分長い検査
対象を用いて測定を行なった場合を考える。
対象を用いて測定を行なった場合を考える。
二二で領域■に満たされた物質の透磁率μｌ （磁束密
度Ｂ、磁界の強さＨｌとの間にＢ＝μＨの関係がある。
度Ｂ、磁界の強さＨｌとの間にＢ＝μＨの関係がある。
）は既知、であるとし、領域１．ＩＩの物質は化学シフ
トσ１．σ２以外の化学シフトを示さないかあるいは、
σｌ、σ急以外の化学シフト種は。
トσ１．σ２以外の化学シフトを示さないかあるいは、
σｌ、σ急以外の化学シフト種は。
σａｔ、σ工に比して十分に少ないものとする。また外
部磁＃ｈ（大きさＢＯ）の印加方向は領域１．ＩＩの境
界に対して、平行な方向とする。領域１．Ｉｆのそれぞ
れの物質が混合して境界がなくなってしまうような場合
には、領域１．Ｉｆをμｌとほぼ等しい透磁率の薄膜で
分離する。
部磁＃ｈ（大きさＢＯ）の印加方向は領域１．ＩＩの境
界に対して、平行な方向とする。領域１．Ｉｆのそれぞ
れの物質が混合して境界がなくなってしまうような場合
には、領域１．Ｉｆをμｌとほぼ等しい透磁率の薄膜で
分離する。
この検査対象より得られる再構成画像（５）および領域
夏の物質で満たされた検査対象より十分大きな−様な基
準試料より得られる再構成画像（６）より、前記のごと
く式（９）で示すＥｐ＠ｒ＊θＲの画像が得られる。こ
こで式（９）のθ靴は、領域■。
夏の物質で満たされた検査対象より十分大きな−様な基
準試料より得られる再構成画像（６）より、前記のごと
く式（９）で示すＥｐ＠ｒ＊θＲの画像が得られる。こ
こで式（９）のθ靴は、領域■。
■でそれぞれ一定の値となる。この値をそれぞれθＲ１
，θＲ■と表わすと、電磁気学的考察より、その差は式
（１３）で示すことができる。この式よりμｌを決定す
ることができる。なお、μｌが決定θＲｎ−θＨ７＝−
γ（μｍ−μｌ）ＢｏＴｚｎ＋＋（１３）できれば、こ
の値を比透磁率μｍｒ、および磁化率ＸＩに変換するの
は式（１４）により容易に行なえる。
，θＲ■と表わすと、電磁気学的考察より、その差は式
（１３）で示すことができる。この式よりμｌを決定す
ることができる。なお、μｌが決定θＲｎ−θＨ７＝−
γ（μｍ−μｌ）ＢｏＴｚｎ＋＋（１３）できれば、こ
の値を比透磁率μｍｒ、および磁化率ＸＩに変換するの
は式（１４）により容易に行なえる。
ここでμ０は真空中の透磁率である。
以上の実施例では物質を２種類としたが、一般には、第
４図に示すようにすれば、−回の測定で数多くの種類の
物質の透磁率を測定できる。すなわち領域ｎに対して次
式（１５）より透磁率μ、を決定する０μｍ、μ２・・
・μ、が決定できればその分布θＲ，−θｎ Ｉ ＝
−’ｌ （Ｊｉｍ−１１ｔ） ＢｏＴｉｒＩ ＝（１５
）を画像表示するのは容易である。
４図に示すようにすれば、−回の測定で数多くの種類の
物質の透磁率を測定できる。すなわち領域ｎに対して次
式（１５）より透磁率μ、を決定する０μｍ、μ２・・
・μ、が決定できればその分布θＲ，−θｎ Ｉ ＝
−’ｌ （Ｊｉｍ−１１ｔ） ＢｏＴｉｒＩ ＝（１５
）を画像表示するのは容易である。
次に化学シフトの決定法の実施例について示す。
第５図のように円筒状の検査対象について、点線で示し
た外部磁場に平行な１部分に関して測定を行なう、領域
■、■にはそれぞれ化学シフトがσ１（既知）、σ１（
透磁率がそれぞれμｌ、μ２）の物質を入れる０円筒の
断面半径はでき、るだけ火責くシ、また領域１．ＩＩの
物質が混合してしまう場合には、透磁率がμｌ（あるい
はμ２）にできるだけ近い薄膜を用いて領域！、■を分
けることが必要となる。
た外部磁場に平行な１部分に関して測定を行なう、領域
■、■にはそれぞれ化学シフトがσ１（既知）、σ１（
透磁率がそれぞれμｌ、μ２）の物質を入れる０円筒の
断面半径はでき、るだけ火責くシ、また領域１．ＩＩの
物質が混合してしまう場合には、透磁率がμｌ（あるい
はμ２）にできるだけ近い薄膜を用いて領域！、■を分
けることが必要となる。
実際に任意のタイミングＴで測定を行ない、検査対象よ
り十分大きい一様フアントムを用いて同一のシーケンス
で測定を行ない、得られた画像を用いて、検査対象より
得られた画像より印加した静磁場の不均−Ｅｓｔを除去
する。すると、領域１゜■の界面近傍では、Ｅｐｅｒは
無視できるので、Ｅｐｓｒ＝Ｏ、Ｅｓｃが除去された検
査対象から得られた画像より界面近傍における領域■、
■の位相差θＣを実測することにより式（１２）を用い
てσ２を測定することができる。
り十分大きい一様フアントムを用いて同一のシーケンス
で測定を行ない、得られた画像を用いて、検査対象より
得られた画像より印加した静磁場の不均−Ｅｓｔを除去
する。すると、領域１゜■の界面近傍では、Ｅｐｅｒは
無視できるので、Ｅｐｓｒ＝Ｏ、Ｅｓｃが除去された検
査対象から得られた画像より界面近傍における領域■、
■の位相差θＣを実測することにより式（１２）を用い
てσ２を測定することができる。
もし１μｍが既知であれば、μ２を決定することも可能
である。μｌを決定するためには、検査対象の、σ３を
決定した時と同様の位１ｉ！（円筒中心軸を含む而）を
クエ、σ二より式（４）で決まるＴｚｌＴで測定を行な
い、さらに−様フアントムについても同一のシーケンス
で測定を行ない、前記の手順によりＥ□１を得る。この
とき、Ｅｐｅｒは、円筒中心軸上では、円筒半径を８．
領域１．１の界面から領域■方向への中心軸上での距離
をＺとしたとき、式（１６）で示すことができる。
である。μｌを決定するためには、検査対象の、σ３を
決定した時と同様の位１ｉ！（円筒中心軸を含む而）を
クエ、σ二より式（４）で決まるＴｚｌＴで測定を行な
い、さらに−様フアントムについても同一のシーケンス
で測定を行ない、前記の手順によりＥ□１を得る。この
とき、Ｅｐｅｒは、円筒中心軸上では、円筒半径を８．
領域１．１の界面から領域■方向への中心軸上での距離
をＺとしたとき、式（１６）で示すことができる。
測定したＥｐｅｒのＺに対する変化と、式（１６）で示
される理論値が一致するようなμ２を求めることにより
、未知のμ２を決定することができる。
される理論値が一致するようなμ２を求めることにより
、未知のμ２を決定することができる。
以上の実施例はすべて、検査対象の形状、透磁率および
化学シフトの分布を限定した例であるが、以上の発明を
人体のような複雑な構造をもつ対象に適用することを考
える。
化学シフトの分布を限定した例であるが、以上の発明を
人体のような複雑な構造をもつ対象に適用することを考
える。
プロトン（ＡＨ）をイメージングする場合においては、
水のＩＨと脂肪の”Ｈという２つの化学シフトを考えれ
ばよい、この２つの化学シフト差は３〜４ｐｐｍである
ことが知られているので、式（４）で示したＴ ｘ ｎ
を決定するのは容易であり、従ってＥ□、も求めるこ
とができる。しかしながら、構造が複雑であるため、Ｅ
ｐａｒより透磁率分布を求めるためには、３次元画像デ
ータを測定し、組織の構造、外部からの静磁場の印加方
向等を考慮し、電磁気学的考察により、式（１６）でμ
２を求めたような操作を３次元で行ない、透磁率の分布
を求める必要がある。
水のＩＨと脂肪の”Ｈという２つの化学シフトを考えれ
ばよい、この２つの化学シフト差は３〜４ｐｐｍである
ことが知られているので、式（４）で示したＴ ｘ ｎ
を決定するのは容易であり、従ってＥ□、も求めるこ
とができる。しかしながら、構造が複雑であるため、Ｅ
ｐａｒより透磁率分布を求めるためには、３次元画像デ
ータを測定し、組織の構造、外部からの静磁場の印加方
向等を考慮し、電磁気学的考察により、式（１６）でμ
２を求めたような操作を３次元で行ない、透磁率の分布
を求める必要がある。
本発明によれば、通常のＮＭＲイメージング装置におい
て、簡単なソフトウェア−面での変更、ならびに検査対
象の形状を限定することにより、検査対象の化学シフト
、ならびに透磁率を決定することができるので、通常の
ＮＭＲイメージング装置に分析用としての機能をもたせ
ることができるという効果がある。
て、簡単なソフトウェア−面での変更、ならびに検査対
象の形状を限定することにより、検査対象の化学シフト
、ならびに透磁率を決定することができるので、通常の
ＮＭＲイメージング装置に分析用としての機能をもたせ
ることができるという効果がある。
また、透磁率の変化に固有の磁束密度変化の分布を求め
ることができるので、ｊ鋺出血などの透磁率の変化とし
て表れるような病変を高感度に検出することができると
いう効果もある。
ることができるので、ｊ鋺出血などの透磁率の変化とし
て表れるような病変を高感度に検出することができると
いう効果もある。
第１図は１本発明を実施するための測定シーケンス図、
第２図は、本発明の一実施例であるＮＭＲ検査装置の構
成を示すブロック図、第３図〜第５図は本発明を実施す
るための検査対象の例をそれぞれ示している正面図およ
び横断面図である。 纂 １ 団 罠 ２ 図 第 饗 図（二角ｊυ 巳 （工１１１ｉン ■ 凹 （二角法）
第２図は、本発明の一実施例であるＮＭＲ検査装置の構
成を示すブロック図、第３図〜第５図は本発明を実施す
るための検査対象の例をそれぞれ示している正面図およ
び横断面図である。 纂 １ 団 罠 ２ 図 第 饗 図（二角ｊυ 巳 （工１１１ｉン ■ 凹 （二角法）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、静磁場、傾斜磁場、及び高周波磁場の各磁場を発生
せしめ、検査対象からの核磁気共鳴信号を検出し、上記
検出信号の演算を行ない、前記検査対象の直交座標点に
おける核スピン情報をフーリエイメージング法により計
測する核磁気共鳴を用いた検査方法において、前記検査
対査の透磁率分布に起因する磁束密度変化を画像表示す
ることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査方法。 ２、検査対象の透磁率分布に起因する磁束密度変化量を
精密を決定することを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の核磁気共鳴を用いた検査方法。 ３、検査対象の化学シフト値を精密に決定することを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の核磁気共鳴を用い
た検査方法。 ４、検査対象の透磁率分布を画像表示することを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の核磁気共鳴を用いた検
査方法。 ５、検査対象の透磁率値を精密に決定することを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の核磁気共鳴を用いた検
査方法。 ６、検査対象の透磁率分布に起因する磁束密度変化の影
響を除去することを特徴とする特許請求の範囲第１項記
載の核磁気共鳴を用いた検査方法。 ７、静磁場、傾斜磁場、及び高周波磁場の各磁場発生手
段と、検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検
出手段と、該信号検出手段の検出信号の演算を行なう計
算機及び該計算機による演算結果の出力手段と、前記検
査対象の直交座標点における核スピン情報をフーリエイ
メージング法により計測する手段より成る核磁気共鳴を
用いた検査装置において、前記検査対象の透磁率分布を
画像表示することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査
装置。 ８、検査対象の透磁率値を精密に決定することを特徴と
する特許請求の範囲第７項記載の核磁気共鳴を用いた検
査装置。 ９、検査対象の化学シフト値を精密に決定することを特
徴とする特許請求の範囲第７項記載の核磁気共鳴を用い
た検査装置。 １０、検査対象の透磁率分布に起因する磁束密度変化を
画像表示することを特徴とする特許請求の範囲第７項記
載の核磁気共鳴を用いた検査装置。 １１、検査対象の透磁率分布に起因する磁束密度変化量
を精密に決定することを特徴とする特許請求の範囲第７
項記載の核磁気共鳴を用いた検査装置。 １２、検査対象の透磁率分布に起因する磁束密度変化の
影響を除去することを特徴とする特許請求の範囲第７項
記載の核磁気共鳴を用いた検査装置。 １３、検査対象の透磁率分布に起因する磁束密度変化の
影響を除去することを特徴とする特許請求の範囲第７項
記載の核磁気共鳴を用いた検査装置。 １４、検査対象の透磁率を精密に決定するのに適した構
造及び材質を有する容器を用いることを特徴とする特許
請求の範囲第７項記載の核磁気共鳴を用いた検査装置。 １５、検査対象の化学シフトを精密に決定するのに適し
た構造及び材質を有する容器を用いることを特徴とする
特許請求の範囲第７項記載の核磁気共鳴を用いた検査装
置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1078229A JPH02257934A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 核磁気共鳴を用いた検査方法及び装置 |
| EP90106082A EP0390176B1 (en) | 1989-03-31 | 1990-03-29 | Testing method and apparatus by use of NMR |
| DE69029284T DE69029284T2 (de) | 1989-03-31 | 1990-03-29 | NMR-Untersuchungsverfahren und Apparat |
| US07/500,901 US5065097A (en) | 1989-03-31 | 1990-03-29 | Testing method and apparatus by use of nmr |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1078229A JPH02257934A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 核磁気共鳴を用いた検査方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02257934A true JPH02257934A (ja) | 1990-10-18 |
Family
ID=13656217
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1078229A Pending JPH02257934A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 核磁気共鳴を用いた検査方法及び装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5065097A (ja) |
| EP (1) | EP0390176B1 (ja) |
| JP (1) | JPH02257934A (ja) |
| DE (1) | DE69029284T2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL9100138A (nl) * | 1991-01-28 | 1992-08-17 | Philips Nv | Magnetische resonantie werkwijze en inrichting ter reductie van beeldfouten in een magnetisch resonantiebeeld. |
| WO1995004940A1 (en) * | 1993-08-06 | 1995-02-16 | The Government Of The United States Of America, Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services | Method and system for measuring the diffusion tensor and for diffusion tension imaging |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4719423A (en) * | 1985-08-13 | 1988-01-12 | Shell Oil Company | NMR imaging of materials for transport properties |
| JPS62148658A (ja) * | 1985-12-23 | 1987-07-02 | 株式会社日立製作所 | 核磁気共鳴を用いた検査方法 |
| US4769602A (en) * | 1986-07-02 | 1988-09-06 | Shell Oil Company | Determining multiphase saturations by NMR imaging of multiple nuclides |
| US4885539A (en) * | 1988-06-06 | 1989-12-05 | General Electric Company | Volume NMR coil for optimum signal-to-noise ratio |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP1078229A patent/JPH02257934A/ja active Pending
-
1990
- 1990-03-29 US US07/500,901 patent/US5065097A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-29 DE DE69029284T patent/DE69029284T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-03-29 EP EP90106082A patent/EP0390176B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69029284D1 (de) | 1997-01-16 |
| EP0390176B1 (en) | 1996-12-04 |
| US5065097A (en) | 1991-11-12 |
| EP0390176A3 (en) | 1991-08-14 |
| DE69029284T2 (de) | 1997-06-12 |
| EP0390176A2 (en) | 1990-10-03 |
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