JPH022538Y2 - - Google Patents

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JPH022538Y2
JPH022538Y2 JP17236684U JP17236684U JPH022538Y2 JP H022538 Y2 JPH022538 Y2 JP H022538Y2 JP 17236684 U JP17236684 U JP 17236684U JP 17236684 U JP17236684 U JP 17236684U JP H022538 Y2 JPH022538 Y2 JP H022538Y2
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JP
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solder
tank
solder melt
jet
notches
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JP17236684U
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JPS6187659U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、ICのリード端子にはんだ付けを
行う噴流式のはんだ槽の噴流槽に切欠部を形成
し、この切欠部にICを通過せしめるようにした
IC用はんだ付け装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第3図は従来のIC用はんだ付け装置の要部を
示す構成図で、1はIC、2はリード端子、3は
はんだ槽、4は前記はんだ槽3の噴流槽、5は噴
流口、6ははんだ融液、7は前記はんだ槽3と対
応する位置に設けたワイヤレールで、IC1を走
行させるとともに噴流口5からのはんだ融液6に
よりIC1のリード端子2がはんだ付けされやす
いようにするためピアノ線等のワイヤ8を張架し
て形成されている。9は前記はんだ融液6の噴流
によりIC1が浮上しないように押えるための長
尺状の押え板、10は搬送チエン、11は前記搬
送チエン10の走行によりIC1の後端部を押し
て搬送させる爪、12は前記爪11の取付板で、
その端部は搬送チエン10に対し所定のピツチで
取り付けられている。なお、ワイヤレール7、押
え板9、爪11は複数個が並列に設けられてい
る。
従来のIC用はんだ付け装置は上記のように構
成され、搬送チエン10の走行により爪11が
IC1の後端部を矢印A方向に押してIC1を移送
し、噴流するはんだ融液6でリード端子2にはん
だ付けされる。
〔考案が解決しようとする問題点〕
上記のような従来のIC用はんだ付け装置では、
IC1全体が大量のはんだ溶液6に長時間浸漬さ
れ、さらに上部の押え板9により遮蔽されている
ため放熱されず、IC1自体がはんだ融液6の熱
により破損する等の問題点があつた。
この考案は上記の問題点を解決するためになさ
れたもので、IC全体がはんだ融液に浸漬される
ことなく、はんだ融液により加熱されたICの放
熱が十分に行われるようにしたIC用はんだ付け
装置を得ることを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
この考案にかかるIC用はんだ付け装置は、は
んだ槽の噴流槽にICの走行方向の後方と前方に
それぞれ切欠部を形成するとともにこれらの切欠
部の外縁に沿つて側壁を設け、かつ、前方の切欠
部の外方下部にはんだ融液の貯溜槽を設けたもの
である。
〔作用〕
この考案においては、IC全体がはんだ融液に
よつて浸漬されることなく、噴流槽の各切欠部か
ら流出するはんだ融液によつて、ICのリード端
子の部分にはんだ融液が十分に付着する。
〔実施例〕
第1図はこの考案の一実施例を示す斜視図、第
2図aは第1図の平面図、第2図bは第2図aの
−線による断面図、第2図cは第2図aのB
矢視による側面図である。これらの図において、
第3図と同一符号は同一構成部分を示し、21は
はんだ槽、22は噴流槽、23は噴流口、24は
ワイヤレールで、IC1を走行させるとともには
んだ融液6の噴流によりIC1が浮上しないよう
に押えるため、IC1の下方と上方にワイヤ8を
張架して形成されている。なお、ワイヤレール7
は並列に複数本配列されている。25,26は前
記噴流槽22に形成された切欠部で、ワイヤレー
ル24が噴流槽22と交差する位置にIC1を通
過せしめるとともにIC1が通過する部分のはん
だ融液6を流出させるものである。そして、切欠
部25はIC1の走行方向の後方に、切欠部26
はIC1の走行方向の前方に形成されている。2
7,28は前記各切欠部25,26のそれぞれの
中央部に形成された突起部で、前方の突起部28
は後方の突起部27よりも第2図b,cに示すよ
うにhの高さだけ低くなつている。29,30は
前記各切欠部25,26と突起部27,28の外
縁両側に形成された側壁で、各切欠部25,26
から流出した後のはんだ融液6の幅wが一定に保
持されるように形成したものである。31は前方
の切欠部26から流出するはんだ融液6の流出速
度を遅くするために形成した貯溜槽、32は前記
貯溜槽31内のはんだ融液6を下方へ排出するた
めの排出孔である。
次に、動作について説明する。
搬送チエン10の走行とともにICは爪11に
押されてワイヤレール24内を矢印C方向に進
み、噴流槽22に近づくと後方の切欠部25から
はんだ融液6が一定の幅wで噴出されているの
で、リード端子2がはんだ融液6に浸漬される。
次いで、IC1は後方の切欠部25を通つて噴流
槽22内に入つてリード端子2が全面的に浸漬さ
れ、さらに前方の切欠部26から同様に幅wで流
出し、かつ、貯溜槽31に貯溜されることによ
り、流出速度が遅くなつたはんだ融液6で完全に
はんだ付けされた後、さらに搬送されて図示しな
い次段の洗浄器へ移送される。
〔考案の効果〕
以上説明したようにこの考案は、はんだ槽の噴
流槽にICの走行方向の後方と前方にそれぞれ切
欠部を形成したので、この切欠部から流出するは
んだ融液によりIC全体が浸漬されることなく、
リード端子のみがはんだ付けされるため、ICの
加熱される部分が少なくなつて加熱による破損が
防止できる。また、噴流槽の各切欠部の外縁に沿
つて側壁を設けたのではんだ融液の流出が一定幅
に保持され、リード端子にはんだ融液の付着しな
い部分が生ずるのを防止することができる。さら
に前方の切欠部の外方下部へ流出するはんだ融液
の貯溜槽を設けたので、リード端子後方部のはん
だ融液の付着を完全にすることができる利点を有
する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例を示す斜視図、第
2図aは第1図の平面図、第2図bは第2図aの
−線による断面図、第2図cは第2図aのB
矢視による側面図、第3図は従来のIC用はんだ
付け装置の要部を示す構成図である。 図中、1はIC、2はリード端子、21ははん
だ槽、22は噴流槽、24はワイヤレール、2
5,26は切欠部、27,28は突出部、29,
30は側壁、31は貯溜槽、32は排出孔であ
る。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 噴流式のはんだ槽の噴流槽と対応する位置にワ
    イヤレールを張架してICを走行させ、前記はん
    だ槽から噴流するはんだ融液により前記ICのリ
    ード端子にはんだ付けを行うIC用はんだ付け装
    置において、前記ワイヤレールが前記噴流槽と交
    差する位置に前記ICを通過せしめるとともに前
    記ICが通過する部分の前記はんだ融液を流出さ
    せるための切欠部を前記噴流槽に対し前記ICの
    走行方向の後方と前方にそれぞれ形成し、かつ前
    記各切欠部から流出する前記はんだ融液の幅を一
    定に保持するための側壁を前記各切欠部の外縁に
    沿つて設け、また、前記前方の切欠部から流出す
    る前記はんだ融液を一時貯溜する貯溜槽を前記前
    方切欠部外方に設けたことを特徴とするIC用は
    んだ付け装置。
JP17236684U 1984-11-15 1984-11-15 Expired JPH022538Y2 (ja)

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JP17236684U JPH022538Y2 (ja) 1984-11-15 1984-11-15

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JP17236684U JPH022538Y2 (ja) 1984-11-15 1984-11-15

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JPS6187659U JPS6187659U (ja) 1986-06-07
JPH022538Y2 true JPH022538Y2 (ja) 1990-01-22

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JP17236684U Expired JPH022538Y2 (ja) 1984-11-15 1984-11-15

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JPH0444305Y2 (ja) * 1987-04-16 1992-10-19

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JPS6187659U (ja) 1986-06-07

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