JPH02250059A - 静電記録フイルム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は静電記録フィルムに関するものであり、特に電
気信号を直接静電潜像に変換した後、トナー現像して可
視像化する静電記録フィルムに関する。さらに詳しくは
、ＣＡＤ　（対話形設計）用などの静電記録プリンター
・プロッターに使用される静電記録フィルムに関するも
のである。

〔従来技術〕

フィルム支持体、導電層、誘電層をこの順に積層せしめ
た静電記録フィルムが知られている。

静電記録方式は、マルチピン電極ヘッド（以下ピン電極
と略称する）に記録電圧を印加し、ピン電極と静電記録
フィルムの誘電層との微少空隙（以下ギャップと略称す
る）に気中放電を起こして誘電層表面上に静電潜像を形
成し、次にこの静電潜像をトナーにより現像し、可視像
とするものである。こうして鮮明な画像を得るには、ギ
ャップをパッシェン曲線から適当な範囲に制御する必要
があり、このために絶縁性粒子を加えて適当な凹凸を設
けた誘電層をピン電極を接触させることにより、ギャッ
プを適当に制御する方式が最も一般的に使用されている
。かかる静電記録フィルムにおいては、誘電層に絶縁性
粒子を加えないと鮮明な画像が得られない。

しかし、かかる静電記録フィルムにおいては、繰り返し
印字を行うにつれて、次第に抜けが発生するという問題
があった。この原因はピン電極（通常リン青銅よりなる
）表面に絶縁性被膜が生成し、気中放電が発生し難くな
るためであると考えられている。高湿度に於いては、特
に著しく抜けが発生する傾向がある。

このため、静電記録ヘッドをしばしばクリーニングしな
いと良好な画像が保持できなかった。

〔発明が解決しようとする課題〕

本発明の目的は、上記欠点がないもの、すなわち、特に
高湿度に於いて、繰り返し印字を行っても抜けが少なく
、鮮明な画像が得られる静電記録フィルムを提供するこ
とを目的とするものである。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は上記目的を達成するために、次の構成からなる
。

（１）フィルム支持体、導電層、誘電層をこの順に積層
せしめた静電記録フィルムにおいて、該誘電層は少なく
とも高分子結着剤とモース硬度が５未満の絶縁性粒子Ａ
とモース硬度が５以上の絶縁性粒子Ｂとからなり、かつ
絶縁性粒子Ａと高分子結着剤との混合比が１×１０−３
≦（ＸＡ／ｄＡ）／　（Ｘ／ｄ）≦１、絶縁性粒子Ｂと
高分子結着剤との混合比が５Ｘ１０−’≦（Ｘ、／ｄＢ
）／　（Ｘ／ｄ）≦０．１であることを特徴とする静電
記録フィルム。

（２）絶縁性粒子Ａと絶縁性粒子Ｂとの混合比が０．４
≦（ＸＡ／ｄＡ）　／　（ｘａ　／ｄｓ　）≦１゜６Ｘ
１０３である上記静電記録フィルム。

（３）絶縁性粒子Ａの平均粒径（Ｄ５゜Ａ）と絶縁性粒
子Ｂの平均粒径（Ｄｓ。、）のと比（Ｄ５０い／　Ｄ　
ｓ。Ｂ）が０．２５〜４である上記（１）又は（２）記
載の静電記録フィルムである。ただし、Ｘ、ｄはそれぞ
れ誘電層中の高分子結着剤の重量部数、密度であり、ｘ
Ａ、ｄＡはそれぞれ絶縁性粒子Ａの重量部数、密度であ
り、ｘｅ、ｃｔｓはそれぞれ絶縁性粒子Ｂの重量部数、
密度である。

本発明に用いられる誘電層は、少なくとも高分子結着剤
、モース硬度が５未満の絶縁性粒子Ａと、モース硬度が
５以上の絶縁性粒子Ｂからなる。

高分子結着剤は、熱可塑性樹脂または硬化性樹脂からな
り、通常かかる静電記録フィルムの誘電層に用いられる
各種の樹脂が使用し得る。熱可塑性樹脂としては、例え
ば、ポリエステル、ポリビニルブチラール、ポリアミド
、ポリウレタン、ポリエステルアミド、ポリエーテル、
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリスチレン、ポリカ
ーボネート、ポリエーテルエステル、ポリ塩化ビニル、
ポリ（メタ）アクリル酸エステル、アルキド樹脂、ケイ
素樹脂などやこれらの共重合体やブレンド物などが挙げ
られる。また、硬化性樹脂としては、熱、光、酸素など
により硬化するもので、例えば、フェノール樹脂、メラ
ミン樹脂、架橋型エポキシ樹脂、ケイ素化合物、反応性
モノマを含有するポリ（メタ）アクリル酸エステル共重
合体、不飽和ポリエステルなどに架橋剤を加えて架橋し
たものなどが挙げられる。これらの高分子結着剤は、体
積固有抵抗が１０１２Ω・０ｍ以上であることが好まし
い。これより小さいと印字濃度が低くなり、好ましくな
い。

絶縁性粒子Ａとしては、体積固有抵抗が１０８Ω・０ｍ
以上、さらに好ましくは１０１°Ω・０ｍ以上のモース
硬度が５未満の無機粒子及び／または有機粒子が使用さ
れる。かかる無機粒子としては、例えば、多孔性酸化ケ
イ素（硬度４）、タルク（硬度１〜１．５）、炭酸カル
シウム（硬度４゜５）、水酸化カルシウム（硬度２〜３
）、ケイ酸アルミニウム（硬度２．５）などから、有機
粒子としては、例えば、スチレンージビニルベンゼン共
重合体、メラミン樹脂、エポキシ樹脂、フェノ。

−ル樹脂、フッ素樹脂などから適宜選択される。

これらの絶縁性粒子は、単独でも２種類以上混合して用
いても良い。

絶縁性粒子Ａの添加により、誘電層の表面に適切な凹凸
を設け、誘電層とピン電極間のギャップを適当に制御し
、放電を起こりやすくする。絶縁性粒子Ａの平均粒径は
、放電の安定性から０．１〜２０μｍの範囲が好ましい
。より好ましくは１〜１５μｍ１さらに好ましくは１．
５〜１０μｍである。

また、高分子結着剤と絶縁性粒子Ａの混合比は、Ｘ、ｄ
をそれぞれ誘電層中の高分子結着剤の重量部数、密度（
２７０ｍ３）、ＸＡ、ｄＡをそれぞれ絶縁性粒子Ａの重
量部数、密度（ｇ／ｃｍ’）とすると、１×１０−３≦
（ＸＡ／ｄＡ）／（Ｘ／ｄ）≦１であることが必要で、
好ましくは１×１０−２≦（ＸＡ／ｄＡ）／（Ｘ／ｄ）
≦０．５、さらに好ましくは５Ｘ１０−２≦（ＸＡ／ｄ
Ａ）／（Ｘ／ｄ）≦０．２５が好ましい。これより小さ
いと凹凸が少なくなり、適切なギャップが形成できず、
放電の安定性が悪くなる。また、これより大きいと誘電
層の膜強度が弱くなり、好ましくない。

一般に粒子は、割れ目、裂は目、凹みや穴の他に閉じた
空洞が存在し、いわゆる細孔構造（多孔構造とも言う）
をとる場合が多い。そのため、本発明の絶縁性粒子Ａの
密度ｄＡは、細孔を含んだ粒子の体積を求め、それで重
量を割ったもので定義される。ｄＡは、例えば、水銀の
ように粉体をぬらさない液体は細孔の中には入らないと
仮定し、これで置換し、細孔を含む比容（ａｍ３／ｇ）
から求める方法や、絶縁性粒子Ａの全細孔容積ＶＡ２（
絶縁性粒子Ａの１ｇあたりの細孔の全容積、Ｃｍ３／ｇ
）と絶縁性粒子Ａの粒子密度ｄ　ＡＯから下記の式によ
り求める方法がある。

ｄＡ　＝１／　（（１／ｄＡｏ）＋ＶＡ、）ｄＡｏは、
絶縁性粒子Ａの表面をぬらしやすい液体に浸し、含んで
いる気泡を十分に取り除き、粒子が排除した液体の体積
を求め、これより閉じた空洞を含めた粒子の体積が求ま
り（液浸法）、その値で粒子の質量を割ることにより求
められる。

同様にして、粒子が排除した気体の体積よりｄＡＯを求
める方法を気体容積法と言う。

■Ａ、は細孔内を適切な液体で充填し、その重量増加量
を測定し、これを液体の密度で割って求める方法（液浸
法）、ヘリウムのような不活性ガスは細孔の中に入るが
、水銀のように粉体をぬらさない液体は細孔の中には入
らないと仮定して、それぞれで置換し、細孔を含んだ比
容と細孔を含まない比容の差から求める方法（水銀−ヘ
リウム法）、ある気体の飽和蒸気圧下では粒子の全細孔
はその気体の凝縮体で満たされると考え、その時の気体
吸着量（ＮＴＰ、　Ｃｍ３／ｇ）を液体の体積に換算す
ることにより求める方法（気体吸着法）などにより求め
られる。

また、全細孔容積ＶＡ、＜　１／１０　ｄａｏの場合（
緻密な場合）は上記の式より明らかのように、ｄＡ”ｄ
Ａｏであるため、ｄＡはｄＡｏで代用できる。

高置、子結着剤の密度ｄも、一般に緻密な構造をとるた
め、ｄＡｏで代用できる。

本発明の誘電層は、少なくとも高分子結着剤と、モース
硬度が５未満の絶縁性粒子Ａと、モース硬度が５以上の
絶縁性粒子Ｂからなる。

絶縁性粒子Ｂとしては、体積固有抵抗が１０８Ω・０ｍ
以上、さらに好ましくは１０１０Ω・０ｍ以上の無機粒
子が使用される。また、絶縁性粒子Ｂは記録ヘッドを研
磨するに足る硬度が必要である。かかる無機粒子として
は、例えば、酸化チタン（硬度６．５）、溶融石英（硬
度６．５）、結晶化ガラス（硬度６〜７）、水晶（硬度
７）、ステアタイト（硬度８）、スピネル（硬度８）、
酸化ジルコニウム（硬度８．７）、アルミナ（硬度９）
、炭化ケイ素（硬度９．３）、炭化硼素（硬度９．６）
などから適宜選択される。これらの絶縁性粒子Ｂは、単
独でも２種類以上混合して用いても良い。絶縁性粒子Ｂ
を添加することにより記録ヘッドを研磨し、常に酸化被
膜の無いピン電極を得ることにより安定した放電を行い
、抜けのない画像を得ることができる。絶縁性粒子Ｂは
、その添加によってギャップに影響をあまり及ぼさない
ことが好ましく、平均粒径が０．１〜２０μｍであるこ
とが好ましい。より好ましくは１〜１５μｍ１さらに好
ましくは１．５〜１０μｍである。

これより小さ（なると記録ヘッドの研磨性が小さくなり
、これより大きくなると粗大突起となり画像特性が悪く
なったり、記録ヘッドの研磨が多くなり過ぎて記録ヘッ
ドの寿命を短くするなど好ましくない。絶縁性粒子Ｂの
形状は特に限定はされないが、球形が特に好ましく、針
状や凄鋭角部を持つ粒子は記録ヘッドの研磨性を一定に
するのが難しく、あまり好ましくない。また、純度は高
いほうが好ましいのは言うまでもないが、不純物として
靭性を低くするものは記録ヘッドの研磨性が弱くなり、
特に好ましくない。

誘電層中の高分子結着剤と絶縁性粒子Ｂの混合比は、Ｘ
、、ｃｉ、をそれぞれ絶縁性粒子Ｂの重量部数、密度（
ｇ／ｃｍ３）とすると、５Ｘ１０−５≦（ＸＩ　／ｄＢ
）／　（Ｘ／ｄ）≦０．１であることが必要で、好まし
くは１×１０−’≦（Ｘａ　／ｄＢ’）／　（Ｘ／ｄ）
≦５Ｘ１０−２、さらに好ましくは５Ｘ１０−’≦（Ｘ
Ｂ　／ａｅ　）　／　（Ｘ／ｄ）≦１ｘｉｏ−２である
。これより少ないと記録ヘッドの研磨性が小さくなり、
抜けが発生し好ましくなく、これより多いと記録ヘッド
の研磨が多くなり過ぎて、記録ヘッドの寿命を短くする
など好ましくない。なお、絶縁性粒子Ｂの密度（ｇ／ｃ
ｍ’　）の定義は、絶縁性粒子Ａの密度（ｇ／ｃｍ３）
の定義と同様とする。

また、絶縁性粒子Ａと絶縁性粒子Ｂとの混合比は、０．
４≦（ＸＡ　／　ｄＡ）　／　（ＸＢ　／　ｄ　ｎ　）
≦１．６Ｘ１０３であることが好ましい。より好ましく
は４≦（ＸＡ／ｄＡ）／　（Ｘ、／ｄＢ）≦６×１０２
、さらに好ましくは８≦（ＸＡ／ｄＡ）／（Ｘｅ／ｄａ
）≦３Ｘ１０２である。これより小さいと記録ヘッドの
研磨が多くなり過ぎて、記録ヘッドの寿命を短（するな
ど好ましくなく、これより大きいと記録ヘッドの研磨性
が小さくなり、抜けが発生し好ましくない。絶縁性粒子
Ａの平均粒径（Ｄ５０Ａ）と絶縁性粒子Ｂの平均粒径（
Ｄ５０Ｂ）との比（Ｄ５゜Ａ／Ｄ５０、）は０．２５〜
４が好ましい。より好ましくは０．５〜２、さらに好ま
しくは０．７５〜１．２５である。これより小さいと記
録ヘッドの研磨が多くなり過ぎて、記録ヘッドの寿命を
短くするなど好ましくなく、これより大きいと記録ヘッ
ドの研磨性が小さくなり、抜けが発生し、好ましくない
。

誘電層の付加方法は、通常知られた方法が有効に使用さ
れる。例えば、刷毛塗り、浸漬塗り、ナイフ塗り、ロー
ル塗り、スプレー塗装、流し塗り、回転塗り（スピンナ
ー、ホエラーなど）などの中から適宜選択される。誘電
層の塗布量は１〜１０ｇ／ｍ　２であることが好ましく
、これより塗布量が少ないと膜強度が弱くなり好ましく
なく、これより塗布量が多くなると記録濃度が低くなり
好ましくない。また、本発明の誘電層には特性を損わな
い範囲で必要に応じて、レベリング剤、消泡剤、分散助
剤、可塑剤、接着促進剤、安定剤、酸化防止剤、紫外線
吸収剤、滑剤などの添加剤を添加してもよ゛く、また、
かぶり防止のために導電粉を添加してもよい。

本発明の導電層は、通常知られたものが使用される。か
かる導電層としては、（１）電子伝導性の金属や金属酸
化物等からなる層を蒸着やスパッタリング法により設け
たもの、（２）電子伝導性の金属や金属酸化物等の粉末
と高分子結着剤からなる層を塗工法により設けたもの、
（３）イオン伝導性の高分子電解質からなる層を塗工法
により設けたもの、などがあげられる。

これらの中でも、透明な電子伝導性の金属酸化物の粉末
と高分子結着剤からなる層を塗工法により設けたものは
、表面抵抗値の経時安定性にすぐれ、高透明であり、表
面抵抗値が湿度に依存せず、特に好ましく用いられる。

金属酸化物の粉末としては、例えば、酸化インジウム、
酸化スズ、酸化亜鉛、酸化チタン、酸化タンタル、酸化
マグネシウム、酸化バナジウム、酸化銅などやこれらに
ハロゲン、アンチモン、燐などをドープしたもの、構造
欠陥を設けたものなどが挙げられるが、これらに限定さ
れない。これらは単独でも、２種類以上が化合・混合な
どされた状態で併用されてもよい。これらの中でも酸化
スズ、酸化インジウム、酸化亜鉛、酸化チタンの粉末は
特に好ましい。

高分子結着剤は、熱可塑性樹脂または硬化性樹脂からな
り、通常かかる静電記録フィルムの誘電層に用いられる
各種の樹脂が使用し得る。熱可塑性樹脂としては、例え
ば、ポリエステル、ポリビニルブチラール、ポリアミド
、ポリウレタン、ポリエステルアミド、ポリエーテル、
ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリスチレン、ポリカ
ーボネート、ポリエーテルエステル、ポリ塩化ビニル、
ポリ（メタ）アクリル酸エステル、アルキド樹脂、ケイ
素樹脂などやこれらの共重合体やブレンド物などが挙げ
られる。また、硬化性樹脂としては、熱、光、酸素など
により硬化するもので、例えば、フェノール樹脂、メラ
ミン樹脂、架橋型エポキシ樹脂、ケイ素化合物、反応性
モノマを含有するポリ（メタ）アクリル酸エステル共重
合体、不飽和ポリエステルなどに架橋剤を加えて架橋し
たものなどが挙げられる。

高分子結着剤と電子伝導性金属酸化物粉末の重量比およ
び導電層の塗布量は、表面抵抗が上記条件を満足する範
囲で適宜選択するのがよいが、通常、高分子結着剤と電
子伝導性金属酸化物粉末の好適な重量比は８０／２０〜
１０／９０であり、導電層の塗布量は０．３〜Ｌｏｇ／
ｍ２の範囲である。また、導電層の塗工方式は通常知ら
れた方法が有効に使用される。例えば、刷毛塗り、浸漬
塗り、ナイフ塗り、ロール塗り、スプレー塗装、流し塗
りなどの中から適宜選択される。

本発明に用いられるフィルム支持体としては、通常知ら
れた熱可塑性樹脂または硬化性樹脂からなるフィルムで
ある。このフィルム用の樹脂としてはポリエステル、ポ
リオレフィン、ポリアミド、ポリエステルアミド、ポリ
エーテル、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリスチレ
ン、ポリカーボネート、ポリ−ｐ−フェニレンスルフィ
ド、ポリエーテルエステル、ポリ塩化ビニル、ポリメタ
アクリル酸エステル、ポリウレタンなどが好ましい。

さらにこれらの共重合体やブレンド物やさらに架橋した
ものも用いることができる。また、これらの樹脂は延伸
加工したものが機械的強度、寸法安定性、熱的性質、光
学的性質などが向上するので好ましい。

これらの中でもポリエステルフィルムがより好ましく用
いられる。ここでポリエステルとは、芳香族ジカルボン
酸を主たる酸成分とし、アルキレングリコールを主たる
グリコール成分とするポリエステルである。芳香族ジカ
ルボン酸としては、テレフタル酸が特に好ましく使用さ
れる。アルキレングリコールとしては、エチレングリコ
ールが特に好ましく使用される。もちろん、これらのポ
リエステルは、ホモポリエステルであってもコポリエス
テル（共重合ポリエステル）であってもよい。

フィルム支持体は、使用目的に応じて、染料、顔料など
を添加して着色したり、マット加工していてもよい。紫
外線吸収剤などの公知の添加剤を添加してもよい。さら
に、導電層との接着性向上のため公知の表面処理、例え
ば、コロナ放電処理、プラズマ放電処理、アンカーコー
トなどをしてもよい。

また、帯電防止性を付与するため、プラスチックフィル
ム中に公知の帯電防止剤を添加したり、該導電層の反対
の面に公知の帯電防止層を積層してもよい。

フィルム支持体の厚みとしては１０〜２５０μｍが好ま
しい。より好ましくは２５〜１５０μｍが望ましい。こ
れより薄いと、フィルム支持体としての力学的強度が足
りず、これより厚いと過膜性が悪くなり好ましくない。

さらにフィルム支持体は走行時のきずの発生を防ぐため
に静摩擦係数は２．０以下、さらに好ましくは１．０以
下であることが好ましい。

〔発明の効果〕

本発明は、フィルム支持体、導電層、誘電層をこの順に
積層せしめた静電記録フィルムにおいて、特定の誘電層
を用いることにより、画像に線抜けが少なく、鮮明な画
質を得ることができるものである。

以上のように、本発明の静電記録フィルムはすぐれた特
性を有するので、特にハードコピー用静電記録フィルム
として、静電プリンター・プロッター用やファクシミリ
用に使用することができるのみならず、繰り返し使用す
るマスターフィルム用静電記録フィルムとして、複写機
用、ファクシミリ受信機用、プリンター用の転写マスタ
ーや静電潜像転写方式の電子写真プロセス（ＴＥＳＩ法
）で転写静電潜像を保持する記録体として、さらに静電
記録方式によるデイスプレィ用の記録フィルムとして有
用である。

〔特性の測定方法〕

（１）密度 まず、粒子の全細孔容積Ｖｐは、飽和蒸気圧下で全細孔
はその気体の凝縮体で満たされると考え、その時の気体
吸着量Ｖｓ　（ｃｍ３　（ＮＴＰ）／ｇ）を液体の体積
に換算することにより求めた（気体吸着法）。気体は窒
素を用いた。窒素の液体状態での密度を０．　８０８　
（ｇ／　ｃｍ３）として下記の式よりＶｐを求めた。

Ｖｐ＝Ｑ、０Ｏ１５６Ｖｓ 次に、粒子密度ｄＯはトルエン中に粒子を浸し、気泡を
取り除いた後、粒子が排除した体積と粒子の重量より求
めた。

粒子の密度ｄは下式より求めた。

ｄ＝１／　（（１／ｄｏ）＋Ｖｐ） また、Ｖｐ＜１／１０ｄｏ（７）とき、ｄ　−ｄ　ｏ　
テあるため、ｄはｄｏで代用した。

（２）平均粒径 コールタ−カウンター法（ＭＯＤＥＬ　　ＴＡＩＩ、（
株）日本機製）にて粒度分布を測定した。重量積算フル
イ５０％上粒径（メジアン径）を平均粒径とした。

（３）画質 同一面制御方式の静電記録フィルムプロッターにおいて
、静電記録フィルムの表面に１６ドツト／ｍｍのマルチ
ピン電極ヘッドにより静電潜像を形成させ、次いで静電
潜像を湿式トナー現像機によって顕像化したあと、乾燥
してハードコピー画像を得た。２０℃で相対湿度は４０
および８０％の条件で実施した。

（イ）抜は 静電記録フィルムを１０ｍ印字後、直ちに静電記録フィ
ルムの走行方向に４ｍｍの間隔で１ドツトラインを印字
し、長さ８ｍｍ、１００本について抜けが発生している
本数を測定した。１０本以下を良好、１１本以上を不良
とした。

（ロ）記録濃度 べた黒画像を印字し、マクベス濃度計（モデルＴＲ−９
２７）で反射濃度を測定し、反射濃度が１．０以上を良
好、１．０未満を不良とした。

（４）記録ヘッドのきず まず、＃３６００のサンドペーパーで記録ヘッド表面を
６回研磨し、記録ヘッド表面が鏡面になったことを確認
後、静電記録フィルムを６０ｍ印字し、再び記録ヘッド
表面を＃３６００のサンドペーパーで６回研磨した。記
録ヘッド表面のきすが取れ、再び鏡面に戻った場合を良
好とし、きずが残った場合を不良とした。

〔実施例〕

以下、本発明を実施例によってさらに説明するが、本発
明はこれらによって限定されない。

実施例１ 厚さ７５μｍの二軸延伸ポリエステルフィルム（東し製
、“ルミラー″）の上に導電性酸化スズをポリエステル
樹脂に分散した透明導電性塗料（触媒化成工業製、“エ
ルコム”）をグラビアコーターで塗布した。この導電層
の表面抵抗は１×１０７Ω／口であった。この導電性フ
ィルムの導電層の上に、下記に示した誘電層をグラビア
コーターで塗工して本発明の静電記録フィルム（実施例
１）を得た。乾燥後の塗布量は３．５ｇ／ｍ２であった
。静電記録プロッターで印字後、画質、記録ヘッドのき
ずを調べ、表１にまとめた。

く誘電層組成〉 ポリエステル樹脂（“ケミット”、東し製、比重１．４
）　　　　　　　　　　　１００重量部多孔性酸化ケイ
素粒子（平均粒径３．９μｍ１全細孔容積０．６０ｃｍ
３／ｇ、比重０．９５、硬度４’）　　　　　　　　　
　　　　　１５重量部アルミナ・酸化ジルコニア粒子（
化学組成比５０１５０（重量比）、平均粒径５，７μｍ
１全細孔容積＜　０．　０２　ｃ　ｍ３／　ｇｓ比重４
．３、硬度９）　　　　　　　　　　　　　　０．１重
量部導電粉（酸化スズ、平均粒径０．１μｍ、１Ω・ｃ
ｍ、かぶり防止用）０．２重量部 実施例２ 下記に示した誘電層をグラビアコーターで塗工した以外
は実施例１と同様にして本発明の静電記録フィルム（実
施例２）を得た。静電記録プロッターで印字後、画質、
記録ヘッドのきずを調べ、表１にまとめた。

く誘電層組成〉 ポリエステル樹脂（“ケミット”、東し製、比重１．４
）　　　　　　　　　　　　１００重量部多孔性酸化ケ
イ素粒子（平均粒径３．９μｍ１全細孔容積０．６０ｃ
ｍ３／ｇｓ比重０．９５、硬度４）　　　　　　　　　
　　　１５重量部アルミナ・酸化ジルコニア粒子（化学
組成比５０１５０（重量比）、平均粒径４．８μｍ１全
細孔容積＜０．０２ｃｍ３／ｇ、比重４，３、硬度９）
　　　　　　　　　　　　　　１．０重量部導電粉（酸
化スズ、平均粒径０．１μｍｓｌΩ・ｃｍ、かぶり防止
用）０．２重量部 実施例３ 下記に示した誘電層をグラビアコーターで塗工した以外
は実施例１と同様にして本発明の静電記録フィルム（実
施例３）を得た。静電記録プロッターで印字後、画質、
記録ヘッドのきずを調べ、表１にまとめた。

く誘電層組成〉 ポリエステル樹脂（“ケミット”、東し製、比重１．４
）　　　　　　　　　　　１００重量部多孔性酸化ケイ
素粒子（平均粒径６，４μｍ１全細孔容積０　、　４６
　ｃ　ｍ３／　ｇ　％比重１．１、硬度４）　　　　　
　　　　　　　　１５重量部アルミナ・酸化ジルコニア
粒子（化学組成比５０１５０（重量比）、平均粒径３．
７μｍ１全細孔容積＜０．０２ｃｍ３／ｇ、比重４，３
、硬度９）　　　　　　　　　　　　　　１０重量部導
電粉（酸化スズ、平均粒径０．１μｍｓ　１Ω・ｃｍ、
かぶり防止用）０．２重量部 実施例４ 下記に示した誘電層をグラビアコーターで塗工した以外
は実施例１と同様にして本発明の静電記録フィルム（実
施例４）を得た。静電記録プロッターで印字後、画質、
記録ヘッドのきずを調べ、表１にまとめた。

〈誘電層組成〉 ポリエステル樹脂（“ケミット”、東し製、比重１．４
）　　　　　　　　　　　　１００重量部多孔性酸化ケ
イ素粒子（平均粒径３．０μｍ１全細孔容積１．８ｃｍ
３／ｇ、比重０．４４、硬度４）　　　　　　　　　　
　　　　８重量部アルミナ・酸化ジルコニア粒子（化学
組成比５０１５０（重量比）、平均粒径７．２μｍ１全
細孔容積＜　０　、　０２　ｃ　ｒｎ　３／　ｇ　％比
重４．３、硬度９）　　　　　　　　　　　　　０．０
５重量部導電粉（酸化スズ、平均粒径０．１μｍ、１Ω
・ｃｍ、かぶり防止用）　　　　　０．２重量部実施例
５ 下記に示した誘電層をグラビアコーターで塗工した以外
は実施例１と同様にして本発明の静電記録フィルム（実
施例５）を得た。静電記録プロッターで印字後、画質、
記録ヘッドのきずを調べ、表１にまとめた。

く誘電層組成〉 ポリエステル樹脂（“ケミット”、東し製、比重１．４
）　　　　　　　　　　　１００重量部多孔性酸化ケイ
素粒子（平均粒径６．４μｍ１全細孔容積０．４６　ｃ
ｍ３／ｇｓｍ３／、１、硬度４）　　　　　　　　　　
　　　　５重量部アルミナ・酸化ジルコニア粒子（化学
組成比５０１５０（重量比）、平均粒径２．８μｍ１全
細孔容積＜０．０２ｃｍ３／ｇ、比重４．３、硬度９）
　　　　　　　　　　　　　　１５重量部導電粉（酸化
スズ、平均粒径０．１μｍ、ｌΩ・ｃｍ、かぶり防止用
）０．２重量部 実施例６ 下記に示した誘電層をグラビアコーターで塗工した以外
は実施例１と同様にして本発明の静電記録フィルム（実
施例６）を得た。静電記録プロッターで印字後、画質、
記録ヘッドのきずを調べ、表１にまとめた。

〈誘電層組成〉 ポリエステル樹脂（″ケミット”、東し製、比重１．４
）　　　　　　　　　　　１００重量部多孔性酸化ケイ
素粒子（平均粒径３．９μｍ、全細孔容積０．　６０　
ｃ　ｍ３／　ｇ、比重０．９５、硬度４）　　　　　　
　　　　　　　２重量部アルミナ・酸化ジルコニア粒子
（化学組成比５０１５０（重量比）、平均粒径４．８μ
ｍ１全細孔容積＜０．０２ｃｍ３／ｇ、比重４．３、硬
度９）　　　　　　　　　　　　　　０．５重量部導電
粉（酸化スズ、平均粒径０，１μｍ、ｌΩ・ｃｍ、かぶ
り防止用）０．２重量部 比較例１ アルミナ・酸化ジルコニア粒子の添加部数を０．００５
重量部にした以外は実施例２と同様にして本発明の静電
記録フィルム（比較例１）を得た。静電記録プロッター
で印字後、画質、記録ヘッドのきずを調べ、表１にまと
めた。

比較例２ アルミナ・酸化ジルコニア粒子の添加部数を５０重量部
にした以外は実施例２と同様にして本発明の静電記録フ
ィルム（比較例２）を得た。静電記録プロッターで印字
後、画質、記録ヘッドのきずを調べ、表１にまとめた。

比較例３ 多孔性酸化ケイ素粒子の添加部数を１００重量部とした
以外は実施例２と同様にして本発明の静電記録フィルム
（比較例３）を得た。静電記録プロッターで印字後、画
質、記録ヘッドのきずを調べ、表１にまとめた。

比較例４ 多孔性酸化ケイ素粒子の添加部数を０．０５重量部とし
た以外は実施例３と同様にして本発明の静電記録フィル
ム（比較例４）を得た。静電記録プロッターで印字後、
画質、記録ヘッドのきずを調べ、表１にまとめた。

手続補正書

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）フィルム支持体、導電層、誘電層をこの順に積層
   せしめた静電記録フィルムにおいて、該誘電層は少なく
   とも高分子結着剤とモース硬度が５未満の絶縁性粒子Ａ
   とモース硬度が５以上の絶縁性粒子Ｂとからなり、かつ
   絶縁性粒子Ａと高分子結着剤との混合比が１×１０＾−
   ＾３≦（Ｘ＿Ａ／ｄ＿Ａ）／（Ｘ／ｄ）≦１、絶縁性粒
   子Ｂと高分子結着剤との混合比が５×１０＾−＾５≦（
   Ｘ＿Ｂ／ｄ＿Ｂ）／（Ｘ／ｄ）≦０．１であることを特
   徴とする静電記録フィルム。ただし、Ｘ、ｄはそれぞれ
   誘電層中の高分子結着剤の重量部数、密度であり、Ｘ＿
   Ａ、ｄ＿Ａはそれぞれ絶縁性粒子Ａの重量部数、密度で
   あり、Ｘ＿Ｂ、ｄ＿Ｂはそれぞれ絶縁性粒子Ｂの重量部
   数、密度である。
2. （２）絶縁性粒子Ａと該絶縁性粒子Ｂとの混合比が０．
   ４≦（Ｘ＿Ａ／ｄ＿Ａ）／（Ｘ＿Ｂ／ｄ＿Ｂ）≦１．６
   ×１０＾３である請求項１記載の静電記録フィルム。
3. （３）絶縁性粒子Ａの平均粒径（Ｄ＿５＿０＿Ａ）と絶
   縁性粒子Ｂの平均粒径（Ｄ＿５＿０＿Ｂ）との比（Ｄ＿
   ５＿０＿Ａ／Ｄ＿５＿０＿Ｂ）が０．２５〜４であるこ
   とを請求項１または２記載の静電記録フィルム。