JPH02247840A - 光ディスク基板 - Google Patents

光ディスク基板

Info

Publication number
JPH02247840A
JPH02247840A JP1069870A JP6987089A JPH02247840A JP H02247840 A JPH02247840 A JP H02247840A JP 1069870 A JP1069870 A JP 1069870A JP 6987089 A JP6987089 A JP 6987089A JP H02247840 A JPH02247840 A JP H02247840A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pits
areas
grooves
area
optical disk
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1069870A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2722629B2 (ja
Inventor
Reijiro Kiuchi
木内 礼次郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1069870A priority Critical patent/JP2722629B2/ja
Publication of JPH02247840A publication Critical patent/JPH02247840A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2722629B2 publication Critical patent/JP2722629B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ディスク基板に関する。
〔従来の技術〕
従来の光ディスク基板は第4図に示すようにトラ、キン
グ用グループ9とグループ間のアドレスピットlOとを
所定領域に形成していた。
このような光ディスク基板はグループとピットとを露光
する2本のレーザビームをトラックピッチの172の間
隔で配置し2本のビームの強度を各々制御して、フォト
レジスト基板を露光し、グループの深さとピットの深さ
を各々最適化して、光ディスク原盤を作成し、この原盤
から電鋳によりスタンパを形成し、更に例えば射出成形
等により光ディスク基板を作成していた。
このような光ディスク基板の例では、トラックピッチ1
.6μmに対し、2本のビーム間隔は0.8μmであり
、その設定精度や露光時の光学系のずれ等により、実際
には0.8μmからずれることもあった。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、このような上述した従来の光ディスク基
板は、トラッキング用グループの間に、の間隔を調べる
ためには、走査型電子顕微鏡観察等によって行なう必要
があり、特に、原盤での検査においては、破壊検査とな
り、その原盤が後工程で使えなくなるという欠点があっ
た。
〔課題を解決するための手段〕
レスピット10とを含んで構成される所定領域1の内周
側および外周側に中心角30°程度で半径方向の幅約1
mmのモニター用エリア2をもつ。
第2図は第1図に示すモニター用エリアの拡大平面図で
ある。トラッキング用グループ9を露光するグループ用
ビームとアドレスピッ)10を露セクタ番号を示すアド
レスピットとを形成した所定領域と、前記所定領域の内
周側および外周側の少なくとも一方に前記グループとピ
ットと同じ間隔で形成されかつ、同一長さのピットパタ
ーンを形成してなるモニタ用エリアとを含んで構成され
る。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例を示す平面図である。
第1図に示す光ディスク基板は、1.6μmピッチのト
ラッキング用グループ9と該グループ間に形成されたト
ラック番号とセクタ番号を示すアトるように設定し、モ
ニター用エリア2の間連続に露光し同形状のピット3と
ピット4とを所定領域1と同じ間隔で作成する。
第2図で示したようにモニター用エリア2は、トラック
ピッチの172の間隔で作られた回折格子となるので第
3図に示すように光ディスク基板5のモニター用エリア
2にレーザ光6を一定角で入射させた時回折光7が生じ
る。
この回折光7を検出器8を用いて回折パターンを観察す
ることによって、グループとピットを露光する2本のビ
ーム間隔を測定し、ピッチが0.8μmであることを確
認できた。
この測定により原盤を非破壊、非接触で検査し、2本の
ビーム間隔がトラックピッチの172の間隔となってい
ることを確認し、後工程に進めることができる。
この原盤から作成された基板には当然ピット3とピット
4とが形成されているので、成形基板でも間隔測定が可
能である。
〔発明の効果〕
本発明の光ディスク基板は、トラッキング用グループと
該グループ間に形成されるアドレスピットが形成される
所定領域の内周側、外周側の少なくとも一方に前記グル
ープおよびピットを露光する2本のレーザビームで露光
した同一長さのピットパターンを形成することによって
、非破壊、非接触で2本のレーザビームの間隔を測定で
きるという効果がある。
第3図は4/第1図に示す実施例を測定するための測定
機のブロック構成図、第4図は従来の一例を示す要部拡
大平面図である。
1・・・・・・所定領域、2・・・・・・モニター用エ
リア、3.4・・・・・・ピット、5・・・・・・光デ
ィスク基板、6・・・・・・レーザ光、7・・・・・・
回折光、8・・・・・・検出器、9・・・・・・トラッ
キング用グループ、10・・・・・・アドレスピット。
代理人 弁理士  内 原   晋
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2因は〆第
1図に示すモニターエリアの拡大平面図、亭 I 図 昇 図 第 閃 井 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. トラッキング用グループと該グループ間に形成されトラ
    ック番号とセクタ番号を示すアドレスピットとを形成し
    た所定領域と、前記所定領域の内周側および外周側の少
    なくとも一方に前記グループとピットとの間隔と同一の
    間隔で形成され、かつ、同一長さのピットパターンを形
    成してなるモニタ用エリアとを含むことを特徴とする光
    ディスク基板。
JP1069870A 1989-03-20 1989-03-20 光ディスク基板 Expired - Fee Related JP2722629B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1069870A JP2722629B2 (ja) 1989-03-20 1989-03-20 光ディスク基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1069870A JP2722629B2 (ja) 1989-03-20 1989-03-20 光ディスク基板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02247840A true JPH02247840A (ja) 1990-10-03
JP2722629B2 JP2722629B2 (ja) 1998-03-04

Family

ID=13415260

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1069870A Expired - Fee Related JP2722629B2 (ja) 1989-03-20 1989-03-20 光ディスク基板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2722629B2 (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57141035A (en) * 1981-02-25 1982-09-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optical recording and reproducing disc
JPS6218831U (ja) * 1985-07-18 1987-02-04

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57141035A (en) * 1981-02-25 1982-09-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optical recording and reproducing disc
JPS6218831U (ja) * 1985-07-18 1987-02-04

Also Published As

Publication number Publication date
JP2722629B2 (ja) 1998-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3626724C2 (de) Anordnung zur Oberflächenprüfung
US4291990A (en) Apparatus for measuring the distribution of irregularities on a mirror surface
JP2007133985A (ja) 磁気記録・光記録ディスク検査装置
KR910008502B1 (ko) 디스크 원반
JPH1096611A (ja) 形状測定装置
JPS6233739B2 (ja)
JPH09166866A (ja) フォトマスクの目合わせマーク及び半導体装置
JPH02247840A (ja) 光ディスク基板
JP3353051B2 (ja) 集積回路構造の線幅測定
JPH06302492A (ja) 露光条件検定パターンおよび露光原版ならびにそれらを用いた露光方法
US7361456B2 (en) Method of manufacturing master disk, apparatus of manufacturing master disk, method of detecting moving distance difference of master disk, and apparatus of detecting moving distance difference of master disk
JPH01131416A (ja) 光学式エンコーダ
JP3070276B2 (ja) 光学式変位測定装置及びその製造方法
KR100795543B1 (ko) 마이크로 광학소자 어레이의 3차원 표면조도 측정장치
JP2689657B2 (ja) スタンパー
JPS58162953A (ja) 現像処理の制御装置
JPH06259816A (ja) スタンパーの厚み測定方法
JP2006024274A (ja) 光ディスク検査方法および装置
JPS6139952A (ja) 光デイスク原盤の溝幅測定方法
JPH01162283A (ja) 基準ディスク
JPS60171651A (ja) デイスク検査方法
JP2001044252A (ja) フォトレジスト層の垂直側壁上の周期的な波形を用いた電子顕微鏡のスケールバー調整をする方法
JPH09145326A (ja) 光ディスク原盤の溝パラメータ測定方法・測定装置、製造方法、及び、現像方法・現像装置
JPH09231620A (ja) 光学式ディスクのトラックピッチ検査方法及びその装置
JPH0260120A (ja) 重ね合せ精度評価方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees