JPH02245677A - 光電センサの機能検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光電センサの機能検査方法にかかり、さらに詳
しくは紙粉等のほこりに基づく光電センサの機能低下を
検知するのに好適な光電センサの機能検査方法に関する
。

〔従来の技術］ 従来の光電センサにおいては、特開昭６２−１３８９９
４号公報に開示されているように、紙粉等のほこりに起
因する発光素子・受光素子の機能低下の程度や余命を検
知することには、何の配慮もされていないのが実状であ
る。

〔発明が解決しようとする課Ｂ］ 従来技術においては、光電センサの機能低下の程度や光
電センサの余命を検出することは、不可能であった。

この発明の目的は、光電センサの発光素子と受光素子が
紙粉等のほこりによて汚れ、光電センサの機能が低下す
る場合、その機能低下の程度や余命を検知することを可
能にする光電センサの機能検査方法を提供することにあ
る。

（課題を解決するための手段） この発明の光電センサの機能検査方法は、受光素子のエ
ミッタ・コレクタ間の印加電圧を除々に増加し、受光素
子の出力がライトからダークへのしきい値をこえる上記
印加電圧を検出し、検出された印加電圧の大きさによっ
て、光電センサの寿命を判定することを特徴としている
。そして、上記の光電センサの出力としては、エミッタ
・コレクタ間電圧やエミッタ・コレクタ間電流が用いら
れる。

〔作用〕

次に、この発明の作用について、第２図を用いて説明す
る。第２図は、受光素子のエミッタ・コレクタ電圧Ｖｃ
ｅとエミッタ・コレクタ電流ＩＣの関係を受光素子の印
加電圧Ｖｃｃをパラメータとして表した図である。第２
図において、特性ａ、　ｂ、　ｃ、　ｄとして示すよう
に、印加電圧Ｖｃｃを増加すると、エミッタ・コレクタ
電流ｉＣは始め急激に増加し、やがて飽和状態になる。

第２図において、エミッタ・コレクタ電圧Ｖｃｅが電圧
ｖｔｈよりも大きい領域はダークと判定され、エミッタ
・コレクタ電圧Ｖｃｅが電圧ｖｔｈよりも小さい領域は
ライトと判定される。そして、特性ａのように、印加電
圧Ｖｃｃを増加させるとエミッタ・コレクタ電圧Ｖｃｅ
がすぐにｖｔｈを越えてライトからダークの領域に入っ
てしまう場合、センサの感度が低く、特性が劣化してい
ることがわかる。また、特性ｄのように、印加電圧Ｖｃ
ｃを増加させるとエミッタ・コレクタ電圧Ｖｃｅがなか
なかｖｔｈを越えずライトからダ−りの領域に入らない
場合、センサの感度が高く、特性が劣化していないこと
がわかる。したがって、印加電圧Ｖｃｃを除々に増加し
て、ライトからダークに変化する時の印加電圧Ｖｃｃを
検出し、その値の大小を判定することにより、光電セン
サの寿命を検知することができる。

［実施例］ 以下、添付の図面に示す実施例により、更に詳細に本発
明について説明する。第１図はこの発明の一実施例を示
すブロック図であり、最初に通常のダーク・ライトの判
定動作について説明する。

ＣＰＵ１は、データ制御ライン２を介して制御回路３に
対して発光・受光の動作司令を出力する。

制御１回路３は、上記の動作司令に対応する信号を発光
回路４と受光回路５に対して出力する。発光回路４は受
信した信号に基づいて、所定の電圧を発光素子８に印加
して発光させる。受光回路５は印加電圧可変回路６と２
値化回路７とから構成さ圧Ｖｃｃを印加する。この電圧
Ｖｃｃは制御回路５からの信号により任意に設定できる
ものとする。また、２値化回路７は、受光素子９のコレ
クタ・エミッタ電圧Ｖｃｅをあらかじめ定められた基準
電圧ｖｔｈと比較して、ダークまたはライトの判定を行
い、判定結果を制御回路３に対して報告する。

次ニ、光電センサの機能検査時の動作について説明する
。制御２１１回路３は、ＣＰＵＩから司令を受けて、受
光素子鯰への印加電圧ＶｃｃをＶｃｃ、→Ｖｃｃ、→Ｖ
ｃｃｚ→Ｖｃｃ、→Ｖｃｃ、→Ｖｃｃ、と順次変化させ
、かつダーク・ライトの判定を連続して行うように、受
光回路５に対して信号を送る。また、制御回路３は、通
常動作時と同様に、発光素子８を発光させる信号を発光
回路４に対して送る。

そして、制御回路３は、２値化回路７から出力されるダ
ーク・ライトの判定結果を常時チェンジし、２値化出力
がライトからダークに反転したときの印加電圧ＶＣＣを
求めて記憶する。

２値化出力がライトからダークに反転したときの印加電
圧Ｖｃｃが大きければ、寿命は長く、逆に短ければ寿命
が短いと判定される。

なお、上記の実施例においては、２値化回路７がエミッ
タ・コレクタ電圧Ｖｃｅを用いてダーク・ライトの判定
を行ったが、この発明はこれに限定されるものではなく
、エミッタ・コレクタ電流ｉｃを用いてダーク・ライト
の判定を行ってもよい。

以上の説明から明らかなように、この実施例によれば、
光電センサが紙粉等によって汚れた場合、その余命を求
めることができ、光電センサの清掃や交換の時期を容易
に判定することができる。したがって、光電センサの誤
動作に起因する障害を有効に防止することができる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、特性の劣化した光電センサを容易に検
出でき、光電センサの余命を判断することができるので
、発光素子・受光素子の清掃・交換を実施する時期が容
易に判断できる。したがって、光電センサの誤動作に起
因する障害の発生を有効に防止することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は受光素子のエミッタ・コレクタ電圧とエミッタ・コレ
クタ電流の関係を受光素子の印加電圧をパラメータとし
て表した図である。 １・・・ＣＰＵ、２・・・データ制御ライン、３・・・
制御回路、４・・・発光回路、５・・・受光回路、６・
・・印加電圧可変回路、７・・・２値化回路、８・・・
発光素子、９・・・受光素子、Ｖｃｃ・・・印加電圧、
Ｖｃｅ・・・エミッタ・コレクタ電圧、ｉｃ・・・エミ
ッタ・コレクタ電流。 代理人　弁理士　秋　本　正　実

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、受光素子のエミッタ・コレクタ間の印加電圧を除々
   に増加し、受光素子の出力がライトからダークへのしき
   い値をこえる上記印加電圧を検出し、検出された印加電
   圧の大きさによって、光電センサの寿命を判定すること
   を特徴とする光電センサの機能検査方法。