JP2723647B2 - 光学的センサのチェック回路 - Google Patents
光学的センサのチェック回路Info
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- JP2723647B2 JP2723647B2 JP2079366A JP7936690A JP2723647B2 JP 2723647 B2 JP2723647 B2 JP 2723647B2 JP 2079366 A JP2079366 A JP 2079366A JP 7936690 A JP7936690 A JP 7936690A JP 2723647 B2 JP2723647 B2 JP 2723647B2
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- Japan
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- light
- optical sensor
- control means
- light emitting
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は光学的センサのチェック回路に関し、特に装
置内に実装された受発光素子一対から構成される光学的
センサのチェック回路に関する。
置内に実装された受発光素子一対から構成される光学的
センサのチェック回路に関する。
従来技術 一般に、光学的センサについては、装置に実装される
前に専用治具等を使用してチェックし、選別後に装置に
実装している。そして、光学的センサは紙葉類を高速で
搬送する紙葉類搬送路における媒体の通過の確認等に使
用される。
前に専用治具等を使用してチェックし、選別後に装置に
実装している。そして、光学的センサは紙葉類を高速で
搬送する紙葉類搬送路における媒体の通過の確認等に使
用される。
しかし、実装後においては、光学的センサンについて
のチェックは行われておらず、装置として何らかの不具
合が発生してから調査され、そのとき初めて光学的セン
サの不良が発見されるという欠点があった。
のチェックは行われておらず、装置として何らかの不具
合が発生してから調査され、そのとき初めて光学的セン
サの不良が発見されるという欠点があった。
発明の目的 本発明は上述した従来の欠点を解決するためになされ
たものであり、その目的は装置への実装後においても光
学的センサのチェックを行いうる回路を提供することで
ある。
たものであり、その目的は装置への実装後においても光
学的センサのチェックを行いうる回路を提供することで
ある。
発明の構成 本発明による光学的センサのチェック回路は、発光手
段及び受光手段から構成される光学的センサのチェック
回路であって、第１の外部指令に応じて前記発光手段を
発光させるか否かを制御する発光制御手段と、前記受光
手段の出力値が所定の基準値以下であるか否かを判定す
る比較手段と、第２及び第３の外部指令に応じて前記比
較手段における基準値を前記受光手段のチェック時以外
の通常の受光時における第１の基準値並びに該第１の基
準値より大でかつ互いに異なる第２及び第３の基準値に
変化せしめる基準値制御手段とを有し、前記発光制御手
段が前記発光手段を発光させない場合において前記基準
値制御手段が前記第１の基準値に設定した状態で前記比
較手段の判定結果に基づいて前記光学的センサの検査を
行い、前記発光制御手段が前記発光手段を発光させてい
る場合において前記基準値制御手段が前記第２及び第３
の基準値のうち小なる方に設定した状態で前記比較手段
の判定結果に基づいて前記光学的センサの検査を行った
後、更に前記発光手段における発光又は前記受光手段に
おける受光の妨げとなる埃等を取除いた後で前記基準値
制御手段が前記第２及び第３の基準値のうち大なる方に
設定した状態で前記比較手段の判定結果に基づいて前記
光学的センサの検査を行うようにしたことを特徴とす
る。
段及び受光手段から構成される光学的センサのチェック
回路であって、第１の外部指令に応じて前記発光手段を
発光させるか否かを制御する発光制御手段と、前記受光
手段の出力値が所定の基準値以下であるか否かを判定す
る比較手段と、第２及び第３の外部指令に応じて前記比
較手段における基準値を前記受光手段のチェック時以外
の通常の受光時における第１の基準値並びに該第１の基
準値より大でかつ互いに異なる第２及び第３の基準値に
変化せしめる基準値制御手段とを有し、前記発光制御手
段が前記発光手段を発光させない場合において前記基準
値制御手段が前記第１の基準値に設定した状態で前記比
較手段の判定結果に基づいて前記光学的センサの検査を
行い、前記発光制御手段が前記発光手段を発光させてい
る場合において前記基準値制御手段が前記第２及び第３
の基準値のうち小なる方に設定した状態で前記比較手段
の判定結果に基づいて前記光学的センサの検査を行った
後、更に前記発光手段における発光又は前記受光手段に
おける受光の妨げとなる埃等を取除いた後で前記基準値
制御手段が前記第２及び第３の基準値のうち大なる方に
設定した状態で前記比較手段の判定結果に基づいて前記
光学的センサの検査を行うようにしたことを特徴とす
る。
実施例 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明による光学的センサのチェック回路の
一実施例の回路図である。図において、本発明の一実施
例のチェック回路は、発光素子１及び受光素子２からな
る光学的センサをチェックするものであり、発光側電流
制御回路６と、受光側電圧調整回路８と、受光側基準値
制御回路７と、コンパレータ３と、抵抗R5,R10とを含ん
で構成されている。ここで、抵抗R5、R10は、例えば、
夫々56〔ＫΩ〕,4.7〔ＫΩ〕であれば良い。
一実施例の回路図である。図において、本発明の一実施
例のチェック回路は、発光素子１及び受光素子２からな
る光学的センサをチェックするものであり、発光側電流
制御回路６と、受光側電圧調整回路８と、受光側基準値
制御回路７と、コンパレータ３と、抵抗R5,R10とを含ん
で構成されている。ここで、抵抗R5、R10は、例えば、
夫々56〔ＫΩ〕,4.7〔ＫΩ〕であれば良い。
発光側電流制御回路６は、アノード側が＋５〔Ｖ〕に
接続されている発光素子１の電流を制御する回路であ
り、抵抗R8と、トランジスタTrと、プルアップ抵抗R9
と、インバータINVとを有している。ここで、R8,R9は、
例えば、夫々220〔Ω〕、470〔Ω〕であれば良い。
接続されている発光素子１の電流を制御する回路であ
り、抵抗R8と、トランジスタTrと、プルアップ抵抗R9
と、インバータINVとを有している。ここで、R8,R9は、
例えば、夫々220〔Ω〕、470〔Ω〕であれば良い。
かかる構成とされた制御回路６において、制御信号CO
NT1がハイレベルであれば、トランジスタTrはオフ状態
となり、発光素子１は発光しない。これに対し、制御信
号CONT1がロウレベルであれば、トランジスタTrがオン
状態となり、発光素子１は発光する。よって、制御信号
CONT1のレベルにより、発光素子１がオン・オフ制御さ
れることとなる。
NT1がハイレベルであれば、トランジスタTrはオフ状態
となり、発光素子１は発光しない。これに対し、制御信
号CONT1がロウレベルであれば、トランジスタTrがオン
状態となり、発光素子１は発光する。よって、制御信号
CONT1のレベルにより、発光素子１がオン・オフ制御さ
れることとなる。
受光側電圧調整回路８は、コレクタ側が＋５〔Ｖ〕に
接続されている受光素子２の出力を所定の電圧レベルに
調整し、コンパレータ３に入力する回路であり、抵抗R6
及びR7、可変抵抗VR、コンデンサＣが含まれている。こ
こで、抵抗R6,R7は、例えば、夫々10〔ＫΩ〕、470
〔Ω〕、可変抵抗VRは100〔ＫΩ〕、コンデンサＣは100
0〔PF〕であれば良い。
接続されている受光素子２の出力を所定の電圧レベルに
調整し、コンパレータ３に入力する回路であり、抵抗R6
及びR7、可変抵抗VR、コンデンサＣが含まれている。こ
こで、抵抗R6,R7は、例えば、夫々10〔ＫΩ〕、470
〔Ω〕、可変抵抗VRは100〔ＫΩ〕、コンデンサＣは100
0〔PF〕であれば良い。
かかる構成とされた調整回路において、受光素子２が
オン状態のとき、抵抗R6と可変抵抗VR及び抵抗R7との分
圧比に応じた電圧値がコンパレータ３に入力されること
となる。ここで、可変抵抗VRを調整すれば、コンパレー
タ３への入力電圧値を調整できるのである。
オン状態のとき、抵抗R6と可変抵抗VR及び抵抗R7との分
圧比に応じた電圧値がコンパレータ３に入力されること
となる。ここで、可変抵抗VRを調整すれば、コンパレー
タ３への入力電圧値を調整できるのである。
受光側基準制御回路７は、＋５〔Ｖ〕にプルアップさ
れた抵抗R1と、接地された抵抗R4と、アナログスイッチ
５を介して接続されたプルアップ抵抗R2と、アナログス
イッチ４を介して接地された抵抗R3とを含んで構成され
ている。
れた抵抗R1と、接地された抵抗R4と、アナログスイッチ
５を介して接続されたプルアップ抵抗R2と、アナログス
イッチ４を介して接地された抵抗R3とを含んで構成され
ている。
アナログスイッチ４は、制御信号CONT2の電圧レベル
によってオン・オフ制御される。また、アナログスイッ
チ５は、制御信号CONT3の電圧レベルによってオン・オ
フ制御される。
によってオン・オフ制御される。また、アナログスイッ
チ５は、制御信号CONT3の電圧レベルによってオン・オ
フ制御される。
かかる構成とされた制御回路において、制御信号CONT
2、CONT3が共にロウレベルのときは、アナログスイッチ
４及び５が共にオフとなり、抵抗R1と抵抗R4との分圧比
に応じた基準電圧がコンパレータ３へ入力されることと
なる。すると、コンパレータ３への基準電圧値ＶINは、
式（１）で表される。
2、CONT3が共にロウレベルのときは、アナログスイッチ
４及び５が共にオフとなり、抵抗R1と抵抗R4との分圧比
に応じた基準電圧がコンパレータ３へ入力されることと
なる。すると、コンパレータ３への基準電圧値ＶINは、
式（１）で表される。
ＶIN＝５×R1/（R1＋R4）〔Ｖ〕 …（１） また、制御信号CONT2がハイレベル、CONT3がロウレベ
ルのときには、アナログスイッチ４がオン、アナログス
イッチ５がオフとなり、抵抗R1と抵抗R4及びR3の合成抵
抗との分圧比に応じた基準電圧がコンパレータ３へ入力
されることとなる。すると、コンパレータ３への基準電
圧値ＶIN′は式（２）で表される。
ルのときには、アナログスイッチ４がオン、アナログス
イッチ５がオフとなり、抵抗R1と抵抗R4及びR3の合成抵
抗との分圧比に応じた基準電圧がコンパレータ３へ入力
されることとなる。すると、コンパレータ３への基準電
圧値ＶIN′は式（２）で表される。
ＶIN′＝５×R1/［R1＋｛（R3×R4） ／（R3＋R4）｝］〔Ｖ〕 …２ さらにまた、制御信号CONT2、CONT3が共にロウレベル
のときは、アナログスイッチ４及び５が共にオンとな
り、抵抗R1及びR2の合成抵抗と抵抗R3及びR4の合成抵抗
との分圧比に応じた基準電圧がコンパレータ３へ入力さ
れることとなる。すると、コンパレータ３への基準電圧
値ＶIN″は、式（３）で表される。
のときは、アナログスイッチ４及び５が共にオンとな
り、抵抗R1及びR2の合成抵抗と抵抗R3及びR4の合成抵抗
との分圧比に応じた基準電圧がコンパレータ３へ入力さ
れることとなる。すると、コンパレータ３への基準電圧
値ＶIN″は、式（３）で表される。
ＶIN″＝５×｛R1×R2/（R1×R2）｝ ／［｛R1×R2/（R1＋R2）｝＋｛R3× R4/（R3＋R4）｝］〔Ｖ〕 …（３） つまり、ＶIN＜ＶIN′＜ＶIN″となるため、制御信号
CONT2及びCONT3のレベルを変えれば、コンパレータ３の
基準電圧を変えることができるのである。本実施例のチ
ェック回路においては、これら制御信号CONT2及びCONT3
並びに上述した制御信号CONT1のレベルを変えることに
より、条件を変えてチェックを行うのである。
CONT2及びCONT3のレベルを変えれば、コンパレータ３の
基準電圧を変えることができるのである。本実施例のチ
ェック回路においては、これら制御信号CONT2及びCONT3
並びに上述した制御信号CONT1のレベルを変えることに
より、条件を変えてチェックを行うのである。
かかる構成とされた本実施例のチェック回路は、装置
に実装されたままの光学的センサに対し、以下の４種類
のチェックを行うことにより、センサの不良を、装置と
しての不具合が発生する前にワーニングとして検知する
というものである。さらに、そのワーニング原因の除去
後にセンサが初期状態に復帰しているか否かの確認を行
うことも可能としている。なお、各チェックは実際に動
作を行う直前に実施すれば良い。
に実装されたままの光学的センサに対し、以下の４種類
のチェックを行うことにより、センサの不良を、装置と
しての不具合が発生する前にワーニングとして検知する
というものである。さらに、そのワーニング原因の除去
後にセンサが初期状態に復帰しているか否かの確認を行
うことも可能としている。なお、各チェックは実際に動
作を行う直前に実施すれば良い。
４種類のチェックとは、 発光素子側に電流を流さなくした時、受光素子側に流
れる電流が基準値以下であることを確認する。これによ
り、例えば、基準値以上となった場合には、受光素子側
に短絡等の不具合が発生していることが考えられる。
れる電流が基準値以下であることを確認する。これによ
り、例えば、基準値以上となった場合には、受光素子側
に短絡等の不具合が発生していることが考えられる。
発光素子側に通常の電流を流しておき、コンパレータ
の基準値を通常の場合よりも厳しい値、すなわち高い値
とした時、その受光素子に流れる電流値が問題なくその
基準値を越えていることを確認する。これにより、例え
ば、装置環境により、受発光素子にホコリ等が堆積した
場合であっても、予め厳しい基準値を越える受光電流値
が確認できれば通常の使用が可能となる。
の基準値を通常の場合よりも厳しい値、すなわち高い値
とした時、その受光素子に流れる電流値が問題なくその
基準値を越えていることを確認する。これにより、例え
ば、装置環境により、受発光素子にホコリ等が堆積した
場合であっても、予め厳しい基準値を越える受光電流値
が確認できれば通常の使用が可能となる。
発光側の素子に通常の電流を流しておき、受光側の素
子に流れる電流が通常の基準値以上であることを確認す
る。
子に流れる電流が通常の基準値以上であることを確認す
る。
発光素子側に通常の電流を流しておき、コンパレータ
の基準値を上記の場合よりもさらに厳しい値（さらに
高い値）とし、ワーニング原因を取除いた後に、センサ
が初期状態に復帰しているか否かの確認を行う。これに
より、例えば、上記の場合のようなホコリを清掃した
後に、本当にホコリが除去されたかどうかの確認が可能
となる。
の基準値を上記の場合よりもさらに厳しい値（さらに
高い値）とし、ワーニング原因を取除いた後に、センサ
が初期状態に復帰しているか否かの確認を行う。これに
より、例えば、上記の場合のようなホコリを清掃した
後に、本当にホコリが除去されたかどうかの確認が可能
となる。
以上、４種類のチェックは図中の制御信号CONT1〜３
のレベルを以下のように設定することによって実現でき
る。
のレベルを以下のように設定することによって実現でき
る。
まず、上記のチェックは、発光側電流制御回路６内
の制御信号CONT1をハイレベルとし、受光側基準値制御
回路７内の制御信号CONT2及びCONT3をロウレベルとする
ことにより発光側の電流をオフとして行う。
の制御信号CONT1をハイレベルとし、受光側基準値制御
回路７内の制御信号CONT2及びCONT3をロウレベルとする
ことにより発光側の電流をオフとして行う。
また、上記のチェックは、制御信号CONT1をロウレ
ベル、CONT2をハイレベル、CONT3をロウレベルとするこ
とにより、基準値を厳しくした状態で行う。
ベル、CONT2をハイレベル、CONT3をロウレベルとするこ
とにより、基準値を厳しくした状態で行う。
さらにまた、上記のチェックは、制御信号CONT1、C
ONT2、更にはCONT3をすべてロウレベルとし、いわゆる
通常動作での確認となる。
ONT2、更にはCONT3をすべてロウレベルとし、いわゆる
通常動作での確認となる。
さらにまた、上記のチェックは、制御信号CONT1を
ロウレベルとし、CONT2及びCONT3をハイレベルとするこ
とにより、基準値を最も厳しくした状態で行う。
ロウレベルとし、CONT2及びCONT3をハイレベルとするこ
とにより、基準値を最も厳しくした状態で行う。
なお、各チェックは上記したように実際の動作を行う
直前に実施するが、このときはまだ紙葉類等の物質を搬
送する前であるため、前提としてチェックをしてもコン
パレータの出力には物質有と出ることはないはずであ
る。したがって、このとき、物質有と出た場合、受光素
子の入力レベルが何らか要因により低下していると判断
され、ファームウェアによってワーニングビットを立て
て、外部に通知する。これにより、ホコリ等の除去が可
能となるのである。
直前に実施するが、このときはまだ紙葉類等の物質を搬
送する前であるため、前提としてチェックをしてもコン
パレータの出力には物質有と出ることはないはずであ
る。したがって、このとき、物質有と出た場合、受光素
子の入力レベルが何らか要因により低下していると判断
され、ファームウェアによってワーニングビットを立て
て、外部に通知する。これにより、ホコリ等の除去が可
能となるのである。
発明の効果 以上説明したように本発明は、光学的センサに対し、
装置に実装したままの状態で４種類のチェックを行うこ
とにより装置自身に不具合が発生する以前に、事前検知
を行うことができ、ワーニングとして通知することがで
きるという効果がある。また、ワーニング原因の除去後
に、センサが初期状態に復帰したか否かの確認もできる
という効果がある。
装置に実装したままの状態で４種類のチェックを行うこ
とにより装置自身に不具合が発生する以前に、事前検知
を行うことができ、ワーニングとして通知することがで
きるという効果がある。また、ワーニング原因の除去後
に、センサが初期状態に復帰したか否かの確認もできる
という効果がある。
第１図は本発明の実施例による光学的センサのチェック
回路の回路図である。 主要部分の符号の説明 １……発光素子 ２……受光素子 ３……コンパレータ ６……発光側電流制御回路 ７……受光側基準値制御回路 ８……受光側電圧調整回路
回路の回路図である。 主要部分の符号の説明 １……発光素子 ２……受光素子 ３……コンパレータ ６……発光側電流制御回路 ７……受光側基準値制御回路 ８……受光側電圧調整回路
Claims (1)
- 【請求項１】発光手段及び受光手段から構成される光学
的センサのチェック回路であって、第１の外部指令に応
じて前記発光手段を発光させるか否かを制御する発光制
御手段と、前記受光手段の出力値が所定の基準値以下で
あるか否かを判定する比較手段と、第２及び第３の外部
指令に応じて前記比較手段における基準値を前記受光手
段のチェック時以外の通常の受光時における第１の基準
値並びに該第１の基準値より大でかつ互いに異なる第２
及び第３の基準値に変化せしめる基準値制御手段とを有
し、前記発光制御手段が前記発光手段を発光させない場
合において前記基準値制御手段が前記第１の基準値に設
定した状態で前記比較手段の判定結果に基づいて前記光
学的センサの検査を行い、前記発光制御手段が前記発光
手段を発光させている場合において前記基準値制御手段
が前記第２及び第３の基準値のうち小なる方に設定した
状態で前記比較手段の判定結果に基づいて前記光学的セ
ンサの検査を行った後、更に前記発光手段における発光
又は前記受光手段における受光の妨げとなる埃等を取除
いた後で前記基準値制御手段が前記第２及び第３の基準
値のうち大なる方に設定した状態で前記比較手段の判定
結果に基づいて前記光学的センサの検査を行うようにし
たことを特徴とする光学的センサのチェック回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2079366A JP2723647B2 (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | 光学的センサのチェック回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2079366A JP2723647B2 (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | 光学的センサのチェック回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03277944A JPH03277944A (ja) | 1991-12-09 |
| JP2723647B2 true JP2723647B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=13687882
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2079366A Expired - Lifetime JP2723647B2 (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | 光学的センサのチェック回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2723647B2 (ja) |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57102875U (ja) * | 1980-12-15 | 1982-06-24 | ||
| JPS57102873U (ja) * | 1980-12-15 | 1982-06-24 | ||
| JPS5954871U (ja) * | 1982-10-01 | 1984-04-10 | 株式会社リコー | 検出装置 |
| JPS6020005U (ja) * | 1983-07-14 | 1985-02-12 | 日本ビクター株式会社 | 録音バイアス発振回路 |
| JPS60177281A (ja) * | 1984-02-23 | 1985-09-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 光電スイツチ |
| JPS62150189A (ja) * | 1985-12-25 | 1987-07-04 | Hitachi Ltd | 光学的物体検知回路 |
| JPH0416238Y2 (ja) * | 1986-07-23 | 1992-04-10 |
-
1990
- 1990-03-28 JP JP2079366A patent/JP2723647B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03277944A (ja) | 1991-12-09 |
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