JPH0224002B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0224002B2
JPH0224002B2 JP56084578A JP8457881A JPH0224002B2 JP H0224002 B2 JPH0224002 B2 JP H0224002B2 JP 56084578 A JP56084578 A JP 56084578A JP 8457881 A JP8457881 A JP 8457881A JP H0224002 B2 JPH0224002 B2 JP H0224002B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
low
conductive path
resistor
ultra
resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP56084578A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57199204A (en
Inventor
Akira Kazami
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP56084578A priority Critical patent/JPS57199204A/ja
Publication of JPS57199204A publication Critical patent/JPS57199204A/ja
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  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は超低抵抗の形成方法に関する。
最近混成集積回路の開発に伴ない、各種電子機
器のIC化が大巾に進展して来た。この結果従来
では高精度個別部品により実現されていた回路部
品でも混成集積回路基板上に再現性良く且つ高精
度で製造されることが求められてきた。特にスイ
ツチングレギユレータ等の安定化電源回路で用い
られる電流検出用の抵抗はその目的からもできる
だけ低抵抗で高精度を要求される。
本発明は斯点に鑑みてなされ、超低抵抗を量産
できる形成方法を実現するものである。以下に第
1図乃至第3図を参照して本発明の一実施例を詳
述する。
本発明の第1の工程は第1図に図示する如く、
酸化処理したアルミニウム板あるいはセラミツク
スの如き混成集積回路基板1上に銅箔等よりなる
導電路2……2を平行して並列に選択エツチング
により形成する。各導電路2……2間の間隔は1
mmとし、各導電路2……2の巾は0.5mmとした。
また各導電路2……2は形成される抵抗体3……
3より突出させている。
次に抵抗体3……3を形成する予定の導電路2
……2の一部および基板1表面を選択的に露出し
て他の部分をレジストで被覆してニツケルの無電
界メツキにより各導電路2……2間に低抵抗のニ
ツケルメツキ抵抗体を形成する。斯るニツケルメ
ツキ抵抗体3……3は夫々1mm×10mmの大きさで
約2〜3μ厚に形成される。
本発明の第2の工程は第2図に示す如く、各抵
抗体3……3のトリミングを行なうことにある。
トリミングは各抵抗体3毎に行なわれ、レーザー
トリミング装置によつてL字形にトリミングして
各抵抗体3の抵抗値をトリミング可能なほぼ最低
値である0.16Ω±3%に設定する。本工程により
トリミング可能なほぼ最低値の抵抗体を再現性良
く実現できる。
本発明の第3の工程は第3図に示す如く、各導
電路2……2を200μ径のアルミニウム細線4で
ボンデイングして各抵抗体3……3を並列接続さ
れる様に結線する。これによりN個の抵抗体3…
…3を形成したときは0.16Ω/Nの超低抵抗値が
得られる。たとえば図示の如く4本を並列にすれ
ば0.04Ωの超低抵抗体となる。
以上に詳述する如く本発明に依れば、現在トリ
ミング可能なほぼ最低値に個々の抵抗体をトリミ
ングした後、各抵抗体を並列接続するので、再現
性良く高精度の超低抵抗を各々の混成集積回路基
板上に形成でき、この結果従来では個別部品にて
達成した超低抵抗をもIC化できる様になつた。
また本発明の超低抵抗は各抵抗体を継続し且つ隣
接して配置するので極めて小面積にて形成でき、
高集積化に寄与できる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本発明を説明する上面図で
ある。 1は混成集積回路基板、2……2は導電路、3
……3は抵抗体、4はアルミニウム細線である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 並列に電気的に独立した複数の導電路を略等
    間隔に設け、各々の隣接する該導電路間に夫々1
    つの低抵抗体を形成し、各々の該低抵抗体を個々
    に夫々トリミングしてトリミング可能な略最低値
    に設定した後、前記導電路をボンデイング細線に
    より接続して前記各低抵抗体を並列接続し、前記
    最低値より更に小さい値の超低抵抗を形成するこ
    とを特徴とする超低抵抗の形成方法。
JP56084578A 1981-06-01 1981-06-01 Method of forming superlow resistor Granted JPS57199204A (en)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56084578A JPS57199204A (en) 1981-06-01 1981-06-01 Method of forming superlow resistor

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JPS57199204A JPS57199204A (en) 1982-12-07
JPH0224002B2 true JPH0224002B2 (ja) 1990-05-28

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JPH03120001U (ja) * 1990-03-20 1991-12-10

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JPS57199204A (en) 1982-12-07

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