JPH02234092A - 成形金型内の残留物検出方法 - Google Patents
成形金型内の残留物検出方法Info
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- JPH02234092A JPH02234092A JP1055295A JP5529589A JPH02234092A JP H02234092 A JPH02234092 A JP H02234092A JP 1055295 A JP1055295 A JP 1055295A JP 5529589 A JP5529589 A JP 5529589A JP H02234092 A JPH02234092 A JP H02234092A
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- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 13
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/17—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C45/76—Measuring, controlling or regulating
- B29C45/7626—Measuring, controlling or regulating the ejection or removal of moulded articles
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、金型から成形品を取り出した後の金型内に残
る成形品の残留物を検出する成形金型内の残留物検出方
法に関する。
る成形品の残留物を検出する成形金型内の残留物検出方
法に関する。
［従来の技術］
従来の成形金型内の残沼物検出方法としては、例えば次
のようなものがある。
のようなものがある。
すなわち、この検出方法は、一般のＴＶカメラによる観
測方法であり、金型内の成形品の残留物が発生しそうな
箇所を数１０ケ所指定し、残留物がないときの画像を記
憶しておき、その後成形品を取り出した金型内の画像を
観測して、両画像を比較し、マッチングがとれないとき
は、残留物があるとするものである。この検出方法は、
可視光を使用するもので照明が必要であった。
測方法であり、金型内の成形品の残留物が発生しそうな
箇所を数１０ケ所指定し、残留物がないときの画像を記
憶しておき、その後成形品を取り出した金型内の画像を
観測して、両画像を比較し、マッチングがとれないとき
は、残留物があるとするものである。この検出方法は、
可視光を使用するもので照明が必要であった。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、このような従来の残留物検出方法にあっ
ては、金型表面は一般的には鏡面仕上を施し、必要に応
じて梨地、エンボス、その他の模様が施されているため
、照明の方法によっては異なった結果を出力することが
あり照明の方法が難しかった。
ては、金型表面は一般的には鏡面仕上を施し、必要に応
じて梨地、エンボス、その他の模様が施されているため
、照明の方法によっては異なった結果を出力することが
あり照明の方法が難しかった。
また、外側から照明するため、およびほとんど可視光の
みによる画像処理のため残留成形品の色の濃淡、照明の
明暗、金型表面の反射と影などの影響により、残留物の
検出において誤った結果を出力することがあった。また
、ＴＶモニタから人間が観測しても残留物の判別ができ
ない場合があった。
みによる画像処理のため残留成形品の色の濃淡、照明の
明暗、金型表面の反射と影などの影響により、残留物の
検出において誤った結果を出力することがあった。また
、ＴＶモニタから人間が観測しても残留物の判別ができ
ない場合があった。
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたも
のであって、照明を用いず、赤外線画象を比較すること
によって、精度よく残留物を検出することができる残留
物検出方法を提供することを目的としている。
のであって、照明を用いず、赤外線画象を比較すること
によって、精度よく残留物を検出することができる残留
物検出方法を提供することを目的としている。
［課題を解決するための手段コ
前記目的を達成するために、本発明は、金型成形工程に
おける成形品の取り出し後の金型内の残沼物を検出する
成形金型内の残留物検出方法において、成形品の取り出
し後の残留物のない状態を赤外線カメラで撮影し、その
赤外線画像を規準化して記憶しておき、成形品を取り出
す毎に前記赤外線カメラで金型内を囮彰して両赤外線画
像を比較して残留物の有無を検出するようにしたもので
ある。
おける成形品の取り出し後の金型内の残沼物を検出する
成形金型内の残留物検出方法において、成形品の取り出
し後の残留物のない状態を赤外線カメラで撮影し、その
赤外線画像を規準化して記憶しておき、成形品を取り出
す毎に前記赤外線カメラで金型内を囮彰して両赤外線画
像を比較して残留物の有無を検出するようにしたもので
ある。
［作用］
本発明においては、まず、照明を用いずに、赤外線カメ
ラで成形品の取り出し後の残留物がない金型の状態を＠
影し、その赤外線画像を所定の方法により規準化して記
憶しておく。
ラで成形品の取り出し後の残留物がない金型の状態を＠
影し、その赤外線画像を所定の方法により規準化して記
憶しておく。
次に、成形品の取り出しごとに、赤外線カメラで金型の
状態を穎影し、この赤外線画像と記憶しておいた赤外線
画像とを比較する。金型の金属表面からの放射率と残留
物からの放射率の比が大きいことから、この敢則エネル
ギーの差を用いることにより残留物を容易に識別するこ
とができる。
状態を穎影し、この赤外線画像と記憶しておいた赤外線
画像とを比較する。金型の金属表面からの放射率と残留
物からの放射率の比が大きいことから、この敢則エネル
ギーの差を用いることにより残留物を容易に識別するこ
とができる。
すなわち、残留物は金型に対してかなりのホットスポッ
トとして画面上に表示されるので、残留物を精度よく検
出することができる。この場合、照明を行なわないので
、不要な濃淡情報を与えることがなく、誤差がほとんど
なくなる。
トとして画面上に表示されるので、残留物を精度よく検
出することができる。この場合、照明を行なわないので
、不要な濃淡情報を与えることがなく、誤差がほとんど
なくなる。
［実施例］
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図〜第４図は本発明の一実施例を示す図である。
第１図において、１は可動ダイプレート、３は可動ダイ
プレート１に固定ざれた金型、２は固定ダイプレート、
４は固定ダイプレート２に固定された金型である。これ
らの金型３，４による成形品の成形法としては、例えば
圧縮成形、トランスファ成形、射出成形、吹込成形、カ
レンダ成形、発泡成形などが用いられる。また、成形条
件の１つである金型温度としては室温〜１００℃位の範
囲が多い。
プレート１に固定ざれた金型、２は固定ダイプレート、
４は固定ダイプレート２に固定された金型である。これ
らの金型３，４による成形品の成形法としては、例えば
圧縮成形、トランスファ成形、射出成形、吹込成形、カ
レンダ成形、発泡成形などが用いられる。また、成形条
件の１つである金型温度としては室温〜１００℃位の範
囲が多い。
また、成形の工程としては、射出成形の場合、型締め、
射出成形、冷却固化、金型開き、成形品の取り出し、残
留物の確認、金型の清掃、必要によって離型剤の塗布の
各工程があり、これらの各工程を繰り返して行なう。
射出成形、冷却固化、金型開き、成形品の取り出し、残
留物の確認、金型の清掃、必要によって離型剤の塗布の
各工程があり、これらの各工程を繰り返して行なう。
前記成形品の取り出し後に金型３，４内に残る残留物の
確認が赤外線カメラ５によって行なわれる。第１図中６
は反射鏡である。Ａは反射鏡６が待避した状態にあるこ
とを示す。
確認が赤外線カメラ５によって行なわれる。第１図中６
は反射鏡である。Ａは反射鏡６が待避した状態にあるこ
とを示す。
なお、反射鏡７の他の設置側を第２図に示す。
第２図中、Ｂは反射鏡７が待避した状態を示す。
このように赤外線カメラ５と反射鏡６、または反射鏡と
一休の赤５外線カメラを用いるようにしたもので、照明
を行なわないようにしている。照明によりカメラで眼影
したとき不要な濃淡（白黒）情報を与えてしまうからで
ある。また、赤外線力メラ５を用いる場合、赤外線放射
器を用いて照明することもしない。
一休の赤５外線カメラを用いるようにしたもので、照明
を行なわないようにしている。照明によりカメラで眼影
したとき不要な濃淡（白黒）情報を与えてしまうからで
ある。また、赤外線力メラ５を用いる場合、赤外線放射
器を用いて照明することもしない。
次に、第３図に基づいてシステムの構成を説明する。第
３図において、３，４は前記金型、５は前記赤外線カメ
ラでおる。赤外線カメラ５として広範囲の帯域感度をも
つカメラにおいては、例えば１．５μｍ以下の波長をカ
ットし、完全な赤外線カメラとして機能するものを使用
する。なお、３００Ｋ （２７℃）の物体から放射され
る放射波長は１０μｍでピークを持つので、金型温度が
３００Ｋ位の時は波長１０μｍでピークを持つ赤外線カ
メラが適していることはいうまでもない。
３図において、３，４は前記金型、５は前記赤外線カメ
ラでおる。赤外線カメラ５として広範囲の帯域感度をも
つカメラにおいては、例えば１．５μｍ以下の波長をカ
ットし、完全な赤外線カメラとして機能するものを使用
する。なお、３００Ｋ （２７℃）の物体から放射され
る放射波長は１０μｍでピークを持つので、金型温度が
３００Ｋ位の時は波長１０μｍでピークを持つ赤外線カ
メラが適していることはいうまでもない。
８は画像処理装置であり、画像処理装置８は赤外線カメ
ラ５で撮影した赤外線画像を処理するもので、撮影後は
可視画像処理と全く同様に取り扱われる。成形品の残留
物のない状態が赤外線画像としてとり込まれ、所定の方
法により規準化ざれ、記憶される。成形性、成形能率、
製品の品質維持のために金型は一般には温度コントロー
ルされる場合が多く、そのために正常な金型の状態でも
熱画像に金型冷却孔などがとりこまれることになる。
ラ５で撮影した赤外線画像を処理するもので、撮影後は
可視画像処理と全く同様に取り扱われる。成形品の残留
物のない状態が赤外線画像としてとり込まれ、所定の方
法により規準化ざれ、記憶される。成形性、成形能率、
製品の品質維持のために金型は一般には温度コントロー
ルされる場合が多く、そのために正常な金型の状態でも
熱画像に金型冷却孔などがとりこまれることになる。
これらの温度範囲内の金型内の温度ムラに対する正常画
像としての記憶が必要なことはいうまでもない。この場
合、金型３，４の温度変化に対する濃淡レベル変動の補
償として、自動利得制御（ＡＧＣ）を行なう。例えば、
特定な点または特定な面を規準としてＡＧＣを行なう。
像としての記憶が必要なことはいうまでもない。この場
合、金型３，４の温度変化に対する濃淡レベル変動の補
償として、自動利得制御（ＡＧＣ）を行なう。例えば、
特定な点または特定な面を規準としてＡＧＣを行なう。
成形品、例えばプラスチックの残留物は、金型３，４に
対してかなりのホットスポット（１−１ｏｔ ｓｐｏ
ｔ ＞として画面に表示されるので、両赤外線画像の比
較により残留物を確実に検出することができるようにし
ている。
対してかなりのホットスポット（１−１ｏｔ ｓｐｏ
ｔ ＞として画面に表示されるので、両赤外線画像の比
較により残留物を確実に検出することができるようにし
ている。
９は成形機コントローラであり、成形機コントローラ９
は、画像処理装置８の出力結果によって成形機をコント
ロールする。すなわち、成形品の残留物が検出されたと
きは、成形機を停止させたり、オペレータコールをかけ
る。これにより金型３，４の破損を回避し、成形品の不
良品の発生を未然に防止する。
は、画像処理装置８の出力結果によって成形機をコント
ロールする。すなわち、成形品の残留物が検出されたと
きは、成形機を停止させたり、オペレータコールをかけ
る。これにより金型３，４の破損を回避し、成形品の不
良品の発生を未然に防止する。
次に、動作を説明する。
まず、金型成形工程における成形品の取り出し後の残留
物がない場合の金型３，４の状態を赤外線カメラ５で撮
影し、その赤外線画像を画像処理装置８で所定の方法に
より規準化して処理し、記憶しておく。この場合、照明
を用いないで赤外線カメラ５で暗影する。
物がない場合の金型３，４の状態を赤外線カメラ５で撮
影し、その赤外線画像を画像処理装置８で所定の方法に
より規準化して処理し、記憶しておく。この場合、照明
を用いないで赤外線カメラ５で暗影する。
次に、金型成形工程の成形品の取り出し毎に赤外線カメ
ラ５で金型３，４の状態を日影し、この赤外線画像と前
記記憶しておいた赤外線画像とを画像処理装置８で比較
する。
ラ５で金型３，４の状態を日影し、この赤外線画像と前
記記憶しておいた赤外線画像とを画像処理装置８で比較
する。
ここで、金型３，４の金属表面からの放射率ε（ふく射
率）と、残留物からの放射率の差により残留物の識別を
行なう。研磨された金属表面の放射率εは、約０．１で
あり、一方、残留物となるプラスチックなどの放射率ε
は０．８〜０．９５である。すなわち、両者の比は大き
く、このことは残留物からは金属表面に比較して同一温
度で約９倍の放射エネルギーが放出されていることを示
している。可視光では色とか影の濃淡から金型３，４内
の残留物を把握することが困難であるのに対して、この
ような放射エネルギーの差により精度よく残留物を識別
することができる。すなわら、残留物が金型３，４内に
残っているときは、残留物は金型３，４に対して、かな
りのホットスポットとして画像処理装置８に表示される
ので、残留物を精度よく検出することができる。
率）と、残留物からの放射率の差により残留物の識別を
行なう。研磨された金属表面の放射率εは、約０．１で
あり、一方、残留物となるプラスチックなどの放射率ε
は０．８〜０．９５である。すなわち、両者の比は大き
く、このことは残留物からは金属表面に比較して同一温
度で約９倍の放射エネルギーが放出されていることを示
している。可視光では色とか影の濃淡から金型３，４内
の残留物を把握することが困難であるのに対して、この
ような放射エネルギーの差により精度よく残留物を識別
することができる。すなわら、残留物が金型３，４内に
残っているときは、残留物は金型３，４に対して、かな
りのホットスポットとして画像処理装置８に表示される
ので、残留物を精度よく検出することができる。
次に、赤外線カメラによる残留物の直視ができない場合
の例を第４図に示す。
の例を第４図に示す。
成形品の残留物は金型３，４の複雑な形状の末端部、コ
ーナ部などに発生し、人間でも見落しやすい。
ーナ部などに発生し、人間でも見落しやすい。
第４図では金型４のエッジ（Ｅ）により残留物１０を赤
外線カメラ５で直視することができない場合を示すが、
この場合には、Ｐ点近傍での反射により赤外線カメラ５
に反射エネルギーが入射するため、残留物１０の検出が
可能となる。
外線カメラ５で直視することができない場合を示すが、
この場合には、Ｐ点近傍での反射により赤外線カメラ５
に反射エネルギーが入射するため、残留物１０の検出が
可能となる。
ただし、この場合には、残沼物１０はＤ点にあるように
みえる。この時のＤ点から放射されたように赤外線カメ
ラ５からみえるふく射射出束（Ｒａｄｉｏｓｉｔｙ）は
、Ｐ点の金型４自体の表面からのものと、反射されたも
のの和となる。
みえる。この時のＤ点から放射されたように赤外線カメ
ラ５からみえるふく射射出束（Ｒａｄｉｏｓｉｔｙ）は
、Ｐ点の金型４自体の表面からのものと、反射されたも
のの和となる。
このように直視不可能な場合には、残留物の所在を明確
に検出することができない場合もあるので、この場合に
は赤外線カメラ５を移動させたり、反射鏡６を赤外線カ
メラ５に近づけたり、遠ざけたりして、残留物１０の所
在を検出することが望ましい。
に検出することができない場合もあるので、この場合に
は赤外線カメラ５を移動させたり、反射鏡６を赤外線カ
メラ５に近づけたり、遠ざけたりして、残留物１０の所
在を検出することが望ましい。
［発明の効果］
以上説明してきたように、本発明によれば、照明を用い
ることなく、赤外線カメラにより成形品の取り出し後の
金型内の状態を躍彰し、赤外線画像を比較するようにし
たため、金型内に残っている残留物を精度良く検出する
ことができる。
ることなく、赤外線カメラにより成形品の取り出し後の
金型内の状態を躍彰し、赤外線画像を比較するようにし
たため、金型内に残っている残留物を精度良く検出する
ことができる。
第１図は本発明の一実施例を示す図、
第２図は反射鏡の設置側を示す図、
第３図はシステム構成図、
第４図は赤外線カメラによる残留物の直視が不可能な場
合の説明図である。 図中、 １・・・可動ダイプレート、 ２・・・固定ダイプレート、 ３，４・・・金型、 ５・・・赤外線カメラ、 ６．７・・・反射鏡、 ８・・・画像処理装置、 ９・・・成形機コントローラ、 １０・・・残留物。
合の説明図である。 図中、 １・・・可動ダイプレート、 ２・・・固定ダイプレート、 ３，４・・・金型、 ５・・・赤外線カメラ、 ６．７・・・反射鏡、 ８・・・画像処理装置、 ９・・・成形機コントローラ、 １０・・・残留物。
Claims (1)
- 金型成形工程における成形品の取り出し後の金型内の
残留物を検出する成形金型内の残留物検出方法において
、成形品の取り出し後の残留物のない状態を赤外線カメ
ラで撮影し、その赤外線画像を規準化して記憶しておき
、成形品を取り出す毎に前記赤外線カメラで金型内を撮
影して両赤外線画像を比較して残留物の有無を検出する
ようにしたことを特徴とする成形金型内の残留物検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1055295A JPH02234092A (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | 成形金型内の残留物検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1055295A JPH02234092A (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | 成形金型内の残留物検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02234092A true JPH02234092A (ja) | 1990-09-17 |
Family
ID=12994585
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1055295A Pending JPH02234092A (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | 成形金型内の残留物検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02234092A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| EP1339536A4 (en) * | 2000-12-01 | 2006-04-12 | Edward Kachnic | PARTIAL MANUFACTURER WITH INFRARED VISUAL INSPECTION SYSTEM FOR THE MODEL PARTS |
| JP2009061786A (ja) * | 2008-11-17 | 2009-03-26 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 金型監視装置、方法及びプログラム |
| WO2011126044A1 (ja) * | 2010-04-09 | 2011-10-13 | 三菱レイヨン株式会社 | 微細凹凸構造を表面に有する物品の製造方法および製造装置 |
| DE102016002662A1 (de) | 2015-03-12 | 2016-09-15 | Fanuc Corporation | Spritzgießsystem, das eine Gießformreinigung durchführt |
| JP2018155460A (ja) * | 2017-03-20 | 2018-10-04 | 株式会社Ｓｕｂａｒｕ | 地雷検知システム及び地雷検知方法 |
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| JPS5734914A (en) * | 1980-08-12 | 1982-02-25 | Fukai Kogyo Kk | Detecting method for residue in resin molding machine |
-
1989
- 1989-03-08 JP JP1055295A patent/JPH02234092A/ja active Pending
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