JPH02224877A - 電気溶接の品質監視装置 - Google Patents

電気溶接の品質監視装置

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JPH02224877A
JPH02224877A JP1324131A JP32413189A JPH02224877A JP H02224877 A JPH02224877 A JP H02224877A JP 1324131 A JP1324131 A JP 1324131A JP 32413189 A JP32413189 A JP 32413189A JP H02224877 A JPH02224877 A JP H02224877A
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JP
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welding
welding parameter
quality monitoring
parameter profile
profile
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JP1324131A
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Hans Roeoesli
ハンス・レースリ
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Elpatronic AG
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • B23K31/00—Processes relevant to this subclass, specially adapted for particular articles or purposes, but not covered by only one of the preceding main groups
    • B23K31/12—Processes relevant to this subclass, specially adapted for particular articles or purposes, but not covered by only one of the preceding main groups relating to investigating the properties, e.g. the weldability, of materials
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Lining Or Joining Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Control Of Conveyors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、少なくとも第１の溶接パラメータプロフィー
ルを求めるための少なくとも１つの装置と、第１の溶接
パラメータプロフィールを記憶するためのメモリと、前
記第１の溶接パラメータプロフィールと後に測定される
第２の溶接パラメータプロフィールとを、それらの一致
度を検出するために比較する比較器とを備えている、缶
製造のための缶胴における電気溶接の品質を監視する装
置に関する。
従来の技術 この形式の公知の装置において（ヨーロッパ特許出願公
開第０１５３２９８号公報）、溶接パラメータの時間的
な変化を正確に検出しかつ溶接過程の目標経過に対応す
るデータを正確に求めるようになされ、その際種々の境
界条件、殊に材料の種類、材料厚さ、材料のコーティン
グ、その都度の溶接機械の基本パラメータ等の境界条件
を考慮しかつ得られたデータを種々のプログラムに応じ
て結合しかつ評価することができる。この目的にために
公知の装置において複数の溶接箇所を有する試料工作物
においてそれぞれ個々の溶接箇所に対して溶接パラメー
タの所望の経過が求められかつ記憶される。メモリはマ
イクロプロセッサを介してプログラミング可能であり、
その結果特別有利と認められた溶接経過を選択しかつそ
のデータプロフィールを続く同じ溶接過程に対する溶接
プロフィールとして記憶することができる。その場合溶
接機械の大量生産運転において、それぞれの溶接箇所に
対して、メモリに目標値プロフィールとして固定されて
いる対応する比較データが呼び出される。溶接作業中溶
接パラメータの瞬時値を呼び出すことによって、比較器
において記憶された、溶接過程の目標経過に相応するデ
ータプロフィールと比較するデータプロフィールが得ら
れる。求められた一致度に相応して、出力信号が発生さ
れる。一致について最小度が検出されると、溶接は“良
好“と評価することができる。
発明が解決しようとする問題点 しかし、溶接を“良好”と評価することができる、目標
経過と実際経過との間の一致における最小度に対する限
界値がどのように設定されるかは示されていない。溶接
継ぎ目長さ全体に対して設定された限界値を、著しく多
くの良好な溶接を“不良“とじてリジェクトすることな
しに、利用することができるように、設定された限界値
は比較的大きく選択されなければならない、そうしなけ
れば溶接継ぎ目の始めおよび終わりにおいて通例発生す
る大きな偏差が常時誤ったリジェクトを来すことになる
。それ故にこの公知の装置は品質監視において余り敏感
でなくしかも信頼性も低い。
従って本発明の課題は、冒頭に述べた形式の装置におい
て品質監視における感度および信頼性を高めることであ
る。
問題点を解決するための手段 この課題は、本発明によれば次のようにして解決される
。すなわちメモリに第１の溶接パラメータプロフィール
として記憶される平均溶接パラメータプロフィールを求
め、かつ前記第１の溶接パラメータプロフィールに対し
て測定された溶接パラメータ値の平均値と、正規分布と
して予め定められたこの溶接パラメータ値の標準偏差と
少なくとも１つの感度係数との積とから、平均溶接パラ
メータプロフィールを取囲むするリジェクト限界値幅を
求めることによって、良好と判定された缶胴のある数の
測定された溶接パラメータ値の統計学的評価のための評
価装置が設けられており、かつ比較器が引き続き製造さ
れた缶胴に対して、該缶胴に対して測定された第２の溶
接パラメータプロフィールがリジェクト限界値幅内にあ
るかどうかを検出する発明の作用 すなわち本発明によれば、試料缶胴において溶接パラメ
ータの絶対値の目標データプロフィールまたは溶接パラ
メータの変化が求められるのではなくて、学習フェーズ
において良好と認められた複数の缶胴に基づいて缶胴の
長さにわたる溶接パラメータの平均値を求め、かつその
際観察された、測定値のばらつきに基づいて、例えば１
万個に１つの良好な缶胴だけがリジェクトされるように
、所定の感度を選択することによって、リジェクト限界
値幅を決める２つのリジェクト限界値曲線が求められる
。
すなわち本発明の装置において、測定された溶接パラメ
ータはその統計学的な特性に関して調べられる。統計学
に“良好“な缶胴のみが含まれるようにする。溶接機械
は、製造された缶胴が所望の品質を有するように調整さ
れた後に、学習フェーズに８いて第１の統計的処理が成
される。この学習７エーズの間に製造された缶は少なく
ともおおざっばにその品質に関して検査され（例えば目
視チエツク、顕微鏡写真、引きはがしテスト、レントゲ
ン検査等）、その際検査により、個々の溶接箇所に対し
て測定された溶接パラメータ値が正規分布している、す
なわちガウス分布まｔ；は正規分布を有していることが
明らかになる。すなわち、溶接パラメータ値の統計学的
な特性（分布曲線）は平均値および変異によって求めら
れる。
従って公知の装置に対する重要な差異は、本発明による
装置においては、良好と認められた多数の缶胴およびそ
れ自体良好な缶胴のリジェクトに対する選択可能な確率
に基づいて平均溶接パラメータプロフィールを取囲むリ
ジェクト限界値輻を求めることによって、−層良好な感
度および最適な信頼性が得られる点に見ることができる
。この目的のために本発明の装置では、ユーザは単に感
度を決めさえすればよい。
股の場合下側の限界値ないし上側の限界値を越える感度
は別個に設定することができる。このことに対する判定
基準は有利には、ｌｏｏ万個の溶接点当たりの誤ったり
ジェツトの数であるどの位の誤ったりジェツトを許容で
きるかという問題は、その都度品質要求に基づいて解決
される。
本発明の装置の重要な特徴は、その都度所定の製造条件
、薄板の種類、機械のセツティング等に対して最適な許
容公差幅が決められることである。２つの直線によって
簡単に動作しかつボテンシＲメータによって缶胴の長さ
全体にわたって一定の上側および下側の限界値が前景て
決められる公知の装置に比べて、本発明の装置では製造
状況に整合された許容公差プロフィール基づいて動作す
る。この許容公差により、測定された溶接パラメータ値
のばらつきが経験によれば特別大きい缶胴長さの始めお
よび終わりの領域において、例えばばらつきが経験によ
れば著しく僅かである缶胴の長さの中央の場合より幅広
のりジェツト限界値幅によって動作することができるよ
うになる。
本発明の装置において援用される統計学を用いて、テス
トされた缶胴の品質一定性に対する自動的な適合が実現
される。例えば粗悪な薄板材料または“不安定な動作状
態の＃機械のために著しくばらついた測定値が生じたと
しても、このことは自動的に比較的大きなばらつき値に
よって検出され、かつ限界値は一層大きくなる。本発明
の装置がここで自動的に行うことを、人間が限界値をマ
ニュアルで調整するとき、時として無意識にも行うこと
がある。つまり人間がポテンショメータを、それ自体良
好な缶胴がＳＪ繁にではなく、散発的にリジェクトされ
るように整定するからである。
学習フェーズによって良好な缶胴の第１の統計的処理が
形成されかつ従ってエジェクト限界値が決められた後、
製造期間全体の間に良好と認められた缶胴が連続的に統
計学的に上述の方法にしたがって本発明の装置によって
引き続き処理される。これにより、品質表示を行うこと
もできる。
本発明の有利な構成は請求項２ないし１４に記載されて
いる。
実施例 次Ｉこ本発明を図示の実施例につき図面を用いて詳細に
説明する。
交流シーム溶接装置に接続されて缶を製造するための缶
胴１０における電気溶接の品質監視装置について説明す
る。交流シーム溶接装置は第１図の暗示された部分図に
よれば溶接アーム１１を有している。このアーム上を缶
胴ｌＯが前方に移動しく第１図では右方向において）か
つその際溶接アーム１１に固定されている下側の溶接ロ
ーラ１３とばね１４を用いて加圧されている上側の溶接
ローラ１２との間の長子継ぎ目の領域において、電極ロ
ーラ間で缶胴材料を流れる溶接電流に基づいて相互に溶
接される。
それぞれの溶接電流半波により溶接点が発生される。連
続する溶接電流半波において溶接電流は一方の極性ない
し他方の極性を有している。
その他の個々の点については、 ５ｏｕｄｒｏｎｉｃ社のパンフレット“Ｗａｒｕｍ　Ｓ
ＯＵＤＲＯＮＩＣＦｒｅｑｕｅｎｚｗａｎｄｌｅｒ−Ｓ
ｅｈｗｅｉｓｓｍａｓｃｈｉｎｎｅｎ　　、　１９７９
年９月、例えば第６ないし８頁　を参照されたい。
機械において、例えば第１図の略図によれば、上側の電
極ローラ１２において、１つ（また複数の）溶接パラメ
ータＦ、がセンサ（図示されていない）によって測定さ
れる。溶接パラメータＦ、は、溶接電流、溶接個所にお
ける電圧これら量の積（電力／エネルギー）、上側の電
極を支持する可動ローラヘッドの行程等とすることがで
きる。それぞれの溶接パラメータＦ。
は測定値処理装置２０において、溶接点ｉ（ただしｉ＝
１．２．３・・・ｎ）当たり１つのデジタル数値が発生
されるように、前処理される。この種の前処理が行われ
るのは、センサの電気信号に重畳された障害信号を取り
除く目的でフィルタリングするためである。上述の積を
溶接電流および電圧から形成しかつ溶接点の持続時間に
わたって積分する（点エネルギー）という形式の別の前
処理を行うこともできる。以下に溶接パラメータまたは
溶接パラメータ値または点値について言及する場合には
このように前処理された測定値が扱われている。以下に
説明する装置において、個別センサによってフィルタリ
ングされかつ上述の形式で処理された、判定基準（エネ
ルギー、温度等）に対する溶接点の値についてその統計
学的特性に関して調べる。
この目的のために溶接パラメータ値は統計学的評価装置
２２に供給される。第２図における詳しい図によれば、
統計学的評価装置２２は、入力側に溶接パラメータ値Ｆ
、が供給されかつ出力側がメモリ２４の入力側に接続さ
れている第１の計算装置２２．１を含んでいる。メモリ
２４の出力側は第２の計算装置２２．２の入力側に接続
されている。第２の計算装置は、入力装置２２．３の出
力側に接続されている別の入力側を有している。入力装
置は検索テーブルを有している。検索テーブルは、選択
された感度Ｅ１およびＥ２に相応して入力装置２２．３
の入力側を介してアドレス指定可能である複数の感度係
数を含んでいる。感度Ｅｌ　、ｍｌの選択の方法はポテ
ンショメータ２２．４．２２．５によって象徴的に示さ
れている。検索テーブルに代わってマイクロプロセッサ
（図示されていない）を用いた計算を行うこともできる
。第２の計算装置２２．２は、比較器２６（第１図）の
２つの入力側に導かれている２つの出力側を有している
。第３の入力側に比較器２６には溶接温度Ｆ、ｉが供給
される。比較器２６の出力側はデータバス２７に接続さ
れている。データバスには、以下に更に詳しく説明する
信号処理装置３０．３２．３４．３６．３８．４０が並
列に接続されている。
まず第１の計算装置２２，１は、メモリ２４に記憶され
かつ第３図および第４図に２つの種々の曲線の形におい
て図示されている溶接パラメータ値Ｆ、から平均溶接パ
ラメータプロフィールＦ−を求める。
曲線Ｆ−を定める２つの方法がある。すなわち絶対測定
値の算術平均値としてまたはその都度２つの連続する測
定値の間で形成された差の算術平均値としてである。
通例２０ないし１００の缶胴が利用される学習フェーズ
において、第１の統計学的操作が形成される。それぞれ
の缶胴においてｉ番目の点が測定され、かつすべての缶
胴のすべてのｉ番目の点において求められた溶接パラメ
ータ値が平均化される。このようにして、第１点からｎ
番目の点までの缶胴長さｌにわたる平均値Ｆ　ｒｎ　１
が得られる（第３図およびＩＪ４図）。
溶接パラメータ値は正規分布またはガウス分布を有して
いる。分布関数は、平均値Ｆ−および標準偏差σによっ
て特徴付けられている。平均値Ｆｍおよび標準偏差σに
よって、ガウス曲線が一義的に定義される。標準偏差は
、測定値がどのくらい強くばらついているかに対する尺
度であり、かつすべての測定値の６６％が存在する領域
を画定する。従って標準偏差の２つの基準点（平均値の
一方の側での員の方向における基準点および平均値の他
方の側での正の方向における基準点）および平均値がガ
ウス曲線を一義的に決定する。更に詳しい詳細に関して
は、ハンドブック“５ｔａｔｉｓｔｉｓｃｈｅ　Ｍｅｔ
ｈｏｄｅｎ　ｕｎｄｉｈｒｅ　Ａｎｗｅｎｄｕｎｇｅｎ
”　Ｅ、　Ｋｒ＠ｙｓｚｉｇ著、Ｖａｎｄｅｎｈｏｅｃ
ｋ　＆　Ｒｕｐｒｅｅｈｔ、　Ｇ５ｔｔｉｎｇｅｎ、第
７版の第２の、改訂されていない再版、第１２５ないし
１２９頁　を参照されたい。第１の計算装置２２゜工は
それぞれの点ｉに対して連続的に、Ｆ　ｒｎ　ｔおよび
ｔＩｉを計算する。Ｆ　ｖｎ　ｉの計算は、上述したよ
うに、算術平均値として行われる。σｉの計算は次式 σ、＝ｉ番目の点における標準偏差 ｍ−学習フェーズにおける缶胴の数 ｊ−その時の缶胴 Ｆｉｉ−ｉ番目の缶胴のｉ番目の点の抜き取りサンプル 平均値プロフィールＦ−および標準偏差σ。
のプロフィールはメモリ２４に記憶され、それらはそこ
から、必要に応じて！２の計算装置２２．２によって呼
び出し可能である。第２の計算装置２２．２は、リジェ
クト限界値［Ｆ、ヵを次式 ％式％（２） に従って行われ、ただし から計算する。ただし Ｆ、を−溶接接ぎ目のｉ番目の点におけるリジェクト限
界値、 Ｆ　ｒｎ　ｉ−溶接継ぎ目のｉ番目の点における溶接パ
ラメータの平均値、 ｚｌ　　−感度係数または上側のリジェクト限界値に対
する感度の逆の量（逆数）、 ｚ２−感度係数または下側のリジェクト限界値に対する
感度の（逆数）、および ｄ、　−溶接継ぎ目のｉ番目の点に対する標準偏差。
正規分布の特性によれば、限界値Ｆ　ｇ　ｉ＋またはｐ
ｇｉ−を越える所定の確率が存在する。
Ｚａ、の大きさに応じて、実際は良好な缶胴が多かれ少
なかれリジェクトされるになることがしばしばある。２
σ、が小さければ小さい程、−層敏感に装置は欠陥品に
応答するが、−層しばしば良好な缶胴もリジェクトされ
る。
以下の説明において簡単にするために、平均溶接パラメ
ータプロフィールＦ−に対して対称であるリジェクト限
界値幅を扱うものとする。
すなわちＥ、　−Ｅ２−ＥおよびＺｌ　−Ｚｌｌ　−Ｚ
の場合である。
“良／不良”の判定基準は、装置の所望の感度から導出
される。それは、ユーザによって決められた、良好な缶
胴の一部を不良と分類することが許されるように定義さ
れる。従って、ここでは感度Ｅと表される客観的なリジ
ェクト判定基準が決定される。感度は、１００万個の缶
胴糸たりの誤ったリジェクトの数として定義されている
。すなわち感度Ｅ−１００は、１００万側の缶胴糸たり
１００の誤ったリジェクト判定を意味するか、または、
平均して１万個毎に誤ってリジェクト判定されることを
意味する。
毎分６００個の缶胴を製造する缶胴溶接機械において、
１５分毎に１つの良好な缶胴が誤７てリジェクトにされ
ることを意味する。
感度係数２はポテンショメータ２２．４．２２．５を介
して、使用される感度係数の数を格納している検索テー
ブル２２．３においてアドレス指定可能である。２は感
度Ｅの逆数である２が大きければ大きい程、装置は一層
不感である。２に対する値は、上述のハンドブックの第
１．２８８よび１２９頁から明らかである。そこには次
のことが記載されている（ただしμに対するＦ□によっ
て示されている）： すべての値のほぼ９５％がＦ□−２σとＦ□＋２σとの
間にあり、 すべての値のほぼ９９３／４％がＦ、、、−３σとＦ−
＋３σとの間にあり、かつ すべての値のほぼ９９．９％がＦ、、−３，２９σとＦ
、、＋３．２９σ　との間にある。
従ってこれらの場合においてｚ−２ ｚ−３，２９ が成り立つ。
文献、例えば“Ｈａｎｄｂｏｏｋ　ｏｆ　Ｍａｔｈｅｍ
ａｔｉｃａｌＦｕｎｃｔｉｏｎｓ　　、Ｅｄ、Ｍ、Ａｂ
ｒａｍｏｗｉｔｚおよび！。
Ｓｔｅｇｕｎ著、　Ｄｏｖｅｒ　Ｐｕｂｌｉｃａｔｉｏ
ｎｓ、　　Ｉｎｃ、、　ＮｅｗＹｏｒｋ、　１９７２年
、第９３３頁　によれば、２は申し分ない近似によって
次のように計算される： その際へ−限界値が越えられない確率。
従って例えばすべての点の９９．９９９９％が（対称的
な）リジェクト限界値幅内にあるべきであれば、Ａ−０
，９９９９９９および計算はｚ＝４．５４　　になる。
経験に基づいて２に対して３および５の間の値および有
利には値４．５４　が選択される。この値は９９．９９
９９　　％に相応し、すなわち１００万の溶接点画たり
１つが誤って“不良“と判定される場合である。従って
中位の大きさの缶の缶胴における１００の溶接点の場合
平均して、１万個に１つの缶胴が誤ってリジェクト判定
される。
第２の計算装置２２．２は２側のアドレス指定された値
を入力装置２２．３から取り出しかつそれから式（２）
および（３）に従ってリジェクト判定限界値幅を計算し
、その際Ｆ−１の所属の値がその都度メモリ２４から取
り出される。このように計算された、幡を上側および下
側において制限する２つのリジェクト限界値曲線は、第
３図および第４図においてそれぞれ、ＦｌやないしＦｌ
−によって示されている。リジェクト限界値曲線Ｆ１＋
およびＦ、−は、第２の計算装置において図示されてい
ないメモリにおいて記憶されかつ必要の際に比較器２６
に送出される。
上述の処理および評価方法は、良好と判定された１００
個の缶胴に対して学習フェーズにおいて実施される。引
き続いて、すなわち溶接機械の製造７エーズの期間中、
学習７エーズの場合と同様、溶接パラメータ値が処理さ
れるが、引き続いて有利にも比較器２６に供給される。
比較器は学習７エーズに続いて製造される缶胴ｌＯに対
して、それが、このようにして測定された第２の溶接パ
ラメータプロフィール、正確に言えば、同じく相応の平
均値Ｆ　ｒｎ　ｉから形成される溶接パラメータプロフ
ィールに対して、リジェクト限界値幅Ｆ１カ内にあるか
どうかを検出する。比較器２６は比較結果に依存する出
力信号を信号処理装置３０ないし４０に送出する。これ
らには、比較結果をプリントアウトするプリンタ３０、
比較結果を指示する指示装置３２、缶胴が“不良”であ
ったかどうかを指示する指示ランプ３４、指示ランプ３
６の操作と同時に缶胴をリジェクトするエゼクタ３８、
および後でもっと詳しく説明するが、偏差が生じる傾向
にあるような場合には測定された溶接パラメータを補正
すべく再調整する調整器４０が属している。
所定の障害メカニズムは、複数の連続する点が統計学的
に有意な偏差を惹き起こすことによって表されるという
事実から、別の（比較的低い）＠算値を次のように決定
することができるＦ２＝Ｆ　　　＋ｚａ。
その際２つの連続する測定においてＦ２を越え３つの連
続する測定においてＦ３を越え、以下同様な関係が生じ
るときにのみ、欠陥が信号報知されることが成り立つ。
偏差２σ、はこの場合も、例えば１０００！毎に１つの
良好な缶胴がリジェクトされるように、決めることがで
きる。Ｆ２に対するリジェクト限界値幅Ｆ２．が第３図
に図示されている。
２つの等時性の判定基準（例えば継ぎ目の圧潰形成およ
び点エネルギー）を使用できるならば、所謂相関限界値
Ｆｋが決まるように、限界値形成の別の方法が得られる
。リジェクトはこの場合、所定の溶接点に対して２つの
点値がそれら相関限界値Ｆｋを上回るとき、行われる。
第３図の場合のように統計学に対してそれぞれの点ｉが
評価されるのではなくて、領域がまとめられるようにす
れば、この方法は一層簡単化される。第４図に図示の例
においてｎに代わって３つのみの統計が取り入れられ、
すなわち領域Ａ、ＢおよびＣに対する、すなわち缶胴の
始め、真ん中ないし終わりに対する統計が取り入れられ
る。それぞれの領域は、統計学的な評価のために領域当
たりの平均値にまとめられる１０ないし２０の溶接点を
含んでいる。
これまで述べた装置は、連続的な品質監視に適しており
、以下このことを第５ａ図ないし第５ｄ図を参照して説
明する。
学習フェーズによって良好な缶胴の第１の統計処理が成
されかつこれによりリジェクト限界値が決定された後、
製造期間全体において良好と検出された缶胴が連続的に
統計学的に上述の方法に従って引き続き処理される。こ
れにより、品質表示を行うことができる。
第５ａ図は、僅かなばらつきおよび高い感度Ｅ−１００
０を有する出発状態を示すものである。第５ｂ図は、中
程度のばらつきおよび僅か感度Ｅ−１００の場合の出発
状態を示すものである。
従って第５ａ図および第５ｂ図は、選択された感度Ｅ−
１０００ないしＥ−１００の場合の測定値の平均値およ
びばらつきを示している。
ばらつきおよび感度は、物理的意味をユーザが知る必要
はない相対的な値である。大きな感度は、良好な缶胴も
度々リジェクトされる比較的高い確率を意味している。
大きなばらつきは種々の原因を有する可能性がある例え
ば粗悪な材料、不安定な機械調整状態、機械の汚れ等で
ある。
第５ｃ図および第５ｄ図は、第５ａ図による出発状態の
後の変化を示している。第５Ｃ図は測定のドリフトを示
し、かつ第５ｄ図はドリフトする平均値および増加する
ばらつきを示し、その°際センサｌはアラームをトリガ
する。平均値から離れていくドリフトは次の原因を有し
ている可能性があるニ ー機械加熱に基づくセンサ１．２のドリフト−機械調整
状態または材料特性の変化。
ばらつきの変化は次の原因を有している可能性があるニ ー汚れの増大 一溶接ｔａ賊が多少“不安定“状態になっているアラー
ム値に達するや否や（第５ｄ図では、プラス記号によっ
て図示された測定値が境界に突き当たることによって図
示されている）、ユ。
−ザは製品の品質を再検査しなければならない。品質が
依然として良好であれば、ユーザは機能キー“学習”を
押して再び第５ａ図に示された表図に達することができ
る。この場合偏差は、溶接品質に不都合に作用（７ない
ような影響によって惹き起こされたものである（例えば
測定装置の温度ドリフト）。このようなアラーム値は例
えば、許容不良率の１０倍の値に等しくなるように、決
められる。
連続する品質再検査によって形成されるデータにより、
例えば溶接電流を調整器４０を用いて、平均値が再び第
５ａ図に図示の出発位置に戻るように追従調整されるこ
とによって、自動的に補正が行われるように操作介入す
ることが可能になる。
発明の効果 本発明の、統計学的な方法に従って動作する品質監視装
置は従来のものに比べて一層敏感でかつ一層監視的中率
が高いという特長を有している。
【図面の簡単な説明】
第１図は、缶製造のための缶膳における電気溶接の品質
の監視のための本発明の装置の構成を示すブロック図で
あり、第２図は、第１図の統計学的な評価装置のブロッ
ク回路図であり、第３図およにび第４図は、説明に供す
る特性図であり、第５ａ図ないし第５ｄ図は、本発明の
装置を用いて実施可能な連続的な品質監視装置を説明す
るための特性図である。 ｌＯ・・・缶胴、２０・・・測定値処理装置、２２・・
・統計学的な評価装置、２２．１．２２．２・・・計算
装置、２２．３・・・検索テーブル、２４・・・メモリ
、２６・・・比較器、３０〜４０・・・信号処理装置、
Ｆｆｆｌ・・・平均溶接パラメータプロフィール、Ｆ、
、・・・リジェクト限界値幅 Ｆｉｇ、　１ 日ｇ３ 第１点 番目の点 缶胴長さ Ｆｌｇ、　４ 第１点 １番目の点 ｎ番目の魚 Ｆｉｇ、５ａ 日９．５ｂ 日９．５ｃ 日９．５ｄ 比較器へ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、少なくとも第１の溶接パラメータプロフィールを求
    めるための少なくとも１つの装置と、前記第１の溶接パ
    ラメータプロフィールを記憶するためのメモリと、前記
    第１の溶接パラメータプロフィールと後で測定される第
    ２の溶接パラメータプロフィールとを、それらの一致度
    を検出するために比較する比較器とを備えた、缶製造の
    ための缶胴における電気溶接の品質監視装置において、 メモリ（２４）に第１の溶接パラメータプ ロフィールとして記憶される平均溶接パラメータプロフ
    ィール（Ｆ＿ｍ）を求め、かつ前記第１の溶接パラメー
    タプロフィールに対して測定された溶接パラメータ値の
    平均値と、正規分布として予め定められたこの溶接パラ
    メータ値の標準偏差と少なくとも１つの感度係数との積
    とから、平均溶接パラメータプロフィール（Ｆ＿ｍ）を
    取囲むリジェクト限界値幅（Ｆ＿ｇ＿±）を求めること
    によって、良好と判定された缶胴（１０）のある数の測
    定された溶接パラメータ値の統計学的評価のための評価
    装置（２２）が設けられており、かつ前記比較器（２６
    ）が引き続いて製造された缶胴（１０）に対して、該缶
    胴に対して測定された第２の溶接パラメータプロフィー
    ルがリジェクト限界値幅（Ｆ＿ｇ＿±）内にあるかどう
    かを検出することを特徴とする電気溶接の品質監視装置
    。 ２、評価装置（２２）が、缶胴長さ（１）にわたる溶接
    継ぎ目の溶接点に対して良好と認められたある数の缶胴
    を用いて平均溶接パラメータプロフィール（Ｆ＿ｍ）を
    求める第１の計算装置（２２．１）と、それぞれの溶接
    点に対してリジェクト限界値幅（Ｆ＿ｇ＿±）に対する
    リジェクト限界値を求める第２の計算装置（２２．２）
    とを有していることを特徴とする、それぞれの溶接電流
    半波が“溶接点”を発生する請求項１記載の電気溶接の
    品質監視装置。 ３、第１の計算装置（２２．１）がそれを用いて平均溶
    接パラメータプロフィール（Ｆ＿ｍ）を求める良好と認
    められた缶胴の数が２０ないし１００であることを特徴
    とする請求項２記載の電気溶接の品質監視装置。 ４、統計学的な評価のために溶接点が溶接継ぎ目の領域
    （Ａ、Ｂ、Ｃ）にわたって形成されることを特徴とする
    請求項２または３記載の電気溶接の品質監視装置。 ５、それぞれの領域（Ａ、Ｂ、Ｃ）が、１０ないし２０
    の溶接点を含んでいることを特徴とする請求項４記載の
    電気溶接の品質監視装置。 ６、第２の計算装置（２２．２）に接続されている、感
    度係数に対する入力装置（２２．３）を備えていること
    を特徴とする電気溶接の品質監視装置。 ７、入力装置（２２．３）が、アドレス指定可能な多数
    の感度係数を格納する検索テーブルを含んでいることを
    特徴とする請求項６記載の電気溶接の品質監視装置。 ８、第２の計算装置（２２．２）が、リジェクト限界値
    幅（Ｆ＿ｇ＿±）を次式 Ｆ＿ｑ＿ｉ＿＋＝Ｆ＿ｍ＿ｉ＋ｚ＿１・σ＿ｉＦ＿ｑ＿
    ｉ＿−＝Ｆ＿ｍ＿ｉ−ｚ＿２・σ＿ｉから計算し、ただ
    し ｉ＝１、２、３・・・ｎおよび Ｆ＿ｇ＿ｉ＝溶接継ぎ目のｉ番目の点におけるリジェク
    ト限界値、 Ｆ＿ｍ＿ｉ＝溶接継ぎ目のｉ番目の点における溶接パラ
    メータの平均値、 ｚ＿１＝感度係数または上側のリジェクト限界値に対す
    る感度の逆数、 ｚ＿２＝感度係数または下側のリジェクト限界値に対す
    る感度の逆数、 σ＿ｉ＝溶接継ぎ目のｉ番目の点に対する標準偏差。 ９、感度係数が３と５との間にることを特徴とする請求
    項１から８までのいずれか１項記載の電気溶接の品質監
    視装置。 １０、比較器（２６）が、比較結果に依存する出力信号
    を信号処理装置（３０〜４０）に送出することを特徴と
    する請求項１から９までのいずれか１項記載の電気溶接
    の品質監視装置。 １１、信号処理装置（３０〜４０）が、測定された第２
    の溶接パラメータプロフィールがリジェクト限界値幅（
    Ｆ＿ｇ＿±）の外にあるとき、操作される缶胴エゼクタ
    （３８）を含んでいることを特徴とする請求項１０記載
    の電気溶接の品質監視装置。 １２、信号処理装置（３０〜４０）が、測定された溶接
    パラメータを補正すべく再調整するための調整器（４０
    ）を有していることを特徴とする請求項１０記載の電気
    溶接の品質監視装置。 １３、ｚ＿１≠ｚ＿２が成り立ち、その結果リジェクト
    限界値幅（Ｆ＿ｇ＿±）が、平均溶接パラメータプロフ
    ィール（Ｆ＿ｍ）を非対称に取囲むことを特徴とする請
    求項８から１２までのいずれか１項記載の電気溶接の品
    質監視装置。 １４、ｚ＿１＝ｚ＿２＝ｚが成り立ち、その結果リジェ
    クト限界値幅（Ｆ＿ｇ＿±）が、平均溶接パラメータプ
    ロフィール（Ｆ＿ｍ）を対称に取囲むことを特徴とする
    請求項８から１２までのいずれか１項記載の電気溶接の
    品質監視装置。
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