JPH02214345A - Ｓｉｎａｄ計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａ）発明の技術分野 この発明は、ＦＭまたはＰＭ受信機の感度を測定すると
きに使用するＳＩＮＡＤ計についてのものである。

＜ｂ）従来技術と問題点 ＳＩＮＡＤとｉ！　、１Ｇ！ＩＡＬ　Ｐ［、ＵＳ　ｌｌ
０ＩｓＥ　ＩＦＩＯｌｌｌ　５ＴＯＲＴ　ＩＯＮ　　の
頭文字をとったもので、受信機の感度を規定する方法の
一つである。

次に、第３図を参照して従来技術によるＳＩＮＡＤ計の
構成を説明する。

第３図の１は低周波発振器、２は信号発生器、３は受信
機、４はひずみ率計である。

信号発生′ａ２は、低周波発振器１で周波数１ｋＨｚの
ＦＭまたはＰＭをかけられる。

信号発生器２の出力は、受信機３に入り、受信機３を受
信状態にする。− ひずみ率計４は、受信機３の復調信号に応じてレンジを
切り換えるレンジアッテネータ４１と、レンジアッテネ
ータ４１の出力を一定レベルにする増幅回路４２と、１
ｋＨｚの基本波信号だけを消去する帯域消去フィルタ４
３と、帯域消去フィルタ４３を接断するスイッチ回路４
４と、スイッチ回路４４からの信号を検波する検波回路
４５と、検波回路４５の出力を基準レベルにする可変抵
抗′ｒＡ４Ｅ３と、その出力を指示する指示計４７で構
成されている。

最初に、スイッチ回路４４で帯域消去フィルタ４３を断
にし、ひずみ率計４で受信機２の全復調出カニ信号Ｓ　
＋　Ｎ　音Ｎ＋ひすみ：＄Ｄが標準出力になるように、
ひずみ率計４のレンジアッテネータ４１と可変抵抗器４
６で加減する。

次に、帯域消去フィルタ４３を接続し、受信機３の復調
信号から１ｋＨｚの基本波信号Ｓを除き、残りの雑音Ｎ
とひずみ率りの合成レベルをひずみ率計４で測定する。

このようにして求めたＳ＋Ｎ＋ＤとＮ十りから、次の式
（＋）により、ＳＩＮＡＤを求める。

Ｓ　Ｉ　Ｎ　Ａ　Ｄ　＝　２０　Ｘ　Ｉ　ＯＪ。（Ｓ＋
Ｎ＋Ｄ）／　（Ｎ＋［））・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・（１）式（１）の値が、例えば
１２ｄＢの規定値になるように、信号発生器２の出力レ
ベルを加減し、受信機３に入る最小入力レベルを求める
。

この最小入力レベルが＋８ｄＢμ以下であることが、無
線設備の技術基準として定められている。

次に、第３図による測定データの一例を第４図に示す。

第４図の縦軸は受信機３の出力レベル相対値であり、横
軸は受信機３の入力レベルである。

第４図は、信号発生器２に１　ｋ　ＨＺ　％８０％の標
準変調をかけ、受信機３の入力レベルを変化させたとき
の受信機３のＳ＋Ｎ＋ＤとＮ＋Ｄを測定したものである
。

第４図によれば、ＳＩＮＡＤが１２ｄＢになる感度は、
−９ｄＢμである。

第４図からも分かるように、受信機３の入力レベルを下
げてくると、Ｓ＋Ｎ＋Ｄの値も％　Ｎ＋Ｄの値も変化す
る。

したがって、ＳＩＮＡＤが１２ｄＢになる付近では、Ｓ
＋Ｎ＋Ｄも変化するので、そのたびにＳ＋Ｎ＋Ｄが標準
出力になるように、ひずみ率計４の可変抵抗器４６を加
減しなければならない。

第４図のように、受信機３の最小入力レベルを求めるま
でには、ひずみ率計４の操作を繰り返さなければならな
いので、試験結果が出るまでに時間がかかるという問題
がある。

（ｃ）発明の目的 この発明は、従来のＳ　Ｉ　ＮＡＤ計に、タイミングパ
ルス発生回路、スイッチ駆動回路、Ａ／Ｄ変換回路、演
算記憶回路、Ｄ／Ａ変換回路、レンジ制御回路を追加し
、従来はひずみ率計の操作を数回繰り返して、試験結果
を出していたものを一度の操作で同じ結果を得られるよ
うにしたＳＩＮＡＤ計の提供を目的とする。

（ｄ）発明の実施例 次に、この発明による実施例の構成図を第１図にボす。

第１図の１１はレンジアッテネータ、１２は増幅回路、
１３は帯域消去フィルタ、１４と１５は検波回路、１６
はスイッチ回路、１７は増幅回路、１８はＡ／Ｄ変換回
路、１９は演算記憶回路、２０はレンジ制御回路、２１
はタイミングパルス発生回路、２２はスイッチ駆動回路
、２３はＤ／Ａ変換回路、２４は指示計である。

第１図の１１〜１６は、第３図の４１〜４５に対応する
。

レンジアッテネータ１１は、例えば＋２０ｄＢから一８
０ｄＢの範囲を可変できるものを使用する。

スイッチ回路１６は、検波回路１５側に接続されており
、レンジアッテネータ１１は無人力持最小値のレンジで
ある一８０ｄＢに選ばれている。

受信機３の復調信号は、レンジアッテネータ１１と増幅
回路１２を通って検波回路１５に入る。

検波回路１５の出力は、増幅回路１７を通ってＡ／Ｄ変
換回路１８に入る。

Ａ／Ｄ変換回路１８の出力データは、演算記憶回路１９
を介してレンジ制御回路２０でレンジアッテネータ１１
の増減を指令し、例えばＯｄＢに設定する。

ＯｄＢに設定するということは、検波回路１５を動作さ
せるのに十分なレベルにするということである。

レンツアッテネータ１１のレンジがＯｄＢに定まった後
、Ａ／Ｄ変換回路１８でＳ＋Ｎ＋Ｄの合成レベルデータ
を読みとる。

これらのデータ読み込みのタイミングは、タイミングパ
ルス発生回路２１によって決められる。

次に、上記データ読み込みが完了したら、レンジアッテ
ネータ１１のレンジをＯｄＢに保ったま、ま、スイッチ
駆動回路２２で、スイッチ回路１６を検波回路１４側に
切り換える。

増幅回路１２の出力は、帯域消去フィルタ１３を通り、
検波回路１４に入る。

検波回路Ｉ４の出力は、増幅回路１７を通ってＡ／Ｄ変
換回路１８に入る。

そして、スイッチ回路１６の切換えと同期してタイミン
グパルス発生回路２１からデータ読込み信号が演算記憶
回路１９に送られ、Ｎ＋Ｄの合成レベルデータが読みと
られる。

そして、演算記憶回路１９で、式（＋）が演算される。

演算記憶回路１９で演算され、算出されたデータはＤ／
Ａ変換回路２３に送られ、Ｄ／Ａ変換回路２３の出力に
接続された指示計２４によって、ＳＩＮＡＤ値が表ホさ
れる。

なお、Ｄ／Ａ変換回路２３のデータを書き変えるタイミ
ングは、タイミングパルス発生回路２１により決めてい
る。

このときのタイミングパルスは、トートバンドメータの
応答時間に見合う速度の周期で発生する。

すなわち、例えば１０ｍｓなど、指示計が持つ応答性特
性を損なわない時間で書き換えられる。

次に、スイッチ駆動回路２２をある時間ごと、例えば１
００ｍ５で、スイッチ回路１ｅをＳ＋Ｎ＋Ｄ側にし、初
期動作であるレンツアッテネータ１１をＯｄＢに設定し
、さらに前述の動作を繰り返す。

次に、第１図のフローチャートを第２図に示す。

ステップ３２〜３４で、Ｓ＋Ｎ＋Ｄを読みとり、ステッ
プ３５〜３６で、ＳＩＮＡＤ値を読みとる。

ステ、プ３９で、スイッチ回路１８を切り換える。

（ｅ）発明の効果 この発明によれば、従来のＳＩＮＡＤ計に、タイミング
パルス発生回路、スイッチ駆動回路、Ａ／Ｄ変換回路、
演算記憶回路、Ｄ／Ａ変換回路、レンジ制御回路を追加
しているので、従来はひずみ率計の操作を数回繰り返し
て、試験結果を出していたが、−度の操作で同じ結果を
得られるようになうた。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明による実施例の構成図、第２図は第１
図のフローチャート、第３図は従来技術によるＳＩＮＡ
Ｄ計の構成図、第４図は第３図による測定データの一例
を示す図である。 １・・・・・・低周波発信器、２・・・・・・信号発生
器、３・・・・・・受信機、４・・・・・・ひずみ率計
、１１・・・・・・レンジアッテネータ、１２・・・・
・・増幅回路、１３・・・・・・帯＠ｍ消去ィルタ、１
４・１５・・・・・・検波回路、１６・・・・・・スイ
ッチ回路、１７・・・・・・増幅回路、１８・・・・・
・Ａ／Ｄ変換回路、１９・・・・・・演算記憶回路、２
０・・・由レンジ制御回路、２１・・・・・・タイミン
グパルス発生回路、２２・・・・・・スイッチ駆動回路
、２３・・・・・・Ｄ／Ａ変換回路、２４・・・・・・
指示計。 代理人　　弁理士　　小　俣　欽　司 図 第 図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、受信機からの復調全出力＝信号Ｓ＋雑音Ｎ＋ひずみ
   率Ｄを検波する第１の検波回路と、信号Ｓだけを帯域消
   去フィルタで除き、雑音Ｎ＋ひずみ率Ｄを検波する第２
   の検波回路と、 クロックパルスごとに、第１の検波回路出力と第２の検
   波回路出力とを切り換えるスイッチ回路と、 スイッチ回路の出力をアナログ信号からディジタル信号
   に変換するＡ／Ｄ変換回路と、Ａ／Ｄ変換回路の出力か
   らＳＩＮＡＤ値を演算し、記憶する演算記憶回路と、 演算記憶回路のデータで、レンジアッテネータをセット
   するレンジ制御回路と、 演算記憶回路のデータでアナログ信号に変するＤ／Ａ変
   換器とを備えることを特徴とするＳＩＮＡＤ計。