JPS58175304A - デイジタル信号発生装置 - Google Patents
デイジタル信号発生装置Info
- Publication number
- JPS58175304A JPS58175304A JP5760082A JP5760082A JPS58175304A JP S58175304 A JPS58175304 A JP S58175304A JP 5760082 A JP5760082 A JP 5760082A JP 5760082 A JP5760082 A JP 5760082A JP S58175304 A JPS58175304 A JP S58175304A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- digital signal
- converter
- analog
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/02—Digital function generators
- G06F1/03—Digital function generators working, at least partly, by table look-up
- G06F1/0321—Waveform generators, i.e. devices for generating periodical functions of time, e.g. direct digital synthesizers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は所望の周波数と振幅の正弦波に対応したディジ
タル信号を発生するようにしたディジタル信号発生装置
に関するものである。
タル信号を発生するようにしたディジタル信号発生装置
に関するものである。
例えばミ音声信号のようなアナログ信号をディジタル信
号に変換して記録媒体に記録し、これを再生してアナロ
グ信号に変換する、いわゆるＰＣＭ記録、再生装置にお
いては、Ｄ−Ａ変換回路（ディジタル信号−アナログ信
号変換回路）を必要とする。前記Ｄ−Ａ変換回路の性能
、品質はＰＣＭ記録、再生装置の総合特性に大きく影響
するものである。従って、前記Ｄ −Ａ変換回路は装置
に組込む前に性能、品質の評価をする必要がある。
号に変換して記録媒体に記録し、これを再生してアナロ
グ信号に変換する、いわゆるＰＣＭ記録、再生装置にお
いては、Ｄ−Ａ変換回路（ディジタル信号−アナログ信
号変換回路）を必要とする。前記Ｄ−Ａ変換回路の性能
、品質はＰＣＭ記録、再生装置の総合特性に大きく影響
するものである。従って、前記Ｄ −Ａ変換回路は装置
に組込む前に性能、品質の評価をする必要がある。
従来の評価方法としては、第１図に示すものが考えられ
ている。これは、入力端子ｌからサンプルホールド回路
２に供給された第２図（Ａ）で示す音声信号等のアナロ
グ信号は、第２図（Ｂ）で示すようにクロック信号発生
回路３から付与されるクロック信号で決定された所定の
サンプリング速度でサンプルホールドされる。サンプル
ホールドされたアナログ信号はＡ−Ｄ変換回路ｌでディ
ジタル信号に変換される。Ａ−Ｄ変換回路すからはディ
ジタル信号が並列的に出力されるが一旦、記憶回路ｊに
記憶してから並列−直列変換回路乙によって直列に配列
されＰＣＭ信号とされる。このＰＣＭ信号はＦＭ変調回
路７、記録増幅回路１１磁気ヘツド９によって磁気テー
プ１０に記録される。記録信号は再生側の再生ヘッドｌ
／によって再生され再生増幅回路ｔ２、ＦＭ復調回路１
３を介してＤ−Ａ変換回路／りにディジタル信号として
供給される。Ｄ−Ａ変換回路／ｌは第２図（Ｃ）で示す
ように前記ディジタル信号を順次アナログ信号に変換す
る。この変換されたアナログ信号は低域ろ波器／ｊによ
って音声信号に対応した帯域のみを通過され、第２図（
Ａ）で示すように原信号に対応、して出力側圧得られる
０ ここで、前記評価方法は、評価すべきＤ−Ａ変換回路／
Ｕを本装置に組入れ、磁気ヘッド９．／／、磁気テープ
ｉｏ等の影響を除くため、鎖線で示すように前記入力端
子ｌに供給した供試信号が前記Ａ−Ｄ変換回路ダの出力
を直接、前記Ｄ −Ａ変換回路／Ｉｔの入力側に供給す
るように接続する０そして、前記入力端子ｌに所望の供
試信号を供給し前記低域ろ波器／３の出力側には歪計、
波形分析計等の測定機器／Ａを接続し、前記Ｄ−Ａ変換
回路ｌダの評価な行なう。
ている。これは、入力端子ｌからサンプルホールド回路
２に供給された第２図（Ａ）で示す音声信号等のアナロ
グ信号は、第２図（Ｂ）で示すようにクロック信号発生
回路３から付与されるクロック信号で決定された所定の
サンプリング速度でサンプルホールドされる。サンプル
ホールドされたアナログ信号はＡ−Ｄ変換回路ｌでディ
ジタル信号に変換される。Ａ−Ｄ変換回路すからはディ
ジタル信号が並列的に出力されるが一旦、記憶回路ｊに
記憶してから並列−直列変換回路乙によって直列に配列
されＰＣＭ信号とされる。このＰＣＭ信号はＦＭ変調回
路７、記録増幅回路１１磁気ヘツド９によって磁気テー
プ１０に記録される。記録信号は再生側の再生ヘッドｌ
／によって再生され再生増幅回路ｔ２、ＦＭ復調回路１
３を介してＤ−Ａ変換回路／りにディジタル信号として
供給される。Ｄ−Ａ変換回路／ｌは第２図（Ｃ）で示す
ように前記ディジタル信号を順次アナログ信号に変換す
る。この変換されたアナログ信号は低域ろ波器／ｊによ
って音声信号に対応した帯域のみを通過され、第２図（
Ａ）で示すように原信号に対応、して出力側圧得られる
０ ここで、前記評価方法は、評価すべきＤ−Ａ変換回路／
Ｕを本装置に組入れ、磁気ヘッド９．／／、磁気テープ
ｉｏ等の影響を除くため、鎖線で示すように前記入力端
子ｌに供給した供試信号が前記Ａ−Ｄ変換回路ダの出力
を直接、前記Ｄ −Ａ変換回路／Ｉｔの入力側に供給す
るように接続する０そして、前記入力端子ｌに所望の供
試信号を供給し前記低域ろ波器／３の出力側には歪計、
波形分析計等の測定機器／Ａを接続し、前記Ｄ−Ａ変換
回路ｌダの評価な行なう。
しかし、この従来方法では、前記供試信号の周波数、振
幅な任意に変更することは容易であるが評価すべきＤ−
Ａ変換回路／４を装置に組入れる作業がめんどうである
ことのみならず、前記Ａ−Ｄ変換変換回路性能が測定結
果に影響し直の評価が困難である。
幅な任意に変更することは容易であるが評価すべきＤ−
Ａ変換回路／４を装置に組入れる作業がめんどうである
ことのみならず、前記Ａ−Ｄ変換変換回路性能が測定結
果に影響し直の評価が困難である。
このような欠点を除去するため、従来は更に第３図で示
すように所定の供試信号に対応したディジタル信号を予
めリードオンリイ記憶回路（ＲＯＭ）／７に記憶させて
おき、このディジタル信号をサンプリングクロック信号
発生回路ｌざ、カウンター／ｑにより順次読出し、前記
Ｄ−Ａ変換回路／４Ｌに供給し評価したものがある。こ
れは、組入れ作業を必要とせず、他の回路系の性能の影
響を受けず前述の従来方法の欠点を改善できる。しかし
、供試信号の周波数、振幅を種々変更したい場合、予め
それに対応したディジタル信号を記憶した前記記憶回路
／７を用意し、その都度、交換しなければならない。そ
のため、評価のための準備が極めてめんどうである欠点
がある。
すように所定の供試信号に対応したディジタル信号を予
めリードオンリイ記憶回路（ＲＯＭ）／７に記憶させて
おき、このディジタル信号をサンプリングクロック信号
発生回路ｌざ、カウンター／ｑにより順次読出し、前記
Ｄ−Ａ変換回路／４Ｌに供給し評価したものがある。こ
れは、組入れ作業を必要とせず、他の回路系の性能の影
響を受けず前述の従来方法の欠点を改善できる。しかし
、供試信号の周波数、振幅を種々変更したい場合、予め
それに対応したディジタル信号を記憶した前記記憶回路
／７を用意し、その都度、交換しなければならない。そ
のため、評価のための準備が極めてめんどうである欠点
がある。
尚、前記Ａ−Ｄ変換回路の評価方法は、通常、出力側に
得られたディジタル信号を基に測定する手段がとられて
いる。
得られたディジタル信号を基に測定する手段がとられて
いる。
そこで、本発明はこのような従来の欠点ななくすように
したディジタル信号発生装置な提供することを目的とす
る０ 以下、第１図によって本発明の一実施例な説明する。
したディジタル信号発生装置な提供することを目的とす
る０ 以下、第１図によって本発明の一実施例な説明する。
コＯは所望の周波数と振幅のアナログ信号ケ任意に設定
するための設定回路、２１は工１０インターフェス回路
、ｎは前記設定回路２０によって設定された前記正弦波
の各サンプル値を演算しディジタル信号に符号化するた
めの演算回路、９はクロック信号発生回路である。前記
設定回路Ｊによって所望の周波数と振幅のアナログ信号
を設定した後はスタートスイッチ（図示せず）を操作す
るとクロック信号発生回路およりクロック信号が発生す
るようになっている。２ケは演算手順を記憶したリード
オンリイ記憶回路、ｊはランダムアクセス記憶回路、２
６は１１０ インターフニス回路、２７は前記制御信号
発生回路２０によって動作開始が制御されるサンプリン
グクロック信号発生回路である。
するための設定回路、２１は工１０インターフェス回路
、ｎは前記設定回路２０によって設定された前記正弦波
の各サンプル値を演算しディジタル信号に符号化するた
めの演算回路、９はクロック信号発生回路である。前記
設定回路Ｊによって所望の周波数と振幅のアナログ信号
を設定した後はスタートスイッチ（図示せず）を操作す
るとクロック信号発生回路およりクロック信号が発生す
るようになっている。２ケは演算手順を記憶したリード
オンリイ記憶回路、ｊはランダムアクセス記憶回路、２
６は１１０ インターフニス回路、２７は前記制御信号
発生回路２０によって動作開始が制御されるサンプリン
グクロック信号発生回路である。
前記評価されるＤ−Ａ変換回路／Ｑは前記Ｉ１０ イ
ンターフニス回路２６の出力側に接続され、その出力側
には前記低域ろ波器／Ｓが接続されている。ｉｔは歪率
計、波形分析計等の測定器である。
ンターフニス回路２６の出力側に接続され、その出力側
には前記低域ろ波器／Ｓが接続されている。ｉｔは歪率
計、波形分析計等の測定器である。
このような本発明の構成による動作は、前記供試信号と
してのアナログ信号が前記リードオンリイ記憶回路２１
から読出された演算手順に従って演算する前記演算回路
ｎによってディジタル信号に符号化され前記う／ダムア
クセス記憶回路ｊに一旦記憶される。そして前記サンプ
リングクロック発振回路２７のサンプリングクロック信
号によって読出され前記Ｄ −Ａ変換回路ｌ弘に供給さ
れ第２図（０）で示すようにアナログ信号に変換され、
低域ろ波器／Ｓを介され原信号が得られる。この原信号
は前記測定器、２乙によって測定される。
してのアナログ信号が前記リードオンリイ記憶回路２１
から読出された演算手順に従って演算する前記演算回路
ｎによってディジタル信号に符号化され前記う／ダムア
クセス記憶回路ｊに一旦記憶される。そして前記サンプ
リングクロック発振回路２７のサンプリングクロック信
号によって読出され前記Ｄ −Ａ変換回路ｌ弘に供給さ
れ第２図（０）で示すようにアナログ信号に変換され、
低域ろ波器／Ｓを介され原信号が得られる。この原信号
は前記測定器、２乙によって測定される。
上述した本発明によれば、所望の周波数と振幅のアナロ
グ信号を任意に設定するための設定手段（例えば設定回
路／７）と、前記設定手段によって設定された前記アナ
ログ信号の各サンプル値を演算しディジタル信号に符号
化するための演算手段（例えば演算回路２２）と、前記
演算手段によって演算されて得られたディジタル信号を
記憶するための記憶手段（例えばランダムアクセス記憶
回路ｊ）と、前記記憶手段に記憶されたディジタル信号
を所望の間隔をもって順次読出するための読出し手段（
例えばサンプリングクロック信号発生回路：１７）とか
らなり任意のアナログ信号に対応したディジタル信号を
発生するようにしたから、評価すべきＤ −Ａ変換回路
に対し所望の周波数と振幅を有するアナログ信号を任意
に設定して供試信号とすることができる。従って、評価
作業が容易であり、又、正確な測定評価結果が得られし
かも、その構成も比較的簡単である等従来の欠点を一掃
した新規なディジタル信号発生装置を提供することがで
きる。
グ信号を任意に設定するための設定手段（例えば設定回
路／７）と、前記設定手段によって設定された前記アナ
ログ信号の各サンプル値を演算しディジタル信号に符号
化するための演算手段（例えば演算回路２２）と、前記
演算手段によって演算されて得られたディジタル信号を
記憶するための記憶手段（例えばランダムアクセス記憶
回路ｊ）と、前記記憶手段に記憶されたディジタル信号
を所望の間隔をもって順次読出するための読出し手段（
例えばサンプリングクロック信号発生回路：１７）とか
らなり任意のアナログ信号に対応したディジタル信号を
発生するようにしたから、評価すべきＤ −Ａ変換回路
に対し所望の周波数と振幅を有するアナログ信号を任意
に設定して供試信号とすることができる。従って、評価
作業が容易であり、又、正確な測定評価結果が得られし
かも、その構成も比較的簡単である等従来の欠点を一掃
した新規なディジタル信号発生装置を提供することがで
きる。
尚、本発明においては記憶手段としてランダムアクセス
記憶回路（ＲＯＭ）を用いたが、その他の記憶回路であ
ってもよい。又、Ｄ−Ａ変換回路は音声用のみならず、
例えばその帯域以上の高周波数に使用されるものであれ
ば、その場合の供試信号は前記高周波数に設定すればよ
いことになることは勿論である。
記憶回路（ＲＯＭ）を用いたが、その他の記憶回路であ
ってもよい。又、Ｄ−Ａ変換回路は音声用のみならず、
例えばその帯域以上の高周波数に使用されるものであれ
ば、その場合の供試信号は前記高周波数に設定すればよ
いことになることは勿論である。
第１図は従来のＤ−Ａ変換回路の評価方法の一例を示す
ブロック図、第２図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）はその波形
図、第３図は従来の評価方法の他の例な示すブロック図
、第４図は本発明の一実施例な示すブロック図である。 ／ｌ・・・Ｄ−Ａ変換回路、／ｊ・・・低竣ろ波器、／
Ａ・・・測定器、２０・・設定回路、２／、Ｊ、Ａ・・
・工／○インターフェス回路、ｎ・・演算回路、２Ｓ・
・・ランダムアクセス記憶回路。 特許出願人 ティアツク株式会社 第１図 ”ノ 第′、：）図 第３図
ブロック図、第２図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）はその波形
図、第３図は従来の評価方法の他の例な示すブロック図
、第４図は本発明の一実施例な示すブロック図である。 ／ｌ・・・Ｄ−Ａ変換回路、／ｊ・・・低竣ろ波器、／
Ａ・・・測定器、２０・・設定回路、２／、Ｊ、Ａ・・
・工／○インターフェス回路、ｎ・・演算回路、２Ｓ・
・・ランダムアクセス記憶回路。 特許出願人 ティアツク株式会社 第１図 ”ノ 第′、：）図 第３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 所望の周波数と振幅のアナログ信号を任意に設定するた
めの設定手段と、 前記設定手段によって設定された前記アナログ信号の各
サンプル値を演算しディジタル信号に符号化するための
演算手段と、 前記演算手段によって演算されて得られたディジタル信
号を記憶するための記憶手段と、前記記憶手段に記憶さ
れたディジタル信号を所望の間隔をもって順次読出すた
めの読出し手段と、からなり任意のアナログ信号に対応
したディジタル信号を発生するようにしたことを特徴と
するディジタル信号発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5760082A JPS58175304A (ja) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | デイジタル信号発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5760082A JPS58175304A (ja) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | デイジタル信号発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58175304A true JPS58175304A (ja) | 1983-10-14 |
Family
ID=13060339
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5760082A Pending JPS58175304A (ja) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | デイジタル信号発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58175304A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5999514U (ja) * | 1982-12-24 | 1984-07-05 | 株式会社日立製作所 | 信号発生装置 |
| JPS6246272A (ja) * | 1985-08-24 | 1987-02-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 故障検出回路 |
| JPS62501997A (ja) * | 1985-02-01 | 1987-08-06 | アナロジック・コ−ポレ−ション | 電気的波形発生器 |
| JPH0697786A (ja) * | 1992-04-09 | 1994-04-08 | Samsung Electron Co Ltd | 雑音除去装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5656005A (en) * | 1979-10-12 | 1981-05-16 | Shimadzu Corp | Random-waveform generator |
| JPS573053A (en) * | 1980-06-06 | 1982-01-08 | Fujitsu Ltd | Measuring circuit for characteristic of decoder |
-
1982
- 1982-04-07 JP JP5760082A patent/JPS58175304A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5656005A (en) * | 1979-10-12 | 1981-05-16 | Shimadzu Corp | Random-waveform generator |
| JPS573053A (en) * | 1980-06-06 | 1982-01-08 | Fujitsu Ltd | Measuring circuit for characteristic of decoder |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5999514U (ja) * | 1982-12-24 | 1984-07-05 | 株式会社日立製作所 | 信号発生装置 |
| JPS62501997A (ja) * | 1985-02-01 | 1987-08-06 | アナロジック・コ−ポレ−ション | 電気的波形発生器 |
| JPH0471211B2 (ja) * | 1985-02-01 | 1992-11-13 | Analogic Corp | |
| JPS6246272A (ja) * | 1985-08-24 | 1987-02-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 故障検出回路 |
| JPH0697786A (ja) * | 1992-04-09 | 1994-04-08 | Samsung Electron Co Ltd | 雑音除去装置 |
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